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解决方案

谱育科技三重四极杆ICP-MS,助力半导体产业超痕量金属杂质污染测试

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

EXPEC 7350 三重四极杆ICP-MS落地中电化合物已有半年之久,主要用于衬底抛光片、外延片以及高纯试剂中痕量杂质的测试。

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谱育科技 EXPEC 7350 三重四极杆ICP-MS

EXPEC 7350

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EXPEC 7350型ICP-MS/MS在单颗粒模式下 检测光伏硅片表面的Ti纳米颗粒

应用领域

半导体

检测样品

其他

检测项目

Ti纳米颗粒
EXPEC 7350 ICP-MS/MS可快速准确地测定硅片表面Ti纳米颗粒的粒径、个数浓度、颗粒质量浓度、离子浓度的信息。

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谱育科技 EXPEC 7350 三重四极杆ICP-MS

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