您好,欢迎访问仪器信息网
注册
杭州谱育科技发展有限公司

关注

已关注

白金7年 白金

已认证

粉丝量 0

400-831-3033

仪器信息网认证电话,请放心拨打

当前位置: 杭州谱育科技 > 解决方案
解决方案

谱育科技EXPEC 6000测定特种陶瓷样品中Si和Zr

应用领域

航空航天

检测样品

航空

检测项目

Si和Zr
湿法消解和微波消解易造成硅的损失,且HF的引入会提高对仪器的成本,不适合于陶瓷样品中硅的测量,本方法采用碱熔法消解特种陶瓷样品,并用电感耦合等离子体发射光谱分析特种陶瓷中硅和锆的含量,方法精密度高,检出限低,硅的加标回收率达98.97%,是一种简单易操作、低成本的测量方法。

1

谱育科技 SPEC Pro 6000 防护型电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)

SPEC Pro 6000

面议

查看更多配置单>>

杭州谱育科技发展有限公司

查看电话

沟通底价

提交后,商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价,选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位
联系方式:

公司名称: 杭州谱育科技发展有限公司

公司地址: 杭州市临安区青山湖街道科技大道2466-1号 联系人: 谱育科技 邮编: 311305 联系电话: 400-831-3033

友情链接:

仪器信息网APP

展位手机站