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铟锡氧化物与透明导电氧化物
2018/01/17 10:26
阅读：345
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方案摘要：
产品配置单：
Filmetrics F20 光学膜厚测量仪
型号： F20-UV/F20-UVX/F20/F20-EXR/F20-NIR
产地： 美国
品牌： 美商菲乐
¥10万 - 20万
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方案详情：
液晶显示器，有机发光二极管变异体，以及绝大多数平面显示器技术都依靠透明导电氧化物 (TCO) 来传输电流，并作每个发光元素的阳极。 和任何薄膜工艺一样，了解组成显示器各层物质的厚度至关重要。 对于液晶显示器而言，就需要有测量聚酰亚胺和液晶层厚度的方法，对有机发光二极管而言，则需要测量发光、电注入和封装层的厚度。
在测量任何多个层次的时候，诸如光谱反射率和椭偏仪之类的光学技术需要测量或建模估算每一个层次的厚度和光学常数 (反射率和 k 值)。
不幸的是，使得氧化铟锡和其他透明导电氧化物在显示器有用的特性，同样使这些薄膜层难以测量和建模，从而使测量在它们之上的任何物质变得困难。
Filmetrics 的氧化铟锡解决方案
Filmetrics 已经开发出简便易行而经济有效的方法，利用光谱反射率精确测量氧化铟锡。 将新型的氧化铟锡模式和 F20-EXR, 很宽的 400-1700nm 波长相结合，从而实现氧化铟锡可靠的“一键”分析。 氧化铟锡层的特性一旦得到确定，剩余显示层分析的关键就解决了。
不管您参与对显示器的基础研究还是制造，Filmetrics 都能够提供您所需要的...
测量液晶层
- 聚酰亚胺、硬涂层、液晶、间隙
测量有机发光二极管层
- 发光、电注入、缓冲垫、封装
对于空白样品，我们建议使用 F20 系列仪器。 对于成品薄膜，F40 和 F42 产品系列则有广泛的应用。测量范例
此案例中，我们成功地测量了蓝宝石和硼硅玻璃基底上铟锡氧化物薄膜厚度。与Filmetrics专有的ITO扩散模型结合的F10-RTA-EXR仪器，可以很容易地在380纳米到1700纳米内同时测量透射率和反射率以确定厚度，折射率，消光系数。由于ITO薄膜在各种基底上不同寻常的的扩散，这个扩展的波长范围是必要的。
测量设定:
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生物医疗设备涂层应用-Filmetrics 膜厚测量仪
Filmetrics 膜厚测量仪的卓越技术，Filmetrics膜厚测量仪提供了范围广泛的测量生物医疗涂层的方案。 支架： 支架上很小的涂层区域通常需要显微镜类的仪器。 我们的 F40膜厚测量仪 在几十个实验室内得到使用，测量钝化和/或药物输送涂层。我们有独特的测量系统对整個支架表面的自動厚度测绘，只需在测量时旋轉支架。 植入件： 在测量植入器件的涂层时，不规则的表面形状通常是唯一挑战。 Filmetrics 提供这一用途的全系列探头。 导丝和导引针： 和支架一样，这些器械常常可以用象 F40 这样的显微镜仪器。 用 F42 可以进行显微区域内厚度的两维测绘。 导液管和血管成型球囊的厚度:大于 100 微米的厚度和可见光谱不透明性决定了 F20-NIR 是这一用途方面全世界众多实验室内最受欢迎的仪器。
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2016/08/24
