《仪咖说》vol.12直播预告：畅聊技术与产业 表面分析20年发展与挑战

表面分析技术即利用电子、光子、离子、原子等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息的各种技术。表面分析技术广泛应用于材料表征等领域，是目前最前沿的分析技术之一。

表面分析技术是一种揭示材料及其制品的表面形貌、成分、结构或状态的分析手段。该技术可以用于开发新材料或改善现有材料的性能，进而支持相关产业优化、加速新产品开发、评估生产和包装工艺稳定性、快速识别跟踪污染物、评估新制造工艺和质量等。2015年到2020年期间，全球表面分析市场以约6.2%的复合年增长率增长，2020年表面分析市场约39.897亿美元。

基于此，仪器信息网计划于9月起陆续邀请国内主流表面分析仪器厂商代表畅聊表面分析技术与产业发展，帮助中国用户和相关人士更好地了解表面分析技术与市场。首期嘉宾为高德英特有限公司中国区执行总监叶上远。

一、主办单位

仪器信息网

二、本期直播时间

2022年9月6日14：00-16：00

三、直播平台

仪器信息网视频号

仪器信息网+小程序

四、本期直播嘉宾

高德英特有限公司中国区执行总监 叶上远

叶上远毕业于南非开普敦大学电动与电子工程学系，后在ULVAC-PHI公司工作超过10年，是高德英特有限公司（Ulvac-Phi Incorporated）在中国大陆的唯一代表。

叶上远曾在ULVAC-PHI公司参与了ULVAC-PHI表面分析仪器的详细仪器设计与开发，表面分析应用的技巧训练，和对系统的售后服务（包括仪器安装、故障诊断和优化以达到分析应用上和用户使用的最大需求）。此外，叶上远也负责对包括半导体、硬盘媒体、电子封装业、大学、研发研究机构用户提供现场操作和高级应用训练与支持。叶上远曾在亚洲各个地区如中国大陆、台湾、新加坡、泰国、菲律宾和马来西亚等进行过多次的应用研讨会及包括对AES、XPS和Tof-SIMS基本原理与高阶应用相关的用户培训，也曾提供给各种工业用户在样品分析方面的支援和培训。目前，叶上远为高德英特有限公司在中国区的销售和售后部执行总监，主要专业包括在X射线光电子能谱仪（XPS），俄歇电子能谱（AES）和飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）相关的表面分析技术。

五、本期直播议题

议题一：ULVAC-PHI (PHI CHINA) 公司背景

议题二：表面分析过去二十年的发展方向（技术与产业）

议题三：近年代表性的表面分技方法和技术

议题四：国内市场表面分析市场现状

议题五：ULVAC-PHI (PHI CHINA) 进入中国市场面临的机遇与挑战

议题六：未来表面分析仪器技术和市场发展的看法

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会议推荐：仪器信息网将于2022年9月7-9日举办首届表面分析技术与应用主题网络研讨会，旨在促进表面分析技术与应用领域的发展。

首届表面分析技术与应用主题网络研讨会共设置了5个主题会场 ，分别是:电子能谱（XPS/AES/UPS）技术与应用、扫描探针显微镜（AFM/STM）技术与应用、电子探针/原子探针技术与应用、二次离子质谱（SIMS）技术与应用、拉曼光谱及其他表面分析技术与应用。

会议报名：

https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/icsa2022/