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会议回顾|第六届表面分析技术研讨会
广东省分析测试协会表面分析专业委员会于2021年12月10～12日在广东东莞召开了2021年度年会暨第六届表面分析技术研讨会。本次会议邀请了国内表面分析专家学者及从事表面分析人员参加会议并作技术交流报告；邀请相关仪器设备厂商作 X 射线光电子能谱（XPS）、拉曼光谱（Raman）、原子力显微镜（AFM）、比表面分析仪（BET）等仪器设备的最新发展和产品展示。
PHI CHINA受邀参与了本次会议，由丁志琴工程师作为代表，发表了题为“先进表面分析技术在科学研究中的应用”的主题报告，为大家详细讲解了PHI的XPS、TOF-SIMS和AES的技术及性能特点。
同时，在PHI CHINA展位为大家展示了PHI最新的表面分析设备:PHI VersaProbe4 & PHI nanoTOF3。
丁程师报告中
PHI CHINA展位
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