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PHI VersaProbe 4 |多功能扫描聚焦X射线光电子能谱
X射线光电子能谱仪是一种有效的表面分析技术，已经广泛应用于基础科研、先进材料研究、高精尖技术等领域。XPS作为表面分析领域重要的大型科学仪器，已经成为材料分析中离不开的利器。
PHI XPS自推出以来，VersaProbe系列已成为全球最受欢迎的 XPS 分析仪。目前PHI已更新到第四代XPS，"PHI VersaProbe 4"。
PHI VersaProbe 4 采用新设计分析器，可实现从微小到大面积的高灵敏度分析。独特的微聚焦扫描X射线和SXI影像，通过类似SEM的SXI影像可以作为样品导航，实现100%精准地定义微区分析位置。
KEY TECHNOLOGIES
全新设计的高灵敏度和低噪音能量分析器
使用微区XPS分析技术进行准确的深度剖析
无需参数调整即可满足任何绝缘样品微区分析的荷电中和需求
远程访问实现对仪器的远程控制
多样化的配置，可以充分拓展XPS的潜力
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