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会议邀请| PHI CHINA邀您参加BCEIA2021
“第十九届北京分析测试学术报告会暨展览会-高校分析测试论坛”将于2021年9月27-29日在北京·中国国际展览中心开展。
本次论坛涉及光电子能谱、扫描探针显微镜、二次离子质谱、冷冻电镜、电镜原位技术等学术方面，PHI CHINA作为一直致力于表面分析科学服务的专家，将参与本次会议并进行大会报告。
以下是PHI CHINA的报告日程，欢迎各位专家、老师们前往现场进行交流讨论！
01.
会议地址
北京·中国国际展览中心（天竺新馆，展览区 E4-6）
02.
PHI CHINA报告时间
9月28日 14:00-14:20
03.
报告人
PHI CHINA应用专家 鞠焕鑫 博士
04.
报告主题
表面分析技术在能源材料研究中的应用
PHI VersaProbe 4
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