高德英特与ULVAC-PHI在用户会上推出XPS重量级新品

高德英特公司与ULVAC-PHI公司共同出席了2016年8月10日在昆明理工大学举办的“2016中国表面分析应用与学术用户会议暨ULVAC-PHI最新技术说明会”。50余名ULVAC-PHI的用户和从事表面分析技术研究与应用的专家学者参加了此次会议。

高德英特公司是ULVAC-PHI公司在中国区域销售及售后服务的全权代表，二者于2007年建立了战略合作伙伴关系。目前，高德英特公司拥有一支由8名资深工程师组成的技术团队，团队成员全部具备原厂认证技术资质，能够为用户提供完整的解决方案和完备的售前&售后技术支持。

与会期间，ULVAC-PHI公司执行董事木村市朗先生和高德英特总经理陈文征博士分别致辞，表明ULVAC-PHI和高德英特公司作为一个团队将共同代表“PHI在中国”，并表示今后将进一步加强与广大用户的交流，同时欢迎广大用户对ULVAC-PHI的仪器和服务多提意见。考虑到曹立礼和刘庆华两位老师为PHI产品打入中国市场所作出的突出贡献，ULVAC-PHI在此次会议上还设立了一个特别环节，向这两位老师20多年来给予PHI的鼎力支持和协助表示了最郑重、最诚挚的感谢。

会间，叶上远先生和ULVAC-PHI的真田宪明博士、宫山卓也先生分别介绍了ULVAC-PHI的新产品、新技术和新应用。叶上远先生重点推介了ULVAC-PHI全球发布的新产品——多功能扫描XPS微探针PHI 5000 VersaProbe III，并向与会嘉宾介绍了ULVAC-PHI新近推出的用于PHI nano TOF II的MS/MS技术。

高德中国区总监叶上远正在作專業的報告

ULVAC-PHI的木村市朗先生作出專業的報告