DAGE XD7500VR Jade Plus X光检查机

DAGE XD7500VR Jade Plus X光检查机

检验产品品质

主要检测：芯片元器件、电路板内部焊接，短路，气孔，气泡，裂纹，及异物检查。

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Jade Plus X光检查机可快速完成生产PCB检测，Quadra 5和7具有出色的放大倍率和功率，可用于PCB、封装和晶圆级检测以及故障分析。

Jade Plus X光检查机采用开放式X射线管，钨丝可更换，最高在3 W功率下可达1μm特征分辨率。

测量

Jade Plus可以独特地检测您的产品品质。作为标准配置些数据,您可以尽早发现新出现的品质趋势，以免为时已晚。

内置尺寸测量工具、BGA空洞分析、凸点直径和圆度以及通孔填充，可快速查找并表征缺陷，帮助您达到IPC-A-610和IPC-7095合规标准。

0.95μm解析度决定了是否能在无源元件中发现微裂纹。Jade Plus的解析度足以在微型BGA球内进行精确的空洞分析。

三维可视化可清晰地证明产品质量。选配的μCT组件可将元器件的二维X射线图像转换为完整的三维模型。

快速检测速度

自动检测程序

通过自动检测程序节省批量电路板的检测时间。程序仅需一次编程，然后放置电路板并单击运行即可。几秒钟内生成报告,报告可以保存在本地或中央数据库中。

2个倾斜角

借助独特的双斜轴几何结构，可以快捷方便地找到质量缺陷。可在高放大倍率下灵活的查看每个细节，而无需旋转样品。您永远不会错过样品的测试角度。

轻松导航

借助组件导航图可轻松到达想要的位置。只需单击一下，即可直接移动到电路板上的任何位置。使用实时部件ID查看器覆盖进行移动时，了解您正在查看的内容。

2个倾斜角

诺信DAGE双倾斜角探测器的独特几何结构是检测缺陷的良好路径，而这些缺陷仅在特定视角下才能看见。

VR4开放管

第四代-开放管技术适合以微米级解析度检测电子样品。

Gensys®软件

Gensys软件专为电子检测而开发，将先进的测量工具和自动化整合到一个可以快速学会的直观点击式平台中，因此您可以更快地获得高生产力。

QuadraGEN®

QuadraGEN专为Quadra®系列高解析度X射线检测系统而设计，可提供高质量X射线图像所需的功率和稳定性。

规格参数

X射线灯管：    开放式透射管

特征分辨率：   0.95 μm

靶功率：         3 W

电压：            30 - 160 kV

探测器：         AspireFP™平板探测器

分辨率：         1.4 MP

帧率：            10 fps

数字图像处理:  16 bit

安装            

软件:               基于Windows 10的Gensys® X射线检测软件

操作:               鼠标指向并单击（操纵杆可选）

斜角视图:         2 × 60° - 无需旋转样品

检测区:            510 x 445 mm (20 x 17.5”)

放大倍率:         高达7500倍

显示器:            单24” WUXGA

设备

尺寸（宽x深x高）：1.57 x 1.57 x 1.9 m

重量：                   1,950 kg