您好,欢迎访问仪器信息网
注册
上海尔迪仪器科技有限公司

关注

已关注

白金11年 白金

已认证

粉丝量 0

400-816-7838

仪器信息网认证电话,请放心拨打

当前位置: 尔迪仪器 > 资料中心 > 能量色散型与波长色散型X射线荧光分析仪的特点与差异

能量色散型与波长色散型X射线荧光分析仪的特点与差异

2021-07-28 09:58

浏览:36

分享:

资料摘要:

X 射线荧光分析技术(XRF)作为一种快速分析手段,为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的,检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径;相对于其他分析方法(例如:发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等),XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。 X 射线荧光分析技术可以分为两大类型:能量色散X 射线荧光分析(EDXRF)和波长色散X 射线荧光分析(WDXRF);而能量色散型又根据探测器的类型分为(Si-PIN)型和SDD 型。在不同的应用条件下,这几种类型的技术各有其突出的特点。
相关产品

下载本篇资料:

资料文件名:
资料大小
下载
能量色散型与波长色散型X射线荧光分析仪的特点与差异.docx
13KB

相关资料

yamato TE100产品资料-上海尔迪仪器科技有限公司

kruss接触角,有需要可联系上海尔迪仪器科技有限公司

日本kashiyama新款目录,更多资料找上海尔迪仪器科技有限公司

尔迪仪器yamato产品目录

推荐产品
供应产品

上海尔迪仪器科技有限公司

查看电话

沟通底价

提交后,商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价,选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位