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利用金相显微镜测量微米级膜层厚度

应用领域

材料

检测样品

其它

检测项目

金属镀层和氧化膜层
金相显微镜主要用于金属的相结构分析。也可以利用各种平面分析系统进行膜层的厚度测量，并且精度很高，最小误差约为±0.8μm，可作为金属镀层和氧化膜层的仲裁测量。

共1台

贝拓科学BETOP研究型金相显微镜TX53M

TX53M

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公司地址： 广州市海珠区仑头路78号粤科海纳检测技术装备园A4栋202室 联系人： 梁先生 邮编： 510310 联系电话： 400-668-1210

主营产品：

电化学工作站、恒电位仪 扫描电镜（SEM） 接触角测量仪 白光干涉测厚仪 其它光学测量仪

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