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利用 3D CT 电脑断层扫描 图像和 CAD 尺寸比对

2023/04/14 17:24

阅读:101

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应用领域:
材料
发布时间:
2023/04/14
检测样品:
生物医用材料
检测项目:
3D CT 电脑断层扫描
浏览次数:
101
下载次数:
参考标准:
/

方案摘要:

利用3D X-ray CT断层扫描可以提早发现内部缺陷以避免憾事的发生。保证电池质量稳定以避免产品需因为电池而全数召回产生的巨大成本。

产品配置单:

分析仪器

BH 300kV 高功率微米焦点及奈米焦点3D X-ray CT

型号: V|tome|x M300

产地: 美国

品牌: 贝克休斯(原美国GE)

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方案详情:

3D X-ray CT断层扫描应用在电池制程中以确保质量


工件误差分析是工业制造的重要环节,若实际产品和期望的CAD文件存在尺寸差异,其产品性能也会因此受影响。随着工业的发展,人人皆期望使用非破坏性检测的方式进行分析。因此利用3D X-ray CT断层扫描图像和CAD文件进行比对,即可快速得知两者差异,以利于产品改善。 可进行比对的CAD文件类型有STEP、IGES、JT、 NX、Catia、Creo、Inventor 和 SolidWorks。利用CAD和3D X-ray CT进行比对时,需先将两者重迭以便后续计算其差异。


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图四及图五为利用3D X-ray CT图像和CAD比对得到的结果。图五中为标注各点的偏差;红色标示为偏差超出设定公差,绿色标示为偏差在设定公差内。


1681464157090.jpg



▲图六 偏差值列表.png

▲图六 偏差值列表


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