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先驰精密仪器（东莞）有限公司

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仪器 （12） 耗材配件 试剂标物 品牌（0）
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全部 X射线探测装置 X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪） 气质联用(GC-MS) 其它X射线(衍射)仪 其它质谱仪 生物质谱/MALDI-TOF 液质联用(LC-MS) 离子色谱(IC) 导热仪、热导仪 差示扫描量热仪(DSC/DTA) 同步热分析仪（STA） 动态热机械分析仪（DMA/TMA/DMTA） X射线荧光测厚仪 光学平台 CCD相机/影像CCD 光度仪、雾度仪、光泽度仪 其它测量/计量仪器 无掩模光刻机/直写光刻机
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GE Nanomex 奈米级超高分辨率检测系统

GE Nanomex 奈米级超高分辨率检测系统
品牌： Sievers/威立雅
型号： Nanomex
产地： 美国
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BH X|aminer 微焦点检测系统

BH X|aminer 微焦点检测系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： X|aminer
产地： 美国
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BH Microme|x NEO 160 穿透式影像检测系统

BH Microme|x NEO 160 穿透式影像检测系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： Microme|x NEO 160
产地： 美国
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BH Microme|x NEO 180 穿透式影像检测系统

BH Microme|x NEO 180 穿透式影像检测系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： Microme|x NEO 180
产地： 美国
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BH Nanome|x NEO 180 穿透式影像检测系统

BH Nanome|x NEO 180 穿透式影像检测系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： Nanome|x NEO 180
产地： 美国
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BH 300kV 高功率微米焦点及奈米焦点3D X-ray CT

BH 300kV 高功率微米焦点及奈米焦点3D X-ray CT
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： V|tome|x M300
产地： 美国
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BH 240kV 高功率微米焦點及奈米焦點3D X-ray CT

BH 240kV 高功率微米焦點及奈米焦點3D X-ray CT
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： V|tome|x S240
产地： 美国
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BH V|tome|x L 450 高精密大型CT系統

BH V|tome|x L 450 高精密大型CT系統
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： V|tome|x L 450
产地： 美国
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BH V|tome|x L 300 高精密大型微/奈米CT系統

BH V|tome|x L 300 高精密大型微/奈米CT系統
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： V|tome|x L 300
产地： 美国
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GE Vtomex L 240 高精密微/奈米CT系統

GE Vtomex L 240 高精密微/奈米CT系統
品牌： Sievers/威立雅
型号： Vtomex L 240
产地： 美国
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BH Nanotom m 高对比奈米焦点CT系统

BH Nanotom m 高对比奈米焦点CT系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： Nanotom m
产地： 美国
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GE Micromex 微米级高分辨率自动检测系统

GE Micromex 微米级高分辨率自动检测系统
品牌： Sievers/威立雅
型号： Micromex
产地： 美国
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先驰精密仪器（东莞）有限公司为您提供12台X射线探测装置，包括GE Micromex 微米级高分辨率自动检测系统，BH Nanome|x NEO 180 穿透式影像检测系统，GE Vtomex L 240 高精密微/奈米CT系統， 不管是X射线探测装置原理、参数，还是X射线探测装置价格、型号都可咨询，公司客服电话400-860-5168,2298，售前、售后均可联系我们。

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光学平台 激光拉曼光谱(RAMAN) X射线探测装置 X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪） 动态热机械分析仪（DMA/TMA/DMTA） 气质联用(GC-MS) ICP-MS电感耦合等离子体质谱 气相色谱仪(GC) 红外光谱(IR、傅立叶) 紫外、紫外分光光度计、紫外可见分光光度计、UV 红外光谱(IR、傅立叶) 激光拉曼光谱(RAMAN) 差示扫描量热仪(DSC/DTA) 热重分析仪/热天平（TGA） 动态热机械分析仪（DMA/TMA/DMTA） 导热仪、热导仪 X射线荧光测厚仪

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