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先驰精密仪器（东莞）有限公司

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仪器
仪器 （47） 耗材配件 试剂标物 品牌（0）
分类：
全部 X射线探测装置 X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪） 气质联用(GC-MS) 其它X射线(衍射)仪 其它质谱仪 生物质谱/MALDI-TOF 液质联用(LC-MS) 离子色谱(IC) 导热仪、热导仪 差示扫描量热仪(DSC/DTA) 同步热分析仪（STA） 动态热机械分析仪（DMA/TMA/DMTA） X射线荧光测厚仪 光学平台 光度仪、雾度仪、光泽度仪 CCD相机/影像CCD 其它测量/计量仪器
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品牌：
全部 贝克休斯（原美国GE） 奥林巴斯 欧普菲 日立 日本电子 Hot Disk Sievers/威立雅
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HITACHI EA1400 X射线荧光光谱仪

优选

HITACHI EA1400 X射线荧光光谱仪
品牌： 日立
型号： EA1400
产地： 日本
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报价：¥50万 - 100万

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Vanta Element Series 手持式XRF荧光光谱仪

Vanta Element Series 手持式XRF荧光光谱仪
品牌： 奥林巴斯
型号： Vanta Element Series
产地： 美国
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典型用户： 0条

报价：¥10万 - 30万

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VANTA M series 手持式XRF荧光光谱仪

VANTA M series 手持式XRF荧光光谱仪
品牌： 奥林巴斯
型号： VANTA M series
产地： 美国
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报价：¥10万 - 30万

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JEOL DART-TOF 大气游离高解析质谱仪

优选

JEOL DART-TOF 大气游离高解析质谱仪
品牌： 日本电子
型号： AccuTOF™ DART® 4G (DART-TOF)
产地： 日本
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报价：面议

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JEOL JMS-T2000GC 高解析气相层析飞行时间质谱仪

优选

JEOL JMS-T2000GC 高解析气相层析飞行时间质谱仪
品牌： 日本电子
型号： JMS-T2000GC AccuTOF GC-Alpha
产地： 日本
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报价：面议

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JEOL TG-MS 热重质谱仪

JEOL TG-MS 热重质谱仪
品牌： 日本电子
型号： JMS-Q1600 TG-GCMS
产地： 日本
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解决方案： 3篇
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报价：面议

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HITACHI DSC 7020 差示扫描量热仪

HITACHI DSC 7020 差示扫描量热仪
品牌： 日立
型号： DSC 7020
产地： 日本
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报价：¥30万 - 50万

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HITACHI DMA7100 动态机械黏弹分析仪

HITACHI DMA7100 动态机械黏弹分析仪
品牌： 日立
型号： DMA7100
产地： 日本
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报价：¥50万 - 60万

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TPPT可程控机器手臂触控面板测试仪

TPPT可程控机器手臂触控面板测试仪
品牌： 欧普菲
型号： TPPT
产地： 芬兰
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OptoFidelity FRM120 影像播放速率测试仪

OptoFidelity FRM120 影像播放速率测试仪
品牌： 欧普菲
型号： Optofidlelity FRM120
产地： 芬兰
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典型用户： 0条

报价：面议

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GE Nanomex 奈米级超高分辨率检测系统

GE Nanomex 奈米级超高分辨率检测系统
品牌： Sievers/威立雅
型号： Nanomex
产地： 美国
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BH X|aminer 微焦点检测系统

BH X|aminer 微焦点检测系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： X|aminer
产地： 美国
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JEOL JMS-S3000 MALDI-TOF 雷射辅助基质离子螺旋飞行质谱仪

优选

JEOL JMS-S3000 MALDI-TOF 雷射辅助基质离子螺旋飞行质谱仪
品牌： 日本电子
型号： JMS-S3000
产地： 日本
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典型用户： 0条

报价：¥500万 - 600万

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HITACHI DSC 7000X 差示扫描量热仪

HITACHI DSC 7000X 差示扫描量热仪
品牌： 日立
型号： DSC 7000X
产地： 日本
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报价：¥30万 - 50万

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BH Microme|x NEO 160 穿透式影像检测系统

BH Microme|x NEO 160 穿透式影像检测系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： Microme|x NEO 160
产地： 美国
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报价：面议

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BH Microme|x NEO 180 穿透式影像检测系统

BH Microme|x NEO 180 穿透式影像检测系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： Microme|x NEO 180
产地： 美国
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报价：面议

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BH Nanome|x NEO 180 穿透式影像检测系统

BH Nanome|x NEO 180 穿透式影像检测系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： Nanome|x NEO 180
产地： 美国
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报价：面议

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HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪

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HITACHI FT160 XRF萤光镀层厚度测量仪
品牌： 日立
型号： FT160
产地： 日本
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典型用户： 0条

报价：¥100万 - 200万

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HITACHI STA7200 热重-卡量计双重分析仪

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HITACHI STA7200 热重-卡量计双重分析仪
品牌： 日立
型号： STA7200
产地： 日本
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典型用户： 0条

报价：¥30万 - 50万

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HITACHI TMA7100 热机械分析仪

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HITACHI TMA7100 热机械分析仪
品牌： 日立
型号： TMA7100
产地： 日本
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报价：¥30万 - 40万

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HITACHI NEW DSC 差示扫描量热仪

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HITACHI NEW DSC 差示扫描量热仪
品牌： 日立
型号： NEW DSC
产地： 日本
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解决方案： 2篇
典型用户： 0条

报价：¥30万 - 50万

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VANTA L series 手持式XRF荧光光谱仪

VANTA L series 手持式XRF荧光光谱仪
品牌： 奥林巴斯
型号： VANTA L series
产地： 美国
参考资料： 0篇
解决方案： 0篇
典型用户： 0条

报价：¥10万 - 30万

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BH 300kV 高功率微米焦点及奈米焦点3D X-ray CT

BH 300kV 高功率微米焦点及奈米焦点3D X-ray CT
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： V|tome|x M300
产地： 美国
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解决方案： 2篇
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报价：面议

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BH 240kV 高功率微米焦點及奈米焦點3D X-ray CT

BH 240kV 高功率微米焦點及奈米焦點3D X-ray CT
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： V|tome|x S240
产地： 美国
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解决方案： 2篇
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BH V|tome|x L 450 高精密大型CT系統

BH V|tome|x L 450 高精密大型CT系統
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： V|tome|x L 450
产地： 美国
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解决方案： 0篇
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BH V|tome|x L 300 高精密大型微/奈米CT系統

BH V|tome|x L 300 高精密大型微/奈米CT系統
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： V|tome|x L 300
产地： 美国
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GE Vtomex L 240 高精密微/奈米CT系統

GE Vtomex L 240 高精密微/奈米CT系統
品牌： Sievers/威立雅
型号： Vtomex L 240
产地： 美国
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BH Nanotom m 高对比奈米焦点CT系统

BH Nanotom m 高对比奈米焦点CT系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： Nanotom m
产地： 美国
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GE Micromex 微米级高分辨率自动检测系统

GE Micromex 微米级高分辨率自动检测系统
品牌： Sievers/威立雅
型号： Micromex
产地： 美国
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OptoFidelity RV1 远端控制视讯系统

OptoFidelity RV1 远端控制视讯系统
品牌： 欧普菲
型号： OptoFidelity RV1
产地： 芬兰
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光学平台 激光拉曼光谱(RAMAN) X射线探测装置 X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪） 动态热机械分析仪（DMA/TMA/DMTA） 气质联用(GC-MS) ICP-MS电感耦合等离子体质谱 气相色谱仪(GC) 红外光谱(IR、傅立叶) 紫外、紫外分光光度计、紫外可见分光光度计、UV 红外光谱(IR、傅立叶) 激光拉曼光谱(RAMAN) 差示扫描量热仪(DSC/DTA) 热重分析仪/热天平（TGA） 动态热机械分析仪（DMA/TMA/DMTA） 导热仪、热导仪 X射线荧光测厚仪

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