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先驰精密仪器（东莞）有限公司

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全部 X射线探测装置 X荧光光谱、XRF（能量色散型X荧光光谱仪） 其它X射线(衍射)仪
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全部 贝克休斯（原美国GE） 奥林巴斯 Thermtest 爱色丽 欧普菲 日立 日本电子 Hot Disk Sievers/威立雅
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GE Nanomex 奈米级超高分辨率检测系统

GE Nanomex 奈米级超高分辨率检测系统
品牌： Sievers/威立雅
型号： Nanomex
产地： 美国
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BH X|aminer 微焦点检测系统

BH X|aminer 微焦点检测系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： X|aminer
产地： 美国
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BH Microme|x NEO 160 穿透式影像检测系统

BH Microme|x NEO 160 穿透式影像检测系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： Microme|x NEO 160
产地： 美国
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BH Microme|x NEO 180 穿透式影像检测系统

BH Microme|x NEO 180 穿透式影像检测系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： Microme|x NEO 180
产地： 美国
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BH Nanome|x NEO 180 穿透式影像检测系统

BH Nanome|x NEO 180 穿透式影像检测系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： Nanome|x NEO 180
产地： 美国
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BH 300kV 高功率微米焦点及奈米焦点3D X-ray CT

BH 300kV 高功率微米焦点及奈米焦点3D X-ray CT
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： V|tome|x M300
产地： 美国
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BH 240kV 高功率微米焦點及奈米焦點3D X-ray CT

BH 240kV 高功率微米焦點及奈米焦點3D X-ray CT
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： V|tome|x S240
产地： 美国
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解决方案： 2篇
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BH V|tome|x L 450 高精密大型CT系統

BH V|tome|x L 450 高精密大型CT系統
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： V|tome|x L 450
产地： 美国
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BH V|tome|x L 300 高精密大型微/奈米CT系統

BH V|tome|x L 300 高精密大型微/奈米CT系統
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： V|tome|x L 300
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GE Vtomex L 240 高精密微/奈米CT系統

GE Vtomex L 240 高精密微/奈米CT系統
品牌： Sievers/威立雅
型号： Vtomex L 240
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BH Nanotom m 高对比奈米焦点CT系统

BH Nanotom m 高对比奈米焦点CT系统
品牌： 贝克休斯（原美国GE）
型号： Nanotom m
产地： 美国
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GE Micromex 微米级高分辨率自动检测系统

GE Micromex 微米级高分辨率自动检测系统
品牌： Sievers/威立雅
型号： Micromex
产地： 美国
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先驰精密仪器（东莞）有限公司为您提供12台X射线探测装置，包括BH Microme|x NEO 160 穿透式影像检测系统，BH Microme|x NEO 180 穿透式影像检测系统，BH 300kV 高功率微米焦点及奈米焦点3D X-ray CT， 不管是X射线探测装置原理、参数，还是X射线探测装置价格、型号都可咨询，公司客服电话，售前、售后均可联系我们。

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