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核心参数
产地类别： 进口
厂家介绍：
美国 DataRay 公司成立于1988年，专业提供激光光束分析仪器，对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析；可提供2D或3D的显示，并对分析的结果进行打印输出。适合各种各样的激光光束，帮助你对你的激光光束的品质提供一个量化的结果。
应用领域：
• 通信：光缆加工/熔接、研发
• 材料加工：焊接、蚀刻、切割
• 消费设备：光学鼠标
• 天文
• 激光制造与品控
• 光谱学
• 3D扫描
• 粒子检测
• LED：室内照明、车头灯
• LIDAR：AR、VR
• 生物医学：眼科手术、激光手术、内部跟踪
M2测量仪：
Dataray公司设计生产的一体化高精度、小型化专用M2测量仪，重复精度大大优于行业平均水平，主要用于测量激光器的M2、发散角、束腰大小/位置、瑞利长度等。
Dataray公司结合不同的光束质量分析仪和M2测量模块，可以实现不同波段（190nm~3.9μm），不同光束口径的M2测量系统，为了能够满足不同客户的要求，还可以根据客户的要求在我们标准的系统上提供定制化服务，这样客户可以不用花很大的成本去得到完全能满足要求的测量设备。该系统可以用于测量高功率的连续以及脉冲激光器，包括半导体/固体激光器以及光纤激光器等。 该系统为自动测量系统，并且整个测量过程不超过2分钟，可以大大提高用户的工作效率。在该系统中我们配有高精度高像素的CCD相机，以及高精度的自动导轨，从而确保测量的准确性。
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| 搭载WinCamD的M2测量仪：M2DU-WCD | 搭载狭缝式Beam'R2 的M2测量仪：M2DU-BR | WinCamD M2 Stage |
DataRay模块化设计的M2测量系统为用户提供了M2测量的超高灵活性。通过厂家提供的电子表格，用户可以选择理想的M2测量配置：不同参数的相机式或狭缝扫描式的光束质量分析仪、不同焦距的透镜可选、50mm或200 mm长的位移台可选。光束质量分析仪不仅可以在M2平台上用于测量M2值，还可以可拆卸下来单独使用。
该系统既可测连续激光，也可测脉冲激光，使用灵活方便。
M2测量系统参数：
波长范围 | 190nm - 16um |
位移台行程 | 50或200mm |
M2测量范围 | 1-50 |
M2精度 | ±5% |
M2重复性 | ±2% |
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