2016/05/04 17:09
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扫描探针显微镜在生命科学领域的应用
扫描探针显微镜:5500ILM和7500ILM
扫描探针显微镜既可以单独工作,又可以和荧光显微镜、激光共聚焦联合工作。
是德科技AFM系列都可以选择配有专用接口平台,可方便地将高精度AFM成像部件直接与各类倒置显微镜联用,从而实现多种显微手段同时成像,既可以得到光学的明场像、暗场像、荧光图或激光共聚焦图,又可以轻松获得原子力图像;对用一个样品的同一个位置同时原位得到高衬度的光学图和高分辨的AFM图,这是生命科学领域用户最心仪的显微解决方案。 是德科技AFM还具有很强的兼容性,可与各个厂商的倒置显微镜和激光共聚焦联用,也可支持FRET,暗场和明场成像多种光学附件功能。
优势
AFM和光学(荧光)显微镜同时成像
独特的MAC模式和样品台设计,便于液态成像操作
特殊的结构设计,用户可直接调整样品台
真正模块化设计,大大提高系统的灵活性
血红细胞
细菌表面高分辨成像
人体活细胞成像
生物组织内壁成像
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纳米力学测试系统在新能源领域的应用
是德科技纳米压痕仪的特点和优势 –– 广受赞誉的快速测试选项可以和所有G200型纳米压痕仪配合使用,包括DCMII和XP模块以及样品台 –– 快速进行面积函数和框架刚度校对 –– 精确和可重复的结果,完全符合ISO 14577标准 –– 通过电磁驱动,可在无与伦比的范围内连续调整加载力和位移 –– 结构优化,适合传统测试或全新应用 –– 模块化设计,可以进行适合划痕测试,高温测试和动态测试 –– 强大的软件功能,包括对试验进行实时控制,简化了特殊测试方法的开发 ––全自动的热漂移效应实时扣除功能
能源/新能源
2016/11/21
是德科技桌面型场发射扫描电镜在半导体器件失效分析中的应用
在半导体器件失效分析方法中,以使用非破坏性的测试方法最为普遍,包括物理成像观察(光学显微镜、扫描电镜SEM+EDS)、化学分析(FT-IR)、结构分析(扫描电镜SEM或透射显微镜TEM截面分析)、电学性能分析、等。其中,扫描电镜SEM是使用最为广泛的检测工具。考虑到半导体器件的导电性能和失效分析对成像分辨的要求,目前主要使用场发射扫描电镜进行相关分析测试。Keysight FE-SEM 8500是市场上唯一一款桌面型场发射扫描电镜,低电压高分辨成像可以很好的完成绝大多数半导体器件的失效分析,同时简单易用的操作界面和高效实用的成像方法(无需喷金喷碳处理,直接观测),适用于各种不同水平的操作人员。
电子/电气
2016/06/21
SEM在MEMs中的应用
是德科技的FE-SEM 8500采用热场发射电子枪,为用户提供高亮度、高分辨的成像性能。独特的设计使其可以在1kV条件下达到优于10nm的分辨率。创新的全静电透镜设计保证了重复性,并无需定期的调校。FE-SEM 8500提供多种成像模式:包括二次电子成像、背散射电子成像和形貌成像。
半导体
2016/05/06
SEM在生命科学领域的应用
是德科技的FE-SEM 8500采用热场发射电子枪,为用户提供高亮度、高分辨的成像性能。独特的设计使其可以在1kV条件下达到优于10nm的分辨率。创新的全静电透镜设计保证了重复性,并无需定期的调校。FE-SEM 8500提供多种成像模式:包括二次电子成像、背散射电子成像和形貌成像。
生物产业
2016/05/06