您好,欢迎访问仪器信息网
注册
QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

关注

已关注

金牌18年 金牌

已认证

粉丝量 0

400-860-5168转0980

仪器信息网认证电话,请放心拨打

当前位置: QUANTUM量子科学 > 资料中心 > 高光谱化学成像工作站-SisuCHEMA-技术介绍

高光谱化学成像工作站-SisuCHEMA-技术介绍

2020-03-02 18:42

浏览:116

分享:

资料摘要:

SisuCHEMA将近红外(NIR)光谱与高分辨成像相结合,可以得到样品化学成分的量化数据以及空间分布等细节信息。高光谱成像中每一象素都记录了其对应样品点的,包含了化学成分、质量、颜色、温度等信息的光谱特征。对于材料性能高度取决于其化学和物理结构的先进材料,SisuCHEMA能够为其表征和质量保证提供宝贵的信息。
相关产品

高光谱化学成像工作站-SisuCHEMA

型号: SisuCHEMA

产地:

品牌: SPECIM

¥ 100万 - 200万

参考报价

下载本篇资料:

资料文件名:
资料大小
下载
sisuCHEMA-中文单页-20191125.pdf
1527KB

相关资料

德国INTERHERENCE公司推出的超精准可调节温度控制模块-VAHEAT是一款用于光学显微镜的精密温度控制模块,兼容市面上绝大多数的商用显微镜和物镜。该模块独有的智能基底将透明加热元件与高灵敏度温度探头相结合,实现了在高清成像的同时快速和精确地调节温度,加热速率可达100℃/s,最高温度可达200℃,稳定性0.01℃。该模块尤其适用于生命科学和材料科学中的温度敏感过程研究,如活细胞高分辨成像、DNA生物学、热休克蛋白、相分离等。

ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品薄为10μm。此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。

日本Advance Riko公司新推出的激光闪光法热常数测量系统(型号:TC-1200RH)使用红外金面炉替代传统电阻炉加热,大大缩短测量时间。可应用于热电材料的研究与开发,及其他材料的热物理性能评价。 TC-1200RH系统采用符合JIS/ISO标准的激光闪光法测定材料的三个重要热物理常数:热导率(导热系数)、热扩散系数及比热容。

日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比,样品制备和测量为简单。

推荐产品
供应产品

QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

查看电话

沟通底价

提交后,商家将派代表为您专人服务

获取验证码

{{maxedution}}s后重新发送

获取多家报价,选型效率提升30%
提交留言
点击提交代表您同意 《用户服务协议》 《隐私政策》 且同意关注厂商展位