使用AFS检测单分子水平的蛋白去折叠过程

2018-08-03 13:49

浏览：40次

资料摘要：

高通量分子操控分析仪（声镊）--AFS，是同时对数千个生物分子进行检测分析的一款高通量单分子操控设备。AFS芯片上的声波（超声波）可同时并行地在数千个生物分子（如DNA，RNA或蛋白质）施加亚皮牛顿（pN）到数百皮牛顿（pN）的力，同时具有亚毫秒的响应时间及固有稳定性。AFS技术可在核酸蛋白、药物蛋白和抗原抗体层面上精准分析分子间相互作用，有效助力科学家研究蛋白质结构与功能相互关系，新的生物机制和细胞力学，也可用于研究和识别自由能图，动力学速率和在反应过程中的中间态。

下载本篇资料：

资料文件名：

资料大小

下载

AFS应用于蛋白去折叠.pdf

14429KB

免费下载

DNA修复机制和非同源末端连接（ NHEJ）单分可视化

LaVision BioTec 光片照明显微镜—实现人类胚胎细胞级分辨率的3D成像

相关资料

超精准可调节温度控制模块-VAHEAT 产品简介

德国INTERHERENCE公司推出的超精准可调节温度控制模块-VAHEAT是一款用于光学显微镜的精密温度控制模块，兼容市面上绝大多数的商用显微镜和物镜。该模块独有的智能基底将透明加热元件与高灵敏度温度探头相结合，实现了在高清成像的同时快速和精确地调节温度，加热速率可达100℃/s，最高温度可达200℃，稳定性0.01℃。该模块尤其适用于生命科学和材料科学中的温度敏感过程研究，如活细胞高分辨成像、DNA生物学、热休克蛋白、相分离等。

聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d-技术介绍

ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。此外，ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致，其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。

激光闪光法热常数测量系统-TC-1200RH-技术介绍

日本Advance Riko公司新推出的激光闪光法热常数测量系统（型号：TC-1200RH）使用红外金面炉替代传统电阻炉加热，大大缩短测量时间。可应用于热电材料的研究与开发，及其他材料的热物理性能评价。 TC-1200RH系统采用符合JIS/ISO标准的激光闪光法测定材料的三个重要热物理常数：热导率（导热系数）、热扩散系数及比热容。

纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω-技术介绍

日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比，样品制备和测量为简单。

产品推荐