LaVision双光子显微镜-肿瘤生长与入侵动态成像

2012-08-20 15:29

浏览：462次

资料摘要：

从首次感染部位向邻近基质的转移入侵是肿瘤发展过程中的关键步骤，研究成果较少。肿瘤入侵的原理以各种体外模型给出了实验性的表述；但是，体内的关键性步骤和机制仍然不清楚。这里，我们通过落射荧光成像和多光子显微镜建立了一个修正的皮肤折叠室模型来阐述关于HT-1080纤维肉瘤细胞的原位移植，生长和入侵。这种策略允许对作为独立细胞或者集体粘丝或者细胞团沿着富含胶原的细胞外基质和增补宿主组织包括纹状肌肉丝和淋巴管的肿瘤生长、肿瘤诱导血管形成和入侵进行重复成像。这个修正的窗口模型将适用于阐述肿瘤转移和入侵的机制，以及相关的实验性治疗。

下载本篇资料：

资料文件名：

资料大小

下载

LaVision双光子显微镜-肿瘤生长与入侵动态成像.pdf

937KB

免费下载

LaVision双光子显微镜-亚细胞水平的深层组织成像

LaVision双光子显微镜-多焦点扫描与光激活蛋白的应用

相关资料

超精准可调节温度控制模块-VAHEAT 产品简介

德国INTERHERENCE公司推出的超精准可调节温度控制模块-VAHEAT是一款用于光学显微镜的精密温度控制模块，兼容市面上绝大多数的商用显微镜和物镜。该模块独有的智能基底将透明加热元件与高灵敏度温度探头相结合，实现了在高清成像的同时快速和精确地调节温度，加热速率可达100℃/s，最高温度可达200℃，稳定性0.01℃。该模块尤其适用于生命科学和材料科学中的温度敏感过程研究，如活细胞高分辨成像、DNA生物学、热休克蛋白、相分离等。

聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d-技术介绍

ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率，可以测量的样品薄为10μm。此外，ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致，其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。

激光闪光法热常数测量系统-TC-1200RH-技术介绍

日本Advance Riko公司新推出的激光闪光法热常数测量系统（型号：TC-1200RH）使用红外金面炉替代传统电阻炉加热，大大缩短测量时间。可应用于热电材料的研究与开发，及其他材料的热物理性能评价。 TC-1200RH系统采用符合JIS/ISO标准的激光闪光法测定材料的三个重要热物理常数：热导率（导热系数）、热扩散系数及比热容。

纳米薄膜热导率测试系统-TCN-2ω-技术介绍

日本Advance Riko公司推出的纳米薄膜热导率测试系统是使用2ω方法测量纳米薄膜厚度方向热导率的商用系统。与其他方法相比，样品制备和测量为简单。

产品推荐