关注
已关注
已认证
粉丝量 0
400-860-5168转0879
仪器信息网认证电话，请放心拨打
核心参数
仪器种类： 单晶衍射仪
测角仪： 微焦斑
2θ转动范围： 0.0001o
X射线管功率： 优于
探测器： 不超过
主要特点
新一代小分子单晶X射线分析装置。PILATUS是新一代探测器，以前仅仅用于同步辐射。其卓越的性能可以将测量时间缩短到以前的20%（与CCD比较）。
PILATUS在室温状态使用，环境要求宽松，半导体探测器，免维护,低使用成本。
仪器采用微聚焦X射线发生器，大大提高小晶体的测试能力。
技术参数
1、使用PILATUS 200K全新平面探测器
测量时，可以连续扫描，不需要关闭快门，直到数据采集完成；不像传统的IP或CCD需要不停开闭快门
惊人的动态范围，可以达到106photons/pixel
无暗电流，无噪音，可以长时间曝光
高灵敏度，可以得到高S/N
像素172um，它可以准确地解决重叠问题
半导体探测器，免维护，常温使用
2. 测角仪包括
Partial Chi(χ)
Fixed Chi(χ) three-axis
AFC-Kappa four-axis
3、光源可以提供
3 kW sealed tube
MicroMax003
DualSource (MicroMax003 Cu + MicroMax003 Mo)
MultiMax9
MicroMax007HF
MicroMax007HF-DW（Cu/Mo）
4. 选件，可以提供低温装置
理学X射线衍射仪XtaLAB P200的工作原理介绍
X射线衍射仪XtaLAB P200的使用方法?
理学XtaLAB P200多少钱一台?
X射线衍射仪XtaLAB P200可以检测什么？
X射线衍射仪XtaLAB P200使用的注意事项？
理学XtaLAB P200的说明书有吗？
理学X射线衍射仪XtaLAB P200的操作规程有吗？
理学X射线衍射仪XtaLAB P200报价含票含运吗？
理学XtaLAB P200有现货吗？
更多
更多
北京理化赛思：应用织构极图研究ZnO外延膜的晶体取向特征
用MOCVD法在蓝宝石衬底上生长ZnO外延膜。用理学D/max 2550转靶衍射仪测量ZnO外延膜织构。观察到试样存在两种晶体取向关系：ZnO[11-20]//Al2O3[10-10]及ZnO[10-10]//Al2O3[10-10]。计算得到晶格取向极点分布平均半高宽为12.26O，且前一种取向晶体的数量是后者的13倍。探讨了两种取向的热力学稳定性。给出了外延膜取向特性的逐层分析结果。
其他
2017/09/29
企业名称
北京理化赛思科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(自然人投资或控股)
信用代码
91110108748820412J
成立日期
2003-04-02
注册资本
200万元
经营范围
技术开发、技术转让、技术咨询、技术服务、技术推广;销售仪器仪表、电子产品、计算机、软件及辅助设备、通讯设备、五金、交电、化工产品(不含危险化学品及一类易制毒化学品)、文化用品、金属材料;应用软件服务;计算机系统服务;数据处理;仪器仪表维修;维修计算机;货物进出口、代理进出口、技术进出口。(市场主体依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事国家和本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
北京理化赛思科技有限公司
公司地址
北京市德外马甸裕民路12号E2元辰鑫大厦2311室
客服电话
公司名称： 北京理化赛思科技有限公司
公司地址： 北京市德外马甸裕民路12号E2元辰鑫大厦2311室 联系人： 曲小姐 邮编： 100029 联系电话： 400-860-5168转0879
仪器信息网APP
展位手机站