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核心参数
仪器种类： 多晶衍射仪
测角仪： 3KW
2θ转动范围： 0.0001o
X射线管功率： 优于0.0001
探测器： 不超过±0.01
仪器简介：
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统，一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构，通过对各个单元的不同组合，可以进行各种测试。
技术参数
1. X射线发生器功率为3KW
2. 测角仪为水平测角仪
3. 测角仪最小步进为1/10000度
4. 测角仪配程序式可变狭缝
5. 高反射效率的石墨单色器
6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学独有）
7. 小角散射测试组件
8. 多用途薄膜测试组件
9. 微区测试组件
10. In-Plane测试组件（理学独有）
11. 高速探测器D/teX-Ultra
12. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
13. 分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等
主要特点：
组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要的应用有：
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析
理学X射线衍射仪Ultima IV系列的工作原理介绍
X射线衍射仪Ultima IV系列的使用方法?
理学Ultima IV系列多少钱一台?
X射线衍射仪Ultima IV系列可以检测什么？
X射线衍射仪Ultima IV系列使用的注意事项？
理学Ultima IV系列的说明书有吗？
理学X射线衍射仪Ultima IV系列的操作规程有吗？
理学X射线衍射仪Ultima IV系列报价含票含运吗？
理学Ultima IV系列有现货吗？
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北京理化赛思：应用织构极图研究ZnO外延膜的晶体取向特征
用MOCVD法在蓝宝石衬底上生长ZnO外延膜。用理学D/max 2550转靶衍射仪测量ZnO外延膜织构。观察到试样存在两种晶体取向关系：ZnO[11-20]//Al2O3[10-10]及ZnO[10-10]//Al2O3[10-10]。计算得到晶格取向极点分布平均半高宽为12.26O，且前一种取向晶体的数量是后者的13倍。探讨了两种取向的热力学稳定性。给出了外延膜取向特性的逐层分析结果。
其他
2017/09/29
企业名称
北京理化赛思科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(自然人投资或控股)
信用代码
91110108748820412J
成立日期
2003-04-02
注册资本
200万元
经营范围
技术开发、技术转让、技术咨询、技术服务、技术推广;销售仪器仪表、电子产品、计算机、软件及辅助设备、通讯设备、五金、交电、化工产品(不含危险化学品及一类易制毒化学品)、文化用品、金属材料;应用软件服务;计算机系统服务;数据处理;仪器仪表维修;维修计算机;货物进出口、代理进出口、技术进出口。(市场主体依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事国家和本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
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