核心参数
产地类别: 进口
SIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统是测试VIS-SWIR光谱波段敏感的成像探测器(或相机机芯)而开发的测试系统,能够测量光谱范围从400nm到2200nm的VIS-SWIR成像探测器(硅、黑硅、InGaAs)的辐射参数和光谱参数。可以测量以下参数:相对光谱灵敏度、响应度、噪声等效照度、D*(比探测率)和空间噪声。
SIT测试系统是两个主要模块的总和:波长和光强连续可调的校准光源SITO和IPS图像处理系统(PC、图像采集卡、软件)。被测探测器位于SITO光源的输出端,传感器受到所需波长和辐照度的光的均匀照射,被测探测器生产标准格式的图像,通过IPS系统采集并分析图像,确定VIS-SWIR成像探测器的重要参数。
一般参数 | |
工作温度范围 | +5oC到+35oC |
储存温度范围 | -5oC 到+55oC |
湿度范围 | 高90**(无冷凝) |
重量 | 58kg |
尺寸 | 173 x 43 x 28 cm |
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企业名称
北京欧普特科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(自然人投资或控股)
信用代码
911101087000362155
成立日期
1998-07-09
注册资本
200万元
经营范围
代理进出口;技术进出口;货物进出口;技术开发、技术咨询、技术服务、技术转让;零售开发后的产品、文化办公用机械、计算机及外围设备、机械电器设备、环保设备、建筑材料;机械设备租赁(不含汽车租赁).(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
北京欧普特科技有限公司
公司地址
亦庄经济开发区宏达南路5号宏达利德园区2号楼301室
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