核心参数
产地类别: 进口
红外焦平面阵列是热成像系统**重要的核心部件。探测器电路(核心)的设计是热成像系统的关键部分。因为红外焦平面阵列的参数决定了热像仪系统的性能极限,红外焦平面技术或热像仪技术方面的专业人员必须**地了解红外焦平面阵列参数方面的知识。因此,测量红外焦平面阵列性能的测量设备是研发红外热成像系统的关键。
FT是一个完备的测试系统,它产生**控制时空分布的红外,辐射到红外焦平面的输入平面来控制被测红外焦平面;被测红外焦平面阵列(或热像仪核心)进行表征所需的输出信号进行半自动分析。
该系统能够测量热像仪核心和红外焦平面阵列的所有重要参数(噪声/灵敏度、成像质量和光谱参数)。可测试不同光谱波段(LWIR或MWIR)、冷却或非冷却的探测器。FT系统可以在一系列版本中提供,并针对不同测试范围的热成像核心和红外焦平面阵列进行优化,还可以选择能够测试完整的热像仪的超扩展版本。
FT测量系统一个模块化的系统,可以方便快速地配置成三个半独立的测量工作站:FT-N,FT-I,和FT-S。
1.FT-N——噪声和响应参数的测量;
2.FT-I——成像质量参数的测量
3.FT-S——光谱参数测量。
红外焦平面阵列的参数可分为三大类:
噪声/灵敏度参数:
1.标准噪声特性:NETD(高频时间噪声)、FPN(高频空间噪声)、不均匀性(低频空间噪声),
2.响应参数:SiTF,线性,动态范围,饱和水平,
3.高级噪声参数:3D噪声模型、NPSD、1/f噪声、坏像素数和坏像素定位,
4.D*(归一化探测率)和相关参数可选(需要知道FPA的积分时间)。
图像质量参数:
1.调制传递函数MTF,
2.能量损耗(PVF),
3.串扰。
光谱参数:
1. 相对光谱灵敏度(平均值、偏差、信号相关性)
FT测试系统可以以不同版本、不同测试能力和不同价格水平交付。
可使用下表所示的代码**确定版本。
A | B | |
编号 | 测试能力 | 测试完整的热像仪 |
1 | 噪声/相应参数 | 否 |
2 | 成像参数 | 是 |
3 | 光谱参数 | |
4 | 噪声相应和成像参数 | |
5 | 所有参数 |
示例代码:
代码FT40–测量红外焦平面传感器/摄像机芯的噪声/响应和成像参数的系统。不能测试完整的热像仪。
代码FT52-测量红外焦平面传感器/摄像机核心的噪声/响应、成像和光谱参数的系统。能够测试完整的热像仪。
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企业名称
北京欧普特科技有限公司
企业信息已认证
企业类型
有限责任公司(自然人投资或控股)
信用代码
911101087000362155
成立日期
1998-07-09
注册资本
200万元
经营范围
代理进出口;技术进出口;货物进出口;技术开发、技术咨询、技术服务、技术转让;零售开发后的产品、文化办公用机械、计算机及外围设备、机械电器设备、环保设备、建筑材料;机械设备租赁(不含汽车租赁).(企业依法自主选择经营项目,开展经营活动;依法须经批准的项目,经相关部门批准后依批准的内容开展经营活动;不得从事本市产业政策禁止和限制类项目的经营活动。)
北京欧普特科技有限公司
公司地址
亦庄经济开发区宏达南路5号宏达利德园区2号楼301室
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