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inTEST 热流仪半导体功率模块高低温测试

2024/08/21 14:32

阅读:1

分享:
应用领域:
半导体
发布时间:
2024/08/21
检测样品:
光电器件
检测项目:
浏览次数:
1
下载次数:
参考标准:
/

方案摘要:

inTEST Thermal Platform(热板)测试方案, 非常适用于大型功率器件, 例如IGBT模块, 其测试治具有平整接触面, 测试方法既快速又简单, 能够非常方便的搭配功率器件分析仪 (如Keysight B1506A)支持自动温度测试(可测室温至+250°C).

产品配置单:

前处理设备

inTEST 高低温冲击热流仪 ATS-545, 芯片高低温试验

型号: ATS-545

产地: 美国

品牌: inTEST- Temptronic

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方案详情:


Thermal plate solution (Room temperature to +250℃)


半导体功率模块需要在各种苛刻和极端的环境条件下使用, 例如: 火车、汽车、发电机等. 在这些应用中, 可靠和安全的稳健设计至关重要.


因此功率器件最初的关键设计必须考虑最高工作温度, 一旦知道这一点, 就可以明确不同的应用要求, 使之在预期的工作温度和条件下运行.


IGBT模块的温度测试应用


inTEST Thermal Platform(热板)测试方案, 非常适用于大型功率器件, 例如IGBT模块, 其测试治具有平整接触面, 测试方法既快速又简单, 能够非常方便的搭配功率器件分析仪 (如Keysight B1506A)支持自动温度测试(可测室温至+250°C).


inTEST高低温测试机应用于功率器件的测试过程

使用inTEST高低温测试机搭配功率器件分析仪, 整个测试过程使用非常简单, 具体测试步骤如下:

1.将待测功率器件固定在Thermal Plate测试治具上.

2.选择 IGBT 测试模板, 按照测试要求设置测试条件;

3.设置测试曲线的显示范围;

4.选择需要测试的参数;

5.点击执行测试.


上海伯东是德国 Pfeiffer  真空设备, 美国  KRI 考夫离子源, 美国Gel-pak 芯片包装盒, 美国 inTEST 高低温冲击测试机日本 NS 离子蚀刻机, 比利时 Stratasys 3D 打印机, 比利时原装进口 Europlasma 等离子表面处理机 和美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!


若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络

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