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上海伯东 inTest ATS-710E 用于车载芯片高低温循环测试

2024/08/16 14:05

阅读:1

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应用领域:
汽车及零部件
发布时间:
2024/08/16
检测样品:
其他
检测项目:
可靠性能
浏览次数:
1
下载次数:
参考标准:
/

方案摘要:

随着汽车自动化、智能化的快速发展,车载芯片及模组成为当前开发的重点,由于车规产品基本覆盖汽车的全生命周期,因此必须符合汽车功能安全标准,而高低温测试则是其相关零部件检测的必要条件。上海伯东通过与某客户沟通,其车载芯片需进行温度循环测试,其各温度要求如 -40℃、0℃、25℃、65℃、110℃、150℃,通过进入 ATS-710E 的温度循环设置界面,快速设定相应温度点、变温速率及持续时间,即可依次进行温度循环试验,与常规温箱相比,极大地提高温度测试效率。

产品配置单:

前处理设备

inTEST 高低温冲击热流仪 ATS-710E

型号: inTEST ATS-710E

产地: 美国

品牌: inTEST- Temptronic

面议

参考报价

联系电话

方案详情:

   随着汽车自动化、智能化的快速发展,车载芯片及模组成为当前开发的重点,由于车产品基本覆盖汽车的全生命周期,因此必须符合汽车功能安全标准,而高低温测试则是其相关零部件检测的必要条件。


   上海伯东通过与某客户沟通,其车载芯片需进行温度循环测试,其各温度要求如 -40℃、0℃、25℃、65℃、110℃、150℃,通过进入 ATS-710E 的温度循环设置界面,快速设定相应温度点、变温速率及持续时间,即可依次进行温度循环试验,与常规温箱相比,极大地提高温度测试效率。



ThermoStream 全系列产品均可提供 Air Mode 和 DUT Mode 两种测试方式。在实际测试中,如果是单颗待测器件,则将热电偶探头放置于器件周边,越靠近器件越好。此时,设备输出的气体温度将使此热电偶处的温度达到设定值。


ATS-710E-M 技术参数: 

温度范围

-75°C 至 + 225°C (50 HZ)

变温速率

 -55至 +125°C 约 10 S 或更少

+125至 -55°C 约 10 S 或更少

输出气流量

4 至 18 scfm

温度精度

±1℃ 通过美国NIST 校准

温度显示分辨率

±0.1℃

温度传感器

T或K型热电偶



上海伯东是德国 Pfeiffer  真空设备, 美国  KRI 考夫离子源, 美国Gel-pak 芯片包装盒, 美国 inTEST 高低温冲击测试机日本 NS 离子蚀刻机, 比利时 Stratasys 3D 打印机, 比利时原装进口 Europlasma 等离子表面处理机 和美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!

若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请联络

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