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上海伯东美国Temptronic集成电路IC卡高低温测试应用
2016/03/08 14:29
阅读：285
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方案摘要：
产品配置单：
伯东进口inTEST- Temptronic高低温冲击试验箱/冷热冲击试验箱ATS 505
型号： ATS 505
产地： 美国
品牌： inTEST- Temptronic
¥20万 - 50万
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方案详情：
上海伯东代理美国 inTEST-Temptronic 高低温测试机用于集成电路IC卡高低温测试
集成电路 IC 卡高低温测试原因：
集成电路IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic 高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试、冷热冲击测试、老化测试等试验。inTEST-Temptronic 高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。
集成电路 IC 卡高低温测试客户案例：
上海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商，经过技术选型，采购 inTEST-Temptronic ATS-505 用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计，体积轻巧，测试温度范围：-20°C 至 +225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。
Temptronic 集成电路高低温测试方法：
客户采用 Air Mode 模式直接测试：
Temptronic ATS-505 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将被测电路IC卡放置在热流罩位置，根据操作员设定，喷出和设定温度相差±1℃的气流，从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。
鉴于信息保密，更详细的 Temptronic 集成电路IC 卡高低温测试方法 欢迎联络上海伯东.
上海伯东主营真空品牌:德国 Pfeiffer 真空设备;美国 Polycold 深冷泵;美国 KRI 考夫曼离子源;美国 HVA 真空闸阀:美国 inTEST-Temptronic高速温度循环试验机;日本 NS 离子蚀刻机等。
若您需要进一步的了解详细信息或讨论，请联络上海伯东.
上海伯东版权所有，翻拷必究！
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