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当前位置： 美国麦克仪器公司 > 最新动态 > 麦克颗粒表征与技术系列研讨会圆满成功

麦克颗粒表征与技术系列研讨会圆满成功

美国麦克仪器公司

2011/08/02 14:57

阅读：587

分享：

     2011年7月19日-7月25日，麦克颗粒表征与技术系列专题研讨会分别在中山大学、武汉理工大学、南京大学、浙江大学隆重召开。此次系列研讨会吸引众多学校以及研究所教授约200位专家学者参与了此次大会。


颗粒与表征研讨会现场
颗粒与表征研讨会现场
 

    研讨会主题为物理吸附与化学吸附的理论与实践，麦克仪器资深专家Jeff Kenvin博士与Jacek Jagiello博士，报告了物理吸附与化学吸附基本理论，并与实践经验相结合，引起与会专家学者和业内同仁们热烈的反响和讨论。


麦克仪器资深专家在研讨会现场讲演
 

    此次研讨会为颗粒表征与技术工作者提供了一次宝贵的学习、交流平台，取得了良好的效果，与会代表纷纷表示这次研讨会对他们的工作帮助很大，希望以后能够继续参加类似的活动。
更多产品请登陆麦克官网：www.mic-instrument.com.cn；
美国网站：www.micromeritics.com
麦克热线：400-630-2202

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