美国麦克仪器公司将在国家纳米中心举办技术讲座

粒度与稳定性是决定胶体性质的两个参数，胶体的稳定性又与Zeta电位密切相关，在研究和生产过程中，我们需要测定Zeta电位来确定胶体的分散情况从而确定产品的性能。纳米粒度与Zeta电位仪是利用光子相关光谱法和电泳光散射技术测量粒度、Zeta电位和分子量的仪器，可广泛应用于涂料、饮料乳剂、化妆品、纺织品、微电子工业、制药行业等多个领域。

作为材料表征权威公司，我们一直致力于研发材料表征的最新方法与技术，为广大用户提供更精确、更广泛应用的测试技术。为了和大家分享我们最新的研究成果，美国麦克仪器公司定于4月20日在国家纳米科学中心举办题为“纳米亚微米颗粒表征技术简介：动态光散射（DLS）与电泳光散射（ELS）”的技术讲座，我们诚邀您前来共同探讨、交流本行业的国际最新发展趋势。

研讨会时间：4月20日13:30

地点： 国家纳米科学中心科研楼三楼会议室

地址：北京市海淀区中关村北一条11号

主讲人：麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司总经理许人良博士

会务联系人：郭锐

联系电话：021-51085884-807

技术讲座基本内容：

·         纳米颗粒表征综述

·         光子相关光谱PCS技术最新研究进展

·         全新的Zeta电位测样技术

—如何测量浓溶液的Zeta电位？

—如何测量平整固体表面或薄膜的液固界面Zeta电位？

·         粒度与Zeta电位的应用领域

主讲嘉宾简介：

     许人良博士现任麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司总经理，从事颗粒特性研究和检测技术30多年，是该领域国际资深著名专家。他于1980年代在美国获得博士学位，并在2002年在美国获得MBA学位。 

他已发表了基础理论研究和应用领域的科技文章100余篇；获得3项美国专利；研究成果在科学检索引用超过3000多次；在美国各大学和世界各地进行过学术讲座100多次；并著有颗粒表征中的权威著作《Particle Characterization: Light Scattering Methods》。现在担任众多专业期刊的评委；ISO, ASTM, IAB of PERC的委员会成员；为多项国际标准的起草者；被列为美国和世界名人榜。许人良博士经常活跃在中国国内学术领域，在多所大学进行科技讲座。现任上海华东理工大学兼职教授，上海师范大学兼职教授，沈阳科学技术学会特邀外国专家，与国际粉体监测与控制联合会理事。