第七届世界颗粒大会届时邀请许人良博士做大会报告

       国际著名颗粒表征专家，麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司总经理许人良博士应即将在北京举行的（5月19日-5月22日）第七届世界颗粒大会的邀请，将在会上作现代颗粒表征展望的大会报告，向来自全球的参会学者专家们介绍颗粒表征技术的最新发展，欢迎广大颗粒界的学者、同行们前去交流。

       第七届世界颗粒学大会（The 7th World Congress of Particle Technology，简称WCPT7）将于2014年5月18～22日在北京国际会议中心召开。大会由中国颗粒学会、中科院过程工程研究所承办，中科院副院长、中国颗粒学会理事长李静海院士担任会议主席。

　“世界颗粒学大会”是由美国、英国、德国、日本、澳大利亚等多国科学家联合发起的世界颗粒学研究及技术领域的学术交流会议，自1990年开始举办，每四年举办一次，分别在欧洲/非洲、亚洲/澳洲、美洲三个地区轮流举办。本次会议为该系列会议首次在中国举办。

　　本次大会将以大会特邀报告、专题研讨会、分会场报告等多种形式进行交流，并专门安排墙报交流时段。会议将围绕包括颗粒粉体制备的各种物理、化学、机械方法；超微及纳米颗粒的制备工艺、应用技术及其有关的物理、化学问题；流态化现象和流态化技术；粉体处理各单元操作；气溶胶技术及其对环境、天气、气候的影响；颗粒和气溶胶的性能测试和表征等安排15个左右的分会场。

许人良博士简介：

    许人良博士现任麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司总经理。从事颗粒特性研究和检测技术30多年，是该领域国际资深著名专家。他于1987年和1988年在美国the State University of New York at Stony Brook获得硕士和博士学位。2002年获得美国Nova Southeastern University的MBA学位。

    他发表了基础理论研究和应用领域的科技文章100余篇；获得2项美国专利；研究成果在科学检索引用超过2000多次；在美国各大学和世界各地进行过学术讲座100多次；并著有颗粒表征中的权威著作《Particle Characterization: Light Scattering Methods》。现在担任5个专业期刊（Macromolecules, Langmuir, J. Coll. Inter. Sci.，等期刊）的评委；ISO, ASTM, IAB of PERC的委员会成员；多项国际标准的起草者；被列为美国和世界名人榜。许人良博士经常活跃在中国国内学术领域，在多所大学进行科技讲座。现任上海华东理工大学兼职教授，上海师范大学兼职教授，沈阳科学技术学会特邀外国专家。他是美国化学学会(ACS)会员、美国物理学会(APS)会员、美国化学工程师学会(AIChE)会员、美国检测和材料学会（ASTM）会员，中国颗粒学会会员，国际粉体检测与控制联合会会员。

    他曾获得的荣誉和奖励有：美国荣誉协会Sigma Beta Delta奖；A Certificate of Appreciation by Mayor of Metropolitan Dade County, FL；The Postdoctoral Fellowship awarded by National Science Engineering Research Council of Canada；A Certificate for the Sherwin-Williams Award by American Chemical Society；The World Bank Fellowship by the United Nation等。

会议链接：

http://www.wcpt7.org/dct/page/70017