组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列

闪烁晶体的荧光光谱测试

卓立汉光可提供一成套的闪烁体荧光光谱测试解决方案（系统包含：X射线光管，样品仓，光谱仪，光电倍增管（PMT），单光子计数器，提供铅盒、含铅玻璃等系统防护）。

卓立汉光荧光光谱产品系列

光致发光(photoluminescence) 即PL，是用紫外、可见或红外辐射激发发光材料而产生的发光，在半导体材料的发光特性测量应用中通常是用激光（波长如325nm、532nm、785nm 等）激发材料（如GaN、ZnO、GaAs 等）产生荧光，通过对其荧光光谱（即PL 谱）的测量，分析该材料的光学特性，如禁带宽度等。光致发光可以提供有关材料的结构、成分及环境原子排列的信息，是一种非破坏性的、高灵敏度的分析方法，因而在物理学、材料科学、化学及分子生物学等相关领域被广泛应用。

卓立汉光荧光/拉曼应用案例集锦

卓立汉光荧光/拉曼应用案例集锦：荧光粉PL光谱、ZnO微米管的PL光谱测试研究、NaYF4:Yb/Tm上转换发光性质研究、Cu2O纳米线的拉曼光谱研究、硫化铟薄膜材料的拉曼光谱研究、多层石墨烯的拉曼光谱表征、变异山羊绒纤维二级结构的拉曼光谱分析、环境污染物快速分析的表面增强拉曼光谱技术、人工合成流体包裹体的拉曼光谱分析、拉曼光谱鉴定真假红珊瑚等。

披露卓立透射、反射吸收光谱测量系统的“更多细节”

反射、透射这两种模式是光谱测量的基本手段。实现这两种模式的光谱测量，通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。

PL光致发光光谱测量系统

光致荧光光谱测量是半导体材料特性表征的一个被普遍认可的重要测量手段。MiniPL为模块化设计、计算机自动控制的高灵敏度、宽带隙小型PL（光致荧光）光谱仪；MiniPL采用Photon Systems公司自行研发的深紫外激光器224nm(5.5eV)或248.6nm(5eV)作为激发光源，配合独特的光路设计，采用高灵敏度PMT作为探测器件，并通过仪器内置的门闸积分平均器（Boxcar）进行数据处理，实现微弱脉冲信号的检测。MiniPL可被用表征半导体材料掺杂水平分析、合成组分分析、带隙分析等，不仅可用于科研领用，更可用在半导体LED产业中的品质检测。