在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果的绝对差值不超过重复性限(r)，超过重复性限(r)的情况不超过5％。重复性限(r)按表2数据采用线性内插法求得。

在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果的绝对差值不超过重复性限(r)，超过重复性限(r)的情况不超过5％。重复性限(r)按表2数据采用线性内插法求得。

在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果的绝对差值不超过重复性限(r)，超过重复性限(r)的情况不超过5％。重复性限(r)按表2数据采用线性内插法求得。

在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果的绝对差值不超过重复性限(r)，超过重复性限(r)的情况不超过5％。重复性限(r)按表2数据采用线性内插法求得。

稀土元素质量数从 89 到 175，质量数跨度大，各元素的电离能也有很大区别。所以在内标元素的选择上不能用单元素作为内标，选择多元素虚拟内标会很好的校正不同稀土元素之间的基体效应的差异。

本方法同时测定镍基合金样品中<0.05%及 0.05-1%含量的元素。样品消解定容后溶液中各元素浓度范围为 0.1ppb-10ppm 不等，其中 B、P、V、Se、Zr、Ag、Sn、Te、W、Tl、Pb 采用标准加入法测定，拟合线性均≥0.999；其余含量较高元素采用外标法测定，结果与 ICP-OES 测定结果吻合。

试料经适 宜比例的盐酸 、硝酸溶解，添加锗作 为内标元素以校正仪器的信 号漂移并消除基体效应的影响，通过优化仪器获得最佳的测定条件，采用雾化进样，测定各同位素的信号强度(计 数)，以基体匹配的标准加人 法绘制工 作曲线

在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果的绝对差值不超过重复性限(r)，超过重复性限(r)的情况不超过5％。重复性限(r)按表2数据采用线性内插法求得。

借助微波消解炉，试料以盐酸和硝酸混合分解，通过电感耦合离子质谱仪进行分析，测量各同为元素的质谱信号强度。

Full quantitative analysis of eleven trace elements in a solid Cu matrix by Laser Ablation ICP-MS has been demonstrated using commercially available calibration standards and standard reference materials. The high sensitivity of the Thermo Scientific iCAP Q ICP-MS in KED mode, with its proprietary Flatapole technology makes the detection of sub-ppm levels of contaminants in solid Cu easily achievable. The larger ablation two-volume cell of New Wave’s NWR213 Laser system is suited for a high-volume operation allowing a batch analysis of any number of samples that fit inside a 100x100 mm cell space. The seamless interface between the laser and the ICPMS systems allows the analyst the convenience to perform the operation and collect data directly from one computer screen.

高灵敏度 iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量元素，通过 Qtegra 自动调谐功能，在 Qcell 加入高流量的氧气反应，将 MoO 转化为多氧化钼，将干扰质量数进行迁移，与 Cd 测定同位素分开，从而消除干扰，以满足高纯氧化钼中镉的测定。 ?

iCAP TQ ICP-MS 可以解决非常复杂的基体干扰问题。 如本文所述，由于 ICP 离子源内也会有其它形态的干扰 物产生，所以对待测元素产生了尤为显著的干扰，往往 无法有效消除。虽然等离子体内的这些形态可能不会直 接对待测元素产生干扰，但其可能在 CRC 中发生反应， 产生额外的干扰，从而严重影响可获得的检出限。使用 反应气体并结合 Q1 中的质量过滤步骤，可以去除其它 不需要的离子，因此成为该类分析问题的理想解决方案。与此同时，TQ-ICP-MS 提供了两种消除干扰的有效方 法，即 TQ mass shift 模式以及 TQ on mass 模式，以便 能够准确地进行分析。采用 iCAP TQ ICP-MS，可以选 择最适合的分析模式，并通过 Qtegra ISDS 软件来正确 设置所有四极杆、气体流量和扫描设置参数。其独特的 Reaction Finder 方法开发助手，大大简化了强大的三重 四极杆技术在常规应用中的使用。

高灵敏度 iCAP Qc ICPMS 测定高纯氧化钼中 Cd 等痕量元 素，通过 Qtegra 自动调谐功能，在 Qcell 加入高流量的 氧气反应，将 MoO 转化为多氧化钼，将干扰质量数进 行迁移，与 Cd 测定同位素分开，从而消除干扰，以满 足高纯氧化钼中镉的测定。

iCAP7000 ICPOES 水平观测灵敏度高，通过等离子条件选择，并选 择合适的测定谱线并结合基体匹配可抑制了钆基体背景的干扰。 在不采用过柱分离基体的情况，配合 ICPMS 测定，可以满足 4N 和 5N 的高纯氧化钆中稀土杂质测定的要求。

ELEMENT GD PLUS GD-MS 将具有优越属性的不同部件集成在单一仪器中，提供了无与伦比的速度、灵敏度和准确性。ELEMENT GD PLUS GD-MS 离子源和样品夹的设计使换样更容易，适于常规操作，提高样品分析通量。 ELEMENT GD PLUS GD-MS 采用先进的高分辨率扇形磁场技术。GD-MS 的主要限制是存在等离子体中基体元素及放电气体与其它核素聚合物的干扰。因此，通过高分辨将分析物与大部分干扰分开是准确测定的先决条件。质量校准的高度精密、准确性对于快速分析、准确跳峰而言至关重要。ELEMENT GD PLUS 具有全自动质量锁定程序，因此质量校准将不再是分析时的常规步骤。