半导体器件新型光电传感器特性分析仪PD-QE

半导体器件新型光电传感器特性分析仪PD-QE 特色：

PD-QE 系统是光焱科技在过去十年的小光斑 (power mode) 基础上，进化开发完成。

• 可应用在 PV 的 EQE 量子效率测试、新型光传感器的研究。

• 在全新的软件平台 SW-XQE 上，具有便捷的扩展性：

  可测试标准 EQE 外，更可整合多种 SMU 的控制，并量测IV曲线。同时具备各种分析功能，如 D*、NEP、频率噪声图。

• PD-QE 有不同的模块，偏置电压也可由 20 V 到 1000 V。同时，可测量高分辨率的光电流，分辨率最高可达 10-16 A。

• 波长扩充可达 1800 nm。

• 可选配软件升级控制 Kiethley 4200 SMU

半导体器件新型光电传感器特性分析仪PD-QE 应用

• 有机光传感器 (OPD, Organic Photodiode)

• 钙钛矿光传感器 (PPD, Perovskite Photodiode)

• 量子点光传感器 (QDPD, Quantum Dots Photodiode)

• 新型材料光传感器

实证：




PD-QE 已整合 Keithley 与 Keysight 出产的多种 SMU，进行多种的 IV 曲线扫描。用户无需另外寻找或是自行整合 IV 曲线测试。图中显示 PD-QE 测试不同样品的 IV 曲线，并进行多图显示。

PD-QE 凭借先进数字讯号采集与处理技术，直接可测试各种探测器在不同频率下的噪声电流图。用户无需在额外购买、整合频谱分析仪进行测种测试！并且软件可以进行多种频段的特性分析，如 Shot Noise、Johnson Noise、1/f Noise 等。PD-QE 是针对新世代 PD 测试的完整解决方案。