仪器种类: 场发射
分辨率: 53pm
加速电压: 最高300KV
放大倍率: 100X-2,000,000X
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2020年02月14日,日本电子(JEOL Ltd.)总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2(GRAND ARM™2),该电子显微镜将于2020年2月发布。
■ 主要特点
1 超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。
新开发的FHP2物镜极靴的特点如下:
1)提高了能谱分析效率到两倍以上。
2)低光学系数,低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨率和高灵敏度X射线分析能够在一定范围的加速电压下执行。
(保证的STEM分辨率:300kV时53pm,80kV时96pm)*
*在配置STEM扩展轨迹像差(ETA)校正器时
2 用于物镜的超宽极靴(WGP)能谱分析灵敏度超高,原位扩展极强。
1)WGP极靴的能谱固体角为2.2 sr。
2)WGP极靴宽度可达6mm,更方便进行各种类型的原位实验。
3 JEOL开发的12极子球差(Cs)校正器和自动校正软件。
1)FHP2极靴,GRAND ARM™2在300 kV时的STEM分辨率达到53 pm。
2)WGP极靴,GRAND ARM™2在300 kV时的STEM分辨率达到59 pm。
3)JEOL COSMO™(自动校正软件)使快速,轻松执行像差校正成为可能。
4 新式冷场发射枪(Cold-FEG)。
GRAND ARM™2配备了新式Cold-FEG,可从电子源提供较小的能量散布。稳定性更好。
5 减轻外部干扰的外壳
这种新外壳是减少外部干扰(例如气流,室内温度变化和噪音)的标准。
■ 主要规格
保证分辨率 | HAADF-STEM图像:53pm(带ETA校正器和FHP2) 电子枪:冷场发射枪(Cold-FEG) |
加速电压 | 标准:300kV和80kV |
能量色散X射线光谱仪 | 大面积SDD(158mm 2):可以使用双探测器 |
产品货期: 365天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
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