日本电子 JEOL 聚焦离子束 JIB-4700F
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日本电子 JEOL 聚焦离子束 JIB-4700F

$150万

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日本电子

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JIB-4700F

--

亚洲

  • 金牌
  • 第22年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
核心参数

仪器种类: 台式/桌面型

电子枪种类: 冷场发射

产地类别: 进口

二次电子图象分辨率: 1.2 nm(15 kV)1.6 nm(1KV)

放大倍数: 25-1000000X

加速电压: 0.1-30kV

背散射电子图像分辨率: 2.5nm

仪器简介:

JIB-47000F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪,可以对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体,应用范围广泛。



技术参数:

FIB 分辨率: 5nm, 30kV
SEM分辨率: 1.2 nm15 kV1.6 nm1KV
FIB束流:最大90nA

SEM束流:最大300nA

气体输入系统 x1-3



主要特点:

  1. 监控、切割、组装和三维图像重构连续操作
    2大束流,最大90nA
    3.提供空前稳定的图像
    4.气体注入系统用于刻蚀和沉积
    5.最大装样 150 mm
    6.气锁式样品交换
    7.五轴全对中样品台
    8.多个样品分析接口

    9.三维图像、能谱、EBSD

售后服务承诺

产品货期: 365天

整机质保期: 1年

培训服务: 安装调试现场免费培训

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日本电子 JEOL 聚焦离子束 JIB-4700F信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于日本电子 JEOL 聚焦离子束 JIB-4700F报价、型号、参数等信息,日本电子客服电话:400-860-5877,欢迎来电或留言咨询。
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