仪器种类: 场发射
分辨率: 0.21nm(点分辨率)
加速电压: 最高200kV
放大倍率: 最高2,000,000
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JEM-ACE200F是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品,在兼顾高分辨高稳定性的同时,最求分析效率的最大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计,除了让人耳目一新外,还对设置环境更具抗干扰能力。
主要技术指标:
1. 点分辨率:0.21nm;
2. 晶格分辨率:0.1nm;
3. STEM 分辨率:0.136nm;
4. 信息分辨率:0.11nm;
5. 能谱:可以安装两个超级能谱
6. 洛伦兹模式:标配
产品货期: 365天
整机质保期: 1年
培训服务: 安装调试现场免费培训
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