系统传感器

大电流传感器测试系统电流传感器didt测试设备简介 电流传感器测试系统集多种测量和分析功能一体，可精准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静态与动态参数，单台大电流源电流可高达1000A。该系统可测量不同电流传感器的静态与动态参数，具有大电流特性、极快的达到50A/us级上升沿、可测量KHz级带宽等特点，能实现零点漂移、线性度、温度漂移曲线、带宽、响应时间等参数的自动化测量。 普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、高电流脉冲源表、高电压源测单元等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。 产品应用 开环/闭环霍尔电流传感器、罗氏线圈电流传感器、皮尔森线圈电流传感器； 产品特点 1000A自动测试平台； 50A/us上升沿； 精度0.1%； 支持集成示波器、温控台； 正负极反转； 模块化设计； 可定制化开发； 技术指标 电流传感器测试平台50A/us上升沿订货信息 以1000A开环2KHz测量为例，一般配置如下： 软件界面及功能 系统软件测试界面 不同温度线性度测试 响应时间测试界面 典型夹具图片 穿心式 PFF/PSF芯片封装

MS300测试系统外观图MS系列系统是Inframet主要测试系统，可测量多种红外整机系统：热像仪，可见光-近红外相机，短波红外相机、激光测距机和多传感器测试系统等，进行全面测试和轴对准的测试。 测试功能1. 不同视场适用波段：可见光，近红外，短波红外，中波红外和长波红外；2. 可测量多种红外整机系统：热像仪，可见光-近红外相机，短波红外相机、激光测距机和多传感器测试系统等；3. 可测量的重要参数如下ü **小可分辨温差MRTDü MTFü 信号传递函数SiTFü NETDü FPNü 不均匀性non-uniformityü 视场FOVü 畸变distortionü 放大倍率magnificationü 响应函数Response functionü 3D Noiseü 坏点Bad pixelsü PVFü 信噪比SNRü 三角方向鉴别TODü 噪声等效光通量密度NEFDü SRFü **小可探测温差MDTDü 噪声等效反射率NERü 噪声等效功率NEPü ATFü 自动测量MRTDü 噪声等效照度NEIü 比探测率D*1. 不同视场的红外热像仪的轴对准；2. 不同镜头焦距的可见光-近红外相机的轴对准；3. 可见光-近红外相机与红外热像仪之间的轴对准； MS多波段整机测试系统测量不同系统的原理如下。测试热像仪：图像投影仪投射图像到中波/长波范围热像仪，由计算机系统生成的图像分析被检测热像仪。高精度的离轴反射式CDT平行光管，TCB差分黑体，以及一组红外靶标用于投影。测试可见光/NIR相机：可见光/NIR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量电视相机。包括CDT反射式平行光管，可见光/NIR光源，和一组可见光靶标； 一系列不同的辐射源可以用在投影系统中（光谱范围扩展到SWIR的光源或者MTB黑体）以及一系列SWIR用于投影系统中的靶标也可用于测量。测量成像整机系统轴校准：电控的测试系统生成由被测试热像仪及相机生成的图像并计算两者之间的角度： a) 热像仪在不同视场下的光轴； b) 相机在不同镜头放大率下的光轴； c)热像仪与相机之间的光轴。激光系统轴对准：计算机控制的测量系统分析激光系统在激光敏感卡上生成的图像并计算光轴间的夹角：激光光轴（激光测距仪，激光指示器，激光照射器等）相对于成像系统光轴。注意：MS系统可以进行激光测距仪发射光轴的校准。这里假定激光测距仪发射光轴与接收已经调整好。这里可选测量激光测距仪的光轴对MS系统轴的能力。测量SWIR相机：SIWR投影系统与图像分析计算机系统相结合来测量SIWR相机。它包括CDT反射式平行光管，SWIR光源，和一组SWIR靶标；测量不同图像格式的热像仪：当采用模拟视频采集卡并且测量分辨率小于等于756×576的25Hz的视频图像时；也可以选择数字图像采集卡（Camera Link,或GigE，或LVDS，USB2.0）作为测量高分辨率高帧频的数字输出传感器。产品参数表1 MS测试系统配置参数测试系统型号平行光管口径MS 100100mmMS 150150mmMS 200200mmMS 250250mmMS 300300mmMS 320320mmMS 350350mmMS 400400mmMS 450450mmMS 500500mmMS 600600mm

压力传感器Ⅳ特性测试需要几台仪器完成，如数字表、电压源、电流源等。然而，由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，还占用过多测试台的空间。实施I-V特性分析的最佳工具之一是数字源表(SMU）。数字源表作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器，波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作压力传感器分类压力传感器(Pressure Transducer)是能感受压力信号，并能按照一定的规律将压力信号转换成可用的输出的电信号的器件或装置,压力传感器通常由压力敏感元件和信号处理单元组成。常见的压力传感器有四种:应变式压力传感器、压阻式压力传感器、电容式压力传感器以及压电式压力传感器。覆盖从到GQ宽电阻测试范围半导体压力传感器是一种利用半导体材料在外力作用下，其电阻率会出现变化这一机理来进行检测的器件，具有灵敏度高，相应块、稳定性好、使用简单的特点，其广泛应用于各种工业自控环境，涉及水利水电、铁路交通、智能建筑、生产自控、航空航天、军工、石化、油井电力、船舶、机床、管道等众多行业。半导体压力传感器根据材料的不同，其阻值跨度大，覆盖Q~GQ范围。针对不同材料的压力传感器进行分选，需要有高效的检测方案。压力传感器电阻测量SMU源表“五合一”数字源表有助提高测试工作效率I-V测试是对待测器件（DUT）施加电压或电流，然后测试其对激励做出的响应。根据待测器件(DUT）的不同，信号电平可能相当低，需要高灵敏度源和测量仪器及测试技术，最大限度地减少误差的外部来源，而且需要有快的测试速度和高的测试可靠性做保证。通常，压力传感器I-Ⅳ特性测试需要几台仪器完成，如数字表、电压源、电流源等。然而，由数台仪器组成的系统需要分别进行编程、同步、连接、测量和分析，过程既复杂又耗时，还占用过多测试台的空间。而且，使用单一功能的测试仪器和激励源还存在复杂的相互间触发操作，有更大的不确定度及更慢的总线传输速度等缺点。实施I-V特性分析的工具之一是数字源表(SMU）。数字源表作为独立的恒压源或恒流源、伏特计、安培计和欧姆表，还可用作精密电子负载。其高性能架构还允许将其用作脉冲发生器，波形发生器和自动电流-电压(I-V)特性分析系统，支持四象限工作。利用源表SMU可以灵活的进行电阻测量自2015年开始,普赛斯致力于数字源表的研究,并于2019年帅先实现数字源表的国产化，陆续推出了高精度数字源表、插卡式源表等产品，通过不同技术组合，可以实现产品组合方案的多样化与优化，满足从成本到性能上的不同客户需求，帮助用户轻松解决压力传感器测试中碰到的各种问题和需求，如:(1）实时测试多种材料在同一压力条件下的电阻值的反应灵敏度 (2）在低电压下进行下高范围跨度（Q、KQ、MQ、GQ）的电阻测量，测试设备输入电阻要求高﹔(3）I/N曲线扫描 (4）上位机实时显示各不同压敏电阻R/t曲线，并可记录存档。更多有关压力传感器检测系统的信息，欢迎随时咨询普赛斯仪表专业人员！