数显电压表

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  • 乐清市奥宾仪表有限公司是一家专业从事智能数显表产品研发、销售与生产一体的企业,致力于可编程数显电流表、数显电压表、数显频率表、数显功率因数表、数显功率表、多功能表等产品的生产与销售,全力为客户提供质优价廉、稳定可靠的产品。公司生产的可编程智能仪表,被广泛应用于电力、煤炭、机械、冶金、石油、化工、交通、建筑、实验设备等领域。公司始终坚持把智能数显表作为企业的核心产品研发,依靠技术创新不断推出满足客户需求的新产品,公司研发实力雄厚,拥有多名从事数显表研发多年的技术骨干,采用计量芯片技术,研发出全新外观,亚光磨砂面框,茶色玻璃面板,橡胶按键手感舒服,显示效果清晰,工艺严谨,整体美观的全新数显表产品,性能提升50%,价格比原来下降30%-50%,使客户用较少价格享受高质量的产品。公司自主研发,有自己的品牌和销售网络,可以为不同客户提供OEM(贴牌生产)。也可以提供数显表技术及资料(包括原理图、线路板图、程序文件、配套的外壳等),提供技术指导,使客户能够自已独立生产,以赚取尽可能多的利润。我们以“客户满意”为目标,以“诚实守信、精益求精”为经营理念,以“质量是生命”为原则,以品质赢得市场,以口碑提升品牌,以完善贴心的服务提高价值,力求成为客户值得信赖的供应商。
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  • 上海托克智能仪表有限公司自1997在中国成立以来一直致力于为工业自动化控制提供全面服务,专业性从事智能配电系统自动化设备研发制造的供应商,是专业性数显仪表、变送器、保护器、监控器和测试仪表的设计、开发、生产、销售著名厂商,同时经营韩荣电子、可莱特等国外著名品牌产品。公司拥有进出口自主经营权。   公司现生产制造数显电压电流表、数显功率表、数显功率因数表、数显工频表、传感器专用数显表、频率转速线速度表、计数器长度计、数显温控表、数显温湿度控制表、时间继电器、数字面板表、数显欧姆表、多功能谐波分析表、电力参数综合测试仪等二十多个系列1000多种型号的显示及控制仪表。产品在钢铁、石化、电力、机械、玻璃、陶瓷、塑胶、制药、酿酒、烟草、纺织等众多行业中都能得到广泛的应用。   同时研制生产智能网络电力仪表、微机综合保护装置、电量隔离变送器、压力变送器、温湿度变送器、电动机保护器、导轨式电能表、开关量采集单元等一系列智能配电系统自动化设备。产品广泛应用于智能配电系统。  公司一直致力于智能网络化仪表的研发。现已成功推出十多种系列智能网络化仪表:智能电流电压表、智能功率表、智能功率因数表、智能工频表、智能传感器专用数显表、智能频率转速线速度表、智能计数器长度计、智能时间继电器、智能温控表、智能温湿度控制仪、智能电量测量仪、人工智能数字调节仪、流量积算控制仪、多功能谐波分析仪、多功能网络电力仪表。产品广泛应用于智能电网的建设。  公司联合各大中院校研究所,组建实力强大的研发团队,以电力电子技术、通讯技术、微处理技术为基础,构建业界领先的智能仪表技术研发、软件开发、产品制造和服务平台,致力于将智能仪表控制技术与应用工程技术完美结合,为用户提供优质的智能仪表及智能控制的一体化解决方案,为智能电网的发展建设提供完美的解决方案。  公司己全面通过ISO9001质量管理体系认证,坚持以“技术创新为先导、质量追求零缺陷、服务追求零距离”的经营方针,依靠高素质的员工,先进的生产工具及检测设备,全体员工以“团结、拼搏、进取”的精神,各尽所长,相互合作,以确保用户得到更优质的产品和更优质的服务。  托克智能仪表热忱欢迎全世界各界人士真诚合作。
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  • 星晔电气是专业生产马达保护器,电气火灾监控,开关柜智能操控装置,多功能电力仪表,数显电流表,数显电压表,数显组合表,导轨式电能表等产品的生产型企业。星晔电气的产品在合作伙伴当中拥有较好的口碑,公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。星晔电气产品品种齐全、价格合理,公司实力雄厚,重信用、守合同、保证产品质量,以多品种经营特色和薄利多销的原则,赢得了广大客户的信任。
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  • 奥宾仪表AOB184U-2XI数显单相电压表使用说明书一、概述 奥宾仪表AOB184U-2XI数显单相电压表为新一代经济型数显安装式电表,主要用于对电气线路中的交流电压进行实时测量与指示,具有测量精度高、稳定性好、长期工作免调校、可通过面板按键现场设置参数等特点,是原指针式仪表或普通数字式仪表的理想换代产品。 采用SMT生产工艺,线路简洁、可靠性高; 交流采样为方均根值 测量方式; 仪表量程可编程设置; 可具备越限报警输出功能,报警上下限、切换差、输出延迟时间及上电报警抑制功能可编程设置;独特的安装方式,无须借助工具即可轻松完成安装;智能表的性能、普通表的价格。三、奥宾仪表AOB184U-2XI数显单相电压表技术参数量程范围 (可持续过载1.2倍) 交流电压表直接测量: AC 0~100V、AC 0~500V外附电压互感器: AC */100V 直流电压表直接测量: DC 0~±500V 交流电流表直接测量: AC 0 ~1A、 AC 0 ~5A外附电流互感器:AC */1A 、AC */5A 直流电流表直接测量: DC 0~±5A外附分流器: DC */75mV 准确度:仪表量程的±0.5 %采样速率: AC 1次/秒,DC 2次/秒 交流输入信号频率范围: 45~65Hz 输入回路功耗:<0.5VA辅助电源:AC 220V ±10% 50/60Hz 辅助电源功耗:<3VA溢出指示:正溢出显示“HHHH ”,负溢出显示“LLLL ”报警输出:上下限报警同一继电器输出,触点容量AC 250V/1A、DC 30V/1A,阻性负载工作环境:温度-10 ~50℃,湿度≤85%RH的无腐蚀性场合
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  • 奥宾仪表AOB184U-9XI数显单相电压表使用说明书一、概述 奥宾仪表AOB184U-9XI数显单相电压表为新一代经济型数显安装式电表,主要用于对电气线路中的交流电压进行实时测量与指示,具有测量精度高、稳定性好、长期工作免调校、可通过面板按键现场设置参数等特点,是原指针式仪表或普通数字式仪表的理想换代产品。 采用SMT生产工艺,线路简洁、可靠性高; 交流采样为方均根值 测量方式; 仪表量程可编程设置; 可具备越限报警输出功能,报警上下限、切换差、输出延迟时间及上电报警抑制功能可编程设置;独特的安装方式,无须借助工具即可轻松完成安装;智能表的性能、普通表的价格。三、奥宾仪表AOB184U-9XI数显单相电压表技术参数量程范围 (可持续过载1.2倍) 交流电压表直接测量: AC 0~100V、AC 0~500V外附电压互感器: AC */100V 直流电压表直接测量: DC 0~±500V 交流电流表直接测量: AC 0 ~1A、 AC 0 ~5A外附电流互感器:AC */1A 、AC */5A 直流电流表直接测量: DC 0~±5A外附分流器: DC */75mV 准确度:仪表量程的±0.5 %采样速率: AC 1次/秒,DC 2次/秒 交流输入信号频率范围: 45~65Hz 输入回路功耗:<0.5VA辅助电源:AC 220V ±10% 50/60Hz 辅助电源功耗:<3VA溢出指示:正溢出显示“HHHH ”,负溢出显示“LLLL ”报警输出:上下限报警同一继电器输出,触点容量AC 250V/1A、DC 30V/1A,阻性负载工作环境:温度-10 ~50℃,湿度≤85%RH的无腐蚀性场合
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  • 奥宾仪表AOB185U-2X1数显直流电压表使用说明书一、概述 奥宾仪表AOB185U-2X1数显直流电压表为新一代经济型数显安装式电表,主要用于对电气线路中的直流电压进行实时测量与指示,具有测量精度高、稳定性好、长期工作免调校、可通过面板按键现场设置参数等特点,是原指针式仪表或普通数字式仪表的理想换代产品。 采用SMT生产工艺,线路简洁、可靠性高; 交流采样为方均根值 测量方式; 仪表量程可编程设置; 可具备越限报警输出功能,报警上下限、切换差、输出延迟时间及上电报警抑制功能可编程设置;独特的安装方式,无须借助工具即可轻松完成安装;智能表的性能、普通表的价格。三、奥宾仪表AOB185U-2X1数显直流电压表技术参数量程范围 (可持续过载1.2倍) 交流电压表直接测量: AC 0~100V、AC 0~500V外附电压互感器: AC */100V 直流电压表直接测量: DC 0~±500V 交流电流表直接测量: AC 0 ~1A、 AC 0 ~5A外附电流互感器:AC */1A 、AC */5A 直流电流表直接测量: DC 0~±5A外附分流器: DC */75mV 准确度:仪表量程的±0.5 %采样速率: AC 1次/秒,DC 2次/秒 交流输入信号频率范围: 45~65Hz 输入回路功耗:<0.5VA辅助电源:AC 220V ±10% 50/60Hz 辅助电源功耗:<3VA溢出指示:正溢出显示“HHHH ”,负溢出显示“LLLL ”报警输出:上下限报警同一继电器输出,触点容量AC 250V/1A、DC 30V/1A,阻性负载工作环境:温度-10 ~50℃,湿度≤85%RH的无腐蚀性场合
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  • 电镜学堂丨电镜操作之如何巧妙选择加速电压?
    “TESCAN电镜学堂”又跟大家见面了,利用扫描电镜观察样品时会关注分辨率、衬度、景深、形貌的真实性、其他分析的需要等等,不同的关注点之间需要不同的拍摄条件,有时甚至相互矛盾。 今天主要谈一谈如何根据样品类型以及所关注的问题选择合适的加速电压? 这里是TESCAN电镜学堂第9期,将继续为大家连载《扫描电子显微镜及微区分析技术》(本书简介请至文末查看),帮助广大电镜工作者深入了解电镜相关技术的原理、结构以及最新发展状况,将电镜在材料研究中发挥出更加优秀的性能! 第三节 常规拍摄需要注意的问题 平时电镜使用者都进行常规样品的观察,常规样品不像分辨率标准样品那么理想,样品比较复杂,而且有时候关注点并不相同。因此我们要根据样品类型以及所关注的问题选择合适的电镜条件。 关注分辨率、衬度、景深、形貌的真实性、其它分析的需要等等,不同的关注点之间需要不同的电镜条件,有时甚至相互矛盾。因此我们必须明确拍摄目的,寻找最适合的电镜条件,而不是贸然的追求大倍数。 电镜的工作条件包括很多,加速电压、束流束斑、工作距离、光阑大小、明暗对比度、探测器的选择等。这一期将为大家介绍加速电压的选择。 §1. 加速电压的选择 任何电镜都是加速电压越高分辨率越高,但并不意味着任何试样都是电压越大越好。电压的选择是电镜中各个工作条件中最重要的一个。有各种因素需要考虑,而各个因素之间也有矛盾相悖的,这个时候还需要适当进行综合考虑或者采取其它办法。 ① 样品损伤和荷电因素 选择的加速电压不能对试样产生明显的辐照损伤或者荷电,否则观察到的图像不是试样的真实形貌。如果有荷电的产生,需要将电压降至到V2以下,这点在前面电荷效应中已经详细阐述,这里不再重复。 对于金属等导电导热均良好的试样,可以用较高的电压进行观察,如10kV及以上;对于一些导电性不是很好但是比较稳定的试样,可以中等加速电压,如5kV左右;对一些容易损伤的样品,比如高分子材料、生物材料等,可能需要较低的电压,如2kV或以下。 ② 电子产额因素 对于单相材料来说,因为成分没有差别,我们选择电子产额最大的区间V1~V2即可,但是对于混合物相材料来说,我们希望在有形貌衬度的同时还能有较好的成分衬度,这样的图片显得衬度更好,信息量也最大,往往我们也会认为这样的图片最清晰。因此我们需要选择二次电子产额相差较大的区域进行拍摄。 如图5-13,左图是碳和金的二次电子产额,中间图片是金颗粒在1kV下的二次电子图像,右图是200V下的二次电子图像。显然,在200V下碳和金的产额一样,所以此时拍摄的图像仅呈现出形貌上的差别,而碳和金的成分差异无论怎么调节明暗对比度也不会出现。而在1kV下,碳和金的电子产额差异达到最大,所以除了形貌衬度外,还表现出极好的成分衬度。 图5-13 金和碳在电子产额(左)及1kV(中)、200V(右)电压下的SE图像 对于一些金属材料来说,往往较高的加速电压下有相对较大的产额差异,而对于一些低原子序数试样,较低的电压往往电子产额差异更大。 如图5-14,试样为碳银混合材料。左图为5kV SE图像,右图为20kV SE图像。5kV下不但能表现出比20kV更好的成分衬度,还有更好的表明细节。 图5-14 碳银混合材料在5kV(左)、20kV(右)电压下的SE图像 如图5-15,试样为铜包铝导线截面,左图为5kV SE图像,右图为20kV SE图像。20kV下能够更好的将外圈的铜层和内部的铝层做更好的区分。 图5-15 铜包铝导线截面在5kV(左)、20kV(右)电压下的SE图像 对于有些本身差别很小的物相,如果能找到二次电子产额差异最大所对应的电压,也可将其区分。当然有的产额没有参考曲线,需要经过诸多尝试才能找到。比如图5-16,试样为掺杂半导体基底上的本征半导体薄膜,其电子产额差异在1kV达到最大,对应1kV的图像能将两层膜就行区分,而其它电压则没有太好的衬度。 图5-16 半导体薄膜在不同电压下的衬度对比 ③ 衬度的平衡 虽然通过上一点提到的加速电压的选择可以将成分衬度达到最大,但有时该条件并不是观察形貌最佳的电压。此时我们需要考虑究竟是注重形貌还是注重成分衬度,使用二次电子来进行观察,还是用背散射电子进行观察,或者用折中的办法进行观察。这都需要操作者根据电镜照片想说明的问题来进行选择。 要获得好的形貌衬度图像和原子序数图像所需的电压条件一般都不一样,也有另外的办法可以适当解决。对最佳形貌衬度和最佳原子序数衬度单独拍摄照片,后期在电镜软件中通过图像叠加的方式,将不同的照片(位置需要完全一样)按照一定的比例进行混合,形成一张兼有两者衬度的图片。 ④ 有效放大率因素 一般电镜在不同的电压下都有着不一样的极限分辨率,其对应的有效放大率也随之而改变。拍摄特定倍数的电镜照片,特别是高倍照片,需要选择电压对应的有效放大率能够达到需求。否则,视为图像出现了虚放大。虚放大后,图像虽然也在放大,但是并没有出现更多的信息,而且虚放大而会有更多环境因素的影响。 所以如果出现虚放大,可以提高加速电压,以增加有效放大率;如果电压不能改变,可以考虑增加图像的采集像素,来获得类似放大的效果。此时受环境因素或者样品损伤因素更小。 ⑤ 穿透深度因素 前面已经详细的讲述了加速电压和电子散射之间的关系。加速电压越高,能量越大,电子的散射区域就越大。那么产生的二次电子或背散射电子中,从更深处发射的比例则更多。因此较大的加速电压虽然有更好的水平方向的分辨率,但是却忽略了试样很多的表面细节;而低电压虽然水平方向分辨率相对较差,但是却对深度方向有着更好的灵敏度,可以反映出表面更多的形貌细节。 如图5-17,试样为表面修饰的二氧化硅球,5kV电压看不出任何表面细节,而2kV下则能观察到明显的颗粒。再如图5-18,纳米颗粒粉末在不同电压下的表现,因为颗粒团聚严重,所以在5kV电压下无法将团聚颗粒很好的区分,显得粒径更大,而1kV下则能观察到相对更细小的颗粒。 图5-17 SiO2球在5kV(左)、1kV(右)电压下的图像 图5-18 纳米颗粒在5kV(左)、1kV(右)电压下的图像 当加速电压降低到200V左右的超低水平后,电子束的作用区域变得很小,常规的边缘效应或者尖端效应基本可以去除,如图5-19。 图5-19 200V左右的电压可以消除边缘效应 更多详情内容请关注“TESCAN公司”微信公众号
  • 如何正确选择扫描电镜加速电压和束流 ——安徽大学林中清32载经验谈(8)
    p style="text-align: justify text-indent: 2em "strongspan style="text-indent: 2em "【作者按】/span/strongspan style="text-indent: 2em "扫描电镜测试条件的选择主要包括以下四个方面:加速电压、束流与工作距离、探头。前两个主要影响样品信息的溢出,后两者影响着信息的接收。测试条件选择的是否合适,决定了您能获得怎样的测试结果。/spanbr//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "本人在第一篇32载经验谈《扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系》一文中,就加速电压与图像分辨力的辨证关系进行了深入的探讨。充分分析了改变加速电压会给表面形貌像的分辨力带来怎样的变化;解答了为什么获取高分辨像,钨灯丝扫描电镜要选择较高的加速电压(10KV以上),而场发射扫描电镜需要选择较低的加速电压;阐述了场发射电镜为什么会比钨灯丝电镜有着更高的分辨能力。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 除了对图像分辨力的影响,加速电压的改变还会在样品的信息特性、荷电的产生及应对等方面对测试结果产生较大的影响。一直以来,许多专业人员对此,普遍存在一种单调的思维模式及处理方法,这将给最终的测试结果带来偏差。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "这种认识上的偏差也存在于束流的选择上,对最终测试结果同样会形成很大的影响。错误的束流选择,你将无法获得完美的测试结果,还会给仪器的调整带来麻烦。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 本文将通过大量的实际测试事例,为大家充分展示,选择不同的加速电压及束流究竟能给测试结果带来怎样的影响。分析形成这种结果的原因,以及传统观念在加速电压和束流选择上存在怎样的认识偏离。为今后大家在进行扫描电镜测试时,合理的选择加速电压和束流提供一些参考。/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="color: rgb(0, 176, 240) font-size: 18px "strong一、 加速电压的选择/strong/span /h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压的选择除了对表面形貌像的细节分辨力存在极大影响,还在以下几个方面影响着测试结果:1. 获取的样品信息在样品中所处的位置,表层还是内层;2. 荷电场形成的位置及强度。而无论在那一方面,改变加速电压所带来的变化都充满了辨证法的规律。下面将以充分的事例来加以展示。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.1 加速电压与图像分辨力的关系/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压与图像分辨力的辨证关系,前文有充分的探讨,在此将只做简单的描述。本节主要是以充分及清晰的事例来展示,改变加速电压将带来怎样的图像分辨力变化。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "提升加速电压对图像分辨力会产生两种相互对立的影响:/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1. 从信息扩散来说,不利于获取高分辨形貌像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2. 对电子束发射亮度的提升,有利于高分辨图像的获取。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "这两方面的共同结果必然是存在一个最佳值或最佳范围。这个值与样品特性和其它测试条件的选择都有关联。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "实际测试中,应先对图像所显示的样品信息特征作出正确研判,然后再做出正确的调整来找到这个最佳值。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "br//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/fa2635bd-6b96-4bce-9171-265cc0bb3c82.jpg" title="1.png" alt="1.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "想获取更好的介孔形态必须降低加速电压。改用小工作距离测试,可缩少电子束裙散和透镜球差形成的弥散并增加探头对信号的接收效果,使得对电子束发射亮度的要求降低。此时选择1KV加速电压即可获取更佳的图像效果。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/9d154d57-9819-4674-bf25-23c1d0da39ff.jpg" title="2.png" alt="2.png"//pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong实例二、小工作距离、减速模式的加速电压选择(kit-6介孔)/strong/pp style="text-align: center text-indent: 0em " img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/23ccfeb0-85bf-47d4-b1ee-9189f64bb660.jpg" title="3.png" alt="3.png"//pp style="text-indent: 0em "br//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.2 加速电压与样品中的信息分布/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品中的信息分布:指样品信息所处位置,表层?内部?/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压的提升,电子束在样品表层激发的信息将减少,内部信息的激发会增多。选取不同加速电压对样品进行分析,有助于获取更全面、更充分的样品信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong实例一、二氧化钛与银的复合膜 /strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 该样品是将二氧化钛与银颗粒分层蒸镀在玻璃表面,银颗粒起先分布在极表层。高温烧结后观察薄膜表面形貌的变化及银颗粒存在的位置。先采用XRD与XPS检测银含量的变化,均未检测到银的存在。扫描电镜检测的结果如下:/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/71cf90d7-a4fc-4797-bc79-d5f88a725f06.jpg" title="4.png" alt="4.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "上例我们可以看到,任何测试条件的选择都有其局限性,很难单独给出全面的样品信息。需要不停的改变测试条件,综合分析才能够获取更全面且充分的样品信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong实例二,含有钴颗粒的核壳结构碳球/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "内部为结构紧密的碳球,包裹一个球形的碳壳层,中间有钴纳米量子点存在。以下组图将给我们提供完整信息:/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/b149b0cd-9014-4a7f-b45d-0f5e58750392.jpg" title="5.png" alt="5.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "这组照片,合在一起才能提供样品的完整信息:一个核壳结构的碳球,内部是高密度球体,中间为絮状夹层,钴颗粒镶嵌于絮状夹层中,极表层较为平实。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/87b50fb1-9fcb-41ae-9720-81e2eb095201.jpg" title="6.png" alt="6.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong实例三、石墨烯的观察/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "单层石墨烯厚度仅不到一个纳米,个人观点:较难形成可被扫描电镜观察到的衬度。一般说,十来层左右的碳层被观察到的可能性更高,加速电压较低可观察到的碳层也较薄。/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/652f21c2-13d1-45a3-ac00-f2be0b08c4c5.jpg" title="7.png" alt="7.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "对簿膜样品加速电压选择低一些,效果较好,但有个度。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong1.3改变加速电压对样品荷电场强度与位置的影响/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品的荷电现象:高能电子束轰击足够厚的样品,如有电子驻留在样品中漏电性较差的部位,将形成静电场影响该部位及附近电信号的正常溢出。出现异常亮、异常暗或磨平的现象,这就是样品的荷电现象,该静电场也称“荷电场”。(关于样品的荷电现象,后期将有专文加以深入探讨)。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "影响样品荷电场形成的因素有许多,加速电压正是其中最为重要的一个方面。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压对样品荷电场的影响主要表现在以下几点:/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.加速电压的升高,发射亮度增加,使得注入样品的电子数增加,荷电场强度得以加强,将加重样品的荷电现象。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.加速电压的升高,电子击入样品的深度增加,形成荷电场的位置下移,达一定值时,对样品电信号溢出的影响将会减弱直至消除。但SE2的增加,会影响表面细节的分辨。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.加速电压的升高,使得背散射电子能量增加,背散射电子能量越大,其溢出量受荷电场的影响也就越小。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong实例一、介孔材料KIT - 6不同加速电压下的荷电现象 /strong/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/f1a4138c-34fa-47e0-9b73-51fa3f0e6e15.jpg" title="8.png" alt="8.png"//pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/e691f38e-c9b1-4ea9-9cd5-c67cf0df65d4.jpg" title="9.png" alt="9.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong实例二、二氧化硅小球,减速模式的加速电压与荷电/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "二氧化硅小球。形态松软,容易形成样品的荷电现象。主流观点:减速、低电压是解决样品荷电问题的最佳方案,且加速电压越低,荷电现象越弱。真实情况却未必如此。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "用减速模式500V、1KV,观察得出的是如下结果:/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "/span/pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/764fd804-f00b-4e93-bed6-03b652d70f53.jpg" title="10.png" alt="10.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em " /spanbr//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong实例三、钼化铬纳米颗粒/strong/pp style="text-align: center text-indent: 0em "strongimg style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/f222ae41-0b71-45ac-9969-ca0e2806ff94.jpg" title="11.png" alt="11.png"//strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以上三例可见,无论采用何种模式,加速电压与样品的荷电现象之间都存在一个辩证的关系。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压升高,会增加注入到样品中的电荷总量,提升样品中的荷电场强度,加重样品的荷电现象。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "提升加速电压,电子注入样品的深度增加,自由电子在样品中形成堆积的位置下移至更深处,荷电场位置也将下沉。荷电场的下沉会逐步减弱其对样品表面电子溢出量的干扰,荷电现象也将逐步减弱,但这是一个量变到质变的过程。当加速电压达到一定值,荷电场接地形成电荷通道,此时样品中多余的自由电子完全消失,样品中也就不存在荷电场。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "加速电压的提升,可以增加背散射电子的能量,达到一定值,背散射电子信息将克服荷电场对其正常溢出的影响,减弱并消除形貌像所显现出的样品荷电现象。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "因此不能简单的认为:低加速电压是不蒸金解决样品荷电的唯一有效途径。以辩证的思维方式来综合评估各方面的影响,合理选择加速电压才是应对样品荷电的有效方式。/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="color: rgb(0, 176, 240) font-size: 18px "strong二、束流大小的选择/strong/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em "目前主流的观点认为:束流越大,电子束斑的直径越大,束斑直径越大,图像的分辨率越差。各电镜厂家的工程师在进行分辨率测试时,都会选用小束流,但观察的都是信号量充足的标准样品(金颗粒)。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "实际测试时,常发现小束流下样品的整体信息量较差 ,很难形成高质量表面形貌像。那么该怎样选择合适的束流?/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "依辩证法的观点,降低束流强度将得到以下两个矛盾的结果:/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1. 束斑直径降低,信号溢出区面积减小对图像清晰度有利且能降低荷电场强度,削弱样品荷电的影响。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2. 减少注入样品的电子量,信号量将减弱,不利图像分辨。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "而现实的操作中,在主流观点的影响下,往往把眼光只放在第一点上,夸大束斑直径的影响,忽视束流强度不足所引起的信号量缺乏,故常常无法获得高质量的高分辨图像。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "特别在面对氧化物、高分子等本身信号较弱的材料时,信号量常常是关键点,小束流的模式很难获得满意的结果。/pp style="text-align: center text-indent: 0em "span style="font-size: 16px "strong style="font-size: 14px text-align: center text-indent: 2em "实例一、钴纳米颗粒和碳材料,不同束流下图像质量的比较/strongstrong style="font-size: 14px text-align: center text-indent: 2em "/strong/span/pp style="text-align: center text-indent: 0em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/29ecf822-c796-4da0-a394-fa93a248c2d0.jpg" title="12.png" alt="12.png"//pp style="text-align: center text-indent: 0em "span style="text-indent: 2em "img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/858092ec-e7c9-4e0e-a8e3-a1564d3b4800.jpg" title="13.png" alt="13.png"/ /span/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " /pp style="text-align:center"img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/f8de383e-1046-4e7d-a4d1-540843a72d14.jpg" title="14.png" alt="14.png"/span style="text-indent: 0em " /span/pp style="text-align: center text-indent: 0em " img style="max-width:100% max-height:100% " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/34a0c424-2f08-44fe-8f0c-cd31c149f9ab.jpg" title="15.png" alt="15.png"//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "以上四例说明:束流的选择同样也遵循辩证法的规律,束流改变带来的往往是正、反两方面影响。如何平衡这些影响获取最佳的结果,还与样品的特性有关,必须全面考虑。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "样品本身信号量充足且漏电能力较差,束流适当选择较低一些,可以减少荷电的影响,提升图像的清晰度,但图像信噪比就是牺牲的对象。反之,束流应当选择稍高一些,可以获得的样品信号量更为充分,图像的质量更佳。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "依据个人的测试经验,起始条件选择的束流大一些,综合效果会更好。选择小束流,常常会使得图像的信息量不足,分辨力减弱过多,很多细节反而分辨不清。欲对仪器做出适当的调整,看清信息是基础,信息太弱会失去调整的方向。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "任何测试条件的选择都应当坚持适度性原则。具体问题、具体分析,摒弃单调的思维模式,才能找到最佳的测试条件,获得满意的测试结果。/ph1 label="标题居中" style="font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px "span style="font-size: 18px color: rgb(0, 176, 240) "strong三、结束语/strong/span/h1p style="text-align: justify text-indent: 2em " 本文通过大量的实例给大家展示,不同加速电压及束流的选择,究竟能带给我们怎样的测试结果。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "辨证的观点要求我们能够做到具体问题、具体分析。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "摒弃单调的思维模式,有助于我们选择正确的测试条件,获得满意的测试结果。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "同样的样品、不同的测试条件获取的样品信息不同。单一的测试条件往往很难带给我们完整且充分的样品信息。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "要获取充分的样品信息,需要测试者能准确预判出测试条件的改变对测试结果会产生怎样的影响。做到这一点,测试者的经验积累十分重要。希望本文的各种实例,能对大家在加速电压和束流选择方面的经验累积提供一些帮助。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong参考书籍:/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "华南理工出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "中科大出版社/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "人民出版社 /pp style="text-align: justify text-indent: 2em "《显微传》 章效峰 2015年10月/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " 清华大学出版社/pp style="text-indent: 2em "strong作者简介:/strong/pp style="text-indent: 2em text-align: justify "img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 80px height: 123px float: left " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202005/uepic/6dc1a11e-8c90-4ad2-be79-65574928318f.jpg" title="741ca864-f2b8-4fc3-b062-2b0d766c5a7b.jpg" alt="741ca864-f2b8-4fc3-b062-2b0d766c5a7b.jpg" width="80" height="123" border="0" vspace="0"/林中清,1987年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累,渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论,使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案,在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破,其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。 /pp style="text-indent: 2em "strong延伸阅读: /strong/pp style="text-indent: 2em "strong/strong/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200414/536016.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜操作实战技能宝典——安徽大学林中清32载经验谈(7)/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20200318/534104.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜的探头新解——安徽大学林中清32载经验谈(6)/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="http://二次电子和背散射电子的疑问(下)——安徽大学林中清32载经验谈(5)" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "二次电子和背散射电子的疑问(下)——安徽大学林中清32载经验谈(5)/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="http://二次电子和背散射电子的疑问[上]-安徽大学林中清32载经验谈(4)" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "二次电子和背散射电子的疑问[上]-安徽大学林中清32载经验谈(4)/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="http://电子枪与电磁透镜的另类解析——安徽大学林中清32载经验谈(3)" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "电子枪与电磁透镜的另类解析——安徽大学林中清32载经验谈(3)/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191126/517778.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜放大倍数和分辨率背后的陷阱——安徽大学林中清32载经验谈(2)/span/a/pp style="text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/news/20191029/515692.shtml" target="_self" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈/span/a/p
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    近日,2012年第一批推荐性国家标准计划项目已经过国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会批准下达,由全国电工仪器仪表标准化技术委员会秘书处组织上报的23项国家标准制修订计划全部获得批准。此次获得批准的23个项目覆盖了“AMI标准体系”中的各专项工作组。目前,全国电工仪器仪表标准化技术委员会秘书处已经启动项目工作组的组建工作。  以下是23项国家标准制修订计划的目录:  序号 计划编号 项目名称 标准性质 制修订 代替标准 采用国际标准 完成时间  1 20120803-T-604 单相智能电能表特殊要求 推荐 制定 2014  2 20120804-T-604 三相智能电能表特殊要求 推荐 制定     2014  3 20120805-T-604 社区能源计量抄收系统规范 第5部分:无线中继 推荐 制定   EN 13757-5:2008 2014  4 20120806-T-604 社区能源计量抄收系统规范 第6部分:本地总线 推荐 制定   EN 13757-6:2008 2014  5 20120807-T-604 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第1部分:定义和通用要求 推荐 修订 GB/T 7676.1-1998   2014  6 20120808-T-604 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第2部分:电流表和电压表的特殊要求 推荐 修订 GB/T 7676.2-1998   2014  7 20120809-T-604 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第3部分:功率表和无功功率表的特殊要求 推荐 修订 GB/T 7676.3-1998   2014  8 20120810-T-604 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第4部分:频率表的特殊要求 推荐 修订 GB/T 7676.4-1998   2014  9 20120811-T-604 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第5部分:相位表、功率因数表和同步指示器的特殊要求 推荐 修订 GB/T 7676.5-1998   2014  10 20120812-T-604 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第6部分:电阻表(阻抗表)和电导表的特殊要求 推荐 修订 GB/T 7676.6-1998   2014  11 20120813-T-604 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第7部分:多功能仪表的特殊要求 推荐 修订 GB/T 7676.7-1998   2014  12 20120814-T-604 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第8部分:附件的特殊要求 推荐 修订 GB/T 7676.8-1998   2014  13 20120815-T-604 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第9部分:推荐的试验方法 推荐 修订 GB/T 7676.9-1998   2014  14 20120816-T-604 智能电能表外形和安装尺寸 第11部分:通用要求 推荐 制定     2014  15 20120817-T-604 智能电能表外形和安装尺寸 第21部分:结构A型 推荐 制定     2014  16 20120818-T-604 智能电能表外形和安装尺寸 第22部分:结构B型 推荐 制定     2014  17 20120819-T-604 智能电能表外形和安装尺寸 第23部分:结构C型 推荐 制定     2014  18 20120820-T-604 智能电能表外形和安装尺寸 第31部分:电气接口与结构A型 推荐 制定     2014  19 20120821-T-604 智能电能表外形和安装尺寸 第32部分:电气接口与结构B型 推荐 制定     2014  20 20120822-T-604 智能电能表外形和安装尺寸 第33部分:电气接口与结构C型 推荐 制定     2014  21 20120823-T-604 智能电能表外形和安装尺寸 第41部分:显示规范 推荐 制定     2014  22 20120824-T-604 自动抄表系统 基于窄带的低压电力线载波抄表系统 第216部分:正交频分复用(OFDM)协议 推荐 制定     2014  23 20120825-T-604 自动抄表系统 基于窄带的低压电力线载波抄表系统 第215部分: 频带、发射电平和电磁骚扰 推荐 制定     2014

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    [em09506] 我们要知道在电压表内,有一个磁铁和一个导线线圈,通过电流后,会使线圈产生磁场,这样线圈通电后在磁铁的作用下会旋转,这就是电流表、电压表的表头部分。 这个表头所能通过的电流很小,两端所能承受的电压也很小(肯定远小于1V,可能只有零点零几伏甚至更小),为了能测量我们实际电路中的电压,我们需要给这个电压表串联一个比较大的电阻,做成电压表。这样,即使两端加上比较大的电压,可是大部分电压都作用在我们加的那个大电阻上了,表头上的电压就会很小了。 可见,电压表是一种内部电阻很大的仪器,一般应该大于几千欧。 电流表是跟据通电导体在磁场中受磁场力的作用而制成的。 电流表内部有一永磁体,在极间产生磁场,在磁场中有一个线圈,线圈两端各有一个游丝弹簧,弹簧各连接电流表的一个接线柱,在弹簧与线圈间由一个转轴连接,在转轴相对于电流表的前端,有一个指针。 当有电流通过时,电流沿弹簧、转轴通过磁场,电流切磁感线,所以受磁场力的作用,使线圈发生偏转,带动转轴、指针偏转。 由于磁场力的大小随电流增大而增大,所以就可以通过指针的偏转程度来观察电流的大小。 这叫磁电式电流表,就是我们平时实验室里用的那种。 电流表串联一个大电阻。测量时并联到被测量的两点之间,不会改变原有电路的特性,电流表显示数值正比于被测量点的电压: 电流表内阻 Ro 很小,可以忽略不计,外接电阻 R 很大,这样根据欧姆定律得到: I = U/(R + Ro) ≈ U/R DA30A 型真有效值电压表 性能特点 : 真正有效值测量 可测量各种波形电压和无规则噪声电压 热电偶检波方式,线性指示 测量频率范围:10 Hz — 10 MHz 大镜面表头指示,读数清晰 直流放大器输出,可驱动其它辅助设备 简要介绍:: DA30A型真有效值电压表主要用于对各种信号波形进行有效值测量,采用热电偶检波方式,仪器指示具有线性刻度,无需调零,并附有直流输出装置以驱动直流数字电压表来提高测量精度。可广泛用于工厂、实验室、科研单位、大专院校等。 技术参数: 频响范围 10 Hz — 10 MHz 基本精度 ± 2% 输入电阻, 电容, 过载电压 1 mV — 300 mV: ≥8 MΩ,≤ 40 pF, ≤100 V 300 mV — 300 V: ≥8 MΩ,≤ 20 pF, ≤600 V 直流输出电压 -1 V(逢10量程) 一般技术指标 工作温度, 湿度 0℃ — 40℃, ≤90% RH 电源要求 198 V — 242 V AC, 47.5 Hz — 52.5 Hz 功耗 ≤ 6 VA 尺寸(W×H×D) 240 mm×140 mm×280 mm 重量 约2.5 kg

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    数字仪器仪表头的故障检修与应用实例 数字电压表表头(DVM)是数字仪器仪表的重要部件之一,其精度、可界性及灵敏度等电气指标均优干指针式表头,并使于和计算机,打印机等相接而实现自动化控制.且使用直观方便。数字电压表头可用来组成数字万用表(DMM),数字温度计、数字压力计、数字频率计等多种数字化测量仪器仪表,因而数字电压表头目前在电子仪器仪表中有着极为广泛的应用‘ 一、数字电压表头常见故障的检修 对于不同的数字电压表头由于共电路的结构和所用的A/D转换器不同.因此其故障待点也有所区别,但常T见的故障却有许多共同之处,下面就对其典型故障的检修及其ICL7106MC14433和ICL7135 A/D芯片各引脚的正常电压值作一些简介。 I.常见典型故障的检修 (1)无显示 无显示故障是指在给数宁电压表头加上电流后,当输入一定的电压信号时,显示器中无任何显示的现象。 无显示故障大多是因芯片间的供电线路不通或接触不良。可先检测一下各芯片的电源端t(Vcc或vDD)与地端(GND)的电压值是否正常‘对采用集成电路插座的数字电压表头,可将集成片拔出后重新插入,以排除管脚接触不良之故潭. 知各芯片的工作电压正常且无接触不良故障之后,显示器仍无显示.则可能是A/D芯片或译码秘动芯片损坏.可用同型号的芯片代换一试,如代挽后故障依旧,则很可能是 A/D芯片的外,围电路有故障,如振洗器的外按电阻电容损坏或外搜振荡器停振等。 (2)显示出错 对于采用LCD梢晶显示屏的数字电压表头.此类故障大多是由干其导电橡胶夸曲变 形或接触不良所至 对于采用LED数码显器的数字电压表头,此类故障可能是A/D集成片已坏.可换用型 号的集成片一试。 (3)读数偏差较大 引起该故障的主要原因可能是积分电阻的阻值或基准电压值发生交化,可通过检 测积分电阻和基准电压的值来进行判断。 (4)输人短接时读数不为琴 此种故障主要是由于基准电容漏电或容量减小,或自动校零电容容量变小所致, 检修时可用质量较好的电容代换试之。 2.ICL7106、MC14433和ICL7135的引脚参考电阻值 ICL.7106,MC1443和ICL71357 A/D转换器各引脚的实洲参考电阻值如表表1-4所示 ,表中的数据均为笔者用M F 10 型指针式万用表*1k挡所侧,对不同型号的万用表和不 同厂家的芯片,测得的数据可能会有些偏差,一般偏羞不会太大。此表中的数据可供 判断A/D集成片好坏时参考.http://www.china-1718.com/File/2011-09-24-14-06-23.jpg来自 仪器仪表网

数显电压表相关的耗材

  • 金颗粒标样30 - 300nm,低加速电压分辨率测定标样
    【产品详情】标准的金球或锡球分辨率测定标样不适用于低加速电压下或者老旧仪器中的测试,可能导致此问题的原因是低加速电压下采用高计数率和小束斑直径测样时得到的分辨率较差、信噪比过低。较大的标样粒径(30 - 300nm)在分辨率测试时可以在保留图像细节的同时确保较高的对比度,此特性使得此标样可以在非理想条件下使用。可镶嵌于Zeiss,FEI,TESCAN,JEOL和Hitachi扫描电镜各自的样品台上。 此分辨率测试标样粒径分布为30-300nm,与标样AGS168相比,更大的金粒尺寸允许此标样用于低加速电压下的分辨率校准。生长于石墨衬底上的金颗粒之间有间隙,尺寸不一,可以实现非理想操作条件下的分辨率测试,基于此特性,此标样也可以用于高分辨率测试条件下的灰度校准。理想条件下,高分辨率扫描电镜可以给出高质量的间隙分辨率测试和灰度校准结果。搭配中等分辨率的电镜使用此标样可获得尚可使用的间隙分辨率,但灰度区分不明显,只能呈现4-5级。因为标样颗粒的几何形状不规则,二次电子模式下的差分信号采集会导致灰度对比出现。大颗粒之的细小颗粒和间隙,可以用于更准确地评估电镜的成像质量。评估二次电子成像质量时,将标样倾斜,与二次电子收集装置成30°角时可得到质量最好的像。采集背散射电子时样品台的倾角则由探测器的位置决定。但若样品与探测器之间的倾角大于35°,标样上大块的金粒会产生较大的投影,会遮蔽标样上较小的金粒,因此不推荐。此外,测量金粒之间的间隙尺寸时须注意样品的倾角会影响图像的放大倍数。当放大倍数在2,000倍以上时金粒可见,最佳工作距离是7-8mm。使用钨灯丝电镜时,先用20kV的加速电压观察样品,再逐步降低加速电压和束斑直径聚焦调节至合适的聚焦状态和明度。工作时需确保电子枪、灯丝、光阑孔准直,电子束须汇聚、明度适当、束流稳定。当线扫描分辨率调至最高、测试时间较长时(在部分仪器中此时间可达10min)可得到较高的信噪比。 【技术详情】标样粒径分布金颗粒标样30-300nm产品详细价格及资料,请登录电镜耗材在线商城网站查看。
  • WA5810D型测量放大器
    概述:采用数字真有效值检波专利技术的数显声频传声器放大器,包含A、C和Z频率计权特性,符合GB3785.1标准对1级声级计的要求。测量频率范围可延伸到40 kHz或80 kHz。通过前面板LEMO 7芯插座,可连接到传声器前置放大器和1/2英寸或1英寸测试电容传声器,组成1级声级计用于声学测量。还有直接输入插孔,可连接到加速度计前置放大器,也可用作一般高灵敏度声频电子电压表,测量真有效值(RMS)电压。是一种用途广泛的实验室用声学、振动、电压测量仪器,可以代替进口测量放大器作为声学计量使用。特点:1:动态范围大(110 dB),测量时不需更换量程;2:精度高,稳定性好,数字显示电压5位数,声压级读数至0.01 dB,不需另加数字电压表提高读数精度;3:可以将某一测量值设置为参考0 dB,直接读出其它测量值与它相比的增益或衰减dB数;主要性能指标执行标准:IEC 61672:2002 Class 1,GB/T 3785-2010 1级频率计权:A,C,Z时间计权:16ms、F、S、8秒量程:316mV,1V,3.16V,10V窗函数(选配功能):矩形窗、汉宁窗、平顶窗、布莱克曼窗参考量程:10V参考量程级线性范围:110dB 电压测量范围:15μV到10V 信号输入:直接输入(BNC插座),前置输入(LEMO 7芯插座), ICP前置输入(BNC插座)信号输入阻抗:1MΩ输入保护:±18V恒流源供电:18V、2mA信号输出:交流输出(BNC插座),直流输出(BNC插座),RS-232C(DB9M插座)内部参考信号:1kHz,50mV,失真小于1%。内部电池:免维护铅酸充电电池,插入外接电源即开始充电。充满电后可连续使用20小时以上。外接电源:220V或110V,50Hz或60Hz功耗:小于10W。工作温度:0℃~40℃相对湿度: 20%~90%
  • 带快速接头的数显压力表 | 24224
    产品特点:带快速接头的数显压力表Digital Gauge with Quick-Connect Fitting订货号:24224● 测量真空度至-30“ Hg和压力达到60 psi,精度为±0.25%。● 包括硬边手提箱。● 兼容微型空气采样罐和Aura个人空气采样器。配件:1/8“ 快速连接
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