薄膜电阻

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薄膜电阻相关的厂商

  • 在湿度传感器方面,我司是国内首家实现湿敏电阻,湿敏电容,结露传感器等国产化的公司,拥有20年以上行业应用经验。产品具有高精度,响应速度快,长寿命等特点。公司拥有核心材料技术及独特工艺,产品性能媲美欧洲等国际品牌,是国内湿度传感器行业的创领者。并在气体传感器,光电传感器以及生物传感器等方面拥有技术储备及制造能力。公司拥有行业内顶级的5000平方半导体级 (1000级及100级) 净化车间,拥有厚膜,薄膜,半导体4/6时MEMS工艺生产线,含丝印机,精密激光调阻机,烧结炉,光刻机,磁控溅射机,蚀刻机,邦定机,模压机,贴片机等前道及后道封装线,共上百台 (套)高精密设备。整体产能包括拥1000万只陶瓷压力传感器,5000万只温湿传感器,3000万只薄膜电阻以及3000pcs/月,4/6时MEMS晶圆的产能,可以为客户提供稳定的高品质的核心传感器芯片及模组供应能力。
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  • 公司实验室一批二手仪器,保养得当。
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薄膜电阻相关的仪器

  • 薄膜电阻率测试仪 400-860-5168转5976
    薄膜电阻率测试仪测量参数 绝缘电阻 R,泄漏电流 I,表面电阻 Rs,体积电阻 Rv测试范围 500Ω~9.9X10 15 Ω,2mA ~ 0.01pA测试速度(MAX) 快速 5 次/秒,慢速 1 次/秒, 回读电压精度 0.5%±1V量程超限显示 量程上超输入端子 香蕉插头,BNC 插头操作键 橡胶键显示 4.3 寸 TFT 精度保证期 1 年操作温度和湿度0℃到 40℃80%RH 以下(无凝结)薄膜电阻率测试仪技术指标 1、电阻测量范围:0.01×104Ω~1×1018Ω。2、电流测量范围:2×10-4A~1×10-16A3、显示方式:32位LED液晶屏显示4、内置测试电压:10V、50V、100V、250、500、1000V5、基本准确度:1%6、使用环境:温度:0℃~40℃,相对湿度80%7、机内测试电压:10V/50V/100/250/500/1000V任意切换8、供电形式:AC 220V,50HZ,功耗约5W9、仪器尺寸:285mm× 245mm× 120 mm10、质量:约10KG薄膜电阻率测试仪工作原理 根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。本仪器是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以,即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高(专利),从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之几。薄膜电阻率测试仪典型应用1、测量绝缘材料电阻(率)2、测量防静电材料的电阻及电阻率3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值4、测量防静电鞋、导电鞋的电阻值5、光电二极管暗电流测量6、物理,光学和材料研究薄膜电阻率测试仪主要优势说明:1、密码保护:登入测试页面,需要输入密码,保证非专业技术人员进行操作2、测量模式:手动测量 自动测量3、取值时间:在自动测量模式下,取值时间可以自由设定4、校准模式:具有自动校准功能,能够对电压、电流进行自动校准5、显示数据:能够实时显示测试电压、电路、电阻值、电阻率数值6、数据打印:可以对测试的数据进行打印7、软件通讯:能够配有上位机软件,通过上位机进行测量,同时可以保存和导出测试数据
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  • EddyCus TF map 2525 薄膜电阻和薄膜厚度测试仪 方阻测试仪 薄膜电阻测试仪TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻(方块电阻)及薄膜厚度测量的仪器。特点非接触成像高解析度成像(25 至1,000,000 点)缺陷成像封装层的地图参数薄膜电阻(欧姆/平方)金属层厚度(nm、μm)金属基板厚度(nm、μm)各向异性缺陷完整性评定应用建筑玻璃(LowE)触摸屏和平板显示器OLED和LED应用智能玻璃的应用透明防静电铝箔光伏半导体除冰和加热应用电池和燃料电池包装材料材料金属薄膜和栅格导电氧化物纳米线膜石墨烯、CNT(碳纳米管)、石墨打印薄膜导电聚合物(PEDOT:PSS)其他导电薄膜及材料规格参数测量技术:非接触式涡流传感器基板:例如:薄膜、玻璃、晶圆,等等最大扫描面积:10 inch / 254 x 254 mm(根据要求可以更大)边缘效应修正/排除:对于标准尺寸,排除2 mm的边缘最大样品厚度/传感器间隙:2 / 5 / 10 / 25 mm(由最厚的样本确定)薄膜电阻的范围:低 0.0001 - 10 Ohm / sq 2 至 8 % 精度标准 1 - 1,000 Ohm / sq 2 至 8 % 精度高 10 - 10,000 Ohm / sq 4 至 8 % 精度金属膜的厚度测量(例如:铝、铜):2 nm - 2 mm (与薄膜电阻一致)扫描间距:1 / 2 / 5 / 10 mm (根据要求的其它尺寸)每单位时间内测量点(二次形):5分钟内10,000个测量点30分钟内1,000,000 个测量点扫描时间:4 inch / 100 x 100 mm,在0.5至5分钟内(1-10mm 间距)8 inch / 200 x 200 mm,在1.5至15分钟内(1-10mm 间距)装置尺寸(宽/厚/深):549 x 236 x 786(836) mm / 23.6 x 9.05 x 31.5 inch重量: 27 kg可用特色:薄膜电阻成像各向异性电阻传感器
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  • 塑料薄膜电阻率测定仪既可测量高电阻,又可测微电流。采用了美国Intel公司的大规模集成电路,使仪器体积小、重量轻、准确度高。以双3.1/2 位数字直接显示电阻的高阻计和电流。量限从1×104Ω~1×1018 Ω,准确度高的数字电阻测量仪。 塑料薄膜电阻率测定仪 技术参数: 1、电阻测量范围 1×104Ω ~1×1018Ω2、电流测量范围 2×10-4A~1×10-16A3、显 示 方 式 数字液晶显示4、内置测试电压 10V 、50V、100V、250V、500V、1000V5、基本准确度 1%6、使用环境 温度:0℃~40℃,相对湿度80%7、供电形式 AC 220V,50HZ,功耗约5W8、仪器尺寸 285mm× 245mm× 120 mm9、质量 约5KG10、体积小、重量轻、准确度高 电阻、电流双显示,性能好稳定、读数方便11、使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便免去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦 塑料薄膜电阻率测定仪 主要特点 电阻测量范围宽 1×104Ω~1×1018Ω电流测量范围为 2×10-4A~1×10-16A体积小、重量轻、准确度高电阻、电流双显示性能好稳定、读数方便所有测试电压(100/250/500/1000V) 测试时电阻结果直读,免去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦,使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。既能测超高电阻又能测微电流 塑料薄膜电阻率测定仪 工作原理 根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。本仪器是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化。其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以,即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高。从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之几。 塑料薄膜电阻率测定仪 制造标准: A. GB/T 1410-2006《 塑料薄膜电阻率测定仪固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》 B. ASTM D257-99 《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》 C. GB/T 2439-2001《硫化橡胶或热塑性橡胶导电性能和耗散性能电阻率的测定》D. GB/T 10581-2006《绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法》 E. GB/T 1692-2008《硫化橡胶绝缘电阻率的测定》 F. GB/T 12703.4-2010《纺织品 静电性能的评定 第4部分:电阻率》 G. GB/T 10064-2006《测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法》 塑料薄膜电阻率测定仪 配置: 1.主机:一台2.屏蔽箱+电极:一套3.测试线:五条4.说明书+合格证+保修卡:各一份 测试步骤: 1、测试温度23±2℃,相对湿度65±5%,无外界电磁场干扰环境中进行。2、测试时对试样所加电压为100V~500V的直流电压,选择电压档次。3、将试样倒入高压电极内,使液面刚好和环电极下缘全部接触为止。4、将充分放电后的试样和电极,按固体(液体)体积及表面电阻率测试仪要求接线。外电极(高压电极)接高固体(液体)体积及表面电阻率测试仪的高压输出端。内电极(测量电极)接固体(液体)体积及表面电阻率测试仪的测量端。中电极(环电极)接固体(液体)体积及表面电阻率测试仪的接地端。5、仪器预热30分钟,稳定后调整仪器(调零),加上试验1分钟,读取电阻指示值,然后放电1分钟,再测试一次,以二次的算术平均值作为试验样品电阻指示值。 安全注意事项: ① 开机之前,敬请仔细阅读 使用指南,以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。② 操作前,阅读“安装与设置”,保证对仪器各部件的正确安装与连接。③ 在第一次操作前,务必请有操作经验的人员进行指导,防止误操作造成意外事件的发生。④ 电击危险: 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电,防止在带电情况下,对人员或设备造成伤害。 售后服务 (1)免费送货到用户指定的地点,免费指导安装、培训及调试。(2)产品质保期:自安装正常使用日起一年;(3)质保期内若产品出现质量问题,供货方负责免费维修,质保期外仅收成本费。零部件常年供应. 我公司专业生产、销售海绵泡沫检测设备,周到的服务流程让您满意,及时的售后流程让您安心,现货发货,如需要请联系我们。 北京北广精仪仪器设备有限公司
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薄膜电阻相关的资讯

  • 新型空穴型透明导电薄膜问世
    记者1月25日从中国科学院合肥物质科学研究院了解到,该院固体物理研究所功能材料物理与器件研究部和本院等离子所等单位科研人员合作,在空穴型近红外透明导电薄膜研究方面取得新进展:他们设计并制备了新型空穴型铜铁矿薄膜,并通过参数优化让新型薄膜获得了较高的近红外波段透过率和较低的室温方块电阻。相关研究结果日前发表在《先进光学材料》杂志上。  透明导电薄膜是一类兼具光学透明和导电性的光电功能材料,在触摸屏、平板显示器、发光二极管及光伏电池等光电子器件领域有着广泛应用。目前,商用的透明导电薄膜均为电子型,空穴型透明导电薄膜由于空穴有效质量大、空穴迁移率低和空穴掺杂性差,其光电性能远落后于电子型透明导电薄膜,这严重阻碍了新型透明电子器件的发展。  在国家自然科学基金的支持下,研究人员通过理论计算发现,含有铑、氧等元素的铜铁矿结构材料是一种间接带隙半导体,其中的铜离子与氧离子的原子轨道可进行杂化,从而减弱价带顶附近载流子的局域化,实现空穴型高电导率;另一方面该材料在可见光及近红外波段表现出弱的光吸收行为,具有高透过率。研究人员在前期金属型铜铁矿薄膜的研究基础上,采用非真空工艺进一步获得了大尺寸空穴型铜铁矿透明导电薄膜。该薄膜表现出主轴自组装织构的生长特征,有利于其内载流子的传输,提高空穴的迁移率。另外,由于三价铑离子的离子半径可实现空穴型载流子重掺杂,使得镁掺杂铜铁矿结构材料具有非常高的室温导电率、较高的近红外波段透过率以及低的室温方块电阻。  这种高性能的空穴型透明导电薄膜的发现,为后续基于透明电子型及空穴型薄膜的高性能全透明异质结构的研发及应用提供了一种潜在的候选材料。
  • 高性能碳纳米管透明导电薄膜研究取得进展
    p style="text-indent: 2em "透明导电薄膜是触控屏、平板显示器、光伏电池、有机发光二极管等电子和光电子器件的重要组成部件。氧化铟锡(ITO)是当前应用最为广泛的透明导电薄膜材料,但ITO不具有柔性且铟资源稀缺,难以满足柔性电子器件等的发展需求。单壁碳纳米管(SWCNT)相互搭接形成的二维网络结构具有柔韧、透明、导电等特点,是构建柔性透明导电薄膜的理想材料。但已报道SWCNT薄膜的透明导电性能仍与ITO材料有较大差距。/pp style="text-indent: 2em "因此,进一步提高SWCNT薄膜的透明导电特性是实现其器件应用的关键。分析表明,SWCNT透明导电薄膜中的管间接触电阻和管束聚集效应是制约其性能提高的主要瓶颈。一方面,由于SWCNT之间的接触面积小且存在肖特基势垒,载流子在搭接处的隧穿效应较弱,使得管间接触电阻远高于SWCNT的自身电阻;另一方面,虽然SWCNT的直径一般仅为1-2nm,但由于范德华力的作用其通常聚集成直径几十、上百纳米的管束以降低表面能;管束内部的SWCNT会吸光而降低薄膜的透光率,但对薄膜的电导几乎没有贡献。因此,研制高性能SWCNT柔性透明导电薄膜的关键是获得单根分散、低接触电阻的SWCNT网络结构。/pp style="text-indent: 2em "最近,中国科学院金属研究所与上海科技大学物质学院联合培养的博士研究生蒋松在金属所先进炭材料研究部的导师指导下与合作者采用浮动催化剂化学气相沉积法制备出具有“碳焊”结构、单根分散的SWCNT透明导电薄膜(图1A)。 /pp style="text-indent: 2em text-align: center "span style="text-align: center text-indent: 0em "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201805/insimg/d1a3d102-e0c5-4683-b29e-cc493258961c.jpg" title="1 高性能碳纳米管透明导电薄膜研究取得进展 仪器信息网.jpg"/ /span/pp style="text-align: center text-indent: 2em "span style="color: rgb(127, 127, 127) font-size: 14px "图1. 单根分散、具有碳焊结构的SWCNT网络。/span/pp style="text-indent: 2em text-align: center "span style="color: rgb(127, 127, 127) font-size: 14px "(A)典型TEM照片;(B)单根SWCNT的百分含量统计;/span/pp style="text-indent: 2em text-align: center "span style="color: rgb(127, 127, 127) font-size: 14px "(C-D)无碳焊结构的金属性-半导体性SWCNT的I-V传输特性;/span/pp style="text-indent: 2em text-align: center "span style="color: rgb(127, 127, 127) font-size: 14px "(E-F)有碳焊结构的金属性-半导体性SWCNT的I-V传输特性。/span/pp style="text-indent: 2em "通过控制SWCNT的形核浓度,所得薄膜中约85%的碳管以单根形式存在(图1B),其余主要为由2-3根SWCNT构成的小管束。进而,通过调控反应区内的碳源浓度,在SWCNT网络的交叉节点处形成了“碳焊”结构(图1A)。/pp style="text-indent: 2em "研究表明该碳焊结构可使金属性-半导体性SWCNT间的肖特基接触转变为近欧姆接触(图1C-F),从而显著降低管间接触电阻。由于具有以上独特的结构特征,所得SWCNT薄膜在90%透光率下的方块电阻仅为41Ω □-1;经硝酸掺杂处理后,其方块电阻进一步降低至25Ω □-1,比已报道碳纳米管透明导电薄膜的性能提高2倍以上,并优于柔性基底上的ITO(图2A-B)。利用这种高性能SWCNT透明导电薄膜构建了柔性有机发光二极管(OLED)原型器件,其电流效率达到已报道SWCNT OLED器件最高值的7.5 倍(图2C-D),并具有优异的柔性和稳定性。/pp style="text-align: center text-indent: 2em "img src="http://img1.17img.cn/17img/images/201805/insimg/31a1c88d-964d-4fda-af47-d5b192bb42f2.jpg" title="2高性能碳纳米管透明导电薄膜研究取得进展 仪器信息网.jpg"//pp style="text-align: center text-indent: 2em "span style="font-size: 14px color: rgb(127, 127, 127) "图2. SWCNT 柔性透明导电薄膜和SWNCT 有机发光二极管。/span/pp style="text-indent: 2em "span style="font-size: 14px color: rgb(127, 127, 127) "(A-B)SWCNT 柔性透明导电薄膜的光学照片及其透明导电性能对比;(C-D)SWCNT 有机发光二极管原型器件的光学照片及其光电性能对比。/span/pp style="text-indent: 2em "该研究从SWCNT网络结构的设计与调控出发,有效解决了限制其透明导电性能提高的关键问题,获得了具有优异柔性和透明导电特性的SWCNT薄膜,可望推动SWCNT在柔性电子及光电子器件中的实际应用。主要研究结果于5月4日在Science Advances在线发表(Sci. Adv. 4, eaap9264 (2018),DOI: 10.1126/sciadv.aap9264)。该研究工作得到了科技部、基金委、中科院等部署的相关项目的支持。/p
  • 飞秒激光在ITO薄膜表面诱导周期性透明纳米导线
    使用线偏激光照射金属、半导体、透明介质等材料产生表面周期结构(laser induced periodic surface structures,LIPSS)是一种普遍的现象,LIPSS的周期取决于激光条件和材料的性质,在接近入射激光波长到小于波长的十分之一范围变化。这些周期性纳米结构可用于有效地改变材料的性质,并在表面着色、光电特性调控、双折射和表面润湿性等方面有许多应用。氧化铟锡(indium tin oxide,ITO)具有较宽的带隙,对可见光与近红外波段有很高的透射率,ITO薄膜具有较低的电阻率,是液晶面板、新型太阳能电池等元件的重要组成部分。一直以来,发展制备ITO薄膜的新方法,调控ITO薄膜的光电特性是非常重要的研究课题,而在激光加工领域,使用激光在ITO薄膜诱导LIPSS是一个有效且简便的方法。华东师范大学精密光谱科学与技术国家重点实验室贾天卿教授课题组探究了一种通过飞秒激光直写在ITO薄膜表面加工LIPSS的方法,并详细分析了不同激光参数下加工的ITO薄膜在可见到红外光波段的透射率与其各向异性电导率的变化规律。合适的激光参数可以在ITO薄膜上有效地加工大面积低空间频率的LIPSS,这些LIPSS能够表现出独立纳米导线的特性,并且在电学特性上具有良好的一致性。结果表明,飞秒激光直写过程中并不会改变材料的性质,而且与原始的ITO薄膜相比,具有规则LIPSS的ITO薄膜在红外波段的平均透射率提高了197%。这对于将ITO薄膜表面加工规则的LIPSS作为透明电极应用于近红外波段的光电器件具有重要的意义。如图1,原始ITO薄膜的面电阻各向同性。随着激光能流密度的增加,垂直和水平于LIPSS方向的面电阻迅速增加且变化梯度不同,出现了明显的各向异性导电性,当ITO薄膜表面出现规则且独立的LIPSS结构以后,在一定能流密度范围,ITO薄膜能够在不同方向上显现出单向导电/绝缘的电学特性。图1 扫描速度为3 mm/s时,不同能流密度激光辐照后ITO薄膜的面电阻。图中给出了电学测量中横向(Transverse)与纵向(Longitudinal)的定义通过调节激光的能流密度,可以在一个较大的范围内制备出不同形貌的纳米导线(LIPSS)。图2(a)展示了不同能流密度的飞秒激光加工的纳米导线扫描电镜图像。在能流密度上升的过程中,纳米导线的宽度从537 nm降低到271 nm。纳米导线的高度从平均220 nm降低到142 nm,如图2(b)所示。纳米导线的单位电阻随着能流密度的上升从15 kΩ/mm上升到73 kΩ/mm,这是由于纳米导线的宽度与高度都在同步下降造成的,如图2(c)。图 2 (a)不同能流密度下的纳米导线的扫描电镜图像;(b)纳米导线的高度与宽度随着能流密度的变化情况;(c)纳米导线的单位电阻与电阻率随着能流密度的变化情况如图3,原始厚度为185 nm的ITO薄膜在1200~2000 nm的近红外光谱范围内的平均透射率为21.31%。经过飞秒激光直写后,当能流密度在0.510~ 0.637 J/cm2的范围内,ITO薄膜对于近红外的透过率达到54.48%~63.38%,相较原始的ITO薄膜得到了156%~197%的提高。同时,飞秒激光直写后的ITO薄膜在可见光波段的透过率略微提高且曲线较为平滑。通过调节激光的能流密度,ITO薄膜在近红外的透过率能够得到显著提高,并且能够保持较好的导电性。图 3 扫描速度为3 mm/s时,不同能流密度激光直写后的ITO薄膜的透射率。在0.637 J/cm2时红外波段(1200~2000 nm)透过率为63.38%该工作近期以“Periodic transparent nanowires in ITO film fabricated via femtosecond laser direct writing”为题发表在Opto-Electronic Science (光电科学)。

薄膜电阻相关的方案

薄膜电阻相关的资料

薄膜电阻相关的论坛

  • 【原创大赛】薄膜材料磁电阻效应实验讲义

    薄膜材料磁电阻效应实验 王立锦 编 用巨磁电阻(GMR)和各向异性磁电阻(AMR)磁性薄膜材料制作计算机硬盘读出磁头和各种弱磁传感器,已经广泛应用于信息技术、工业控制、航海航天导航等高新技术领域。通过本实验能够使同学们对磁性薄膜材料的知识和磁电子学有所了解,并由此引起对纳米磁性薄膜材料研究和应用的浓厚兴趣。本实验仪器由我校教师设计搭建,采用高精度纳伏表和数控恒流源,计算机自动采集和显示数据,具有结实牢固、操作简便等优点,适用于大专院校教学和科研使用。以下略,详细内容请看附件。

薄膜电阻相关的耗材

  • 四探针方阻测试探头 4PP光伏硅片4点探头 KLA、CDE、NAPSON 原厂;晶圆 ITO薄膜电阻探头
    四点探针头是用于方阻测试设备上的精密零件,我公司生产的探头能适配到国内外所有的方阻测试设备上,稳定性和一致性十分优秀;无缝替代由国外生产的探头JANDEL、CDE等国外品牌,打破国外技术垄断和封锁。探针的针尖材料一般是用碳化钨。每一种探头的主要选择配置参数: A,探头主体材料及外形尺寸 B,针尖半径 C,针头的间隔 D,针头的负载 E,针头排列,线型,或者正方形。 F,连接方式: 连接器,或导线联接及长度主要的应用领域: 硅片电阻率的测量。 晶圆的电阻率的4点测量。 外延、离子注入层的4点电阻测量。 金属薄膜和其他薄膜的4点电阻测量。
  • 掌上型方块电阻测试仪
    该单元是由P.T.F.E主体结构包裹一个圆柱型的镀镍铜可收回的四探针探头所组成(针尖压力达到200g)。P.T.F.E主体结构采用一根长约1m导线将其连接到相关的电子测量设备。有一个短路开关标记为“S”(短路)和“R”(读),可允许探针头远离样品或者置于其上,无火花。应用:2可测量无法安装在固定测试台上的大圆锭的方块电阻(体积电阻、体电阻率);2可测量大晶片以及在大基板上沉积薄膜的薄层电阻;技术指标:外形尺寸长:前后约125mm宽:75mm高:约80mm(探头突出的部分约30mm)重量约1.6kg向下的压力约1.1kg(足以撤消200g/针的压力)材料主体结构P.T.F.E.绝缘材料和镀镍铜,圆柱形探头Φ:25.4mm电气4探针P.T.F.E.绝缘导线以及Lemo5路插头和插座;短路开关;180°×5路的P.T.F.E.绝缘导线DIN插头;
  • 基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜(8片装)
    基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜将两层单层CVD石墨烯膜转移 到285nm p掺杂的SiO 2 / Si晶片上尺寸:1cmx1cm 8片将每个石墨烯膜连续转移到晶片上我们的石墨烯薄膜的厚度和质量由拉曼光谱控制该产品的石墨烯覆盖率约为98%石墨烯薄膜是连续的,具有小孔和有机残留物每个石墨烯薄膜主要是单层(超过95%),偶尔有少量多层(低于5%的双层)由于没有A-B堆叠顺序。石墨烯薄膜彼此随机取向。薄层电阻:215-700Ω/平方硅/二氧化硅晶圆的特性:氧化层厚度:285nm颜色:紫罗兰色晶圆厚度:525微米电阻率:0.001-0.005欧姆 - 厘米型号/掺杂剂:P /硼方向:前表面:抛光背面:蚀刻应用:石墨烯电子和晶体管导电涂料航空航天工业应用支持金属催化剂微执行器MEMS和NEMS化学和生物传感器基于石墨烯的多功能材料石墨烯研究
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