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薄膜电阻

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薄膜电阻相关的仪器

  • 薄膜电阻率测试仪 400-860-5168转5976
    薄膜电阻率测试仪测量参数 绝缘电阻 R,泄漏电流 I,表面电阻 Rs,体积电阻 Rv测试范围 500Ω~9.9X10 15 Ω,2mA ~ 0.01pA测试速度(MAX) 快速 5 次/秒,慢速 1 次/秒, 回读电压精度 0.5%±1V量程超限显示 量程上超输入端子 香蕉插头,BNC 插头操作键 橡胶键显示 4.3 寸 TFT 精度保证期 1 年操作温度和湿度0℃到 40℃80%RH 以下(无凝结)薄膜电阻率测试仪技术指标 1、电阻测量范围:0.01×104Ω~1×1018Ω。2、电流测量范围:2×10-4A~1×10-16A3、显示方式:32位LED液晶屏显示4、内置测试电压:10V、50V、100V、250、500、1000V5、基本准确度:1%6、使用环境:温度:0℃~40℃,相对湿度80%7、机内测试电压:10V/50V/100/250/500/1000V任意切换8、供电形式:AC 220V,50HZ,功耗约5W9、仪器尺寸:285mm× 245mm× 120 mm10、质量:约10KG薄膜电阻率测试仪工作原理 根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。本仪器是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以,即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高(专利),从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之几。薄膜电阻率测试仪典型应用1、测量绝缘材料电阻(率)2、测量防静电材料的电阻及电阻率3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值4、测量防静电鞋、导电鞋的电阻值5、光电二极管暗电流测量6、物理,光学和材料研究薄膜电阻率测试仪主要优势说明:1、密码保护:登入测试页面,需要输入密码,保证非专业技术人员进行操作2、测量模式:手动测量 自动测量3、取值时间:在自动测量模式下,取值时间可以自由设定4、校准模式:具有自动校准功能,能够对电压、电流进行自动校准5、显示数据:能够实时显示测试电压、电路、电阻值、电阻率数值6、数据打印:可以对测试的数据进行打印7、软件通讯:能够配有上位机软件,通过上位机进行测量,同时可以保存和导出测试数据
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  • EddyCus TF map 2525 薄膜电阻和薄膜厚度测试仪 方阻测试仪 薄膜电阻测试仪TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻(方块电阻)及薄膜厚度测量的仪器。特点非接触成像高解析度成像(25 至1,000,000 点)缺陷成像封装层的地图参数薄膜电阻(欧姆/平方)金属层厚度(nm、μm)金属基板厚度(nm、μm)各向异性缺陷完整性评定应用建筑玻璃(LowE)触摸屏和平板显示器OLED和LED应用智能玻璃的应用透明防静电铝箔光伏半导体除冰和加热应用电池和燃料电池包装材料材料金属薄膜和栅格导电氧化物纳米线膜石墨烯、CNT(碳纳米管)、石墨打印薄膜导电聚合物(PEDOT:PSS)其他导电薄膜及材料规格参数测量技术:非接触式涡流传感器基板:例如:薄膜、玻璃、晶圆,等等最大扫描面积:10 inch / 254 x 254 mm(根据要求可以更大)边缘效应修正/排除:对于标准尺寸,排除2 mm的边缘最大样品厚度/传感器间隙:2 / 5 / 10 / 25 mm(由最厚的样本确定)薄膜电阻的范围:低 0.0001 - 10 Ohm / sq 2 至 8 % 精度标准 1 - 1,000 Ohm / sq 2 至 8 % 精度高 10 - 10,000 Ohm / sq 4 至 8 % 精度金属膜的厚度测量(例如:铝、铜):2 nm - 2 mm (与薄膜电阻一致)扫描间距:1 / 2 / 5 / 10 mm (根据要求的其它尺寸)每单位时间内测量点(二次形):5分钟内10,000个测量点30分钟内1,000,000 个测量点扫描时间:4 inch / 100 x 100 mm,在0.5至5分钟内(1-10mm 间距)8 inch / 200 x 200 mm,在1.5至15分钟内(1-10mm 间距)装置尺寸(宽/厚/深):549 x 236 x 786(836) mm / 23.6 x 9.05 x 31.5 inch重量: 27 kg可用特色:薄膜电阻成像各向异性电阻传感器
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  • 塑料薄膜电阻率测定仪既可测量高电阻,又可测微电流。采用了美国Intel公司的大规模集成电路,使仪器体积小、重量轻、准确度高。以双3.1/2 位数字直接显示电阻的高阻计和电流。量限从1×104Ω~1×1018 Ω,准确度高的数字电阻测量仪。 塑料薄膜电阻率测定仪 技术参数: 1、电阻测量范围 1×104Ω ~1×1018Ω2、电流测量范围 2×10-4A~1×10-16A3、显 示 方 式 数字液晶显示4、内置测试电压 10V 、50V、100V、250V、500V、1000V5、基本准确度 1%6、使用环境 温度:0℃~40℃,相对湿度80%7、供电形式 AC 220V,50HZ,功耗约5W8、仪器尺寸 285mm× 245mm× 120 mm9、质量 约5KG10、体积小、重量轻、准确度高 电阻、电流双显示,性能好稳定、读数方便11、使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便免去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦 塑料薄膜电阻率测定仪 主要特点 电阻测量范围宽 1×104Ω~1×1018Ω电流测量范围为 2×10-4A~1×10-16A体积小、重量轻、准确度高电阻、电流双显示性能好稳定、读数方便所有测试电压(100/250/500/1000V) 测试时电阻结果直读,免去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦,使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。既能测超高电阻又能测微电流 塑料薄膜电阻率测定仪 工作原理 根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。本仪器是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化。其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以,即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高。从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之几。 塑料薄膜电阻率测定仪 制造标准: A. GB/T 1410-2006《 塑料薄膜电阻率测定仪固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》 B. ASTM D257-99 《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》 C. GB/T 2439-2001《硫化橡胶或热塑性橡胶导电性能和耗散性能电阻率的测定》D. GB/T 10581-2006《绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法》 E. GB/T 1692-2008《硫化橡胶绝缘电阻率的测定》 F. GB/T 12703.4-2010《纺织品 静电性能的评定 第4部分:电阻率》 G. GB/T 10064-2006《测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法》 塑料薄膜电阻率测定仪 配置: 1.主机:一台2.屏蔽箱+电极:一套3.测试线:五条4.说明书+合格证+保修卡:各一份 测试步骤: 1、测试温度23±2℃,相对湿度65±5%,无外界电磁场干扰环境中进行。2、测试时对试样所加电压为100V~500V的直流电压,选择电压档次。3、将试样倒入高压电极内,使液面刚好和环电极下缘全部接触为止。4、将充分放电后的试样和电极,按固体(液体)体积及表面电阻率测试仪要求接线。外电极(高压电极)接高固体(液体)体积及表面电阻率测试仪的高压输出端。内电极(测量电极)接固体(液体)体积及表面电阻率测试仪的测量端。中电极(环电极)接固体(液体)体积及表面电阻率测试仪的接地端。5、仪器预热30分钟,稳定后调整仪器(调零),加上试验1分钟,读取电阻指示值,然后放电1分钟,再测试一次,以二次的算术平均值作为试验样品电阻指示值。 安全注意事项: ① 开机之前,敬请仔细阅读 使用指南,以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。② 操作前,阅读“安装与设置”,保证对仪器各部件的正确安装与连接。③ 在第一次操作前,务必请有操作经验的人员进行指导,防止误操作造成意外事件的发生。④ 电击危险: 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电,防止在带电情况下,对人员或设备造成伤害。 售后服务 (1)免费送货到用户指定的地点,免费指导安装、培训及调试。(2)产品质保期:自安装正常使用日起一年;(3)质保期内若产品出现质量问题,供货方负责免费维修,质保期外仅收成本费。零部件常年供应. 我公司专业生产、销售海绵泡沫检测设备,周到的服务流程让您满意,及时的售后流程让您安心,现货发货,如需要请联系我们。 北京北广精仪仪器设备有限公司
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  • 薄膜电阻率检测仪 400-860-5168转4543
    德国计量家SURAGUS GmbH,是德国注于薄膜电阻非接触测量(Non-Contact Sheet Resistance Measurement)的公司,总部位于德国德累斯顿。SURAGUS GmbH的技术可广泛应用于多种导电涂层、薄膜、衬底或多层结构的非接触检测。在不损坏、不污染样品的提下,实现对于样品均匀性、缺陷分布、涂层厚度的线上与线下的检测和分析。设备不仅可以保证快速以及高精度测量,而且兼容于真空与非真空两种环境。目,SURAGUS GmbH的产品在多个域都有布局,例如太阳能光伏、玻璃产业、显示域和半导体域等,检测对象包括金属涂层、电、ITO/AZO层,纳米银线膜/碳纳米管薄膜、金属网格、电磁屏蔽薄膜等。技术基于涡流的测试解决方案 (SURAGUS)SURface ArGUS = 表面防护(表面和薄膜上的 100 眼)其他光学计量(OEM)集成商导电功能? 燃料电池组件? 电池芯和电池组? 触摸屏传感器 (TPS)、显示器和平板显示器? 太阳能、半导体行业? LED / OLED 照明其他功能? 医疗传感器(化学)? 包装箔(阻隔)? 建筑玻璃行业(发射率)? 镜子(反射) 医疗(抗菌)设备用途1、在线检测薄层电阻2、在线检测薄膜电导率3、在线检测薄膜表面缺陷、同质性4、在线检测薄膜厚度、面积重量5、在线检测薄膜干燥状态等
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  • 薄膜体积电阻率表面电阻率测试仪既可测量高电阻,又可测微电流。采用了美国In公司的大规模集成电路,使仪器体积小、重量轻准确度高。数字液晶直接显示电阻值和电流。量限从1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前国内测量范围zui宽,准确度zui高的数字超高阻测量仪。电流测量范围为2×10-4 ~1×10-16A。机内测试电压为10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可调。本仪器具有精度高、显示迅速、性好稳定、读数方便, 适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。薄膜体积电阻率表面电阻率测试仪工作原理:根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V 固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。本仪器是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以,即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高(),从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之几。薄膜体积电阻率表面电阻率测试仪符合标准:GB/T 1410-2006《 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》AST D257-99《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》GB/T 10581-2006 《绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法》GB/T 1692-2008 《硫化橡胶 绝缘电阻率的测定》GB/T 2439-2001《硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定》GB/T 12703.4-2010 《纺织品 静电性能的评定 第4部分:电阻率》GB/T 10064-2006_《测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法》GB/T 1410-2006 固体绝缘材料 体积电阻率和表面电阻率试验方法GB 12014 防静电工作服GB/T 20991-2007 个体防护装备 鞋的测试方法GB 4385-1995 防静电鞋、导电鞋技术要求GB 12158-2006 防止静电事故通用导则GB 4655-2003 橡胶工业静电安全规程GB/T 12703.4-2010 纺织品 静电性能的评定 第4部分 电阻率GB/T 12703.6-2010 纺织品 静电性能的评定 第6部分 纤维泄漏电阻GB 13348-2009 液体石油产品静电安全规程GB/T 15738-2008 导电和抗静电纤维增强塑料电阻率试验方法GB/T 18044-2008 地毯 静电习性评价法 行走试验GB/T 18864-2002 硫化橡胶 工业用抗静电和导电产品 电阻极限范围GB/T 22042-2008 服装 防静电性能 表面电阻率试验方法GB/T 22043-2008 服装 防静电性能 通过材料的电阻(垂直电阻)试验方法GB/T 24249-2009 防静电洁净织物GB 26539-2011 防静电陶瓷砖 Antistatic ceramic tilesGB/T 26825-2011 抗静电防腐胶GB 50515-2010 导(防)静电地面设计规范GB 50611-2010 电子工程防静电设计规范GJB 105-1998-Z 电子产品防静电放电控制手册GJB 3007A-2009 防静电工作区技术要求GJB 5104-2004 无线电引信风帽用防静电涂料及风帽静电性能通用要求薄膜体积电阻率表面电阻率测试仪外观&bull 显示采用 4.3 寸高分辨率 TFT 屏显示,操作简单&bull 机身小巧,功能强大测试性能好&bull 回读电压精度 0.5%±1V&bull 绝缘电阻最大精度 1%快速测试&bull 最小测试周期仅需 200ms 恒压测试&bull 采用恒压测试法快速测量绝缘电阻丰富的接口配置&bull HANDLER 口&bull RS-232 接口&bull 以太网接口&bull U 盘接口薄膜体积电阻率表面电阻率测试仪计算机远程控制指令兼容SCPI(Standard Command for Programmable Instrument 可程控仪器标准命令集),高效完成远程控制和数据采集功能高绝缘电阻测量仪用于测量绝缘材料、电工产品、各种元器件的绝缘电阻;与恒温水浴配套后,还能测量不同温度下的塑料电线电缆(无屏蔽层)的绝缘电阻,该仪器具有测量精度高、性能稳定、操作简单、输入端高压短路等优点,仪器的最高量程 1000T(16 次方)电阻值(测试电压为 1-1000V)。 本仪表贯彻 Q/TPGG 7-2008 高绝缘电阻测量仪企业标准。
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  • 薄膜体积电阻率测试仪电阻率是用来表示各种物质电阻特性的物理量。某种物质所制成的原件(常温下20°C)的电阻与横截面积的乘积与长度的比值叫做这种物质的电阻率。电阻率与导体的长度、横截面积等因素无关,是导体材料本身的电学性质,由导体的材料决定,且与温度、压力、磁场等外界因素有关。电阻率在国际单位制中的单位是Ωm,读作欧姆米,简称欧米。常用单位为“欧姆厘米”。薄膜体积电阻率测试仪准备工作:1、取被测液体(如:增塑剂)试样50ml。2、试样应在温度23±2℃,相对湿度65±5%的条件下处理2小时以上。 电阻定律导体的电阻R跟它的长度L、电阻率ρ成正比,跟它的横截面积S成反比,这个规律就叫电阻定律(law of resistance),公式为R=ρL/S 。其中ρ:制成电阻的材料的电阻率,L:绕制成电阻的导线长度,S:绕制成电阻的导线横截面积,R:电阻值。公式:R=ρL/S,R=U/Iρ——制成电阻的材料电阻率,国际单位制为欧姆 米(Ω m) ;L——绕制成电阻的导线长度,国际单位制为米(m);S——绕制成电阻的导线横截面积,国际单位制为平方米(m2) ;R——电阻值,国际单位制为欧姆,简称欧(Ω);U——电压值,国际单位制为伏特,简称伏(v);I——电流值,国际单位制为安培,简称安(A)。其中:ρ叫电阻率:某种材料制成的长1米、横截面积是1平方毫米的导线的电阻,叫做这种材料的电阻率。是描述材料性质的物理量。国际单位制中,电阻率的单位是欧姆米,常用单位是欧姆平方毫米/米。与导体长度L,横截面积S无关,只与物体的材料和温度有关,有些材料的电阻率随着温度的升高而增大,有些反之。 典型应用 1.测量防静电鞋、导电鞋的电阻值 2、测量防静电材料的电阻及电阻率 3、光电二极管暗电流测量4、测量绝缘材料电阻(率) 5、测量计算机房用活动地板的系统电阻值 6、物理,光学和材料研究 影响电阻率的外界因素电阻率不仅与材料种类有关,而且还与温度、压力和磁场等外界因素有关。金属材料在温度不高时,ρ与温度t(℃)的关系是ρt=ρ0(1+at),式中ρt与ρ0分别是t℃和0℃时的电阻率 α是电阻率的温度系数,与材料有关。锰铜的α约为1×10-1/℃(其数值极小),用其制成的电阻器的电阻值在常温范围下随温度变化极小,适合于作标准电阻。已知材料的ρ值随温度而变化的规律后,可制成电阻式温度计来测量温度。半导体材料的α一般是负值且有较大的量值。制成的电阻式温度计具有较高的灵敏度。有些金属(如Nb和Pb)或它们的化合物,当温度降到几K或十几K(对温度)时,ρ突然减少到接近零,出现超导现象,超导材料有广泛的应用前景。利用材料的ρ随磁场或所受应力而改变的性质,可制成磁敏电阻或电阻应变片,分别被用来测量磁场或物体所受到的机械应力,在工程上获得广泛应用。1、电阻测量范围: 0.01×104Ω ~1×1018Ω。2、电流测量范围: 2×10-4A~1×10-16A3、全自动测量、体积小、重量轻、准确度高,电阻、电流双显示,性能好稳定、读数方便4、显 示 方 式:液晶、电阻、电流双显示5、基本准确度:≤1%;6、内置测试电压: 10V 、50V、100V、250V、500V、1000V(任意切换);7、供电形式:AC 220V,50HZ,功耗约5W8、使用环境:温度:0℃~40℃,相对湿度80%9、所有测试电压(10V/50V/100/250/500/1000V) 测试时电阻结果直读10、配置:主机:一台屏蔽箱+电极:一套测试线:五条说明书+合格证+保修卡:各一份
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  • 产品名称:DOI(金刚石薄膜Diamond?on?Oxide)技术参数:基底尺寸:dia4"x0.5mmSi晶向:100±0.5°绝缘层:SiO2薄膜厚度:2um氧化层:1um电阻率:10E3 ~ 10E4 ohm-cm 标准包装:1000级超净室100级超净袋真空包装或单片盒
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  • 薄膜体积和表面电阻率测试仪GB 4385-1995 防静电鞋、导电鞋技术要求电阻、电流、电阻率 同时显示 并且由彩色大屏显示测试仪器:1台试验要求:直径大于100mm(小于此尺寸,电极需定做)可以在人员离开设定自动测试读取结果 薄膜体积和表面电阻率测试仪概述高绝缘电阻测量仪用于测量绝缘材料、电工产品、各种元器件的绝缘电阻;与恒温水浴配套后,还能测量不同温度下的塑料电线电缆(无屏蔽层)的绝缘电阻,该仪器具有测量精度高、性能稳定、操作简单、输入端高压短路等优点,仪器的zui高量程 1020Ω电阻值(测试电压为 6档可选)。 本仪表贯彻 Q/TPGG 7-2008 高绝缘电阻测量仪企业标准。GB 50515-2010 导(防)静电地面设计规范基本准确度:1% 电阻测量范围: 1×104Ω ~1×1018Ω。超大触摸彩屏显示 可直接读取电阻和电阻率。 内置软件测试系统 测试式样可选择 仪器自动分配计算 可以支持z多60条储存记录自动更新功能GB/T 20991-2007 个体防护装备 鞋的测试方法薄膜体积和表面电阻率测试仪GB/T 1692-2008 硫化橡胶绝缘电阻的测定GB 12158-2006 防止静电事故通用导则硫化橡胶体积表面绝缘电阻测试仪主要特点电流测量范围为 2×10-4A ~1×10-16AGB 13348-2009 液体石油产品静电安全规程可以人为设定参数试验人员、材料名称、测试公司等信息GB 4655-2003 橡胶工业静电安全规程GB/T 22043-2008 服装 防静电性能 通过材料的电阻(垂直电阻)试验方法薄膜体积和表面电阻率测试仪根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V 固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。本仪器是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以,即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高(),从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之几。薄膜体积和表面电阻率测试仪测量范围达到了1x10 4 -1x10 8 与传统的 高祖测量仪 1x10 6 – 1x10 16行成鲜明的对比
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  • 1、产品简介T8000系列薄膜型电阻温度计是我公司专为工业现场的测温及控温场合研发的表面测温传感器。该传感器可以很好贴合物体表面,测量物体表面温度。具有适用范围广、测量准确度高、防水、稳定、使用时间长等优点。广泛用于物体表面准确测温。2、主要特点 ★ 高准确度:优于±0.05℃ ; ★ 适用广泛:-50℃至+300℃(取决于所选配的电阻温度计); ★ 多规格可选:可选长度20 mm~40 mm,可选宽度为10 mm~30 mm; ★ 可定制:尺寸可定制。3、技术参数T7000 长度(A)25 mm 宽度(B)15 mm厚 度3 mm引 线4线 1.5 m温度范围-50~200 ℃准 确 度± 0.05 ℃RO100 ±0.05 Ω推荐电流1 mAAlpha0.003850±0.000005稳 定 性0.01 Ω/年短期稳定性± 0.01 ℃
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  • 绝缘薄膜塑料电阻测试仪是既可测量高电阻,又可测微电流。采用了美国In公司的大规模集成电路以及技术,使仪器体积小、重量轻、准确度高。以双3.1/2 位数字直接显示电阻的高阻计和电流。量限从1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前国内测量范围Z宽,准确度Z高的数字超高阻测量仪。数字超高阻、微电流测量仪 型号:EST-121:体积电阻率,表面电阻率 用途:仪器仪表检测试验一、体积电阻率表面电阻率测定仪概述本仪器是既可测量高电阻,又可测微电流。采用了美国In公司的大规模集成电路以及技术,使仪器体积小、重量轻、准确度高。以双3.1/2 位数字直接显示电阻的高阻计和电流。量限从1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前国内测量范围zui宽,准确度zui高的数字超高阻测量仪。电流测量范围为2×10-4 ~1×10-16A。机内测试电压为10/50/100/250/500/1000V任意可调。本仪器具有精度高、显示迅速、性好稳定、读数方便, 适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外,还能直接测量微弱电流。 仪完全符合并优于国家标准GB1410《固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法》和美国标准ASTM D257《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》等标准的要求。二、体积电阻率表面电阻率测试仪主要特点电阻测量范围宽 0.01×104Ω ~1×1018 Ω电流测量范围为 2×10-4A ~1×10-16A体积小、重量轻、准确度高电阻、电流双显示性能好稳定、读数方便 所有测试电压(10/50/100/250/500/1000V) 测试时电阻结果直读,免去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦, 使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。 既能测超高电阻又能测微电流 适用范围广:适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验和电子电器产品的绝缘电阻测量三、技术指标1.电阻测量范围: 0.01×104Ω ~1×1018Ω。2.电流测量范围为: 2×10-4A~1×10-16A3. 双表头显示: 3.1/2位LED显示4. 内置测试电压: 10V、50V、100V、250、500、1000V5. 基本准确度:1% (*注)6 使用环境: 温度:0℃~40℃,相对湿度80%7 机内测试电压: 10/50/100/250/500/1000V 任意切换8.供电形式: AC 220V,50HZ,功耗约5W四、工作原理 根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。 同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以,即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高(),从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之几。典型应用1.测量防静电鞋、导电鞋的电阻值2、测量防静电材料的电阻及电阻率3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值4、测量绝缘材料电阻(率)5、光电二极管暗电流测量6、物理,光学和材料研究北广公司其它绝缘材料检测仪器:BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪BDJC系列电压介电强度试验仪器BDJC系列 电压击穿试验仪BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪EST-121 体积表面电阻率测定仪GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪BDH 耐漏电起痕试验仪BDH-B耐电弧试验仪中国检测行业与验证服务的*者和智领者,帮助众多检测质检单位和学校教研单位提供一站式的全面质量解决方案。注重每一个细节是北广公司对于每个客户的承诺 , 也是北广公司一直追求的宗旨。北京北广精仪仪器设备有限公司
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  • 薄膜体积和表面电阻率测试仪使用操作简便,在任何电阻量程和测试电压下均直接读显示数字结果,免去要乘以一个系数的麻烦,使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。薄膜体积和表面电阻率测试仪 仪器测量常见问题1 为什么在测量同一物体时用不同的电阻量程有不同的读数? 这是因为测量电阻时为防止过电压损坏仪器,如果出现过量程时仪器内保护电路开始工作,将测试电压降下来以保护机内放大器。在不同的电压下测量同一物体会有不同的结果。而且当测量电阻时若读数小于199,既只为三位数且di一位数为1 时,其准确度要下降。所以在测量电阻时当di一次读数从1 变为某一读数时,不应再往更高的量程扭开关以防对仪器造成过大的电流冲击。在实际使用时,即读数位数多的比读数位数少的准确度高。2为什么测量一些物体的电流时用不同的量程也会出现测出结果相差较大? 这是因为一般物体输出的电流不是恒定流,而仪器有一定内阻,若在仪器上所选量程的内阻过大以至于在仪器上的电压降影响被测物体的输出电流时会造成测量误差。一般电流越小的量程内阻越高,所以在测量电流时应选用电流大的量程。在实际使用时即只要电流表有读数时,读数位数少的小的比读数位数多的准确度高。3为什么测量时仪器的读数总是不稳? 一般的材料其导电性不是严格像标准电阻样在一定的电压下有很稳定的电流,有很多材料特别是防静电材料其导电性不符合欧姆定律,所以在测量时其读数不稳。 这不是仪器的问题,而是被测量物体的性能决定的。有的标准规定以测量1分钟时间的读数为准。通常在测量高电阻或微电流时测量准确度因重复性不好,对测量读数只要求2位或3位。另外在测量大电阻时如果屏蔽不好也会因外界的电磁信号对仪器测量结果造成读数不稳。4为什么测量完毕时一定要将量程开关再拨到104档后才能关电源? 这是因为在测量时被测物体及仪器输入端都有一定的电容,这个电容在测量时已被充电到测量电时的电压值,如果仪器不拨到104挡后关电源这个充电后的电容器会对仪器内的放大器放电而造成仪器损坏。当被测量物体电容越大,测试电压越高时,电容器所储藏的电能越大,更容易损坏仪器,特别是在电阻的高量程或电流的低量程时因仪器非常灵敏,仪器过载而损坏的可能性更大。所以一定要将量程开关再拨到104挡后才能关电源。5 为什么在测量电阻过程中不要改变对被测物的测试电压? 在测量电阻过程中如果改变对被测物的测试电压,无论电压变高或变低时都将会产生大脉冲电流,这个大的电流很有可能使仪器过量程甚至更损坏仪器。另一方面如果电压突然变化也会通过被测量物体的(分布)电容放电或反向放电对测量仪器造成冲击而损坏仪器。有的物体的耐压较低,当您改变测量电压时有右能击穿而产生大电流损坏仪器。如果要改变测量电压,在确保被测量物体不会因电压过高击穿时,要先将量程开关拨到104档后关闭电源,再从仪器后面板调整到所要求的电压。有的材料是非线性的,即电压与电流是不符合欧姆定律,有改变电压时由于电流不是线性变化,所以测量的电阻也会变化。6为什么测量完毕要将电压量程开关再拨到10V档后关闭电源? 这是因为机内的电容器充有很高的电压(zui高电压达1200V以上),这些电容器的所带的电能保持较长的时间,如果将电压量程开关再拨到10V档后关闭电源,则会将机内的高压电容器很快放电,不会在测量的高压端留有很危险的电压造成电击。如果仅拨电源线而不是将电压调至10V档,虽然断了电源,但机内高压电容器还有会因长时间保持很高的电压,将会对人员或其它物体造成电击或损坏。在仪器有问题时也不要随便打开机箱因机内高压造成电击,要将仪器找专业技术人员或寄回厂家修理。 薄膜体积和表面电阻率测试仪 概述既可测量高电阻,又可测微电流。机内测试电压10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可调。本仪器具有精度高,显示迅速,性好稳定,读数方便. 适用于橡胶,塑料,薄膜,地毯,织物及粉体,液体,及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。 工作原理根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差,分辨率低。本仪器是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变而变,所以,即使测量电压,被测量电阻,电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高,从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之几。 电源要求有很稳定的直流电压源。这可用蓄电油或一个整流稳压的电摞来提供。对电源的稳定度要求 是由电压变化导致的电流变化与被测电流相比可忽略不计。加到整个试样上的试验电压通常规定为100V、250V、500V、1000 V、2500 V、5000 V, 10000 V 和15000 V。 常用的电压是100V、500V和1000 V。在某些情况下,试样的电阻与施加电压的极性有关如果电阻是与极性有关的,则宜加以注明。取两次电阻值的几何平均值(对数算术平均值的反对 数)作为结果。由于试样电阻可能与电压有依存关系,因此应在报告中注明试验电压值。 技术指标1,电阻测量范围: 0.01×104Ω ~1×1018Ω。2,电流测量范围为: 2×10-4A~1×10-16A3,显 示 方 式:数字液晶显示4,内置测试电压: 10V ,50V,100V,250,500,1000V5,基本准确度:1% (*注)6,使用环境: 温度:0℃~40℃,相对湿度80%7,机内测试电压: 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切换8,供电形式: AC 220V,50HZ,功耗约5W9,仪器尺寸: 285mm× 245mm× 120 mm10,质量: 约5KG 测试电压(V)DC—10VDC—50VDC—100VDC—500VDC—1000V 温度影响温度对不同物质的电阻值均有不同的影晌。导电体 在接近室温的温度,良导体的电阻值,通常与温度成线性关系:ρ=ρ0(1+αt)上式中的 a 称为电阻的温度系数。未经掺杂的半导体的电阻随温度升高而下降:有掺杂的半导体变化较为复杂。当温度从零度上升,半导体的电阻先是减少,到了绝大部分的带电粒子 (电子或电洞/空穴) 离开了它们的载体后,电阻会因带电粒子的活动力下降而随温度稍为上升。当温度升得更高,半导体会产生新的载体 (和未经掺杂的半导体一样) ,原有的载体 (因渗杂而产生者) 重要性下降,于是电阻会再度下降。绝缘体和电解质 绝缘体和电解质的电阻与温度的关系一般不成比例,而且不同物质有不同的变化,故不在此列出概括性的算式。 仪典型应用 1.测量防静电鞋、导电鞋的电阻值 2、测量防静电材料的电阻及电阻率 3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值 4、测量绝缘材料电阻(率) 5、光电二极管暗电流测量 6、物理,光学和材料研究 使用注意事项 ★高阻测量一定要严格按使用方法步聚进行,否则有可能造成仪器 损坏或电人。 1 应在“Rx”两端开路时调零(主机开机)如接在电阻箱或被测量物体上时调零后测量会产生很大的误差。一般一次调零后在测试过程中不需再调零,但改变测量电压后可能要重新调零。 2 禁止将“Rx”两端短路,以免微电流放大器受大电流冲击3 在测试过程中不要随意改动测量电压, ★随意改动测量电压可能因电压的过高或电流过大损坏被测试器件或测试仪器,而且有的材料是非线性的,即电压与电流是不符合欧姆定律,有改变电压时由于电流不是线性变化,所以测量的电阻也会变化。 4 测量时从低次档逐渐拔往高次档 ★每拨一次稍停留1~2秒以便观察显示数字,当有显示值时应停下,记录当前的数字即是被测电阻值。若显示“1”时,表示欠量程应往高次档拔。直到有显示数字时为止。当有显示数字时不能再往高次档拨,否则有可能损坏仪器(机内有过电流保护电路)。除104 Ω档之外,当显示低于1.99,表示过量程应换低档! 5 大部分绝缘材料,特别是防静电材料的电阻值在加电压后会有一定变化而引起数字变化 ★由于本仪器的分辩率很高,因而会引起显示值的末尾几位数也变化,这不是仪器本身的问题,而是被测量对象的导电机理复杂而使得阻值有些变化。在这种情况下往往取2位有效数就够了。 6 接通电源后,手指不能触及高压线的金属部分 ★本仪表有二连根线:高压线(红)和微电流测试线。在使用时要注意高压线,开机后人不能触及高压线,以免电人或麻手。 7 测试过程中不能触摸微电流测试端 ★微电流测试端 怕受到大电流或人体感应电压及静电的冲击。所以在开机后和测试过程中不能与微电流测试端接触,以免损坏仪表。 8 在测量高阻时,应采用屏蔽盒将被测物体屏蔽. ★在测量大于1010 Ω以上时,为防止外界干扰面而引起读数不稳。 9 每次测量完时应将量程开关拨回“104 ”档再进行下次测试在测量时应逐渐将量程开关拨到高阻档,测量完时应将电流电阻量程、电压量程开关拨回低档。以 确保下次开机时量程开关处在低阻量程档。 产品保修承诺:1、免费送货到用户指定的地点,免费指导安装、培训及调试。2、保修期内人为损坏的零部件按采购(加工)价格收费更换。3、保修期外继续为用户提供优质技术服务,在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。5、产品质保期:自安装正常使用日起一年;6、软件升级:终生免费提供新版本控制软件。
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  • 产品名称:塑料薄膜表面电阻测定仪/橡胶表面电阻测试仪产品型号:BEST-121符合国标:GB/T1410-2006 ASTM D257-99测量范围:0.01×104Ω~1×1018Ω显示方式:液晶显示、直读电阻、电流测试方法:三电极法符合标准:GB1410《固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法》 ASTM D257《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》 一、概述 既可测量高电阻,又可测微电流。采用了美国In公司的大规模集成电路,使仪器体积小、重量轻、准确度高。以双3.1/2 位数字直接显示电阻的高阻计和电流。量限从1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前国内测量范围zui宽,准确度zui高的数字超高阻测量仪。电流测量范围为2×10-4 ~1×10-16A。机内测试电压为10/50/100/250/500/1000V任意可调。本仪器具有精度高、显示迅速、性好稳定、读数方便, 适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。固体绝缘材料体积/表面电阻率测定仪除能测电阻外,还能直接测量微弱电流。三、技术指标 序号项目参数1电阻测量范围1×104Ω ~1×1018Ω2电流测量范围2×10-4A~1×10-16A 3双表头显示3.1/2位LED显示4内置测试电压10V、50V、100V、250、500、1000V5基本准确度2%6使用环境温度:0℃~40℃,相对湿度80%7机内测试电压10/50/100/250/500/1000V 任意切换8供电形式AC 220V,50HZ,功耗约5W9仪器尺寸285mm× 245mm× 120 mm10质量约2.5KG四、工作原理 根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。 本仪器是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以,即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高(),从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之几。 六、典型应用 1.测量防静电鞋、导电鞋的电阻值 2、测量防静电材料的电阻及电阻率 3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值 4、测量绝缘材料电阻(率) 5、光电二极管暗电流测量 6、物理,光学和材料研究 七、标准配置: 序号配置数量单位1测试仪器台12电源线条13测量线根34使用说明书份1 八、其他相关产品:BDJC-50KV型电压击穿强度试验仪BDJC-100KV型电压击穿强度试验仪BEST-121型体积表面电阻测试仪BEST-212型体积表面电阻率测试仪BEST-991型导体和防静电材料电阻率测试仪GDAT-A型介电常数及介质损耗测试仪GDAC-C型介电常数及介质损耗测试仪BQS-37工频介电常数介质损耗测试仪BLD-600V漏电起痕试验仪BLD-6000V高压漏电起痕试验仪BDH-20KV耐电弧试验仪BWK-300系类热变形维卡温度测定仪BRT-400Z系类熔体流动速率测定仪M-200橡胶塑料滑动摩擦磨损试验机BYH-B球压痕硬度计JF-3型数显氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机HMLQ-500落球回弹仪HMYX-2000海绵压陷硬度测试仪BWN系类电子拉力试验机 九、售后服务承诺:一、服务承诺1、质量保证:北京北广精仪仪器设备有限公司作为设备供应商,我公司对所提供的产品均为厂家原厂原包装,符合国家标准,并提供产品技术资料(包含安装说明书,产品装箱目录、产品中文使用说明书、合格证及保修凭证等)。2、产品交货期:尽量按用户要求,若有特殊要求,需提前完工的,我公司可特别组织生产、安装,力争满足用户需求。3、保修承诺:北京北广所有产品质保三年,我司对本次协议供货有效期内所提供的所有产品保质期 ,有效期内所提供的产品,提供正常工作日全天侯服务,终身技术服务支持。4、响应时间:保修期内,产品若发生故障,在接到贵公司报修后,24小时内帮客户解决问题。5、服务体系:作为设备供应商本公司对本次招标所提供的产品提供保障体系: 当设备出现故障,必要时将派指定的专业技术员在规定时间内上门维修或寄修,产生的运费由本公司承担。6、上门调试:在货物到达客户指定地点后,需要安装调试的我单位会派一名专业技术人员到现场进行免费安装培训。二、产品价格承诺1、在同等竞争条件下,我公司在不以降低产品技术性能、更改产品部件为代价的基础上,真诚以zui优惠的价格提供给贵方。2、在保修期内供方将免费维修和更换属质量原因造成的零部件损坏,保修期外零部件的损坏,提供的配件只收成本费,由需方人为因素造成的设备损坏,供方维修或提供的配件均按成本价计。三、售后服务保证公司实力保障:本公司有完善的售后服务体系 四、投诉体系及1、 如果您对我们的服务有意见,请向技术部调度员或维修部投诉。2、 对用户所投诉的问题,核实是我们责任的,将对管理人员及经办人员进行不同程度的惩处。如不是我司的责任,相关人员也将向用户 为什么选择我们的北广仪器? 价格、价格、还是价格!受产品成本限制,我们的仪器价格不一定是zui低!但是jue对优惠!绝不卖低价格低质量的设备给客户!服务、服务、还是服务!1.我们的仪器备货足,客户付款后,第YI时间发货,时间就是金钱;2.沟通及时,设备发送之前任何变故及时沟通,第YI位保护客户利益!3.服务专业、送货单、相应文件,客服会及时跟您沟通,安排到位! 4.每天9小时以上在线客服,无论是技术问题还是其他,只要跟设备相关,我们都尽力为您排忧解难! 【我公司专业生产、销售TOC总有机碳分析仪、过滤器完整性测试仪、微机控制电子式电子试验机,周到的服务流程让您满意,及时的售后流程让您安心,现货发货】
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  • 一、体积表面电阻率测试仪符合标准:ASTM D257-99《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》GB/T 《绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法》GB/T 《硫化橡胶 绝缘电阻率的测定》GB/T 《硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定》GB/T 12703.4-2010 《纺织品 静电性能的评定 第4部分:电阻率》GB/T 《测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法》GB / 液体增塑剂体积电阻率的测定二、体积表面电阻率测试仪概述: 本仪器既可测量高电阻,又可测微电流。采用了国外先进的大规模集成电路,使仪器体积小、重量轻、准确度高。触摸屏直接显示电阻值和电流。量限从1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前国内测量范围宽,准确度高的触摸屏超高阻测量仪。电流测量范围为2×10-4 ~1×10-16A。机内测试电压为0---1000V任意可调。本仪器具有精度高、显示迅速、稳定性好、自动计算, 适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。本仪器除能测电阻外,还能直接测量微弱电流。三、主要特点:1.显示方式:彩色触摸屏操作、显示。2.测量时间显示:准确确定试样极化时间,使测量结果更加准确。3.电阻测量范围宽 1×104Ω ~1×1018Ω4.电流测量范围为 2×10-4A ~1×10-16A 5.体积小、重量轻、准确度高6.触摸屏数据显示:电压、电阻、电流、电阻率、60秒试样极化时间。7.性能稳定好、测量精度高、测试结果数值稳定,不跳动。8.测试前和测试后电流自动校准为零,无须人工手动操作或电流调不到零。9.电阻档位自动调节,代替其它家试验开始后然后一个档位一个档位去调。10.测试电压0-1000V任意调节,目前是国内市场上一家能把测试电压做到0-1000V任意调节的生产厂家。11.测试电压0-1000V任意调节,这对于实验室,实验人员来说0-1000V任意调节使测试材料更加准确。12.所有测试电压0----1000V 测试时电阻结果直读,免去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦,使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。13.既能测超高电阻又能测微电流14.体积表面电阻率测试仪正在升级中(如需了解请致电咨询)四、技术指标:1、电阻测量范围: 1×104Ω ~1×1018Ω。2、电流测量范围为: 2×10-4A~1×10-16A3、显 示 方 式:彩色触摸屏显示4、内置测试电压:0-1000V自动调节(可根据要求调节到需求电压)5、基本准确度:1% (*注)6、使用环境: 温度:0℃~40℃,相对湿度80%7、机内测试电压:0-1000V 任意调节8、供电形式: AC 220V,50HZ五、典型应用:1、测量绝缘材料电阻、体积电阻、表面电阻(率)2、测量防静电材料的电阻及电阻率3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值4、测量防静电鞋、导电鞋的电阻值5、光电二极管暗电流测量6、物理,光学和材料研究六、标准配置:1、测试仪器:1台2、.电源线:1条3、测量线:3根(线、测试接线、接地线)4、使用说明书:1份
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  • 塑料薄膜体积表面电阻率测定仪一、塑料薄膜体积表面电阻率测定仪概述 本仪器既可测量超高电阻,又可测极微弱电流。采用了大规模集成电路以及 的 技 术,使仪器体积小、重量轻、准确度高。以数字液晶显示电阻并同时直接显示流过被测电阻的电流。电阻量程从1×104Ω ~1×1018Ω, 电流测量范围 为2 ×10-4A ~1 ×10-16A。机内测试电压为DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。 本仪器具有精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便, 适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外,还能直接测量电流如电子器件暗电流等。二、主要特点 ? 电阻测量范围:1×104Ω ~1×1018Ω; ? 支持固体、液体、粉体和其他特殊定制电极测试;? 电流测量范围: 2 ×10-4A ~1 ×10-16 A; ? 直接显示电阻率;? 体积小、重量轻、准确度高;? 独特的被测电阻、流过电阻和电阻率显示,使操作测量更加方便;? 性能稳定、读数方便;? 既能测电阻又能测电流;? 测试电压有六种选择DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V;? 使用操作简便,在任何电阻量程和测试电压下均直接读显示数字结果。三、主要应用范围 材料高阻测试测量如防静电产品(防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等)电阻值的检测; 材料体电阻(率)和表面电阻(率)测量; 电化学和材料测试,以及物理,光学和材料研究; 微弱电流测量如光电效应和器件暗电流测量。 四、技术指标 1. 电阻测量范围: 1×104Ω ~1×1018Ω,分为十个量程。2. 电流测量范围为:2 ×10-4A ~1 ×10-16 A。 3. 全数字液晶屏显示。4. 准确度: 准确度优于下表 量程有效显示范围误差(20~30℃ RH80%)1040.01~19.991%1050.01~19.991%1060.01~19.991%107 0.01~19.991%1080.01~19.991%109 0.01~19.991% 1010 0.01~19.995%+2字10110.01~19.995%+2字1012 0.01~19.995%+5字1013 0.01~19.9910%+5字10140.01~19.9910%+5字1014以上0.01~19.9910-15%+5字 超出有效显示范围时误差有可能增加,测试电流准确度与电阻相同,测试电压准确度为 10%5. 使用环境: 温度 -10℃~50℃ 相对湿度90%。6. 测试电压: DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%7. 供电形式: AC 220V,50HZ,功耗约10W。8. 仪器尺寸: 300mm× 280mm× 150 mm。9. 质量: 约3.0KG五、工作原理 根据欧姆定律,被测电阻R等于施加电压V除以通过的电流I。即 VR= ---I 传统的仪器的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过被测物体的电流I以标定电阻的刻度来读出电阻值。从上式可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计的精度是很难提高的。 ATI-212体积、表面电阻率测定仪是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以, 即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高。从理论上讲其误差可以做到零。而实际误差可以做到千分之几或万分之几。 六、使用方法 6.1接好电源线 确保电源为220VAC/50Hz 6.2接通电源 将电流电阻量程置于 104 档,电压量程置于10V,然后开机。6.3连接线路 接好测试线,将测试线将主机与屏蔽箱连接好,测体积电阻时测试按钮拨到Rv边,测表面电阻时测试按钮拨到Rs边。然后开机。6.4选择合适的测量电压 电压选择开关在后面板。注意:在测试过程中不要随意改动测量电压,可能因电压的过高或电流过大损坏被测试器件或测试仪器。 6.5 测试
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  • 产品名称:DOI(低阻金刚石薄膜Diamond?on?Oxide) 产品参数: 基底尺寸: dia4"x0.5mmSi晶向:100±0.5°绝缘层:SiO2薄膜厚度:2um氧化层:1um电阻率:0.1 ohm-cm 标准包装:1000级超净室100级超净袋真空包装或者单片盒装
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  • 金刚石薄膜(高阻DOS ) 400-860-5168转2205
    产品名称:金刚石薄膜(Diamond?on?Silicon?Wafer)技术参数:产品尺寸:dia 4"x0.5mmSi面晶向:100±0.5°薄膜厚度:?2um; 1um电阻率:10E3~10E4ohm-cm 标准包装: 1000级超净室100级超净袋真空包装或者单片盒装
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  • 生产厂家:北京中航鼎力仪器设备有限公司专业生产电压击穿试验仪、体积表面电阻率测试仪、介电常数介质损耗测试仪、滑动摩擦磨损试验仪、燃烧检测仪器、橡胶塑料检测仪器 塑料薄膜体积表面电阻率测定仪 一、塑料薄膜体积表面电阻率测定仪概述 本仪器既可测量超高电阻,又可测极微弱电流。采用了大规模集成电路以及 的 技 术,使仪器体积小、重量轻、准确度高。以数字液晶显示电阻并同时直接显示流过被测电阻的电流。电阻量程从1×104Ω ~1×1018Ω, 电流测量范围 为1 ×10-4A ~1 ×10-16A。机内测试电压为DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。 本仪器具有精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便, 适用于防静电产品如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外,还能直接测量电流如电子器件暗电流等。 二、主要特点 ? 电阻测量范围:1×104Ω ~1×1018Ω; ? 支持固体、液体、粉体和其他特殊定制电极测试; ? 电流测量范围: 2 ×10-4A ~1 ×10-16 A; ? 直接显示电阻率; ? 体积小、重量轻、准确度高; ? 独特的被测电阻、流过电阻和电阻率显示,使操作测量更加方便;
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  • 1. 产品概述:主要由蒸发真空室、e 型电子枪、热阻蒸发组件、旋转基片加热台、工作气路、抽气系统、真空测量、安装机台及电控系统等部分组成,具备自动控制软件系统。2. 设备用途/原理:沈阳科仪 DZS500 系统用途广泛。电子束蒸发可以蒸发高熔点材料,比一般电阻加热蒸发热效率高、束流密度大、蒸发速度快,制成的薄膜纯度高、质量好,厚度可以较准确地控制,可以广泛应用于制备高纯薄膜和导电玻璃等各种光学材料薄膜。在科研领域,它常用于材料研究和新型器件的开发;在工业生产中,可用于大规模制造高质量的薄膜产品。例如,在制造液晶显示器的导电薄膜时,能够保证薄膜的导电性和均匀性,提高产品的性能和质量。3. 特色参数:o 真空室结构:采用 U 形前开门。o 真空室尺寸:500x500x600mm。o 极限真空度:≤6.67e-5Pa。o 沉积源:4 个 11cc 坩埚。o 样品尺寸与温度:可放置 φ4 英寸的 1 片样品,最高温度可达 800℃。o 占地面积:约 2.7 米 x1.7 米 x2.1 米。o 电控描述:全自动。o 工艺:片内膜厚均匀性≤±3%。 o 特色参数:样品可自转,转速可调。4. 设备特点沈阳科仪 DZS500 系统的真空室具有一些显著特点。其极限真空度表现出色,通常能够达到≤6.67×10⁻ ⁵ Pa(经烘烤除气后)。停泵关机 12 小时后,蒸发室真空度≤5Pa,这表明其真空保持能力较强。真空室的结构通常为 U 形前开门,尺寸一般为 500×500×600mm。这种设计不仅方便操作,还有利于维持真空环境的稳定性。在实际应用中,良好的真空室特点能够为薄膜沉积提供高质量的真空条件,减少杂质和气体对薄膜质量的影响。比如在制备高精度光学薄膜时,稳定的真空环境能够确保薄膜的均匀性和纯度。
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  • EddyCus TF 系列 (thin-film) 是非接触式的实时测量薄膜电阻的检测设备,它利用非接触式涡旋电流检测技术。该系统也可用于表征薄膜,玻璃内部的导电层,晶圆以及金属箔片。此产品应用如下:薄膜电阻测量: 0,1 mOhm/sq to 3.000 Ohm/sq金属膜厚度测量: 5 nm to 500 microns电导率扫描绘图: 1% IACS (0,6 MS/m)URAGUS 2525 方阻测试仪 薄膜电阻和厚度测试仪TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的薄膜面电阻(方块电阻)及薄膜厚度测量的仪器。特点非接触成像高解析度成像(25 至1,000,000 点)缺陷成像封装层的地图参数 薄膜电阻(欧姆/平方)金属层厚度(nm、μm)金属基板厚度(nm、μm)各向异性缺陷完整性评定应用建筑玻璃(LowE)触摸屏和平板显示器OLED和LED应用智能玻璃的应用透明防静电铝箔光伏半导体除冰和加热应用电池和燃料电池包装材料 材料金属薄膜和栅格导电氧化物纳米线膜石墨烯、CNT(碳纳米管)、石墨打印薄膜导电聚合物(PEDOT:PSS)其他导电薄膜及材料规格参数测量技术:非接触式涡流传感器基板:例如:薄膜、玻璃、晶圆,等等最大扫描面积:10 inch / 254 x 254 mm(根据要求可以更大)边缘效应修正/排除:对于标准尺寸,排除2 mm的边缘最大样品厚度/传感器间隙:2 / 5 / 10 / 25 mm(由最厚的样本确定)薄膜电阻的范围:低 0.0001 - 10 Ohm / sq 2 至 8 % 精度标准 1 - 1,000 Ohm / sq 2 至 8 % 精度高 10 - 10,000 Ohm / sq 4 至 8 % 精度金属膜的厚度测量(例如:铝、铜):2 nm - 2 mm (与薄膜电阻一致)扫描间距:1 / 2 / 5 / 10 mm (根据要求的其它尺寸)每单位时间内测量点(二次形):5分钟内10,000个测量点30分钟内1,000,000 个测量点扫描时间:4 inch / 100 x 100 mm,在0.5至5分钟内(1-10mm 间距)8 inch / 200 x 200 mm,在1.5至15分钟内(1-10mm 间距)装置尺寸(宽/厚/深):549 x 236 x 786(836) mm / 23.6 x 9.05 x 31.5 inch重量: 27 kg可用特色:薄膜电阻成像各向异性电阻传感器
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  • 非接触式薄膜方块电阻方阻测量仪昊量光电新推出用于导电薄膜和薄金属层方块电阻测量的非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪EddyCus TF Series,这款非接触式薄膜方块电阻方阻测量仪可以非接触式实时测量,对导电薄膜和金属方块电阻精确测量,表征已被隐藏和封装的导电层,并把测量数据保存和导出。 可用于方块电阻,方阻测量。非接触式方块电阻方阻测量替代四探针传统测量非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪主要测试对象:镀膜建筑玻璃,如LowE显示器,触摸屏和平板显示器OLED和LED智能玻璃石墨烯层光伏晶圆和电池半导体晶片金属化层和晶圆金属化电池电极导电涂布纸和导电纺织品非接触式单点方阻测试仪EddyCus TF Lab 2020SREddyCus TF Lab 2020SR是非接触式单点薄层电阻测量系统。该装置包含一个涡流传感器组,感应弱电流到导电薄膜和材料。非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪试样中的感应电流产生与测量对象的片电阻相关的电磁场。电涡流技术不依赖于表面特征或形貌。此外,非接触式单点方阻测试仪不需要如已知的2或4点探针测试(2PP, 4PP)或霍尔效应或范德波测量一样进行任何形式的充分的样品接触或备样。非接触式单点方阻测试仪既不需要设置测试结构,也不受表面粗糙度或非导电封装或钝化层的影响。此外,测量不会对被测薄膜产生物理影响。涡流仪器不存在机械磨损,使用寿命长。它的独立性与接触质量和它的高速允许实现高重复性和准确性,有利于在研发和测试实验室的各种薄膜的系统质量保证。EddyCus工具可以由具有各种数据记录和导出功能的SURAGUS软件驱动,也可以由SURAGUS软件开发套件驱动的客户软件驱动。非接触式单点方阻测试仪软件和设备控制:非常用户友好的软件直观的触摸显示导航实时测量板材电阻和层厚软件辅助手动映射选项各种数据保存和导出选项非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪产品规格表Measurement technologyNon-contact eddy current sensorsubstratesFoils, glass, wafer, etc.Substrate area8 inch / 204 mm x 204 mm (open on three sides)Max. sample thickness / sensor gap3 / 5 / 10 / 25 mm (defined by the thickest sample)Thickness measurement range of metal films (e.g. copper)2 nm – 2 mm (in accordance with sheet resistance (cf. our calculator))Device dimensions (w/h/d)11.4” x 5.5” x 17.5” / 290 mm x 140 mm x 445 mmWeight10 kgFurther available featuresSheet resistance measurement / metal thickness monitor VLSRLSRMSRHSRVHSR6 decades are measurable by one sensor, but with slightly affected accuracyRange [Ohm/sq]0.0001 – 0.10.1 – 100.1 – 10010 – 20001,000 – 200,000Accuracy / Bias± 1%± 1 – 3%± 3 – 5%Repeatability (2σ) 0.3% 0.5% 0.3%VLSR – Very Low Sheet Resistance , LSR – Low Sheet Resistance , MSR – Medium Sheet Resistance , HSR – High Sheet Resistance , VHSR – Very High Sheet Resistanc非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪非接触式方阻成像仪EddyCus TF Map 2530SREddyCus TF Map 2530SR是一种非接触式薄层电阻映射系统。该设备配备了一个运动的涡流传感器,每次扫描可测量高达90000 (300 x 300)测量点的方块电阻。由于这种技术不需要与标本进行物理接触,该设备可以在飞行运动中进行测量。此外,非接触式单点方阻测试仪具有很高的准确性,因为它是独立于任何接触质量。非接触式薄膜四方针方块电阻方阻测量仪样品中测量点的高密度确保了没有遗漏任何效果或缺陷。此外,综合分析功能支持生产和研发实验室中各种薄膜的系统质量保证。产品规格:Measurement technologyNon-contact eddy current sensorSubstratesWafer, glass, foils etc.Max. scanning area12 inch / 300 mm x 300 mm (larger upon request)Edge effect correction / exclusion2 – 10 mm (depending on size, range, setup and requirements)Max. sample thickness / sensor gap3 / 5 / 10 / 15 mm (defined by the thickest sample)Thickness measurement of metal films (e.g. aluminum, copper)2 nm – 2 mm (in accordance with sheet resistance ())Scanning pitch1 / 2.5 / 5 / 10 / 25 mm (other upon request)Measurement points per time (square shaped samples)100 measurement points in 0.5 minutes10,000 measurement points in 3 minutesScanning time8 inch / 200 mm x 200 mm in 1 to 10 minutes (1 – 10 mm pitch)12 inch / 300 mm x 300 mm in 2 to 6 minutes (2.5 – 25 mm pitch)Device dimensions (w/h/d)31.5” x 19.1” x 33.5” / 785 mm x 486 mm x 850 mmWeight90 kgFurther available featuresMetal thickness imaging, anisotropy and sheet resistance sensor VLSRLSRMSRHSRVHSR6 decades are measurable by one sensor, but with slightly affected accuracyRange [Ohm/sq]0.0001 – 0.10.1 – 100.1 – 10010 – 2,0001,000 – 200,000Accuracy / Bias± 1%± 1 – 3%± 3 – 5%Repeatability (2σ) 0.5% 1% 0.5%VLSR – Very Low Sheet Resistance , LSR – Low Sheet Resistance , MSR – Medium Sheet Resistance , HSR – High Sheet Resistance , VHSR – Very High Sheet Resistance便携式方块电阻测试仪EddyCus TF便携式1010SR专用于工业环境中的接触片电阻测量。它使各种行业的手工质量保证成为可能。Measurement technologyEddy current sensorMeasurement modeRealtime at constant distance / contactSubstratesGlass, foils etc.Substrate sizesFlat samples 150 mm x 150 mm (6 inch x 6 inch)Curved editions are available for several applications (windshields etc.)Measurement spot / high sensitivity zone40 mm diameter (1.6 inch)PowerLithium ion battery up to 20 hSheet resistance range (five setups available)Type very low: 0.001 – 0.1 Ohm/sqType low: 0.04 – 0.1 Ohm/sqType standard: 0.3 – 30 Ohm/sqType high: 0.3 – 50 Ohm/sqType very high: 0.3 – 100 Ohm/sqThickness measurement of thin films (e.g. copper)Additional feature, available range is 5 nm – 500 µ m (in accordance with sheet resistance)Emissivity rangeAdditional feature, available range is 0.003 – 0.5Accuracy (for planar solid surfaces, e.g. glass)0.001 – 50 Ohm/sq: 3%50 – 100 Ohm/sq: 5%DISPlay2.8 inch colored touch screenDevice dimensions (w/h/d)3.5” x 7” x 1.9” / 87 mm x 178 mm x 48 mmWeight340 gInterfacesBluetooth (optional) + data center更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。
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  • 一、结构特征 M3手持式四探针测试仪主机 配ST2253-F01钨针探头测试硅片 配ST2558B-F01薄膜探头测试ITO膜 二、概述2.1基本功能和依据标准: M3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等国标并参考美国 A.S.T.M 标准。 2.2配套组成:标准配置由M-3型主机、选配的四探针探头等二部分组成,也可加配测试台当台式机使用。2.3优势特征:1美观适用:彩色流线型手持式面板、带防滑垫,符合人体工程学设计。适合手持式变动场合操作使用,也可以定制小型旅行手提箱包装,便于野外或旅行使用。2高精度:带完善厚度、形状修正功能,测试准确。同行中手持式多为简易程序,没有完整修正功能,无法修正误差。3宽量程:超宽五个档位,相当于中档台式机的量程,同行中手持式多为两到三个档位,测试范围有限,适应性不广。4操作简便、性能稳定:轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换,简便而且免除模拟定位器的不稳定易受干扰。5手动/自动一体化:6显示方式美观清晰:由高亮绿色数码和LED数字表头显示,不怕环境背景暗或野外强光;7待机和工作时间长(不小于两天),有大容量可充电锂电池电池供电,环保耐用。2.4探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》1配高耐磨的碳化钨探针探头,如ST2253-F01型,以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头,如ST2558B-F01型,可测金属箔、碳纸等导电薄膜,也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜,如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。3配专用箔上涂层探头,如ST2558B-F02型,也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。4换上四端子测试夹具,还可对电阻器的体电阻进行测量。2.5测试台选配:根据不同材料特性需要,测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表》四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型(电动)或SZT-C型(快速恒压)测试台。二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台.平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。2.6适用范围:手持式使用,仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 。三、基本技术参数1.测量范围、分辨率电 阻: 0.010Ω~ 50.00kΩ, 分辨率0.001Ω~ 10 Ω电 阻 率: 0.010Ω-cm~ 20.00kΩ-cm, 分辨率0.001Ω~ 10 Ω-cm方块电阻: 0.050Ω/□ ~ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001Ω~ 10 Ω/□2.可测材料尺寸手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下:直 径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm。SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm。.测量方位: 轴向、径向均可. 3.量程划分及误差等级(括号内为拓展量程)量程(Ω-cm/□)2.000(200.0m)20.00(2.000m)200.0(20.00)2.000k(200.0)20.00k(2.000k)电阻测试范围0.010~2.2002.000~22.0020.00~220.00.200~2.200k2.000~50.00k电阻率/方阻0.010/0.050~2.2002.000~22.0020.00~220.00.200~2.200k2.000~20.00k/100.0k基本误差±1%FSB±2LSB±2%FSB±2LSB4)充电器工作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或电池供电DC3.7V.5)外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm净 重:≤0.3kg
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  • Si上镀Al薄膜 400-860-5168转2205
    产品名称:Si上镀Al薄膜(Aluminum?Film?on?Silicon?Wafer)常规尺寸:dia 4" ±0.5 mm x 0.525 ±0.025 mm 技术参数:Al薄膜厚度:3um薄膜电阻率:2.65 micro ohm-cm薄膜结晶:Weak (111) - oriented poly-crystals薄膜表面粗糙度:4.87 nm and 10 nmSi导电类型:N型Si电阻率:0.005?ohm-cm?;1-10ohm-cm?Si晶向:100±0.5°抛光情况:单抛 标准包装:1000级超净室100级超净袋真空包装或单片盒装
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  • 1.产品概述:该设备主要由有机/金属源蒸发沉积室、真空排气系统;真空测量系统;蒸发源;样品加热控温;电控系统;配气系统等部分组成。2.产品应用:在实际应用中,这种系统常用于半导体、光电子、有机电子等域,用于制备各种有机薄膜、金属薄膜或复合薄膜,以满足不同器件和材料的研究与开发需求。3.真空室:沈阳科学仪器的高真空有机及热阻蒸发薄膜沉积系统 DZ350的详细介绍可能因具体型号和配置而有所不同真空室结构:U形开门真空室尺寸:φ350×400mm限真空度:≤6.6E-5Pa沉积源:2个钨舟、2个有机源样品尺寸,温度:50mmx50mm,1片,高300℃占地面积(长x宽x高):约2.5米×1.2米×1.8米电控描述:采用先进的控制系统,方便用户设置和调整工艺参数,如蒸发温度、沉积时间等。手动:样品台:拥有可旋转或可移动的样品台,以便均匀沉积薄膜。工艺:不含工艺
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  • FT-300系列 粉末电阻率测试仪 粉末电阻率测试仪 本仪器采用四端测量法适用于碳素粉末厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门,是检验和分析粉末样品质量的一种重要的工具。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.使用薄膜按键开关面板,操作简单,耐用,符合人体工学操作规范.FT-300经济型 粉末电阻率测试仪满足:YST 587.6-2006 炭阳极用煅后石油焦检测方法第6部分 粉末电阻率的测定;FT-300经济型 粉末电阻率测试仪配置手动粉末测试装置也可以(选购)自动粉末测试装置,测试粉末时可以通过装置获得粉末压实后高度、直径、压强等数据,输入仪器后自动计算出所需数据.能方便解决粉末及颗粒物料电阻、电阻率及电导率测量需求,经济实惠,功能突出,设计合理,是粉末行业理想之测试仪器. 规格型号FT-300IFT-300IIFT-300IIIFT-300Ⅳ1.电阻10-7~2×107Ω10-5~2×106Ω10-3~2×106Ω10-2~2×107Ω2.电阻率范围10-8~2×107Ω-cm10-5~2×106Ω-cm10-3~2×106Ω-cm10-2~2×107Ω-cm3.电导率5×10-7~107s/cm5×10-6~105s/cm5×10-6~103s/cm5×10-7~102s/cm4.测试电流范围1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA,1000mA1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100mA5.测量电压量程测量电压量程:2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±(0.1%读数)分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV6.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数7.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%8.显示读数液晶显示:电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算、横截面、高度9.测试方式四端测量法10.传感器压力200kg;(其他规格可以定制) 11.粉末测量装置模具:内径10mm;高:25mm;加压方式:手动液压加压/电动加压方式(选购)12.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W13. 主机外形尺寸约330mm*350mm*120mm14.净重量约6kg15. 标配外选购1.标准校准电阻1-5个;2.PC软件一套;3.电脑和打印机依据客户要求配置;4.计量证书1份
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  • FT-304A织物表面比电阻(电阻率)测试仪一.参照标准:(1)参照标准:GB/T 22042-2008《服装 防静电性能 表面电阻率试验方法》;EN 1149-1-1995 《防护服 静电性能 第1部分表面电阻检验方法和要求》;FZ/T 64013-2008 《静电植绒毛绒》.二.适用范围:FT-304A织物表面比电阻(电阻率)测试仪用于测量织物、地毯、薄膜以及其他绝缘材料的表面比电阻(表面电阻率),表面比电阻的大小可间接反映试验材料表面静电,从而反映试验材料的带静电性.采用施加(100±5)V的直流电压于被测样品上进行测量.三.功能介绍:16次方高阻量程,配置屏蔽箱,液晶显示器,薄膜按键,不同档位的测量范围,可测量材料表面电阻、体积电阻、电阻率值、微电流测量、具有232和USB通讯端口,可选购PC软件分析数据,和报表管理. 中文或英文两种语言本.四.参数:FT-304A织物表面比电阻(电阻率)测试仪1.电阻测量范围104Ω~1×1016Ω2.电阻率测量范围 104~ 2.0×1016Ω-cm3.测试电压0-1000V4.基本准确度(标准电阻)<1G ±1% ≥1G ±3% ≥1T ±10% ≥10T ±20%5. 液晶显示电阻、电阻率、温度、电流、电压、样品尺寸数据6. 使用环境温度:0℃~40℃,相对湿度80%7. 电源 AC 220V,50HZ, 5W8.测量模式1.标配液晶显示器+薄膜按键操作2.选购PC软件运行操作9. 电极 FT-05B三环电极1套+屏蔽箱1个10.选购项目 1. PC软件1套.2. 标准电阻1-2个.11.尺寸L 340mm* W 320mm* H 120mm配套方案:解决各材料状态 --固态、液态、气态、颗粒状 电阻、电阻率、电导率测量 ROOKO瑞柯仪器------专注于新材料测量与分析仪器解决方案 ----解决材料:导体、半导体、绝缘材料常温及高温等环境下电性能分析. ----我们一直在做:研发、生产、销售研发、生产、销售、租赁、实验室样品分析及后延扩展服务.
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  • 高真空电阻热蒸发镀膜机(高真空镀膜机)采用电阻热蒸发技术,它是在高真空条件下,通过加热材料的方法,在衬底上沉积各种化合物、混合物单层或多层膜。可用于生产和科学实验,可根据用户要求专门订制;可用于材料的物理和化学研究;可用于制备金属导电电极;可用于有机材料的物理化学性能研究实验、有机半导体器件的原理研究实验、OLED实验研究及有机太阳能薄膜电池研究实验等。设备构成-单镀膜室-单镀膜室+进样室-单镀膜室+手套箱(可将镀膜室放在手套箱内)-单镀膜室+进样室+手套箱(可将镀膜室放在手套箱内)-多镀膜室+样品传递室+手套箱(组成团簇式结构,样品传递采用真空机械手)设备组成电阻热蒸发源组件、样品掩膜挡板系统、真空获得系统及真空测量系统、分子泵(或冷泵)真空机组、旋转基片加热台、工作气路、手套箱连接部件、样品传递机构,膜厚控制系统、电控系统、恒温冷却水系统等组成。热蒸发源类型和数量,可根据用户需要进行配置。可选件:膜厚监控仪,恒温制冷水箱。热蒸发源种类及配置电阻热蒸发源组件:数量:1~12套(可根据用户要求配装);电阻热蒸发源种类:钽(钨或钼)金属舟热蒸发源组件、石英舟热蒸发源组件、钨极或钨蓝热蒸发源组件、钽炉热蒸发源组件(配氮化硼坩埚或陶瓷坩埚)、束源炉热蒸发组件(配石英坩埚或氮化硼坩埚)。高真空电阻热蒸发镀膜机(高真空镀膜机)工作条件(实验室应具备的设备工作条件)供电:4kW,三相五线制~ AC 380V工作环境湿度:10℃~ 40℃工作环境温度:≤50%冷却循环水:0.2m3/h,水温18℃~ 25℃水压:0.15MPa ~ 0.25MPa真空性能极限真空:7×10-5Pa~7×10-6Pa设备总体漏放率:关机12小时,≤10Pa操作方式手动、半自动关于鹏城半导体鹏城半导体技术(深圳)有限公司,由哈尔滨工业大学(深圳)与有多年实践经验的工程师团队共同发起创建。公司立足于技术前沿与市场前沿的交叉点,寻求创新引领与可持续发展,解决产业的痛点和国产化难题,争取产业链的自主可控。公司核心业务是微纳技术与高端精密制造,具体应用领域包括半导体材料、半导体工艺和半导体装备的研发设计和生产制造。公司人才团队知识结构完整,有以哈工大教授和博士为核心的高水平材料研究和工艺研究团队;还有来自工业界的高级装备设计师团队,他们具有20多年的半导体材料研究、外延技术研究和半导体薄膜制备成套装备设计、生产制造的经验。公司依托于哈尔滨工业大学(深圳),具备先进的半导体研发设备平台和检测设备平台,可以在高起点开展科研工作。公司总部位于深圳市,具备半导体装备的研发、生产、调试以及半导体材料与器件的中试、生产、销售的能力。公司已投放市场的部分半导体设备|物理气相沉积(PVD)系列磁控溅射镀膜机、电子束镀膜机、热蒸发镀膜机,离子束溅射镀膜机、磁控与离子束复合镀膜机|化学气相沉积(CVD)系列MOCVD、PECVD、LPCVD、热丝CVD、ICPECVD、等离子刻蚀机、等离子清洗机|超高真空系列分子束外延系统(MBE)、激光分子束外延系统(LMBE)|OLED中试设备(G1、G2.5)|其它金刚石薄膜制备设备、硬质涂层设备、磁性薄膜设备、电极制备设备、合金退火炉|太阳能薄膜电池设备(PECVD+磁控溅射)团簇式太阳能薄膜电池中试线团队部分业绩分布完全自主设计制造的分子束外延(MBE)设备,包括自主设计制造的MBE超高真空外延生长室、工艺控制系统与软件、高温束源炉、高温样品台、Rheed原位实时在线监控仪(反射高能电子衍射仪)、直线型电子枪、膜厚仪(可计量外延生长的分子层数)、射频源等关键部件。真空度达到2×10-8Pa。设备于2005年在浙江大学光学仪器国家重点实验室投入使用,至今仍在正常使用。设计制造磁控溅射与等离子体增强化学气相沉积法PECVD技术联合系统,应用于团簇式太阳能薄膜电池中试线。使用单位中科院电工所。设计制造了金刚石薄膜制备设备,应用于金刚石薄膜材料的研究与中试生产设备。现使用单位中科院金属研究所。设计制造了全自动磁控溅射设备,可加水平磁场和垂直磁场,自行设计的真空机械手传递基片。应用于高密度磁记录材料与器件的研究和中试。现使用单位国家光电实验室。设计制造了OLED有机半导体发光材料及器件的研究和中试成套装备。现使用单位香港城市大学先进材料实验室。设计制造了MOCVD及合金退火炉,用于GaN和ZnO的外延生长,实现LED无机半导体发光材料与器件的研究和中试。现使用单位南昌大学国家硅基LED工程技术研究中心。设计制造了磁控溅射研究型设备。现使用单位浙江大学半导体所。设计制造了电子束蒸发仪研究型设备。现使用单位武汉理工大学。团队在第三代半导体装备及工艺方面的技术积累2001年 与南昌大学合作设计了中试型的全自动化监控的MOCVD,用于外延GaN和ZnO。2005年 与浙江大学光学仪器国家重点实验室合作设计制造了第一台完全自主知识产权的分子束外延设备,用于外延光电半导体材料。2006年 与中国科技大学合作设计超高温CVD 和MBE。用于4H晶型SiC外延生长。2007年 与兰州大学物理学院合作设计制造了光学级金刚石生长设备(采用热激发技术和CVD技术)。2015年 中科院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室合作设计制造了金刚石薄膜制备,制备了金刚石电极、微米晶和纳米晶金刚石薄膜、导电金刚石薄膜。2017年-优化Rheed设计,开始生产型MBE设计。-开始研制PVD方法外延GaN的工艺和装备,目前正在进行设备工艺验证。2019年 设计制造了大型热丝CVD金刚石薄膜的生产设备。2021年 MBE生产型设计。2022年 大尺寸金刚石晶圆片制备(≥Φ6英寸)。2023年 PVD方法外延氮化镓装备与工艺攻关。
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  • Si镀Ni薄膜 400-860-5168转2205
    产品名称:Si镀Ni薄膜 (进口Nickel?111?Film?(100nm)?coated?Silicon?Wafer)技术参数:Si基片参数:P型B;100±0.5°; dia 4" +/- 0.5 mm x 0.525 +/- 0.025 mm;单抛 电阻率:1-20 ohm-cmNi薄膜参数:100nmNi薄膜结晶(Film Crystallinity):111 - oriented polycrystals表面粗糙度:N/A 产品尺寸:dia4 inch or 10x10mm标准包装:1000级超净室100级超净袋真空包装或单片盒
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  • 东莞市雨菲电子科技有限公司成立于2015年,其前身为成立于2008年的维特国际。薄膜开关厂位于东莞市虎门镇怀德管理区合森工业园内,占地4500平米, PCBA厂位于东莞虎门大宁创富赢家产业园内, 占地面积3500平米。雨菲电子地理位置优越,距高速出口5公里,紧邻深圳,广州,香港,距离深圳机场仅30分钟车程,距广州机场1小时车程。雨菲电子是一家致力于电阻式薄膜开关,电容触摸式薄膜开关, 电容触摸感应线路, 薄膜面板,薄膜面贴,触摸屏贴合, 触摸显示模组, 单片机开发,PCBA及整机解决方案提供的新兴高科技企业。 雨菲电子已通过ISO9001, ISO14001, ISO13485和OHSAS18001体系认证。是业内早通过ISO13485的医疗体系认证的薄膜开关工厂。 雨菲电子的产品广泛应用于医疗, 工控, 自动化, 轨道交通, 航空航海, 网络通讯, 消费电子, 仪器仪表, 农用机械, 设备制造等广泛领域。公司所有生产车间均为十万级无尘防静电车间, 其中印刷车间为万级。此外还有2间千级高精密高洁净度无尘车间用于进行屏幕贴合, 精密电子组装等业务。公司自建品质实验室, 包括盐雾测试机, 高低温环测, 寿命测试机, 凸包高度测试仪, 二次元, 曲线荷重测试仪等仪器设备。公司拥有4台半自动丝网印刷机, 2条全自动印刷生产线, 全自动打孔机, 自动冲床, 五金冲床, 真空贴合机,脱泡机等等. 洁净的生产环境, 先进的生产设备和测试仪器确保我司优异的产品质量!
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  • 冠测体积表面电阻测试仪GEST-121一、产品概述本仪器主要用于测试绝缘材料的绝缘电阻、体积电阻及表面电阻值,本仪器是一台通用试验仪器,通过选配不同的测试电极,可以满足和测试所有不同类型的绝缘材料,如:粉末、片材、薄膜和液体溶液等。本仪器测试量程比较款,最高可以到1018Ω,几乎可以满足于市场上所有的绝缘材料的测试。二、材料类型:适用于橡胶、塑料、薄膜、块体等绝缘材料及粉体、液体、固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。三、适用客户:适用于计量院、第三方检测机构、科研院所、生产企业研发、质量品管检测等用户。典型应用1、测量绝缘材料电阻、体积电阻、表面电阻(率)2、测量防静电材料的电阻及电阻率3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值4、测量防静电鞋、导电鞋的电阻值5、光电二极管暗电流测量6、物理,光学和材料研究四、技术指标:1 电阻测量范围 0.01×104Ω ~1×1018Ω2 电流测量范围为 2×10-4A~1×10-16A3 显 示 方 式 数字液晶显示4 内置测试电压 10V 、50V、100V、250、500、1000V5 测量精度 ≥1×1010,精度:5%-10%≤1×1010,精度:1%6 供电电压 220V/50HZ7 仪器功率 100W8 外形尺寸 长宽高=300mm*300mm*150mm9 仪器重量 约5KG10 电极标配 标配一套固体三电极适用于直径≥80mm片材/薄膜材料测试11 电极选配 可以根据测试需求,选配不同的测试电极
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  • 薄膜耐电弧试验仪 400-860-5168转5976
    薄膜耐电弧试验仪注意事项耐电弧试验仪器必须在可靠地接好地线后,方可通电运行,以确保安全。有机玻璃门开关不能以其他方式短路,以保证只有在关好玻璃门后方可接通高压。每次更换试验点或试样时,均应确定调压器退到零位,观察试验电压值指示确为零,再用接地棒接触电极,释放残余电荷。试验结束后,调压器退到零位,切断电源开关。当试验进行到420秒时,无论试样有无破坏,均应按停止按钮,使试验停止进行电压校准时一定要保证两电极有足够的安全距离不闪络,不拉弧,不放电。试品破坏形成导电通道时应快速切断高压停止试验,提升测试时间的准确性,另一方减少电极的损伤。主要技术参数:序号项目参数1电弧通断时间误差1/8段程序小于±5ms,其余小于1ms2调压器容量1kVA3额定试验电压12.5kV4高试验电压15kV5试验电压精度±1.0%6电流控制精度±10% 电流测量精度:1.5%7电极对试样压力(0.5±0.05)N8电极材料钨棒9电极距离(6.35±0.1)mm(IEC/ASTM)10使用环境温度(23±2)℃11使用环境湿度(50±5)%12电源220V±5% 50Hz 10A薄膜耐电弧试验仪状态监控灯。  合闸:红色表示合闸,绿色表示分闸;  零位:红色表示调压器在下限位,绿色表示不在下限位;  上限:红色表示调压器到上限位,绿色表示不在上限位;  门锁:红色表示门是关闭的,绿色表示门是打开的;  升压:红色表示步进电机正转升压,绿色表示电机不在升压状态;  降压:红色表示步进电机反转降压回零,绿色表示电机不在降压状态;  暂停:红色表示步进电机处在暂停状态,一般电机在电压达到设定值或回到零位后会暂停,绿色表示电机在运转状态;  急停:红色表示急停按钮处在按下去的状态,此时系统无法启动,绿色表示在解锁状态;薄膜耐电弧试验仪启动按钮。在设置好试验参数后,按清零按钮后再按此按钮可以启动升压。薄膜耐电弧试验仪是在相距 (6.35±0.1)mm的两电极上,按试验方法规定的规律(见试验程序表),由间歇到连续地施加12.5kV工作电压和(10~40)mA的电弧电流,直至试样失效。记下从试验开始到试样失效的总时间(s),即为该试样的耐电弧。其电气原理图见图1。试验电压的产生是由220V交流电压经调压器T5,再由高压试验变压器T4而产生。试验电压12.5kV由调压器T5调节获得。试验电流的大小和通断时间,由PLC控制接在调压器T5和高压试验变压器T4之间的四路固体开关和串联电阻而获得。薄膜耐电弧试验仪仪器下层为电气箱。右后部装有高压试验变压器、保护电阻及高频抑制电感等,左后前部为调压器,中部和前部为主电路控制电路及触控屏控制界面。
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