俄歇仪

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俄歇仪相关的厂商

  • Kinematica AG. 白金2年
    400-860-5168转4195
    Kinematica是一家瑞士公司,总部位于瑞士美丽的城市卢塞恩(Luzern),在美国、德国、中国分别设有分公司。公司既是当今定子/转子分散技术的发明者,也持续专注于均质/乳化领域。目前,Kinematica产品所有产品100%为瑞士制造,产品线覆盖高速分散机、均质机、超高剪切乳化机、粉末感应分散机、膜分散技术、干样品研磨和反应釜系统,处理能力涵盖实验室、中试、工业生产规模,可为不同的行业提供分散乳化、超高剪切、粉末混合等成套解决方案。“完美的均质技术” 一直是我们专注的核心, 在如今的 “互联世界” ,我们将不断地深化综合技术,坚持不懈地为多种多样的行业应用定制或优化解决方案。在过去的60年中,Kinematica不断地发展并革新定/转子技术,帮助全球数以万计的用户攻克了不同维度的技术性难题。因此,Kinematica的技术已在多种工业范畴内成为全球认可的标准,。如果您有上述需求或技术问题,请随时联系我们,Kinematica竭诚为您提供最优质的服务和来自全球最先进的定/转子分散均质技术。
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  • 长春吉大小天鹅仪器有限公司创建于1999年,注册资金2010万元。是吉林大学以技术为资本设立的第一家公司;是从事系列快检仪器的研发、生产、销售及服务于一体的高新技术企业;属中国仪器仪表、中国分析测试、中国标准化等协会会员企业。多年来,公司坚持以市场需求为导向,以产学研结合为基础,先后自主创新了以现场速测为技术特点的系列检测仪器和方法,为国家食品安全、水质分析、空气质量等专项治理提供了精良的技术装备。目前,公司拥有专利授权62项,软件著作权2项,八项主导产品均被评为国家重点新产品;先后承担了国家“十一五”、“十二五”科技支撑计划等多项科研项目,为我国现场快检技术进步做出积极努力。同时,为了保证并提高快检仪器的监管效果与法律效力,我们先后完成国家标准2项、行业标准7项、地方标准6项。其中,2014年主持制定的《多参数食品现场快速检测仪通用技术条件》和《多参数食品现场快速检测仪试剂盒(包)质量检验总则》填补了国内快检仪产品和试剂盒(包)标准的空白。 公司将一如既往地肩负“速测万物利害 志保天人安康”的企业使命,坚持奉行“精心 精品 精业 精进”的质量方针,竭诚提供可靠的产品和满意的服务,回报广大客户及各界朋友对吉大小天鹅的支持和厚爱!
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  • SpeedMixer™ 为纯进口设备。FlackTek SpeedMixer于2018年授权在国内成立颂崇(上海)国际贸易有限公司,作为美独资在华公司,其全权负责大中华地区SpeedMixer™ 相关服务业务,其地区范围包括中国,新加坡,以及泰国,马来西亚等南亚地区。我们诚挚的服务于国内外的SpeedMixer™ 相关客户,并将为您提供售前,售后,以及相关技术应用支持等相关的一站式服务。欢迎您的咨询:www.SpeedMixer.com.cnShanghai Acclaim International Trading Co,. Ltd.颂崇(上海)国际贸易有限公司电话: +86 (021) 68072268e-mail:Info@SpeedMixer.com.cn
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俄歇仪相关的仪器

  • 到梅特勒托利多公司官网详细了解 TMA热机械分析仪热机械分析仪TMA测量样品随温度变化而变化的尺寸,广泛用来分析聚合物、无机和金属等材料,测量膨胀系数、玻璃化和软化温度。梅特勒托利多热机械分析仪TMA/SDTA840和TMA/SDTA841e是瑞士精密机械技术的真正体现,提供了纳米级分辨率,能够测量样品极其微小的尺寸变化。同时还测量差热变化(称为同步差热即SDTA),同步观察转变过程中的差热变化,通过SDTA用纯金属标样的熔点准确校准温度。两款热机械分析仪都标配动态负载TMA(DLTMA)功能,可进行DLTMA测试。热机械分析仪技术参数:温度范围: -150~600℃(TMA/SDTA841e);RT~1100℃(TMA/SDTA840)温度准确性:+/-0.25℃分辨率:1nm(TMA/SDTA841e);10nm(TMA/SDTA840)测试模式:膨胀、针入、弯曲、拉伸、动态负载TMA(DLTMA)热机械分析仪主要特点:专利机械设计-确保高质量结果纳米级分辨率-能测定极微小变化动态负载TMA(DLTMA模式)-测定弱效应和粘弹性宽阔的测试范围-适合各种大小样品SDTA-同步测量差热效应;用金属标样进行温度校准气密测试单元-受控的测试环境联用技术-分解气体分析(MS或FTIR)热机械分析仪应用领域:聚合物(热塑性塑料、热固性树脂、弹性体、黏合剂、复合材料、薄膜、纤维)、陶瓷、金属等。热机械分析仪主要型号:TMA/SDTA840、TMA/SDTA841到梅特勒托利多公司官网详细了解 TMA热机械分析仪查看更多信息咨询电话:4008-878-788
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  • 到梅特勒托利多公司官网详细了解 DMA动态热机械分析仪动态热机械分析是测量样品在周期振动应力下,随温度或频率变化而变化的力学性能和粘弹性能的技术。DMA/SDTA861e动态热机械分析仪直接测量样品的应力和应变,从而得到准确的模量;力范围宽,大至40N;频率范围宽,高至1000Hz。可在仪器外(譬如实验桌上)准备和预装样品。特别是剪切模式,由应力控制/应变控制及其智能切换(独有功能),能测量试样从软状态(譬如环氧树脂固化前的液态)直至硬状态(譬如很高固化度时)。DMA/SDTA861e动态热机械分析仪在对样品进行DMA测量的同时还测量差热变化(称为同步差热即SDTA),通过SDTA可用纯金属标样的熔点准确校准温度。热机械分析仪技术参数:温度范围:-150~500℃温度准确度:0.5℃ 应力范围:0.001~40N位移范围:+/-1.6mm频率范围:0.001~1000 HzTan&delta 范围:0.0001~100热机械分析仪主要特点:同时直接测量位移和应力-准确的模量测定很宽的应力范围-能测量很硬和很软的样品应力控制/应变控制智能切换-全程测量样品由软变硬过程很宽的频率范围-测量可以在真实条件下进行,或在较高频率下更快速进行创新的样品夹具-可以在仪器外进行样品准备和预装样品温度直接测量、同步SDTA技术-准确测定试样温度;采用纯金属进行温度校准极宽的刚度范围-可以用单个样品夹具在整个温度范围内进行测量热机械分析仪应用领域:聚合物(热塑性塑料、热固性树脂、弹性体、粘合剂和复合材料)、陶瓷、金属、其它粘弹性材料以及纤维、薄膜等。热机械分析仪主要型号: DMA/SDTA861到梅特勒托利多公司官网详细了解 DMA动态热机械分析仪查看更多信息咨询电话:4008-878-788
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  • 俄歇电子能谱仪(Auger Electron Spectrometer, AES)为微电子业常见的表面分析技术之一。原理是利用一电子束为激发源,使表面原子之内层能阶的电子游离出,原电子位置则会产生电洞,导致能量不稳定,此时外层电子会填补产生之电洞,进而释放能量传递至外层能阶电子,造成接受能量的电子被激发游离,游离的电子即为Auger电子。因其具有特定的动能,所以能依据动能的不同来判定材料表面的元素种类。PHI的710纳米探针俄歇扫描 提供高性能的俄歇(AES)频谱分析,俄歇成像和溅射深度分析的复合材料包括:纳米材料,催化剂,金属和电子设备。维持基于PHI CMA的核心俄歇仪器性能,和响应了用户所要求以提高二次电子(SE)成像性能和高能量分辨率光谱。PHI的同轴镜分析仪(CMA)提供了同轴分析仪和电子枪的几何实现高灵敏度多角度广泛收集,以便完成三维结构图,在纳米级技术的发展这是最基础的。为了提高SE成像性能,闪烁探测器(Scintillator)已被添加以提高图像质量,另再加上数码按钮的用户界面再一次的提高了易用性。在不用修改CMA和仍维持俄歇在纳米分析的优势下,再添加了高能量分辨率光谱模式,使化学态分析的可能再大大的提高。总括来说,700Xi以优越的俄歇纳米探针从世界ling先的俄歇表面分析仪器,提供了实用和成熟的技术,以满足纳米尺度所需要的广泛实验与研发的用途。同轴电子枪和分析几何和高级的俄歇灵敏度:710的场发射电子源提供了一个高亮度而直径小于6 nm的电子束以产生二次电子成像。710的同轴几何使用了“同轴式分析器(CMA)”,促使高灵敏度俄歇通过广泛角度收集进行分析,即使样品是表面平滑或复杂的形状或高表面粗糙度,都可以确保迅速完成所有分析程序。高稳定性成像平台:隔声外壳与振动隔离器提供更稳定的成像和分析。隔声外壳从真空控制面板降低频率范围从30赫兹到5K赫兹左右的20 dB的声压等级(SPL),稳定的温度大约降低系统造成SEM图像漂移。新的振动隔离器也减少了地面振动对扫描电镜图像和小面积分析的影响。增强的SE图像用户界面:PHI710增强SE成像性能,闪烁器检测器(Scintillator)已被添加在仪器上从而提高图像质量,加上数码按钮的用户界面更再次提高了使用的方便性。新的高分辨率光谱模式:随着PHI的新技术,能量分辨率可调从0.5%到0.05%。多种化学物质的状态可以更容易有效的被观察出来。PHI SmartSoft-AES用户界面:PHI SmartSoft是一个操作仪器上为用户的需要而着想的软件界面。该软件是任务导向型和卷标在顶部的显示指引用户通过引入样品,分析点的定义,并设置了分析。多个位置分析可以定义和zui佳范例的定位提供了一个强大的“自动Z轴调整”的功能。在广泛使用的软件设置,可让新手能够快速,方便地设置了测量,并在未来可以轻易的重复以往或常用的类似测量。
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俄歇仪相关的资讯

  • 日本电子(JEOL)俄歇能谱仪学习班
    我公司定于2023年12月13日至12月15日在华中科技大学(武汉)举办俄歇能谱仪学习班,欢迎日本电子的俄歇能谱仪用户参加。学习班目的:俄歇谱仪理论、实际操作学习授课老师:Mr.Tsutsumi(日本电子Auger能谱仪应用技术人员)学习班样品:日本电子(东京)准备学习班时间:12月13日(周三)上午8:30开课, 12月15日(周五)晚饭后课程结束。武汉以外的用户建议12月12日晚6点在华中科技大学国际学术交流中心集合一起晚餐学习班地点:华中科技大学先进制造大楼西楼B104-3俄歇能谱仪室特别说明:由于日方老师签证无法准时获得导致的学习班时间顺延等情形时,请予理解为盼。住宿:推荐华中科技大学国际学术交流中心(8号楼)单间348元/晚(参考价,可能随时变动)。联系电话:027-87540037费用:住宿、交通费自理。学习班期间午餐、晚餐由主办方安排和承担学习班主办方:捷欧路(北京)科贸有限公司学习班协办方:华中科技大学材料成形与模具技术全国重点实验室联系人:严雪(13511038912 yan.xue@jeol.com.cn) 李敏敏(13476278978;li.minmin@jeol.com.cn) 胡晋生(13901219302 hu.jinsheng@jeol.com.cn)
  • 800万!清华大学俄歇电子能谱仪采购项目
    项目编号:OITC-G220273098/清设招第20221561号项目名称:清华大学俄歇电子能谱仪采购项目采购方式:竞争性磋商预算金额:800.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):800.0000000 万元(人民币)采购需求:1、采购项目的名称、数量:包号货物名称数量(台/套)是否允许采购进口产品1俄歇电子能谱仪1是供应商须以包为单位对该包中的全部内容进行响应,不得拆分,不完整的报价将被拒绝。竞争性磋商及评审、推荐成交供应商以包为单位。2、技术要求详见公告附件。合同履行期限:详见采购需求本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 俄歇第一课答疑:AES基本原理、主要功能和应用
    1.问:求问电镜分辨率1.6nm和0.8nm在实际效果差多少?主要观测半导体芯片,具体差别在哪里? 回复:当然总的来说空间分辨率越高,成像特征越清晰;但实际应用与样品基体效应、分析需求、电镜优势性能、操作条件比如加速电压、电流、工作距离,真空环境等都有关系,由具体情况决定。通常供应商提供分辨率指标都是在特定条件比如高加速电压下低电流由标准样品测试得到的。如果观测半导体芯片,如果看浅表形貌特征,需要低加速电压,这时候可能电镜分辨率1.6nm和0.8nm的实际差异不大,要看此电镜在低加速电压的分辨能力;当分析对象尺度接近电镜空间分辨能力的时候,比如几个纳米的形貌特征(小于10nm),可能分辨率1.6nm和0.8nm的不同电镜能体现出成像差异;但当分析特征的尺度远大于空间分辨率的时候,比如100nm,从成像上两者的差别不会很明显。以上是经验浅谈,毕竟PHI不是电镜供应商,仅供大家参考。 2.问:请问AES和SEM-EDS测试的元素分布的区别? 回复: AES 和 EDS成分分析的主要区别:3.问:这种AES化学态的分析和XPS有什么区别?回复: 总的来说化学态分析主要用XPS,而AES主要获得元素信息,也有一定的化学态信息: 1) 俄歇激发本身涉及不同轨道能级三个电子的行为,俄歇电子动能与三个电子对应的轨道的结合能相关,比较难预测动能变化与化学态的相关性,不像XPS是单电子激发,原子得电子和失电子带来的结合能位移有一定的原则,有助于判断化学态;2) 俄歇是电子源入射,电子源本身对化学态尤其是有机材料的化学键有一定的破坏作用;电子源激发出的图谱里有较大的背景(背散电子弹性散射和非弹性散射背底、二次电子背底等)影响谱峰判定,给化学态判断带来影响;3) AES能量分辨率没有XPS能量分辨高,AES谱峰宽、谱峰分裂多(多种终态),不对称性等都影响化学态判断。而XPS谱峰(能量分辨好、背底干扰小、对称性好、 特征峰比如轨道分裂峰、卫星峰等)有化学态特征性。 4.问:请问AES在钙钛矿太阳能电池上有何应用嘛? 回复:只要样品有一定导电性或通过样品制备改善荷电效应,都可以用AES进行分析,所以AES可以分析钙钛矿太阳能电池材料(采用导电铜胶固定样品),但因为钙钛矿材料主要是有机金属卤化物半导体材料,AES电子束对有机化学键有一定损伤,不能用于化学态判定,但可以用俄歇表征元素定性和半定量结果(里面有特征元素比如Pb/I(Br)等), 但也有谱峰重合问题(比如I和O谱峰);所以总体来说AES对钙钛矿材料成分表征有一定局限性。 5.问:请问不导电的样品可以测试AES吗? 回复 : 俄歇主要用于测导体,半导体,对于绝缘材料除非改善荷电效应可以用俄歇分析,但对于有机材料本身电子束对化学键损伤,即使测出有机材料的元素比如C/O/N/S对有机材料的成分分析来说信息非常有限,意义不大。 6.问:硅酸盐粘土矿物可以吗?也是绝缘性的?AES可以区分出来不同羟基吗? Si-OH Al-OH可以区分出来吗? 回复: 同上,除非能改善荷电效应才能分析绝缘材料,本来荷电效应大就会使谱峰信号差,谱峰变形严重(展宽、能量位移等),不能进行化学态判定,所以主要获得元素信息,不能识别化学态(比如羟基等)。对课程感兴趣的小伙伴请扫描下方二维码,PHI小助手将会拉您入微信群,快来一起玩耍吧~

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  • 俄歇电子能谱仪

    俄歇电子能谱仪

    近年来,在测定表面的化学成份方面,俄歇电子能谱法(AES)作为一种最广泛使用的分析方法而显露头角。这种方法的优点是:在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高;数据分析速度快;能探测周期表上He以后的所有元素。虽然最初俄歇电子能谱单纯作为一种研究手段,但现在它已成为常规分析手段了。它可以用于许多领域,如半导体技术、冶金、催化、矿物加工和晶体生长等方面。俄歇效应虽然是在1925年时发现的,但真正使俄歇能谱仪获得应用却是在1968年以后。 3-3-1 工作原理 当一个具有足够能量的入射电子使原子内层电离时,该空穴立即就被另一电子通过L1→K跃迁所填充。这个跃迁多余的能量EK-EL1如使L2能级上的电子产生跃迁,这个电子就从该原子发射出去称为俄歇电子。这个俄歇电子的能量约等于EK-EL1-EL2。这种发射过程称为KL1L2跃迁。此外类似的还会有KL1L1、LM1M2、MN1N1等等。 从上述过程可以看出,至少有两个能级和三个电子参与俄歇过程,所以氢原子和氦原子不能产生俄歇电子。同样孤立的锂原子因为最外层只有一个电子,也不能产生俄歇电子。但是在固体中价电子是共用的,所以在各种含锂化合物中也可以看到从锂发生的俄歇电子。俄歇电子的特点是: ①俄歇电子的能量是靶物质所特有的,与入射电子束的能量无关。下图是一些主要的俄歇电子能量。可见对于Z=3-14的元素,最突出的俄歇效应是由KLL跃迁形成的,对Z=14-40的元素是LMM跃迁,对Z=40-79的元素是MNN跃迁。大多数元素和一些化合物的俄歇电子能量可以从手册中查到。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/08/200608300909_25075_1609228_3.jpg[/img] ②俄歇电子只能从20埃以内的表层深度中逃逸出来,因而带有表层物质的信息,即对表面成份非常敏感。正因如此,俄歇电子特别适用于作表面化学成份分析。 3-3-2 俄歇电子能谱仪 俄歇能谱仪包括电子光学系统、电子能量分析器、样品安放系统、离子枪、超高真空系统。以下分别进行介绍。 1 电子光学系统 电子光学系统主要由电子激发源(热阴极电子枪)、电子束聚焦(电磁透镜)和偏转系统(偏转线圈)组成。电子光学系统的主要指标是入射电子束能量,束流强度和束直径三个指标。其中AES分析的最小区域基本上取决于入射电子束的最小束斑直径;探测灵敏度取决于束流强度。这两个指标通常有些矛盾,因为束径变小将使束流显著下降,因此一般需要折中。2 电子能量分析器 这是AES的心脏,其作用是收集并分开不同的动能的电子。 由于俄歇电子能量极低,必须采用特殊的装置才能达到仪器所需的灵敏度。目前几乎所有的俄歇谱仪都使用一种叫作筒镜分析器的装置。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/08/200608300910_25076_1609228_3.gif[/img]分析器的主体是两个同心的圆筒。样品和内筒同时接地,在外筒上施加一个负的偏转电压,内筒上开有圆环状的电子入口和出口,激发电子枪放在镜筒分析器的内腔中(也可以放在镜筒分析器外)。由样品上发射的具有一定能量的电子从入口位置进入两圆筒夹层,因外筒加有偏转电压,最后使电子从出口进入检测器。若连续地改变外筒上的偏转电压,就可在检测器上依次接收到具有不同能量的俄歇电子,从能量分析器输出的电子经电子倍增器、前置放大器后进入脉冲计数器,最后由X-Y记录仪或荧光屏显示俄歇谱 俄歇电子数目N随电子能量E的分布曲线[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/08/200608300912_25077_1609228_3.gif[/img]若将筒镜分析器与电子束扫描电路结合起来可以形成扫描俄歇显微镜(下图)。电子枪的工作方式与扫描电镜类似,两级透镜把电子束斑缩小到3微米,扫描系统控制使电子束在样品上和显像管荧光屏上产生同步扫描,筒镜分析器探测到的俄歇电子信号经电子倍增器放大后用来对荧光屏光删进行调制,如此便可得到俄歇电子像。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/08/200608300913_25078_1609228_3.jpg[/img]

  • 日本电子公司(JEOL)—— 俄歇电子谱仪(AES)应用工程师

    职位:俄歇电子谱仪(AES)应用工程师(1人)工作内容:为用户提供仪器应用支持,帮助新用户做样品测试,对产品做技术讲解。应聘要求:1. 常驻北京,可以承担一定的出差任务(不超过1/3工作日)。2. 喜欢学习,乐于钻研仪器技术。诚实有信,实事求是。3. 具有材料学/化学/化工或相关学科硕士(含)以上学位。有电子光学类仪器的使用经验,熟悉俄歇电子能谱或XPS技术者优先。4. 具有良好的口头表达能力。熟练使用常规办公软件。5. 有耐心,愿意尽心尽力帮助用户解决困难。具有良好的自我管理能力。薪酬待遇:1. 日本电子公司(JEOL)提供完备的社保福利,严格执行法律规定的休假制度。2. 实际薪酬根据应聘人资历面试后确定。有意者请提供简历。联系人:李女士(li.qun@jeol.com.cn)此贴长期有效,直到职位招满。

俄歇仪相关的耗材

  • 谐波分析仪
    谐波分析仪1测量范围:0.05A~19.9A 精度:±10%;测量频率:基波、3、5、7、9次高次谐波
  • VWR鞋套防滑CPE薄膜一次性鞋套
    CPE薄膜一次性鞋套。不含天然胶乳防滑性能长×宽: 410×170 mm重量: 10, 13 or 16 g/pcs说明颜色尺寸包装规格VWR目录号10 g/pcs白色U*500VWRI113-908213 g/pcs蓝色U*500VWRI113-908113 g/pcs蓝色U*500VWRI113-908116 g/pcs蓝色U*500VWRI113-9079v\:* {behavior:url(#default#VML) }o\:* {behavior:url(#default#VML) }x\:* {behavior:url(#default#VML) }.shape {behavior:url(#default#VML) }
  • 石英屑 用于Thermo系列仪器
    石英屑 石英片 Quartz chips 货号参照货号粒度包装CN05392338223000.7-1.2 mm 50克/瓶CN05412338223001.2-2.5mm 50克/瓶产品介绍: 石英屑 石英片用作反应管或吸收管中填料,起填充空间、分散催化剂、吸附杂质的作用, 耐高温使用。适用于各种分析仪器。
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