俄歇仪

到梅特勒托利多公司官网详细了解 TMA热机械分析仪热机械分析仪TMA测量样品随温度变化而变化的尺寸，广泛用来分析聚合物、无机和金属等材料，测量膨胀系数、玻璃化和软化温度。梅特勒托利多热机械分析仪TMA/SDTA840和TMA/SDTA841e是瑞士精密机械技术的真正体现，提供了纳米级分辨率，能够测量样品极其微小的尺寸变化。同时还测量差热变化(称为同步差热即SDTA)，同步观察转变过程中的差热变化，通过SDTA用纯金属标样的熔点准确校准温度。两款热机械分析仪都标配动态负载TMA(DLTMA)功能，可进行DLTMA测试。热机械分析仪技术参数：温度范围： -150～600℃(TMA/SDTA841e)；RT～1100℃(TMA/SDTA840)温度准确性：+/-0.25℃分辨率：1nm(TMA/SDTA841e)；10nm(TMA/SDTA840)测试模式：膨胀、针入、弯曲、拉伸、动态负载TMA(DLTMA)热机械分析仪主要特点：专利机械设计－确保高质量结果纳米级分辨率－能测定极微小变化动态负载TMA(DLTMA模式)－测定弱效应和粘弹性宽阔的测试范围－适合各种大小样品SDTA－同步测量差热效应；用金属标样进行温度校准气密测试单元－受控的测试环境联用技术－分解气体分析（MS或FTIR）热机械分析仪应用领域:聚合物(热塑性塑料、热固性树脂、弹性体、黏合剂、复合材料、薄膜、纤维)、陶瓷、金属等。热机械分析仪主要型号:TMA/SDTA840、TMA/SDTA841到梅特勒托利多公司官网详细了解 TMA热机械分析仪查看更多信息咨询电话：4008-878-788

到梅特勒托利多公司官网详细了解 DMA动态热机械分析仪动态热机械分析是测量样品在周期振动应力下，随温度或频率变化而变化的力学性能和粘弹性能的技术。DMA/SDTA861e动态热机械分析仪直接测量样品的应力和应变，从而得到准确的模量；力范围宽，大至40N；频率范围宽，高至1000Hz。可在仪器外(譬如实验桌上)准备和预装样品。特别是剪切模式，由应力控制/应变控制及其智能切换(独有功能)，能测量试样从软状态(譬如环氧树脂固化前的液态)直至硬状态(譬如很高固化度时)。DMA/SDTA861e动态热机械分析仪在对样品进行DMA测量的同时还测量差热变化(称为同步差热即SDTA)，通过SDTA可用纯金属标样的熔点准确校准温度。热机械分析仪技术参数：温度范围：-150~500℃温度准确度：0.5℃ 应力范围：0.001~40N位移范围：+/-1.6mm频率范围：0.001～1000 HzTan&delta 范围：0.0001～100热机械分析仪主要特点：同时直接测量位移和应力－准确的模量测定很宽的应力范围－能测量很硬和很软的样品应力控制/应变控制智能切换－全程测量样品由软变硬过程很宽的频率范围－测量可以在真实条件下进行，或在较高频率下更快速进行创新的样品夹具－可以在仪器外进行样品准备和预装样品温度直接测量、同步SDTA技术－准确测定试样温度；采用纯金属进行温度校准极宽的刚度范围－可以用单个样品夹具在整个温度范围内进行测量热机械分析仪应用领域:聚合物(热塑性塑料、热固性树脂、弹性体、粘合剂和复合材料)、陶瓷、金属、其它粘弹性材料以及纤维、薄膜等。热机械分析仪主要型号: DMA/SDTA861到梅特勒托利多公司官网详细了解 DMA动态热机械分析仪查看更多信息咨询电话：4008-878-788

俄歇电子能谱仪（Auger Electron Spectrometer, AES）为微电子业常见的表面分析技术之一。原理是利用一电子束为激发源，使表面原子之内层能阶的电子游离出，原电子位置则会产生电洞，导致能量不稳定，此时外层电子会填补产生之电洞，进而释放能量传递至外层能阶电子，造成接受能量的电子被激发游离，游离的电子即为Auger电子。因其具有特定的动能，所以能依据动能的不同来判定材料表面的元素种类。PHI的710纳米探针俄歇扫描 提供高性能的俄歇（AES）频谱分析，俄歇成像和溅射深度分析的复合材料包括：纳米材料，催化剂，金属和电子设备。维持基于PHI CMA的核心俄歇仪器性能，和响应了用户所要求以提高二次电子（SE）成像性能和高能量分辨率光谱。PHI的同轴镜分析仪（CMA）提供了同轴分析仪和电子枪的几何实现高灵敏度多角度广泛收集，以便完成三维结构图，在纳米级技术的发展这是最基础的。为了提高SE成像性能，闪烁探测器（Scintillator）已被添加以提高图像质量，另再加上数码按钮的用户界面再一次的提高了易用性。在不用修改CMA和仍维持俄歇在纳米分析的优势下，再添加了高能量分辨率光谱模式，使化学态分析的可能再大大的提高。总括来说，700Xi以优越的俄歇纳米探针从世界ling先的俄歇表面分析仪器，提供了实用和成熟的技术，以满足纳米尺度所需要的广泛实验与研发的用途。同轴电子枪和分析几何和高级的俄歇灵敏度：710的场发射电子源提供了一个高亮度而直径小于6 nm的电子束以产生二次电子成像。710的同轴几何使用了“同轴式分析器（CMA）”，促使高灵敏度俄歇通过广泛角度收集进行分析，即使样品是表面平滑或复杂的形状或高表面粗糙度，都可以确保迅速完成所有分析程序。高稳定性成像平台：隔声外壳与振动隔离器提供更稳定的成像和分析。隔声外壳从真空控制面板降低频率范围从30赫兹到5K赫兹左右的20 dB的声压等级（SPL），稳定的温度大约降低系统造成SEM图像漂移。新的振动隔离器也减少了地面振动对扫描电镜图像和小面积分析的影响。增强的SE图像用户界面：PHI710增强SE成像性能，闪烁器检测器（Scintillator）已被添加在仪器上从而提高图像质量，加上数码按钮的用户界面更再次提高了使用的方便性。新的高分辨率光谱模式：随着PHI的新技术，能量分辨率可调从0.5%到0.05%。多种化学物质的状态可以更容易有效的被观察出来。PHI SmartSoft-AES用户界面：PHI SmartSoft是一个操作仪器上为用户的需要而着想的软件界面。该软件是任务导向型和卷标在顶部的显示指引用户通过引入样品，分析点的定义，并设置了分析。多个位置分析可以定义和zui佳范例的定位提供了一个强大的“自动Z轴调整”的功能。在广泛使用的软件设置，可让新手能够快速，方便地设置了测量，并在未来可以轻易的重复以往或常用的类似测量。

仪器简介：我们的精密反视图LEED光学器件采用全UHV结构，不使用玻璃纤维或聚合物涂层线束。提供全系列型号和选项，包括低电流 （nA、pA） MCP 型号。所有光学器件均采用 4 网格结构以实现 AES 兼容性。采用 4 网格钨光学元件的精密结构微型直径1.59厘米的电子枪103度可用视角0.5% 能量分辨率提供可伸缩光学元件（标准 2 英寸和最大 4 英寸缩回）安装法兰具有集成的视口和电气贯穿件完全兼容 UHV（不使用聚合物涂层或玻璃纤维绝缘布线）低噪声、高性能俄歇电子元件，带集成锁相放大器用于 pA 和 nA 电流电平的 MCP 版本完整的选项范围，包括薄型快门、CCD 相机和软件、6 英寸和 8 英寸外径法兰型号

仪器简介：美国专利 日本技术 90%市场占有率 是金属/半导体材料研发和故障分析的有力工具。空间分辨率高，信息深度5纳米以内技术参数：俄歇电子能谱仪 &bull He以上所有元素纳米（约5nm）表面定性/表面定量/亚表层以及深度方向信息 1） 成分 2） 图像 3） DETECT LIMIT 0.1% 4） 最小束斑 6纳米 5） 仪器型号PHI 700 清华，宝钢2004，2005年购买 6） 报价 不含税100万美金主要特点：He以上所有元素纳米（约5nm）表面定性/表面定量/亚表层以及深度方向信息

PHI公司的PHI710扫描俄歇纳米探针是一台设计独特的高性能的俄歇电子能谱（AES）仪器。该设备能分析纳米级特征区域,超薄薄膜和多层结构表界面的元素态和化学态信息。作为高空间分辨率,高灵敏度和高能量分辨率的俄歇电子能谱仪, PHI 710可以为用户提供纳米尺度方面的各种分析需求。 PHI710主要特点：l SEM分辨率≤ 3 nm, AES分辨率≤ 8 nm在俄歇能谱的采集分析过程中，包括谱图，深度剖析及元素分布像，需要先在SEM图像上定义样品分析区域，必然要求束斑直径小且稳定。PHI 710的SEM图像的空间分辨率优于3nm,AES的空间分辨率优于8nm(@20kV,1nA),如下图所示：l 图2则是关于铸铁韧性断裂的界面分析，左边是SEM图像,中间是钙、镁、钛的俄歇成像,右边则是硫的俄歇成像,这充分证明了PHI 710在纳米级尺度下的化学态的分析能力。l 同轴筒镜分析器（CMA）：PHI 公司电子枪和分析器同轴的几何设计,具有灵敏度高和视线无遮拦的特点,满足了现实复杂样品对俄歇分析全面表征能力的需求。如上图所示,所有俄歇的数据都是从颗粒的各个方向收集而来,成像没有阴影。若设备配备的不是同轴分析器,则仪器的灵敏度会降低,并且成像有阴影,一些分析区域会由于位置的原因,而无法分析。如果想要得到高灵敏度,只能分析正对着分析器的区域。如下图所示,若需要对颗粒的背面,颗粒与颗粒之间的区域分析,图像会有阴影。l 俄歇能谱仪的化学态成像：l 图谱成像PHI710能从俄歇成像分析的每个像素点中提取出谱图的相关信息,该功能可以实现化学态成像。l 高能量分辨率俄歇成分像下图是半导体芯片测试分析,测试的元素是Si。通过对Si的俄歇影像进行线性最小二乘法拟合（LLS）,俄歇谱图很清楚的反映出了三个Si的不同化学态的区域,分别是：单质硅、氮氧化硅和金属硅,并且可以从中分别提取出对应的Si的俄歇谱图,如最下方三张图所示。l 纳米级的薄膜分析如下SEM图像中,以硅为衬底的镍的薄膜上有缺陷,这是由于退火后,在界面处形成了硅镍化合物。分别在缺陷区域和正常区域设定了一个分析点,分析条件为高能量分辨率模式下（0.1%）,电子束直径20nm,离子枪采用0.5kV设定,如下图所示:在MultiPak软件中,采取最小二乘拟合法用于区分金属镍和硅镍化合物,同样区分金属硅和硅化物。可以看出,硅镍化合物仅存在于界面处,而在镍薄膜层和硅衬底中都不存在。但是,在镍涂层的缺陷处,发现了硅镍化合物。 l PHI SmartSoft-AES用户界面：PHI SmartSoft是一个从用户需求出发而设计的软件。该软件通过任务导向的方式指引用户导入样品,定义分析点,并设置分析条件,可以让新手快速,方便地测试样品,并且用户可以很方便的重复之前的测量。 l PHI MultiPak 数据处理软件：MultiPak软件拥有最全面的俄歇能谱数据库。采谱分析,线扫描分析,成像和深度剖析的数据都能用MultiPak来处理。软件强大的功能包括谱峰的定位,化学态信息及检测限的提取,定量测试和图像的增强等。 l 选配件： 1. 真空室内原位样品泊放台； 2. 原位脆断； 3. 真空传送管； 4. 预抽室导航相机； 5. 电子能量色散探测器（EDS）； 6. 电子背散射衍射探测器（EBSD）； 7. 背散射电子探测器（BSE）； 8. 聚焦离子束（FIB）；l 应用领域： • 半导体器件:缺陷分析、蚀刻／清洁残余物分析、短路问题分析、接触污染物分析、界面扩 散现象分析、封装问题分析、FIB器件分析等。 • 显示器组件:缺陷分析、蚀刻／清洁残余物分析、短路问题分析、接触污染物分析、接口扩 散现象分析等。 • 磁性存储器件:表面多层、表面元素、界面扩散分析、孔洞缺陷分析、表面污染物分析、磁 头缺陷分析、残余物分析等。 • 金属、合金、玻璃及陶瓷材料：表面沉积物分析、清洁污染物分析、晶间晶界分析等。

PHI公司的PHI 710扫描俄歇纳米探针是一台设计独特的高性能的俄歇电子能谱（AES）仪器。该设备能分析纳米级特征区域,超薄薄膜和多层结构表界面的元素态和化学态信息。作为高空间分辨率,高灵敏度和高能量分辨率的俄歇电子能谱仪, PHI 710可以为用户提供纳米尺度方面的各种分析需求。 PHI710主要特点：SEM分辨率≤ 3 nm, AES分辨率≤ 8 nm在俄歇能谱的采集分析过程中，包括谱图，深度剖析及元素分布像，需要先在SEM图像上定义样品分析区域，必然要求束斑直径小且稳定。PHI 710的SEM图像的空间分辨率优于3nm,AES的空间分辨率优于8nm(@20kV,1nA),如下图所示：图2则是关于铸铁韧性断裂的界面分析，左边是SEM图像,中间是钙、镁、钛的俄歇成像,右边则是硫的俄歇成像,这充分证明了PHI 710在纳米级尺度下的化学态的分析能力。同轴筒镜分析器（CMA）： PHI 公司电子设备和分析器同轴的几何设计,具有灵敏度高和视线无遮拦的特点,满足了现实复杂样品对俄歇分析多方面表征能力的需求。如上图所示,所有俄歇的数据都是从颗粒的各个方向收集而来,成像没有阴影。若设备配备的不是同轴分析器,则仪器的灵敏度会降低,并且成像有阴影,一些分析区域会由于位置的原因,而无法分析。如果想要得到高灵敏度,只能分析正对着分析器的区域。如下图所示,若需要对颗粒的背面,颗粒与颗粒之间的区域分析,图像会有阴影。 俄歇能谱仪的化学态成像：图谱成像PHI710能从俄歇成像分析的每个像素点中提取出谱图的相关信息,该功能可以实现化学态成像。高能量分辨率俄歇成分像下图是半导体芯片测试分析,测试的元素是Si。通过对Si的俄歇影像进行线性小二乘法拟合（LLS）,俄歇谱图很清楚的反映出了三个Si的不同化学态的区域,分别是：单质硅、氮氧化硅和金属硅,并且可以从中分别提取出对应的Si的俄歇谱图,如第三行三张图所示。纳米级的薄膜分析如下SEM图像中,以硅为衬底的镍的薄膜上有缺陷,这是由于退火后,在界面处形成了硅镍化合物。分别在缺陷区域和正常区域设定了一个分析点,分析条件为高能量分辨率模式下（0.1%）,电子束直径20nm,离子设备采用0.5kV设定,如下图所示:在MultiPak软件中,采取小二乘拟合法用于区分金属镍和硅镍化合物,同样区分金属硅和硅化物。可以看出,硅镍化合物只存在于界面处,而在镍薄膜层和硅衬底中都不存在。但是,在镍涂层的缺陷处,发现了硅镍化合物。 PHI SmartSoft-AES用户界面：PHI SmartSoft是一个从用户需求出发而设计的软件。该软件通过任务导向的方式指引用户导入样品,定义分析点,并设置分析条件,可以让新手快速,方便地测试样品,并且用户可以很方便的重复之前的测量。 PHI MultiPak 数据处理软件：MultiPak软件拥有多方面的俄歇能谱数据库。采谱分析,线扫描分析,成像和深度剖析的数据都能用MultiPak来处理。软件强大的功能包括谱峰的定位,化学态信息及检测限的提取,定量测试和图像的增强等。 选配件： 1. 真空室内原位样品泊放台； 2. 原位脆断； 3. 真空传送管； 4. 预抽室导航相机； 5. 电子能量色散探测器（EDS）； 6. 电子背散射衍射探测器（EBSD）； 7. 背散射电子探测器（BSE）； 8. 聚焦离子束（FIB）；应用领域： &bull 半导体器件:缺陷分析、蚀刻／清洁残余物分析、短路问题分析、接触污染物分析、界面扩散现象分析、封装问题分析、FIB器件分析等。 &bull 显示器组件:缺陷分析、蚀刻／清洁残余物分析、短路问题分析、接触污染物分析、接口扩散现象分析等。 &bull 磁性存储器件:表面多层、表面元素、界面扩散分析、孔洞缺陷分析、表面污染物分析、磁头缺陷分析、残余物分析等。 &bull 金属、合金、玻璃及陶瓷材料：表面沉积物分析、清洁污染物分析、晶间晶界分析等。

仪器简介：microCMA是一种俄歇光谱圆柱镜分析仪，专为许多不需要AES映射功能的俄歇分析应用而设计，这些应用包括以下分析：薄膜元素组成样品清洁度金属部件热氧化物轻元素表面薄膜的量化microCMA操作简单，易于维护，提供完整的定量表面敏感元素俄歇电子 （AES） 分析仪包，安装在 2.75“/70 mm CF 法兰上。对于元素分析，microCMA比独立的XPS系统便宜得多。完整的AES系统包括圆柱镜分析仪（带有集成的同轴电子枪），USB接口控制器以及Windows采集和数据软件。俄歇分析变得简单！基本配置：microCMA 分析仪、USB 接口控制器、带 15 英尺（4.6 米）电缆的前置放大器、数据采集软件以及手册。可选配件：XYZ转换器，9103 USB皮可安培计，CMA和前置放大器电缆的定制长度。独有的优异性能：紧凑的：适合 2.75“ / 70 mm CF 法兰（最小 1.52” / 38.6 mm 内径管）。现在只需一个分子泵和一个小型离子泵就可以建立一个俄歇光谱系统！成熟的设计：二阶聚焦提供了良好的透射率和分辨率。易于使用：USB控制和数据俄歇软件界面易于使用，使俄歇分析变得容易。功能强大：俄歇光谱（AES）是一种强大的表面敏感技术，可为您提供样品前几层单层的定量信息。microCMA的小直径使其能够安装在现有的沉积或分析室中。由于microCMA基于经典的圆柱形镜面分析仪设计，因此与较大的CMA相比，它具有相似的信噪比。基本上，microCMA收集的电子与较大的CMA相同 它只是收集靠近样品的电子。集成的 3 kV 电子枪简化了 CMA 与样品的对准。电子枪具有预热和调节等自动化功能。microCMA非常适合薄膜的元素表面分析和检查样品的清洁度CMapp Auger 软件提供对采集参数的全面控制，然后在采集后量化数据。应用说明和文章使用顺序表面反应在室温和 100 °C 下电子增强结晶氮化镓薄膜的生长 - Sprenger， Sun， Cavanagh， Roshko， Blanchard， George， 材料化学， U. Colorado - 2016具有二次电子噪声抑制功能的微型圆柱镜俄歇电子能量分析仪的设计与仿真 - Jay A. Bieber，南佛罗里达大学 - 2017在室温和100°C-Sprenger，Sun，Cavanagh，Roshko，Blanchard，George - J Phys Chem C纳米界面下氮化硼薄膜的电子增强原子层沉积。科罗拉多大学 - 2018俄歇电子能谱与微同步辐射X射线光电子能谱研究Ba-Sc-O解吸对W（100）$-孟彩霞的影响， 李轶凡， 吴浩， 魏伟， 宁艳晓， 崔毅， 傅强， 包新和 - 物理化学 化学物理 - 2018开发和测试离子束分析的原位方法，用于使用AIMS诊断pdf测量托卡马克内部的高Z侵蚀 - Leigh A. Kesler，麻省理工学院 - 2019氧化气氛中Pt（111）上h-BN覆盖层的结构转变）$- Mroz， Kordesch， Sadowski， Tenney， Eads - 真空科学与技术杂志，B.布鲁克海文国家实验室 - 2020SO2在石墨烯上的吸附和反应动力学：超高真空表面科学研究$- Stach，Johnson，Stevens，Burghaus - 北达科他州真空科学与技术杂志 - 2021通过电子增强原子层沉积对钴膜进行低温沉积的空心阴极等离子体电子源- Sobell1，Cavanagh1，鲍里斯，沃尔顿，乔治 - 真空科学与技术杂志，美国科罗拉多州，海军研究实验室 - 2021

在开发新材料及薄膜制程上，为了有助于了解材料组成间的相互作用及解决工艺流程的问题，材料组成或薄膜迭层的深度分析是非常重要的。PHI 4700使用了AES分析技术为基础，搭配灵敏度半球型能量分析器、10 kV LaB6扫瞄式电子枪、5 kV浮动柱状式Ar离子枪及高精密度自动样品座。针对例行性的俄歇纵深分析、微区域的故障分析，提供了全自动与及高经济效益的解决方法。PHI 4700是建基于Ulvac-Phi公司的高性能PHI 700Xi俄歇扫描纳米探针。它提供了高度自动化，低成本、高效益的方案进行例行俄歇深度分析和微米范围的故障分析。 PHI 4700可以轻易的配备上互联网的设备，以供远程操作或监控之用。全自动多样品纵深分析：PHI 4700薄膜分析仪在微小区域之纵深分析拥有jue佳的经济效益，可在SEM上特定微米等级之微小区域快速进行深度分析。图2显示长年使用的移动电话镀金电极正常与变色两个样品之纵深分析结果，两者材质皆为镀金之锡磷合金。从电极二（变色电极）可看到金属锡扩散到镀金膜上，因为界面的腐蚀而产生氧及锡导致电极变色。灵敏度半球型能量分析器：PHI 4700半球形能量分析器和高传输输入透镜可提供zui高的灵敏度和大幅缩短样品分析时间。除此之外，具有全自动的量测功能，此装置可在短时间内测量多个样品。 点选屏幕上软件所显示的样品座，可以记录欲量测的位置，对产品与工艺流程管理上之数据搜集可进行个别分析。10 kV LaB6扫瞄式电子枪：PHI的06-220电子枪是基于一个以LaB6为电子源灯丝以提供稳定且长寿命电子枪的工具，主要在氩气溅射薄膜时进行深度分析。06-220电子枪还可以：产生二次电子成像，俄歇测绘和多点分析。在加速电压调节从0.2至10千伏。电子束的zui小尺寸可保证小于80纳米。浮动柱状式Ar离子枪：PHI的FIG5B浮动柱状式Ar离子枪:提供离子由5伏到5千伏。大电流高能量离子束被用于厚膜，低能量离子束（250-500 V）用于超薄膜。浮动柱状式，确保高蚀刻率与低加速电压。物理弯曲柱会阻止高能量的中性原子，从而改善了溅射坑形状和减少对邻近地区的溅射。五轴电动样品台和Zalar方位旋转：PHI 15-680精密样品台提供5轴样品传送：X，Y，Z，旋转和倾斜。所有轴都设有马达及软件控制，以方便就多个样品进行的自动纵深分析。样品台提供Zalar（方位角）旋转的纵深剖析，利用旋转来降低样品在一个固定位置上的择优溅射，以优化纵深分析。PHI SmartSoft用户界面：PHI SmartSoft是一个被认同为方便用者使用的操作仪器软件。软件透过任务导向和卷标横跨顶部的显示指导用户从输入样品，定义分析点，并设定分析。多个分析点的定义和zui理想样品的定位是由一个强大的“自动Z轴定位”功能所提供。预存多样的操作设定，可让新手能够快速，方便使用。可选用配备：热/冷样品座样品真空传送管（Sample Transfer vessel）

1. 使用CMA通州分析器，同时实现高灵敏度和高传输率。即使在低电流高空间分辨率情况下，都可轻松的进行分析。2. 以20kV加速电压和电流1nA进行俄歇分析，AES空间分辨率可达≤8nm3. 在保有所有CMA的优点同时，并加上了获得AVS（美国真空协会）设计奖的高能量分辨率功能，可以AES进行各种纳米级区域的化学态分析4. Windows兼容软件 同轴筒镜分析高灵敏度和高通量分析仪CMA1.同轴筒镜分析仪同轴CMA是PHI公司在其电子光谱仪的中心轴上放置电子枪。CMA能各方面360度收集产生的俄歇电子，因此具有不受样品形貌和倾角影响的优点，下图显示同轴CMA和非同轴谱仪SCA的灵敏度特点。CMA从垂直入射到角度入射均能表现出高灵敏度特点，角度依赖性低，从而采用各种入射角度，分析各种形貌的样品均可得到好的定量结果。 △同轴CMA及非同轴分析器SCA灵敏度的比较 2.比较分析形态复杂的样本下图比较CMA和SCA所采集的铜锡球SEM成像，以及俄歇成分像，SCA中俄歇成分图的阴影效果非常明显，而CMA所获得的SEM像和俄歇成分像可准确地反映真实结果。 △球状样品中CMA和SCA数据的比较SEM空间分辨率≤3nmAES成分像空间分辨率≤8nm 俄歇分析通过SEM观察确定分析位置，再进行采谱，成分分布成像和深度剖析。在SEM观察时需要细小的聚焦电子束斑，同时进行俄歇分析，需要非常稳定的电子束。SEM成像分辨率可达3纳米左右，AES710使用低噪声电源（图1），采用隔音罩以减小震动、声音和温度的影响，AES分析时分辨率可达到8nm（20kV 1nA）图2案例：球墨铸铁断面中晶间杂质的分析。图2所示：二次电子像，Ca（蓝色）Mg（绿色）Ti（红色）俄歇成分像，以及S的俄歇成分分布像，表明了AES纳米级微区的化学分析能力。 AES化学态分析图谱和分布像PHI710 AES成分像，每个像素点对应的图谱可对元素存在的化学态进行解析，进而化学态成像。高能量分辨率下图显示半导体芯片电极Si KLL的高能量分辨率成分分布图。由Si KLL谱进行 小二乘法拟合（LLS）得出三个主要成分：硅、氮氧化硅、金属硅化物，可得到这三种硅的化学态在同一表面的分布像。 △半导体芯片电极分析实例 基于Windows系统的操作软件和数据处理软件SmartSoftTM-AES（操作软件）SmartSoft AES是在Windows系统上运行的PHI710控制软件。软件设置的AES分析操作流程显示在屏幕上，即便是初学者也可以轻松掌握。为提高分析效率，实时测量位置，SEM图、俄歇分布图及谱图等都能同事呈现。Zalar旋转功能使深度剖析灵活实现，烘烤和真空控制自动化。下图是操作屏幕画面。 PHI MultiPakTM（数据分析软件）提供分析软件PHI MultiPak使俄歇分析更完善。支持快速创建报告，并提供了基于WINDOWS系统的易于使用的数据处理功能和数据分析能力。

MICROLAB350 - 俄歇电子能谱仪是一款高性能的，具有高灵敏度和高能量分辨率扫描俄歇电子能谱仪（AES）。 SEM分辨率7纳米和扫描俄歇映射（SAM）分辨率12纳米。

米歇尔露点仪 型号：EA2-TX-100在气体和液体中，测量露点、水分含量和微水含量一系列露点仪探头。范围从*干的环境下 (-120°Cdp) 到高湿度环境下测量，露点较高达到+60°C，我们的探头可在多种领域中应用，进行可靠的测量。我们的本安型和隔爆/防火型传感器适用于多种危险场合。米歇尔仪表在设计、制造，校验湿度传感器方面有超过40年的经验，拥有一系列的技术。我们不断投资研究项目，以便提高我们湿度传感器的技术。其中包括一系列广泛使用，经过现场验证的露点传感器。产品简介EA2-TX-100露点变送器的设计理念就是简单易用，它集成的特色都是为尽量简化安装和使用服务的。该完全设置并校准的变送器 让露点测量变得和温度及压力测量一样容易，可以直接接入到您的压缩空气或气体管理及控制系统中。亮点两线制电源回路连接露点单位或 ppm 湿气含量单位IP66 (NEMA 4)优异的传感器防护量程 -100 ~ +20°C工作温度 -40 ~ 60°C响应速度技术指标性能露点量程 -100 ~ +20°C 露点露点精度 ±2°C 露点响应时间 T95为5分钟 (从干到湿)重复性 0.5°C 露点输入/输出输出信号 4-20 mA (两线) 有源输出，全量程可自定义露点 -100 ~ + 20°C或者0-3000 ppmV（ppmV 输出或者非标准输出量程必须在下单时注明）电源电压 12–28 V DC电阻负载 250 Ω @ 12 V 500 Ω @ 24 V电流消耗 20mA电源波动影响 ±0.005% RH/V工况要求工作温度 -40 ~ +60°C工作湿度 0–** RH工作压力 较大 45 MPa (450 barg)流量 1 ~ 5 Nl/min， 安装于标准采样套筒内；0 to 10m/sec， 直接插入式温度系数 工作温度范围内已作温度补偿机械性能密封防护等级 IP66 相对应的标准 BS EN 60529:1992；以及 NEMA 4 相对应的标准 NEMA 250-2003外壳材质 不锈钢尺寸 L=132mm x ?27mm；Mounting Thread 5/8" - 18 UNF重量 150g

PCIe 协议分析仪 PGY-PCIeGen3/4-PA 是Prodigy公司推出最新款的PCIe 协议分析仪，支持最高 PCIe Gen4 速度，轻松覆盖2.5、5.0、8 和 16GT/s物理信号捕捉并译码，记录数据事件轨迹和自动生成测试报告，满足工程师研发和测试要求。此外，Prodigy提供在源端与终端间使用interposer方案，方便用户焊接。 PCIe Gen4 协议分析仪的软件支持传输层数据包 (TLP)、数据链路层数据包以及 LTSSM 信息的完整解码以及错误分析。主要参数PCIe Gen1/2/3/4-X4 协议解码和错误分析。目前支持四通道总线， PCIeGen1/2/3/4速率。主动式 M.2 支持PCIe Gen4 主动式 M.2 连接器/内插器标准产品。无源 M.2 支持无源 M.2 连接器插入器，速度高达 PCIe Gen3。前端焊接型探针，支持速度高达 PCIe Gen3 (8Gbps)TS1、TS2、TLP、DLLP 数据包的协议解码。基于硬件的TS1、TS2 和 IDLE 协议包含过滤功能。基于软件的搜索、过滤功能，涵盖所有协议层。基于硬件的协议感知触发功能。高级/多级 if-then-else if 的触发功能。标准缓冲区大小为 16GB，可扩展至 64GB，用于 TX 和 RX。支持 TS1、TS2、TLP 和 DLLP 数据包触发且用户可对数据包编辑。每个 TLP/DLLP 的详细视图。PCIe 协议流量的 LTSSM 分析。支持不同触发条件的每个段的内存分段 1。提供的触发输出信号，允许触发其他仪器，例如示波器。支持 USB 3.0 连接主机系统。解码后的数据包可以以 .txt 文件导出。PGY 协议分析仪重量轻，便于携带。可现场升级使该仪器，轻松维护最新功能集。

DP/eDP Analyzer协议分析仪支持目前业界最新的DP2.0/eDP V1.5 的总线协议分析，支持各种丰富的协议层问题定位及验证的测试场景，支持标准SMA接口，高速主动探头（Active Probe），DP Repeater, Type-C Repeater等测试场景。Introsepct是目前全世界首款能够同时支持DP/eDP V1.4规格的协议分析仪设备并提供针对系统级debug Active Probe方案的厂商。透过DP/eDP协议分析仪可以对DP/eDP协议沟通命令进行解密，通过协议分析仪软硬件平台的设置，分析仪即能完整的抓取DP/eDP介面上，所有命令及送图的内容，支持PSR/PSR2等功能，包含所有DP/eDP协议的封包和解译封包内容，CRC, 及支持还原成完整的图片，节省大量人力及产品兼容性问题debug的时间及人为的错误发生。

RFFE协议分析器（PGY-RFFE-EX-PD）是具有多种功能的协议分析器，可在主机和设计中捕获和调试通信。 RF 前端控制接口 （RFFE） 串行总线接口正在成为控制 RF 泡沫端设备的选定。 有各种各样的前端设备，如电源放大器 （PA）、低鼻放大器 （LNA）、滤镜、开关、电源管理模块、天线调谐器。 它广泛应用于移动设备。 PGY-RFFE-EX-PD 是领先的仪器，它使设计和测试工程师能够通过配置 PGY-RFFE-EX-PD 作为主/奴隶来测试 RFFE 接口的规格，从而产生具有错误注入能力、振幅变异和解码 RFFE 协议解码数据包的 RFFE 流量。 产品功能如下： • 支持RFFE2.0 / 2.1规格 • 能够将其配置为主或从站 • 以全速速度生成不同的RFFE，全频速度 • 诸如奇偶校验错误和ACK / NACK错误的注释 • 变量RFE数据速度 • 同时产生总线的流量和协议解码 • 协议解码总线的时序图 • 协议活动列表的列表 • 协议解码中的错误分析 • 能够以少量数据速度组合多台数据帧生成的能力来写入练习脚本 • USB2 / 3主机接口 • 灵活性升级到演变截止手册的单位 欧奥电子是Prodigy在中国区的官方授权合作伙伴，Prodigy MPHY, UniPro, UFS 3.1/4.0 总线协议分析仪测试解决方案不会收到EAR进出口方面的管制。 同时还有代理其他总类的协议分析仪，包括嵌入式设备用的eMMC5.0/5.1 SDIO协议分析仪, QSPI协议分析仪及训练器, I3C协议分析仪及训练器, RFFE协议分析仪及训练器等等。 我司还有代理SPMI协议分析仪及训练器, 车载以太网分析仪，以及各种相关的基于示波器的解码软件和SI测试软件。同时，欧奥电子也有提供高难度焊接，以及高速信号，如UFS，DDR3/DDR4，USB type C等高速协议抓取和分析的服务。

公司研发的 EMS-300 型非道路机械在线监测仪是专门针对非道路机械设计的在线 式尾气远程诊断系统。系统安装于尾气排放管上，集成颗粒物传感器、氮氧化物传感器（选配）和 GPS 定位，对非道路机械排放尾气中的 NOx 、颗粒物等污染物浓度进行实时监测及分析，数据直接通过 4G 网络传输至环境监测云端平台，能客观准确的反应出机动车非道路机械尾气的排放情况信息。自主研发的非道路机械远程监控监测系统平台对每辆非道路机械的数据 进行精确分析、统计、存储、警示，也可在手机 APP 端展现至车主显示查询。产品特点 1.采用光学法，与国标法一致； 2.光学模块一体化设计，克服光纤易断裂问题； 3.内置大流量双气泵，保护光路系统免受尾气污染； 4.响应速度快，测量精度高； 5.安装方便快捷，即装即用，自动校准； 6.定位精度在 5m 内，同时支持 GPS、北斗定位双模块； 7.实时监测非道路移动机械行驶轨迹和工作状态，为监管提供数据支撑； 8.具有智能报警功能，禁止达不到排放标准的工程机械进入限行区域； 9.性能稳定，免维护。规格参数 测量因子 不透光度 光吸收系数 颗粒物浓度 氮氧化物浓度 测量范围 0~99% 0~65m-1 0~65mg/m3 1~1500ppm 分辨率 0.1% 0.001m-1 0.001mg/m3 1ppm 测试间隔：0.4s定位精度：5 工作环境：-20℃~40℃，5~95%RH 工作功率：10W 输出接口：CAN 总线接口 通讯协议：SAE J1939

eSPI 电气验证和协议解码软件提供 eSPI 规范中指定的电气测量合规性测试和协议解码。 PGY-eSPI 电气验证和协议解码软件在泰克示波器中运行，单击按钮即可提供电气测量和协议解码。 这使工程师能够快速检查 eSPI 合规性和灵活性以调试故障。 除此之外，工程师还可以对eSPI的命令和响应进行解码，对通信进行调试。PGY-eSPI利用MSO的数字通道，提供eSPI数据线的解码。特征 PGY-eSPI 软件支持以下功能： 使用模拟通道进行单模、双模和四模分析的电气测量和协议解码 使用数字通道在单、双和四模式下进行协议解码 所有信号的可定制参考和迟滞选择 可自定义的限制设置，用于所有测量的通过/失败验证 基于不同数据速率的可定制限制 能够以 CSV 和 txt 格式存储 eSPI 协议数据和电气数据 报告生成 .wfm 和 .csv（数字）文件的离线分析

梅特勒-托利多的动态热机械分析仪DMA/SDTA861e 创立了市场的新标准。 与传统 DMA 仪器相比，该仪器拥有全新而独特的性能优势：测量可以模拟材料在真实条件下进行，频率范围最高可达 1000 Hz，并且可以通过专用力的传感器进行精确地模量测定。 力的范围宽，从 1 mN 至 40 N 允许测量非常软到非常硬的样品。频率范围宽，从 0.001 Hz 至 1000 Hz — 这说明，可以在实际条件下测量，或在更高频率条件下更快速测量。很宽的温度范围– 在一次测量中，温度范围可从 -150 °C 至 500 °C动态热机械分析仪DMA/SDTA861e技术参数温度范围 -150...500 ?C应力范围 0.001...40 N位移范围 ±1.6 mm频率范围 0.001...1000 Hz刚度范围 10...108 N/m模量范围 102...1012 PaTan d范围 0.0001...100模式 对数和线性扫描多重频率扫描(连续)多重频率扫描(同时)

品名：一次性PE靴套高筒加厚塑料鞋套防水防疫鞋套材质：主要成份PE。尺寸：约40*46cm保质期：3年颜色：蓝色、透明装箱：500只/箱产品特点：防水，防油，防尘，广泛运用于医疗防护，清洁卫生，穿戴方便，经济实用。并且耐酸耐碱，可用于化验检验，工农业防护。可有效保护好衣服，皮肤不受伤害。应用：医务人员在医疗机构中使用，防止接触到具有潜在感染性的患者血液、体液、分泌物等，起阻隔、防护作用，家用户外使用。特点：质轻、无毒、无气味、穿戴方便起订量：1000双

Introspect在2016年所推出的SV3C是业界第y款能同时支持MIPI C-PHY与D-PHY的协议分析仪并支持CSI-2 / DSI-2封包解译，兼具体积小与高性能的特性，是SoC、Camera与Display领域的IC设计、系统整合、验证测试以及应用工程师，在进行MIPI发射机与协议层验证除错时，不可缺少的仪器。产品特色：弹性的硬件扩充能力，单机可支持MIPI C-PHY与D-PHY讯号撷取以及CSI-2与DSI-2的封包解译。搭配主动式探棒，可以完整且可靠的抓取DSI-2、CSI-2封包，进行协议层验证及除错。支持CSI-2 V1.3/V2.0，DSI-2 v1.0/1.1z新版本的协议译码，并持续更新到z新的测试规范。内建硬件CRC计算与封包错误率测试(Packet Error Rate)，可以进行长时间的发射机稳定度测试，提高测试测试涵盖率与产品质量。弹性且灵活的Python软件环境，可依照测试的需求，搭配设备所提供的GPIO脚位，进行自动化的测试与分析。 分析仪内建完整的MIPI接收机，支持动态LP与HS终端阻抗的切换，让分析仪可以在任何的传输速率下进行封包的撷取。在系统级的验证环境下，搭配主动式探棒可以在对测试平台信号影响z小的情况下，完整地将总线上的讯号撷取下来，并且进行协议分析。

SolidGear是全q排名l先的SD/SDIO/eMMC协议分析仪测试解决方案的厂商，目前业界主流的从事SD/SDIO/eMMC接口界面开发及测试验证的厂商均有在广泛的使用SolidGear的产品，SolidGear同时也是SDA联盟g方认可并t荐的用于SD/SDIO协议符合性测试的厂商。型号：SGDK330B SolidGear提供的SGDK330B是一台协议分析仪，可以让工程师去抓取和分析SD、SDIO和eMMC总线上的协议状态与性能。SGDK330B 提供简单又方便的用户接口Application software on Windows PC 是非常容易使用的并且方便使用者去看LOG檔SGDK330B是对任何开发SD/SDIO/eMMC产品的z佳分析仪[SD card ver3.00][SDIO card ver3.00]- 1bit/4bit/8bit- UHS-I (208MHz)- 2KB block length / interrupt[eMMC ver5.1]- 1bit/4bot/8bit- HS200/HS400

全球市场占有率排名第一的总线协议分析仪测试设备，业界唯一一家能够提供精确的硬件自动Tuning程序的分析仪厂商，支持Auto Tune的功能，当eMMC利用HS200或是HS400高速模式存取资料时，可透过Auto Tune的机制，SolidGear的协议分析仪可以自动且快速的找到CMD, RSP and DAT0-7与CLK在时序上的时间延迟，以避免抓到CRC Error. SolidGear的协议分析仪在进行Auto Tune程序时，计算时序的时间准确精度为78ps.

这款小型，经济高效的工业烤箱以其可靠的性能与水平气流，可提供出色的温度均匀性，是应用的理想选择。其中有多层产品排列可以使空气从一侧到另一侧水平流动。这款经济型烘箱采用Blue M的单程气流系统，允许进入的空气通过加热器和工作室仅一次，如果需要，可以快速冷却或快速排出无害烟雾。Blue M ESP 400系列机械对流烘箱的优点水平气流是实现热稳定性，快速启动和冷却速率的理想选择一次性气流系统可实现快速，高质量的产品结果LED显示屏可轻松读取设定值和处理变量警报系统保护过热发生并自动断开加热器Blue M ESP 400系列机械对流烘箱的特性RKC RF100温度控制器离心式鼓风机轮可调进气和排气风门可调式货架--镀镍电线类型，具有7个货架位置玻璃纤维绝缘降低了皮肤接触设备时的温度重型门--双层隔热结构耐腐蚀，不锈钢（304型）内部全焊接的重型外型，采用厚实的增强型冷轧钢在表面用白色粉末珐琅漆烤制而成，经久耐用每个烘箱都已完全组装，并经过了单独的工厂测试标配用于接地故障保护的断路器易于阅读的数字液晶显示屏增强的PID控制单设定点自动调整算法以计算适合的设定点和斜率有助于消除温度过高和过低的情况使用CB100L或CB900L FM批准的具有独立传感器和电源的控制器的过热保护标准Blue M ESP 400系列机械对流烘箱的参数温度范围：室温+15°C 到260°C(500°F)均匀度：设定值的±1%分辨率：±0.1°C工作空间容量：2.8立方英尺启动时间达到260°C：240 VAC时20分钟208 VAC时30分钟120 VAC时60分钟均匀度：Blue M可以提供不同程度的均匀度；如果您必须满足特定的公差或规格要求,请与我们联系，以确保您的设备经过设计、测试和调整以满足这些要求可选的烘箱选项镀镍线材架玻璃观察面板落地支架圆图记录仪能够垂直堆叠两个单元的堆叠框架Eagle Signal B856型数字过程计时器24小时/ 7天数字计时器-Grasslin FM1D图表记录器备用温度控制器-Partlow 1166和1160备用过热保护-Partlow 1161+上限控制器具体规格显示分辨率：1°C预热时间至260°C(空载/无排气)：* 在240V 20分钟* 在208V 30分钟* 在120V 60分钟*在额定电压下进气和排气关闭时空腔的性能。电气（满载电流）设备表面处理内部尺寸外部尺寸120 v 60赫兹(16.5安培)已喷涂19 x 15 x 18英寸480 x 380 x 450毫米32 x 24 x 37英寸800 x 610 x 940毫米208 v 60赫兹(13.5安培)已喷涂19 x 15 x 18英寸480 x 380 x 450毫米32 x 24 x 37英寸800 x 610 x 940毫米240 v 60赫兹(15.5安培)已喷涂19 x 15 x 18英寸480 x 380 x 450毫米32 x 24 x 37英寸800 x 610 x 940毫米*所有规格如有更改，恕不另行通知。

加拿大Introspect推出业界l先的能同时支持eDP和DP的总线协议分析仪测试解决方案，支持多通道及DP/Edp V1.4 8.1Gbps的Data rate并支持向下兼容, 支持数据封包解译及强大的触发功能，兼具体积小与高性能的特性，是SoC与Display领域的IC设计、系统整合、验证测试以及应用工程师，在进行DP/eDP发射机与协议层验证除错时，不可缺少的仪器。

EC150开路CO2/H2O气体分析仪（涡动相关）Campbell公司生产的EC150开路涡动协方差观测系统（涡动相关）是一款研究级的开路气体分析仪，设计主要用于涡动协方差通量监测系统。作为一个标准的、独立的分析仪，可以测量二氧化碳-概密度以及水汽密度、空气温度、大气压力。通过可以选择的三维超声风速仪，EC150也可以测量三维风速，以及超声空气温度。EC150开路涡动协方差观测系统（涡动相关）优点：※ 纤细的空气动力学形体*小化了风扭曲和机体加热带来的影响※ *佳的浓度分析仪和分测量仪※ 低功耗——适用太阳能板供电方案※ 低噪声※ 可以容忍的窗口污染物EC150开路涡动协方差观测系统（涡动）特点※ 无需加热控制即可得到测量的温度补偿※ 分析仪与超声风速仪同步测量※ 集成的分析仪与超声风速仪安装支架※ 分析仪和超声风速仪测量通过电子部件实现临时同步※ *大输出频率为50Hz，25Hz带宽※ 窗口有一定角度用于导水※ 耐用、现场可标定※ 工厂标定CO2、H2O、大气压力和空气温度的测量范围※ 庞大的诊断参数用于可疑数据报警※ 兼容Campbell公司的数据采集器，可以现场直接完成设置、配置、归零等EC150输出Ux (m/s)；Uy (m/s)；Uz (m/s)；超声温度（℃）；超声诊断；CO2密度(mg/m3)；H2O密度(g/m3)；气体分析仪诊断；环境温度（℃）；大气压力（kPa）；CO2信号强度；H2O信号强度；辅助热敏电阻（℃）；仪器温度（℃）；红外源使用寿命（小时）EC150开路涡动协方差观测系统（涡动相关）技术性能参数：工厂标定范围CO2：0 - 21800mg/m3 (0 - 1000 ppm)H2O：0 - 38 g/m3 (-60 – 35℃)环境温度：-30 – 50℃大气压力：75 – 101.5kPa供电：6W（稳定状态和启动） @ 10 – 16Vdc气体分离路径/超声波音量：6cm路径长度：15.37cm基本测量频率：150Hz输出频率：5 – 50Hz，用户编程选择输出带宽：5,10,12.5,20或25Hz，用户编程选择输出信号：SDM，RS-485，USB，2个16位DAC用于CO2和 H2O (0 - 5 Vdc)辅助输入：空气温度和大气压力噪声RMS（*大值）：CO2，0.2 mg/m3(0.109 μmol/mol)；H2O，0.00350 g/m3(0.00468 mmol/mol)CO2温度测量零点漂移（*大值）-30 - 15℃：±0.15 mg/m3/℃(±0.0820 μmol/mol/℃)15 - 35℃：±0.25 mg/m3/℃(±0.137 μmol/mol/℃)35 - 50℃：±0.3 mg/m3/℃ (±0.164 μmol/mol/℃)温度测量总漂移（*大值）-30 - 35℃: ±0.3 mg/m3/℃ (±0.164 μmol/mol/℃)35 - 50℃: ±0.4 mg/m3/℃(±0.219 μmol/mol/℃)增益漂移（*大值）：±0.1%读数/℃H2O灵敏度（*大值）：5.6 x 10-5 molCO2 /molH2OH2O温度测量零点漂移（*大值）-30 - 0℃: ±0.01 g/m3/℃ (±0.0.0134 mmol/mol/℃)0 - 50℃: ±0.005 g/m3/℃ (±0.00668 mmol/mol/℃)温度测量总漂移（*大值）15 - 45℃: ±0.01 g/m3/℃ (±0.0134 mmol/mol/℃)增益漂移（*大值）：±0.15%读数/℃CO2灵敏度（*大值）：±0.05 molH2O/molCO2重量和尺寸传感器和电缆重量：2千克电子机箱重量：3.2千克传感器头部直径：3.2cm传感器长度：29.7cm电缆长度：3米，传感器至控制箱电子机箱尺寸： 24.1 cm x 35.6 cm x 14 cm工作环境温度：-30 – 50℃订购信息通量传感器EC150 CO2和H2O开路气体分析仪-GH 仅气体分析仪-SH CSAT3A和气体分析仪-BB 基本型大气压力计-EB 增强型大气压力计运输箱#26394 EC150运输箱，无发泡塑料内嵌009505-002 CSAT3A 运输箱，无发泡塑料内嵌电缆CABLEPCBL 两芯16AWG电缆，山都平护套，EC150供电电缆CABLE4CBL 四芯22AWG带屏蔽电缆，山都平护套，连接EC150电子机箱的SDM或者模拟量输出连接器CABLE5CBL 五芯24AWG带屏蔽电缆，三度平护套，推荐用于EC150和MD485通讯模块连接大气压力-BB 基本型大气压力计制造商：Freescale MPXA6115A总精度：±1.5 kPa (0 - 85℃)-EB 增强型大气压力计总精度：±0.15 kPa (-40 - 60℃)

秒准卸氨泵联动氨水浓度监控仪MAY-3001EX智能氨水密度浓度在线监控仪防爆氨水在线密度浓度计、在线氨水浓度计、在线氨水浓度检测仪、在线氨水浓度测试仪、在线氨水浓度监控仪、防爆型在线氨水密度浓度计、卸氨泵联动氨水浓度监控仪氨水，又称阿摩尼亚水，是氨的水溶液，无色透明且具有刺激性气味。工业氨水是含氨25%～28%的水溶液，氨水中仅有一小部分氨分子与水反应形成一水合氨，是仅存在于氨水中的弱碱。氨水，指氨的水溶液，有强烈刺鼻气味，具弱碱性。氨水中，氨气分子发生微弱水解生成氢氧根离子及铵根离子。“氢氧化铵”这个名称并不十分恰当，只是对氨水溶液中的离子的描述，并无法从溶液中分离出来。氨在水中的电离可以表示为：反应平衡常数Kb=1.8×105。1mol/L氨水的pH值为11.63，。氨水是实验室中氨的常用来源。它可与含铜离子的溶液作用生成深蓝色的配合物，也可用于配置银氨溶液等分析化学试剂。主要用途：用作农业肥料。化学工业中用于制造各种铵盐，有机合成的胺化剂，生产热固性酚醛树脂的催化剂。纺织工业中用于毛纺、丝绸、印染行业，作洗涤羊毛、呢绒、坯布油污和助染、调整酸碱度等用。另外用于制药、制革、热水瓶胆（镀银液配制）、橡胶和油脂的碱化。一、工作原理：本设备通过光在不同浓度的液体中产生的折射率不同，设备内置的传感器将接收到的感光信号先转换为折射率，再经过一定的浓度转换算法计算出不同液体的浓度值和密度值。市面上采用密度法原理转换氨水浓度的设备容易受气泡影响，且没有完善的温度补尝算法，测量误差较大，秒准MAY-3001EX-NH光学浓度计不仅不易受气泡影响，且内置温度补偿，改进了密度法测量氨水浓度误差大的缺点，能够更加准确的实时监测氨水浓度值，并且内置折射率、温度、密度、浓度的转换数据库，测量更加准确，实现实时在线监控氨水浓度、密度值。二、设备简介：秒准卸氨泵联动氨水浓度监控仪MAY-3001EX，不仅可以应用于化工厂，还可以应用于氨水卸氨过程中，实现对卸氨过程中的氨水浓度进行实时监控，还能与卸氨泵通信，同时计算出整个卸氨时间内氨水的平均浓度值，并将开始卸氨时间、卸氨时长、氨水平均浓度三个数据保存到设备的历史记录中。历史记录数据可以分页查看，也可以检索当前或前一天的数据，所有数据均可通过U盘导出。秒准卸氨泵联动氨水浓度监控仪MAY-3001EX既可以作为一个独立的系统完成氨水的浓度实时检测，也可以作为一个附加的功能模块与用户现场设备集成。设备可以通过有线/无线传输的方式，接入用户设备的PC、DCS 、PLC系统，数据可采用模拟量、数字量、开关量三种输出方式。系统的浓度探头测量光源寿命可长达10万小时，可以保证设备拥有一个较长使用寿命，同时探头内置了温度传感器，可以对浓度检测数据进行实时温度补尝，以保证浓度检测更为精准。三、秒准卸氨泵联动氨水浓度监控仪MAY-3001EX规格参数表：品牌、型号、品名：秒准（Mayzum）MAY-3001EX-NH智能氨水在线密度浓度监控仪浓度测量范围：0.0 ~ 35.0%浓度测量精度：0.1%密度测量精度：0.001g/cm³ 适用温度：0-80℃温度精度：0.1℃温度补偿：自动温度补偿，0-60℃测量参数：实时浓度、实时密度、实时温度、实时折射率、平均浓度、卸氨起始时间、卸氨时长历史记录保存条数：100条（可拓展32GB）外形尺寸：防爆显示控制器：L300×W200×H150mm，壁挂孔距：350×150mm安装方式：探头：卡箍、螺纹、法兰显示控制器（变送器）：分离式壁挂/嵌入式安装探头触液部分材质：316L不锈钢（另有哈氏合金可选购）输入电源：DC 24V 2A信号输出：£ 4-20mA、RRS485/232数字量、£ 开关量（异常报警,上下限2路输出）耐压、防护等级：1MPa、IP67防爆等级：Ex ia IIB T6 Ga整机净重：≈1550g标准配置：显示控制器1台、浓度测量探头1只、1.5寸卡盘式探头安装底座1套其他选项：多点数据集中采集系统、MAY-LOT无线数据远传功能特殊标度：非标定制，按客户需求建立数据模型四、秒准卸氨泵联动氨水浓度监控仪MAY-3001EX特点描述：1、安装方式灵活、体积小巧，安装方式多样化，可选卡箍/法兰/螺纹安装；2、不受介质颜色、浊度、粘度、气泡、固体杂质、结晶体的影响，不受液体压力变化、流量突变、湍流现象影响；3、出厂附带标定证书，内置温度补偿，即装即用，无需现场校准，也不需要定期校准；4、由现场的卸氨泵控制设备浓度检测的启停；5、所有的用户设置参数保存在设备内置的NAND Flash高速存储器中，掉电不丢失；6、内置探头自动诊断功能，对于有可能出现的故障一目了然；7、自动记录实时浓度、平均浓度、卸氨起始时间、卸氨时长；8、自动保存历史记录，支持U盘、SD卡外置存储器，可扩展至32GB的外置存储空间；支持sqlite数据库，可以保存十万条历史数据数据；9、可通过无线/有线远传功能实时远传至中控室PLC、PC、DCS等上位机系统；通过PC远程查看实时状态与报警。（需选配MAY-LOT数据远传模块）；10、采用分体式设计，测量探头安装用户管道或槽体上，显示控制器可以壁挂或嵌入设备电控柜上，性价比高，非常适合自动化设备集成商在安装空间不足的工况下使用；11、标配多组信号模拟输出：可选4-20mA、RS485/232数字量、开关量（异常报警,上下限2路输出），便于客户集成控制，提高自动化程度，提高生产效率；12、内置温度补偿数据库，克服了单片机内存小，温度补偿范围受限制的缺点；温度传感器与浓度探头集成，紧贴测量介质，保证温度补偿及时、准确、可靠；13、采用4.3寸触屏人机交互界面，显示内容更详细，彩色界面，操作便利，可拓展性强，可按用户需求定制功能；14、采用智能化芯片，运行无需试剂耗材，功耗低，探头内部光源寿命可长达10万小时，稳定性高，使用寿命长；连续测量，迅速反馈，消除人工检测误差，不再需要人工频繁取样检测，节省大量人力财力，自动记录每次卸氨的浓度值，便于溯源。

型号：76-B4442，76-B4432用途：CONTROLS马歇尔自动击实仪具有ASTM和EN两个版本可以选择，两个版本的设备在组件细节方面略有差别。标准规范：AASHTO R68, ASTM D6926 , EN 12697-30, JTG E20 T0702CONTROLS马歇尔自动击实仪具有ASTM和EN两个版本可以选择，两个版本的设备在组件细节方面略有差别。ASTM版本的击实仪具有木质底座，击实锤质量：4536±9g，锤击速度55±5次/分；EN版本的击实仪在木质底座下还有混凝土底座（450×450×200mm），击实锤质量4535±15g，锤击速度50次/（55-60s） CONTROLS的击实仪只能击实直径101.6mm的标准马歇尔试件，不能用于击实直径152.4mm的大马歇尔试件。 ASTM版本 EN版本 订购信息 76-B4442，ASTM版标准马歇尔自动击实仪。击实锤重量：4536±9g，落锤高度457±3mm，锤头直径98.5mm，锤击频率55±5次/分。主机不含试模，需要额外订购。外观尺寸：385×470×1867mmmm，电源：220V，50Hz，单相电 76-B4432，EN版标准马歇尔自动击实仪。击实锤重量：4535±15g，落锤高度457±3mm，锤头直径98.5mm，锤击频率50次/（55-60s）。主机不含试模，需要额外订购。外观尺寸：540×556×2066mm，电源：220V，50Hz，单相电 76-B4000/CB，隔音防护罩，可以将噪音降低到76分贝，外观尺寸：850×670×2200mm 76-B0057，标准马歇尔试模套装，内径101.6mm，高度87.3mm，ASTM和EN标准通用。 76-B0060，直径101.6mm的衬纸，100张/包16-T0080，50kN通用脱模器，适用于直径100mm，101.6mm，150mm和152.4mm的各种试件脱模。 可选备件76-B0057/1，试模底座76-B0057/A2，试模76-B0057/A3，套筒

热机械分析仪型号：TMAQ400/Q400EMQ400EM是一款高性能、研发级的热机械分析仪(TMA)，它的操作模式、测试探头、工作夹具都具有无可比拟的灵活性，增强模式后，Q400EM除了TMA基本测试，还能进行瞬态(应力/应变)、动态和调制TMATM(MTMATM)实验，实现更为完整的粘弹性材料表征，并可以解析重叠热效应(MTMA)。 Q400拥有与Q400EM相同的基本性能和数据可靠性，但是没有最新的高阶EM特征，是研发、教学和质量控制的理想工具。 TMA原理 / 操作模式：★TMA是在设定的力、气氛、时间和温度的条件下测量材料的形变。施加力可采用压缩、弯曲或拉伸的形变方式 ★TMA测量材料固有的性质(如热膨胀系数、玻璃化转变温度、杨氏模量)等，以及工艺/产品性能参数(如软化点)。这些参数均具有广泛的应用价值，它们既可通过Q400也可通过Q400EM获得。 ★Q400和Q400EM操作模式允许进行多种材料性质的测量。Q400配备标准模式，而Q400EM能额外提供应力/应变、蠕变、应力松弛、DTMA和MTMATM模式的测量。

一、仪器简介：DMA 242E Artemis 配备易于使用的 Proteus 测量与分析软件，能够快速而方便地表征材料的动态热机械性能与频率、温度、时间的关系。DMA 242E Artemis 为模块化的设计，可以配备冷却系统，以及多种多样的样品支架，甚至包括更多的特殊配置，这使得它可以适应非常广阔的应用范围，成为各类实验室的理想选择。DMA 242E Artemis 为下挂式装样设计，装样操作方便，易于更换不同种类的支架。DMA 242E Artemis 可选配超过 30 种不同种类与规格的样品支架，能够为不同样品的测试提供最佳测试方法。DMA 242E Artemis 可以通入惰性或氧化性气氛，流量精确可控，可为测量提供优化的热传递环境。DMA 242E Artemis 可配备两种不同的冷却系统：液氮系统可线性冷却至 -170℃，带 vortex 管的压缩空气冷却系统能够冷却到 0℃。可控最大力范围达到 24N（静态力 12N，动态力 12N），适合于非常坚硬样品的测量。若将量程限定在 4N 静态力和 4N 动态力范围内，则分辨率将进一步提高。20-mm 行程的步进电机能够精确测量出样品在 DMA 测试过程中的长度变化。这对 DMA 242E Artemis 支持的各类静态模式测试非常重要，如蠕变，松弛和 TMA 模式。二、技术参数： 温度范围：-170℃ … 600℃ 升温速率：0.01 … 20 K/min 频率范围：0.01 … 100 Hz 最大力范围：24N（静态力12N，动态力12N） 高分辨率力范围：8N（静态力4N，动态力4N） 可控应变范围：± 240 μm 静态形变：最大 20 mm 模量范围：10-3 … 106 MPa 阻尼范围（tgδ）：0.005 … 100 可选冷却设备：- 液氮冷却- 带 vortex 管的压缩空气冷却，最低冷却至 0℃ 形变模式：- 3 点弯曲- 单双悬臂- 剪切- 拉伸- 压缩 / 针入 额外的测量模式：- TMA 模式- 蠕变/松弛- 应力 / 应变扫描模式 样品形状：取决于具体的形变模式（比如三点弯曲，最大的样品尺寸为：长 60mm，宽 12mm，厚 5mm） 可选附件：- 浸入式样品容器- 水蒸汽发生器- 紫外设备- 介电分析仪（DEA）三、软件功能：DMA 242 E - 软件功能DMA 242E Artemis 的测量与分析软件是基于 MicroSoft Windows 系统的 Proteus 软件包，它包含了所有必要的测量功能和数据分析功能。这一软件包具有极其友善的用户界面，包括易于理解的菜单操作和自动操作流程，并且适用于各种复杂的分析。Proteus 软件既可安装在仪器的控制电脑上联机工作，也可安装在其他电脑上脱机使用。DMA 部分软件功能： 可从众多的 DMA 参数（如储能模量，损耗模量，损耗因子，长度变化...）中选择多个参数，以对数或普通坐标显示。Y 轴最多支持四根，参数（曲线）显示数量不限。 测量参数（如：作用力、位移、振幅、偏移量等）可以对时间、温度或频率作图。 数据点标示功能。 可显示长度变化曲线，并计算线性膨胀系数。 根据 WLF 方程进行外推计算得到主曲线。 转变活化能计算。 Cole-Cole 图。 松弛／蠕变模式的力/形变量-时间图谱（选件）。 应力／应变扫描模式的力-振幅图谱（选件）。 3D 图谱功能四、相关附件：适用于各种应用的样品支架DMA 242E Artemis 适用于各种样品的测试，不管是液体、高填充热固性树脂，还是金属和陶瓷。要获取准确的结果，需要针对不同的材料应用选择最合适的测试条件。因此，耐驰公司开发了多种多样的样品支架、配件和测量模式，选择面非常丰富。

概要Campbell的EC150是一个独立的红外CO2/H2O气体分析仪，专为涡动相关通量测量而设计，如上图所示，其与CAST3A三维超声风速仪共同使用，这两部分组成了一套开路涡度系统同步测量CO2，H2O，空气温度，大气压力，三维风速和超声空气温度。优点与特点? 单一光路配置使其具有流线形体，将空气动力学的影响减至最小程度? 红外气体分析仪和超声风速仪共用一套电子信号处理系统，实现同步测量? 低能耗，可使用太阳能供电? 无需加热，测量时温度补偿? 低噪，精度高? 最大输出频率60Hz, 20Hz带宽。? 允许窗口轻度污染? 窗口斜角设计，避水效果好? 坚固耐用适于野外? 经过综合实践，CO2，H2O，大气压和温度的出厂校准具有较宽范围? 多种诊断参数? 与Campbell数据采集器充分兼容：现场设置，配置，零点和跨度校正均可通过直接连接数据采集器完成? 超声速度：由三个声频路径确定，修正交叉风的影响? 防雨：创新的超声信号处理和声频发射接收头吸水防雨网相结合极大地改进了降雨过程中的风速计性能