显微专用双折射分布观察偏振相机

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  • 400-860-5168转4764
    公司成立于2010 年,专业代理欧美(美国、加拿大、德国、英国、瑞士等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供一流的光学检测解决方案及包括售前、售中和售后在内的全方位服务。主要包括: 光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、可调相位延迟波片等; 激光检测产品:激光功率计、能量计、光束质量分析仪、THZ 探测器等; 其他产品:集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等;显微系统所需的XYZ 电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps 门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。 近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪,CRD光腔衰荡法高反测量仪,偏心曲率测量仪等产品,相关指标达到国际先进水平。
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  • 400-860-5168转3086
    欧屹科技,是一家以光电产品为核心业务的专业代理商和服务商,以我们多年的行业经验,为客户引进国外先进的光电器件,光电仪器,光电系统等优良设备,并提供专业的技术支持和售后服务!例如:光学检测设备有日本Photonic lattice的应力双折射仪、椭偏仪、偏振相机等;日本Lasertec的激光加白光的双光共聚焦显微镜;日本ARMS的无掩膜光机。半导体相关设备有NDS6寸和12寸自动划片机、冈本研磨机等等。业务范围涵盖国内各著名高校、中国科学院、信息产业部、航空工业总公司所属各研究单位及相关领域内的大型公司。我们具有丰富国际贸易经验;我们努力协调各方面的行动,力争让用户在最短的时间内收到仪器;我们以全体用户的利益为重,尽最大努力把欧屹科技建设成为值得您信赖的公司。
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  • 北京飞凯曼科技有限公司为多家国内外高科技仪器厂家在中国地区代理商。飞凯曼科技公司一贯秉承『诚信』、『品质』、『服务』、『创新』的企业文化,为广大中国用户提供最先进的仪器、设备,最周到的技术、服务和完美的整体解决方案。在科技日新月异、国力飞速发展的中国,光电技术、材料科学、光电子科学与技术、半导体等等领域,都需要与欧美发达国家完全接轨的仪器设备平台来实现。飞凯曼科技公司有幸成长在这个科技创造未来的年代,我们愿意化为一座桥梁,见证中国科技水平的提升,与中国科技共同飞速成长。主要产品: 1.飞秒激光元件飞秒激光反射镜、飞秒激光透视镜、飞秒激光棱镜、飞秒偏振光学器件、飞秒非线性激光晶体2.非线性光学和激光晶体BBO晶体, LBO晶体, KTP晶体, KDP晶体, DKDP晶体, LiIO3晶体, LiNbO3晶体, MgO:LiNbO3晶体, AGS晶体 (AgGaS2晶体), AGSe晶体 (AgGaSe2晶体), ZGP (ZnGeP2) 晶体, GaSe晶体, CdSe晶体等。Nd:YAG晶体, Nd:YVO4晶体, Nd:KGW晶体, Nd:YLF晶体, Yb:KGW晶体, Yb:KYW晶体, Yb:YAG晶体, Ti:Sapphire晶体, Dy3+:PbGa2S4晶体等晶体恒温炉、晶体温控炉等3.普克尔斯盒及驱动KTP普克尔斯盒、DKDP普克尔斯盒、BBO普克尔斯盒、高重复频率普克尔斯盒驱动和高压电源、低重复频率普克尔斯盒驱动和高压电源、普克尔斯盒支架等4. Nd:YAG激光器元件Nd:YAG激光反射镜、Nd:YAG激光棱镜、Nd:YAG激光窗口、Nd:YAG激光偏振片、Nd:YAG激光晶体等5.激光器和激光器模块连续半导体激光器、连续DPSS激光器、调Q DPSS激光器、超快光纤激光器等6.光学元器件光学材料、光学镀膜、介质镜、金属镜、激光器窗口、棱镜、光学滤光片、光学柱面镜、偏振镜、紫外和红外光学元件7.光学整形系统高斯光转平顶光光束整形系统、扩束镜、F-Theta镜(聚焦镜)、望远镜、可调激光衰减器、可变光圈、精密空间滤光片、束流捕捉器8.光学精密位移机构防震桌、光学支架、光学导轨、固定座、光学固定、光学定位、传输和定位台、自动定位和控制器等9.半导体激光器高功率半导体激光器、波长稳定的半导体激光器、单频半导体激光器、光纤耦合半导体激光器、光纤激光器、波长可调谐单频激光器10.铒玻璃掺铒磷酸盐激光玻璃、铒玻璃、铒镱共掺激光玻璃、1550nm激光器、人眼安全激光器11. DPSSL激光谐振腔设计软件和数据库12. F-P扫描干涉仪13.应力测试仪日本UNIOPT公司应力双折射测量系统、光弹性模量测试系统、应力测试系统、磁光克尔效应(MOKE)测试仪、薄膜残余应力测试仪。应力双折射测试仪、应力测试仪、应力分析仪、偏振相机14.精密划片机日本APCO公司手动精密划片机、自动精密划片机。日本NDS公司半自动自动划片机、贴膜机、UV解胶机、清洗机、晶圆划片(切割)刀、电畴划片刀、陶瓷划片刀、金属烧结划片刀、树脂划片刀等15.材料表征仪器霍尔效应测试仪、变温霍尔效应测试仪、低温霍尔效应测试仪、塞贝克效应测试仪、低温探针台、变温探针台、椭偏仪联系电话:010-57034898,15313084898 邮箱地址:info@pcm-bj.com
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  • 显微专用双折射分布观察偏振相机PI-micro双折射分布观察相机PI-micro,是为显微观测专门开发的偏振相机。可以方便轻松地获取量化的偏振信息。PI-micro产品列表型号水平分辨率垂直分辨率数据接口彩色/黑白帧频/行频PI-micro1120868GigEColor20fpsPI-micro产品应用:偏振分析三维分析光场分析
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  • 双折射显微成像系统 400-860-5168转2831
    双折射显微成像系统所属类别: ? 光学检测设备 ? Hinds偏振成像设备所属品牌:美国Hinds Instruments公司 产品简介双折射显微成像系统 生物组织/材料 双折射分布显微成像系统 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统 可以精确测量多个波长下生物样本/材料双折射分布,并配合CCD多个像素元形成详细细致分布。结合不同组织的双折射偏振特性,可以用来分析检测生物样品/材料特定。 偏振显微成像系统、显微偏振成像系统、偏振显微镜、偏振成像、双折射显微成像 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统,Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以精确测量多个波长下生物样本/材料双折射分布,Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统也可以并配合CCD多个像素元,从而Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以详细细致的显示这个分布。结合不同组织的双折射偏振特性,Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以用来分析检测生物样品/材料特定。 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以配合多个波长实现多波长扫描的实现和应用(三波长或者四波长)。Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统在配合高速偏振调制成像和CCD多像素计算方案有着独到的解决技术。 产品特点? 不需要荧光/染料标记? 支持客户需求定制光谱扫描? 支持客户需范围求点/面/线成像? 同一幅面内双折射分布/强度分布/偏振角分布成像可选? 三色(可到2400nm谱段)四色(可到3500nm谱段成像)可选 相关产品 磁光克尔效应测量系统 成像型穆勒矩阵测量系统
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  • 双折射应力仪 400-860-5168转3086
    PHL双折射测量仪PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪概述: 日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术,并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分:n 光子晶体光学元件;双折射和相位差评价系统;膜厚测试仪;偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点:操作简单/快速测定:独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能:二维数据的强大分析功能,能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力(WPA系列):通过对三组不同波长的测量数据进行计算,WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数,在蓝宝石,SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷,会直接影响到其产品性能,故缺陷的检出和管理,是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止,产线上的缺陷管理,多是使用偏关片,以目视方式进行缺陷检查。但是,这样的检查方式,因无法将缺陷定量化,当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时,就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T,将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来,φ8inch晶圆仅需5分钟,即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估,提高生产品质的稳定性。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点: 使用PA-110-Rasterscan软体,操作简单,可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据,以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测,因不受视觉影像,连书面周边区域都可高精度测量。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理: l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时,光的偏光状态会产生变化(光弹性效果)。换句话说,比较光穿透物体前之后的偏光状态,即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器,使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成,能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件,能将双折射分布数据定量化,变成可以分析的资料。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标: 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网(摄像机信号),RS-232C电压电流AC100-240V(50/60Hz)软件PA-View
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显微专用双折射分布观察偏振相机相关的资讯

  • Photonic Lattice发布应力双折射测量仪新品
    在PA系类设备的基础上,加装晶圆专用的装置,可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数: 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm(西格玛)6视野尺寸40x48mm到240x320mm(标准)7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制创新点:测量速度可以快到3秒。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪
  • Photonic Lattice发布应力双折射仪 PA-300-MT新品
    主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒;视野范围内可一次测量,测量范围广;更直观的全面读取数据,无遗漏数据点;具有多种分析功能和测量结果的比较;维护简单,不含旋转光学滤片的机构 高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域:小尺寸样品专用光学镜头主要技术参数: 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm(西格玛)6视野尺寸17.5x21mm到33x40mm(标准)7选配镜头视野6.3x7.5mm8选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制测量案例:创新点:操作简单,测量速度可以快到3秒;视野范围内可一次测量,测量范围广;更直观的全面读取数据,无遗漏数据点;具有多种分析功能和测量结果的比较;维护简单,不含旋转光学滤片的机构 高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射仪 PA-300-MT
  • Photonic Lattice发布PA系列双折射测量仪新品
    PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 PA-300 主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域:光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅,蓝宝石等 技术参数:项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm(西格玛)6视野尺寸27x36mm到99x132mm(标准)7选配镜头视野低至7x8.4(扩束镜头)8选配功能实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制 测量案例:创新点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。PA系列双折射测量仪

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  • 【资料】“偏光显微镜法”观察“聚合物”球晶

    【资料】“偏光显微镜法”观察“聚合物”球晶

    聚合物的结晶受外界条件影响很大,而结晶聚合物的性能与其结晶形态等有密切的关系,所以对聚合物的结晶形态研究有着很重要的意义。聚合物在不同条件下形成不同的结晶,比如单晶、球晶、纤维晶等等,而其中球晶是聚合物结晶时最常见的一种形式。球晶可以长得比较大,直径甚至可以达到厘米数量级.球晶是从一个晶核在三维方向上一齐向外生长而形成的径向对称的结构,由于是各向异性的,就会产生双折射的性质。因此,普通的偏光显微镜就可以对球晶进行观察.因为聚合物球晶在偏光显微镜的正交偏振片之间呈现出特有的黑十字消光图形。偏光显微镜的最佳分辨率为200 nm,有效放大倍数超过500—1000倍,与电子显微镜、x射线衍射法结合可提供较全面的晶体结构信息。 球晶的基本结构单元是具有折叠链结构的片晶,球晶是从一个中心(晶核)在三维方向上一齐向外生长晶体而形成的径向对称的结构,即—个球状聚集体。 光是电磁波,也就是横波,它的传播方向与振动方向垂直。但对于自然光来说,它的振动方向均匀分布,没有任何方向占优势。但是自然光通过反射、折射或选择吸收后,可以转变为只在一个方向上振动的光波.即偏振光。—束自然光经过两片偏振片,如果两个偏振轴相互垂直,光线就无法通过了。光波在各向异性介质中传播时,其传播速度随振动方向不同而变化。折射率值也随之改变,一般都发生双折射,分解成振动方向相互垂直、传播速度不同、折射率不同的两条偏振光。而这两束偏振光通过第二个偏振片时。只有在与第二偏振轴平行方向的光线可以通过。而通过的两束光由于光程差将会发生干涉现象。 在正交偏光显微镜下观察,非晶体聚合物因为其各向同性,没有发生双折射现象,光线被正交的偏振镜阻碍,视场黑暗。球晶会呈现出特有的黑十字消光现象,黑十字的两臂分别平行于两偏振轴的方向。而除了偏振片的振动方向外,其余部分就出现了因折射而产生的光亮。如图2—1是共聚聚丙烯在145℃时的球晶照片。在偏振光条件下,还可以观察晶体的形态,测定晶粒大小和研究晶体的多色性等等。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/12/200812011816_121451_1604910_3.jpg[/img]

  • 偏光显微镜的工作原理

    偏光显微镜的工作原理

    偏光显微镜的工作原理: 一、单折射性与双折射性:光线通过某一物质时,如光的性质和进路不因照射方向而改变,这种物质在光学上就具有"各向同性",又称单折射体,如普通气体、液体以及非结晶性固体 若光线通过另一物质时,光的速度、折射率、吸收性和偏振、振幅等因照射方向而有不同,这种物质在光学上则具有"各向异性",又称双折射体,如晶体、纤维等。 二、光的偏振现象:光波根据振动的特点,可分为自然光与偏振光。自然光的振动特点是在垂直光波传导轴上具有许多振动面,各平面上振动的振幅分布相同 自然光经过反射、折射、双折射及吸收等作用,可得到只在一个方向上振动的光波,这种光波则称为"偏光"或"偏振光"。 三、偏光的产生及其作用:偏光显微镜最重要的部件是偏光装置----起偏器和检偏器。过去两者均为尼科尔(Nicola)棱镜组成,它是由天然的方解石制作而成,但由于受到晶体体积较大的限制,难以取得较大面积的偏振,近来偏光显微镜则采用人造偏振镜来代替尼科尔梭镜。 人造偏振镜是以硫酸喹啉又名Herapathite的晶体制作而成,呈绿橄榄色。当普通光通过它后,就能获得只在一直线上振动的直线偏振光。 偏光显微镜有两个偏振镜,一个装置在光源与被检物体之间的叫“起偏镜” 另一个装置在物镜与目镜之间的叫“检偏镜”,有手柄伸手镜筒或中间附件外方以便操作,其上有旋转角的刻度。 从光源射出的光线通过两个偏振镜时,如果起偏镜与检偏镜的振动方向互相平行,即处于“平行检偏立”的情况下,则视场最为明亮。反之,若两者互相垂直,即处于“正交校偏位”的情况下,则视场完全黑暗,如果两者倾斜,则视场表明出中等程度的亮度。由此可知,起偏镜所形成的直线偏振光,如其振动方向与检偏镜的振动方向平行,则能完全通过 如果偏斜,则只以通过一部分 如若垂直,则完全不能通过。因此,在采用偏光显微镜检时,原则上要使起偏镜与检偏镜处于正交检偏位的状态下进行。 四、正交检偏位下的双折射体:在正交的情况下,视场是黑暗的,如果被检物体在光学上表现为各向同性(单折射体),无论怎样旋转载物台,视场仍为黑暗,这是因为起偏镜所形成的线偏振光的振动方向不发生变化,仍然与检偏镜的振动方向互相垂直的缘故。若被检物体具有双折射特性或 含有具双折射特性的物质,则具双折射特性的地方视场变亮,这是因为从起偏镜射出的直线偏振光进入双折射体后,产生振动方向不同的两种直线偏振光,当这两种光通过检偏镜时,由于另一束光并不与检偏镜偏振方向正交,可透过检偏镜,就能使人眼看到明亮的象。光线通过双折射体时,所形成两种偏振光的振动方向,依物体的种类而有不同。 双折射体在正交情况下,旋转载物台时,双折射体的象在360°的旋转中有四次明暗变化,每隔90°变暗一次。变暗的位置是双折射体的两个振动方向与两个偏振镜的振动方向相一致的位置,称为“消光位置”从消光位置旋转45°,被检物体变为最亮,这就是“对角位置”,这是因为偏离45°时,偏振光到达该物体时,分解出部分光线可以通过检偏镜,故而明亮。根据上述基本原理,利用偏光显微术就可能判断各向同性(单折射体)和各向异性(双折射体)物质。[img=,450,391]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/04/201804181030140697_8566_3391505_3.jpg!w450x391.jpg[/img] 五、干涉色:在正交检偏位情况下,用各种不同波长[url=http://www.gengxu.cn]滤光片[/url]的混合光线为光源观察双折射体,在旋转载物台时,视场中不仅出现最亮的对角位置,而且还会看到颜色。出现颜色的原因,主要是由干涉色而造成(当然也可能被检物体本身并非无色透明)。干涉色的分布特点决定于双折射体的种类和它的厚度,是由于相应推迟对不同颜色光的波长的依赖关系,如果被检物体的某个区域的推迟和另一区域的推迟不同,则透过检偏镜光的颜色也就不同。

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  • TYDEX 可调太赫兹偏振转换器
    TYDEX可调太赫兹偏振转换器单色波片用于转换固定波长辐射的偏振。 由于这些波片仅以单一波长工作,在某些情况下,它们可能不便于使用,例如可调谐激光器。 合理的选择是可调谐偏振转换器(TWPC)。TYDEX开发了TWPC,用于在广泛范围内转换任何波长的辐射偏振。 仪器随附的专用软件可以计算转换参数和限制。一个TWPC单元由三块水晶石英双折射板组成。将每个板放置在允许完整的圆形旋转的旋转器中。三个旋转体刚性地固定在一个共同的基座上。该板将被旋转到特定的角度以实现所需的偏振转换。角度在提供的软件中计算。除了板角度,软件还可以计算延迟,有效的光轴和偏振度与波长的关系。调谐范围取决于TWPC参数。几个TWPC可以覆盖整个THz范围。TYDEX标准TWPC可以在以下模式下运行:?用于80-160μm范围内任何波长的半波单色板,?波长在150-300μm范围内的四分之一波长单色板,?120μm双折射滤光片。通过用FT分光计Bruker Vertex 70测量放置在两个偏振片之间的TWPC的透射光谱来测试TWPC操作模式。TWPC以不同模式运行的例子如下。1. TWPC作为80-160μm范围内的任何波长的半波单色板。TWPC作为120μm半波片进行测试。图1显示了使用平行偏振片计算和测量的TWPC透射光谱的比较。在120μm处几乎为零的透射率证实了在所选波长处的适当偏振转换。图1.计算和测量的TWPC透射光谱用作平行偏振片120μm的λ/ 22. TWPC作为四分之一波长单色板,适用于150-300μm范围内的任何波长。TWPC操作在四分之一波长模式下以220μm进行测试。图2示出了在下游偏振器的不同取向处计算和测量的TWPC透射光谱的比较。图2a。计算的TWPC透射光谱用作λ/ 4在220微米的在下游偏振片中的不同方位图2b。测得的TWPC透射光谱用作220μm处的λ/ 4在下游偏振片的不同方向上计算的透射率和测量的透射率都不取决于下游偏振器角度(轻微的结果变化是由于测量过程)。这意味着TWPC之后的辐射具有圆偏振,这证实了仪器在220μm处作为四分之一波片的正确操作。3. TWPC用作120μm双折射滤光片。TWPC放置在正交偏振片之间,以双折射滤光片模式工作。在计算和测量的光谱(图3)的120μm处的匹配峰证实TWPC在指定波长处作为双折射滤光片操作。图3.计算和测量TWPC透射光谱在交叉的偏振片之间请注意,偏振器不包含在TWPC中,可以单独提供。结果证实,TWPC证明了上述装置的基本性质。规格模式Operating range半波单色板Any wavelength within 80-160 μm range四分之一波长单色板Any wavelength within 150-300 μm range双折射滤光片120 μm孔径: 24 mm
  • 微型在线手动直插式无光纤偏振控制器 400–2200nm
    偏振控制器允许转换任何输入偏振到任何所需的输出极化。该设备结合了紧凑的尺寸和易使用的标准体光学系统低成本、低损耗和低背反射。控制器通过施加压力与可调节的夹钳。光纤上的压力会导致内部的双折射纤芯,使光纤充当分数波片。改变压力会改变快慢之间的延迟极化分量。夹具是可旋转的,允许一个改变施加应力的方向。这允许要实现的任何输出极化。这个过程很简单而且快的。输出极化超过 30dB 可以常规在几秒钟内实现。光纤偏振控制器与单模光纤一起工作任何波长。控制器不适用于多模或保偏(PM)光纤。用于多模和保偏光纤筱晓仍然提供其标准系列的偏振旋转器和分析仪(请参阅偏振旋转器/控制器/分析仪数据表)。所有光纤偏振控制器均提供三个版本。这在线偏振控制器可以插入到客户的自己的单模光纤。我们现在提供该装置的微型尺寸外壳,适用于空间至关重要的应用。可以使用与任何波长的单模光纤。在线版本是设计用于仅 250 微米和 400 微米夹套纤维。其次,还提供了适配器版本。这个版本是可用于任何尺寸的电缆或光纤,并且您可以选择连接器。最后,连接器插座式控制器是可用,使用以母头端接的一小段光纤插座。如需更多信息,请联系筱晓。工作波长400-2200nm技术参数产品特点• 无内在损失• 无背反射• 紧凑的尺寸 - 新:微型外壳• 使用方便• 波长不敏感• 低成本• 400–2200 nm 波长范围产品应用• 单模到保偏 (PM) 光纤发射• 偏振相关损耗 (PDL) 测量• 发射到极化敏感设备• 光纤干涉仪• OCT 系统技术参数型号:FPC-100-mini参数指标波长400-2200nm光纤直径250-400um改变方式应力改变实验测试:测试条件波长1300/1550nm温度22℃输入9/125/900输出9/125/900实验测试结果插入损耗<0.14dB输出功率(mW)N/A重复性Passed耦合效率(%)N/A后向反射(回波损耗)(dB)N/A消光比(dB)37应力测试(dB)N/APDL(dB)N/A
  • VPM400偏振光纤
    VPM400系列-偏振光纤量青光电代理的Verrillon VPM400系列光纤是基于椭圆包层设计的保偏光纤,这种光线展现出极高的双折射,在1550nm上拍长小于2mm。 VPM400光纤在1550nm上的衰减优于其他一般的PM光纤。这种光纤可以有多种设计跟工作波长,它的包层尺寸有50,80,125microns. 特征:l 优化的1550nm单波长应用l 圆芯l 椭圆包层设计提供高双折射率,从而会有极短的拍长。l 耐辐射l 可以是80um的包层直径。l 光纤陀螺l 光纤传感 span color:#922f5b "="" style="margin: 0px padding: 0px " 产品参数:
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