显微专用双折射分布观察偏振相机

显微专用双折射分布观察偏振相机PI-micro双折射分布观察相机PI-micro，是为显微观测专门开发的偏振相机。可以方便轻松地获取量化的偏振信息。PI-micro产品列表型号水平分辨率垂直分辨率数据接口彩色/黑白帧频/行频PI-micro1120868GigEColor20fpsPI-micro产品应用：偏振分析三维分析光场分析

双折射显微成像系统所属类别： ? 光学检测设备 ? Hinds偏振成像设备所属品牌：美国Hinds Instruments公司 产品简介双折射显微成像系统 生物组织/材料 双折射分布显微成像系统 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统 可以精确测量多个波长下生物样本/材料双折射分布，并配合CCD多个像素元形成详细细致分布。结合不同组织的双折射偏振特性，可以用来分析检测生物样品/材料特定。 偏振显微成像系统、显微偏振成像系统、偏振显微镜、偏振成像、双折射显微成像 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统，Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以精确测量多个波长下生物样本/材料双折射分布，Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统也可以并配合CCD多个像素元，从而Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以详细细致的显示这个分布。结合不同组织的双折射偏振特性，Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以用来分析检测生物样品/材料特定。 Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统可以配合多个波长实现多波长扫描的实现和应用（三波长或者四波长）。Hinds Instruments 公司的偏振显微/双折射显微成像系统在配合高速偏振调制成像和CCD多像素计算方案有着独到的解决技术。 产品特点? 不需要荧光/染料标记? 支持客户需求定制光谱扫描? 支持客户需范围求点/面/线成像? 同一幅面内双折射分布/强度分布/偏振角分布成像可选? 三色（可到2400nm谱段）四色（可到3500nm谱段成像）可选 相关产品 磁光克尔效应测量系统 成像型穆勒矩阵测量系统

PHL双折射测量仪PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪概述： 日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术，并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数，在蓝宝石，SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷，会直接影响到其产品性能，故缺陷的检出和管理，是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止，产线上的缺陷管理，多是使用偏关片，以目视方式进行缺陷检查。但是，这样的检查方式，因无法将缺陷定量化，当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时，就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T，将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来，φ8inch晶圆仅需5分钟，即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估，提高生产品质的稳定性。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点： 使用PA-110-Rasterscan软体，操作简单，可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据，以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测，因不受视觉影像，连书面周边区域都可高精度测量。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理： l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化（光弹性效果）。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标： 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View

双折射应力测量仪PA-110-T大面积应力双折射应力测量仪概述：日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数，在蓝宝石，SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷，会直接影响到其产品性能，故缺陷的检出和管理，是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止，产线上的缺陷管理，多是使用偏关片，以目视方式进行缺陷检查。但是，这样的检查方式，因无法将缺陷定量化，当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时，就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T，将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来，φ8inch晶圆仅需5分钟，即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估，提高生产品质的稳定性。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点： 使用PA-110-Rasterscan软体，操作简单，可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据，以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测，因不受视觉影像，连书面周边区域都可高精度测量。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理： l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化（光弹性效果）。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标： 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的最大面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View

PHL应力仪PHL应力双折射仪PHL WPA-100应力双折射测试仪器PHL应力双折射测试仪简介：PHL应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice 公司成立于1996 年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。Photonic Lattice主要产品分四部分：Photonic Lattice光子晶体光学元件；Photonic Lattice双折射和相位差评价系统；Photonic Lattice膜厚测试仪；Photonic Lattice偏振成像相机。Photonic Lattice双折射测量系统 WPA-100，WPA-100-LPhotonic Lattice WPA-100 系列产品可以测量的相位差达几千纳米的样品。Photonic Lattice WPA-100-L 可观察更大视野范围PHL WPA-100应力双折射测试仪主要参数表：型号 WPA-100 WPA-100-L测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 310x466x605.5mm 450x593x915.5mm观测到的最大区域 100x136mm 250x340mm重量 20kg 26kg数据接口 GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View适合树脂成型镜片检测系统WPA-100-S专为小镜头（10mm）双折射测量而设计配备自动选择圆形区域，相位差值传递失败判断功能，特别适合树脂镜片成型的质量控制。主要参数表型号 WPA-100-S测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 200x275x309.5mm观测到的最大面积 11.6x15.8mm自身重量和电源重量 4kg 和9kg电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View

在PA系类设备的基础上，加装晶圆专用的装置，可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

偏光显微镜可以观察岩石中不同矿物的晶体形态、解理、裂隙和包裹体等特征，以及岩石的显微构造和组分分布等。在地质学研究中，偏光显微镜是研究岩石微观结构和成分的重要工具之一。透反射偏光显微镜MHPL3230是利用光的偏振特性对具有双折射性物质进行研究鉴定的必备仪器,可供广大用户进行单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。透反射偏光物镜，无限远光学系统，透射光6V30W卤素灯、落射光6V30W卤素灯，配备5X,10X,40X,60X无应力偏光物镜。数码型偏光显微镜系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。反射偏光显微镜主要用于研究矿物的反射率、反射色、光泽等特性，常用于金属矿物和宝石学的观察和研究。观察和研究矿物的晶体形态、生长习性、内部结构和光学性质等，有助于矿物的分类和鉴别。偏光显微镜MHPL3230技术参数：1.标准配置型号MHPL3230目镜大视野 WF10X(Φ22mm)分划目镜10X(视场数Φ22mm) 格值0.10mm/格物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L5X/0.12 工作距离：26.1 mmPL L10X/0.25 工作距离：20.2 mmPL L40X/0.60（弹簧） 工作距离：3.98 mmPL L60X/0.75（弹簧） 工作距离：2.03 mm落射照明系统6V30W卤素灯，亮度可调起偏器可360°旋转检偏器可360&ring 旋转,带刻度和微动游标,内置视场与孔径光栏转换器四孔(转换器中心可调)中间接筒推入式勃氏镜补偿器λ , λ/4与石英锲补偿器目镜筒三目镜倾斜30&ring , 可进行100%透光摄影调焦机构粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm2.可选配件:名称类别/技术参数物镜无应力平场消色差物镜(无盖玻片)PL L 20X/0.40工作距离：8.80mmPL L50X/0.70（弹簧） 工作距离：3.68 mmPL L80X/0.80（弹簧） 工作距离：1.25 mmPL L100X//0.85(弹簧) 工作距离：0.4 mm转换器五孔 (内向式滚珠内定位)移动尺移动范围:30mmX25mmCCD接头0.4X0.5X1X0.5X带分划尺,格值0.1mm/格显微镜摄像头USB2.0MHD500USB3.0MHC600、MHD600、MHD800、MHD1600、MHD2000、MHS500、MHS900数码相机接头CANON(A570,A610,A620,A630,A640,A650,EF) NIKON( F)

WPA-100镜头双折射应力测试仪快速定量测量透明材料的应力双折射分布相位差、双折射和内部应力分布操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 小型镜头双折射分布測量系統WPA-100最适合用來检测手机镜头的双折射/相位差以雙折射/相位差結果為基準自動判定合格與否鏡片的雙折射現象，會造成鏡片的成像性能(MTF)下降。這是因為決定光線折射角度的折射率因入射偏光而呈現不穩定的狀態。智慧型手機所使用的鏡片需要高度解析度，因此減少雙折射現象，及掌控雙折射的數值，是製造智慧型手機鏡片時，不可缺少的動作。WPA-100-S正符合這樣的需求，並能以高速完成各項測量。 WPA-100小镜片双折射应力测试仪产品特点： 大的测试范围图表功能CSV格式输出快轴/慢轴可选择自动的合格与否判定 l 可升级至满足小于φ10mm的透镜的检测。l 自动选择图形区域和自动判定合格与否的功能。 WPA-100 小镜片双折射应力测试仪主要参数表：型号WPA-100-S测量范围0-4000nm重复性1.0nm像素数384x288（≒11万）pixels测量波长523nm,543nm,575nm产品尺寸200x275x309.5mm观测到的面积11.6x15.8mm自身重量和电源重量9kg和4kg电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件WPA-View (for WPA-100-S)

PHL应力双折射仪器PHL PA-micro显微型应力双折射仪PHL应力双折射仪器简介：应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。PHL应力双折射仪在显微镜下快速测量PA-Micro：型号PA-Micro测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸250x487x690mm观测到的最大面积5倍物镜：1.1x0.8mm 10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um 50倍物镜：110x80um 100倍物镜：55x40um.自身重量11kg数据接口千兆以太网（摄像机信号）电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View（for Micro）

PA-300-XL SIC主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域: SIC 蓝宝石技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数：项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数：项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片、手机镜头智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数：项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒；视野范围内可一次测量，测量范围广；更直观的全面读取数据，无遗漏数据点；具有多种分析功能和测量结果的比较；维护简单，不含旋转光学滤片的机构 高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域：小尺寸样品专用光学镜头主要技术参数： 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸17.5x21mm到33x40mm（标准）7选配镜头视野6.3x7.5mm8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制测量案例：

PA-300-L主要简介 PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板A4纸尺寸的样品技术参数： 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

普创paratronix_双折射偏光应力仪SG-03产品介绍：普创paratronix_双折射偏光应力仪SG-03采用高精度角度编码器测量角度， 测量数据直接显示在显示屏上，具有测量精度高、直观易 读、无需校准、绿色节能等优点，是替代传统度盘式应力仪的最佳选择。测试原理：玻璃制品应力检查仪是应用偏振光干涉原理检查玻璃内应力或晶体双折射效应的仪器。由于仪器备有灵敏色片，并应 用1/4波片补偿方法，因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序定性或半定量的测量玻璃的内应力，还可以准确的测 量出玻璃的内应力数值。产品特征：● 针对传统度盘式应力仪及数显应力仪进行了针对性改进，提高了测量精度和应用体验，具有测量精度高、无需校零及绿色节能等先进特点 ● 高精度测量： 本产品采用高精度绝对式角度编码器进行测量， 测量精度优于2nm ● LED显示屏双数值显示：显示窗采用高清晰 LED 显示屏，可同时显示测量角度及光程差数值， 用户可直观获得所需数据， 测量直观易读 ● 暗视场无需校准。采用了绝对式编码器， 偏振场的暗视场总是处于零角度点， 因此无需用户校对零点，避免了人为校对暗视场造成的误差 ● 绿色节能：采用更加节能环保的LED光源，相对传统光源节能80%以上 ● 产品模块化设计，符合人体工程学操作，便于维护和维修技术参数：测量精度 ±2nm 复零误差 ±2nm 光程差示值 0.1nm 角度示值 0.1゜ 偏振场直径 150mm 视场光亮度 120cd/m2 检偏镜旋转角度 360°（±180°） 偏振场间距调整范围 150-330mm 光源 LED 色温 3500K 功率 ＜8W 电压 AV 220V 50Hz 体积 270 L * 290 D * 530 H(mm) 重量 ＜8kg产品标准：● GB/T 4545 《玻璃瓶罐内应力检验方法》 ● GB/T 12415 《药用玻璃容器内应力检验方法》 ● GB/T 15726 《玻璃仪器内应力检验方法》● JC/T 655 《石英玻璃制品内应力检验方法》 ● YBB00162003 《国家药品包装容器（材料）方法标准 内应力测定法》 ● ASTM C148 (Standard Test Methods for Polariscopic Examination of ● Glass Containers)（玻璃容器偏振镜检查的试验方法）普创paratronix_双折射偏光应力仪SG-03 普创paratronix_双折射偏光应力仪SG-03

主要简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量LIVE实时输出双折射的信息OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 技术参数: 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸350mm7宽度方向测量点2560

主要简介： 汽车车窗玻璃幅面很大，一般桌面式测量双折射/残余应力测量仪无法测量，扫描测量由非常慢，无法满足实际使用，因此Photonic Lattece研制出超大幅面的WPA双折射测量仪，会根据客户样品定制大型圆偏振光光源系统，实现大幅面样品的高速测量。设备在日本的汽车厂商得到广泛应用。主要特点： 解决汽车车窗玻璃等大幅面产品的双折射/残余应力测量。测量速度快，可满足玻璃工厂研发或质量控制测量。采用523nm,543nm,575nm三种波长，相位差测量范围高达3000nm。采用广角偏振面阵传感器，一次得到测量结果。专用操作软件，功能强大，操作简单，便于做分析比较和品质判断。 主要参数：测量案例：

主要简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。 主要特点：STS的低配版，可升级STS 。 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 技术参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长543nm（支持客制化）3双折射测量范围0-260nm（支持客制化）4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量尺寸A4(标准)7定制选项可定制大载台

应力仪 双折射测量系统 应力测量 应力双折射 应力测试 应力检测 玻璃应力 birefringence Hinds Instrument Hinds仪器 双折射（应力）测量系统-EXICOR OIA 最早的双折射测量系统是透镜、平行面、 曲面光学的倾斜角度评估。Hinds Instruments 的ExicorOIA是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsrtuments 获奖光弹调制器（ PEM）基于Exicor双折射测量技术。新一代的双折射测量系统为该行业提供了分析和开发下一代光刻透镜、透镜毛坯和高价值精密光学的新能力。该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。利用这些数据可以对双折射、快速轴向和理论残余应力进行评估。在国际领先的平板透镜和己完成透镜的研究和生产中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技术被用于评估光学双折射。我们的系统是无与伦比的！了解更多产品信息以及价格请联系北京昊然伟业光电科技有限公司！

关键词：应力仪 双折射测量系统 应力测量 应力双折射 应力测试 应力检测 玻璃应力 birefringence Hinds Instrument Hinds仪器 双折射（应力）测量系统-EXICOR OIA 最早的双折射测量系统是透镜、平行面、 曲面光学的倾斜角度评估。Hinds Instruments 的ExicorOIA是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要双折射测量系统。该系统是建立在Hinds lnsrtuments 获奖光弹调制器（ PEM）基于Exicor双折射测量技术。新一代的双折射测量系统为该行业提供了分析和开发下一代光刻透镜、透镜毛坯和高价值精密光学的新能力。该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。利用这些数据可以对双折射、快速轴向和理论残余应力进行评估。在国际领先的平板透镜和己完成透镜的研究和生产中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技术被用于评估光学双折射。我们的系统是无与伦比的！

该型号适用于 0 到 130nm 的低双折射产品检测，可高速测量 500 万像素的高分辨率双折射/相位差分布，它是一种能够在显微镜视场中测量双折射的系统，随附的显微镜可选择奥林巴斯或尼康。应用：通信光纤晶体纤维微小透明样品技术参数： 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm6视野尺寸142x170um到3.5x4.2mm(×2，×5，×10，×20，×50)7选配镜头视野无8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

KAMAKIRI-WM Photonic Lattice online双折射测量仪产品简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域 Photonic Lattice online双折射测量仪主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量。 LIVE实时输出双折射的信息。 OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 Photonic Lattice online双折射测量仪应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 Photonic Lattice online双折射测量仪技术参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸350mm7宽度方向测量点2560

特性测量633 nm下最大半波(高达316 nm)的样品延迟和最大±90°的方位角(快轴方向)使用0.3 NA的10倍物镜(附带)时，空间分辨率为1.055 μm下方出售其他经过验证的精确物镜内置633 nm光源提供两种配置电动物镜安装臂(显微镜型号CM502)手动物镜安装臂(显微镜型号CM501) 定制工作波长请联系我们应用应力诱导双折射成像双折射敏感组织分析无染料、无标记成像结构成像病理诊断材料研究质量检验Thorlabs的Cerna双折射成像显微镜是测量双折射材料延迟和方位角的完整系统。这些显微镜提供低至±1 nm的延迟测量和低至±1°的方位角测量，使用附带物镜时的空间分辨率为1.055 μm，还具有灵活的Cerna平台，因此是双折射成像的多功能解决方案。CM50x显微镜设计用于学术研究、医疗诊断、工业制造和产品质量保证。由于其工作基于液晶器件，没有内部机械运动，因此能够稳定工作，且无振动。Thorlabs双折射成像显微镜 CM502

总览我们的椭圆芯PME1300-10光纤提供了高偏振消光和对弯曲和扭转应力不敏感。与传统的PM光纤不同，椭圆波导的双折射具有较低的热依赖性(比Panda低10倍)。由于椭圆芯的几何形状，与传统的圆芯光纤(SMF、Panda)之间的耦合是有损耗的，圆形-全椭圆光纤耦合的拼接损耗是-0.5dB，椭圆到圆形的损耗为2.5 dB。低双折射旋转光纤 600-900nm,低双折射旋转光纤 600-900nm通用参数产品特点：高消光比低耦合损耗低温依赖性产品应用：光纤陀螺仪.光学电流传感器.光纤放大器技术参数：型号LB650LB1060LB1300LB1300RCPME1300-10工作波长600 - 900 nm900 - 1100 nm1300 - 1600 nm 11300 - 1600 nm1300 - 1600 nm截止波长 580 nm 915 nm 1280 nm 1280 nm 1280 nmBeatlength 拍长4 mm7 mm13 mm13 mm9 mm自旋周期3 mm3 mm3 mm3mm-衰减6 dB/km6 dB/km4 dB/km5 dB/km8 dB/km模场直径6 um8 um9 um9 um13 x 8 um包层直径125 um125 um125 um80 um125 um涂层直径250 um250 um250 um200 um250 um芯包同心度 0.5 um 0.5 um 0.5 um 0.5 um 0.5 um包层偏移量 5 um 5 um 5 um 5 um 5 um涂层材料丙烯酸脂丙烯酸脂丙烯酸脂丙烯酸脂丙烯酸脂拉力测试100 kpsi100 kpsi100 kpsi100 kpsi100 kpsi弯曲半径 20 mm 20 mm 20 mm 12 mm 20 mm

仪器特点：1. 采用高灵敏度激光功率测量装置，相对测量，数字显示，增益连续可调；2. 专用直线导轨，调整架三维或二维可调，拆卸组装容易，动手实践性强；3. 布儒斯特角测量时毛玻璃屏显示，特殊观察窗结构，观察清晰度由于白屏观察方式；4. 既可以用人眼直接观察，也可以接入专用光电探测器进行定量测量分析。650nm激光器与LED多种光源用于布儒斯特角测量光源，比较单色光和复合光作光源时布儒斯特角的区别，并分别定量测量分析偏离布儒斯特角时的消光比。实验内容：1．自然光转化为线偏振光的演示（二向色性起偏、双折射起偏、反射起偏）验证 马吕斯定律 2．线偏振光转化成圆偏振光、椭圆偏振光的演示3．光的偏振状态的测量4．波片特性实验5．布儒斯特角测量规格参数：1．手动X轴旋转架：任意角度旋转最小分辨精度0.2度。2．半导体激光器：波长650nm，标称功率5mW。3．激光功率指示仪：调零，增益连续可变，信号输入。4．光学导轨：专用硬铝合金型材1米专用直导轨，楔形角70°，宽80mm，导轨面宽50mm，导轨带刻度，分辨精度1mm。 仪器成套性：组合导轨及滑座、进口偏振片(带框)、手动X轴旋转架、可变口径二维架、二维调整架、650nm半导体激光器（含电源）、1/2波片(带框)、1/4波片(带框)、φ36透镜(带框）、接收器（附架）、光学测角台、方玻璃、光源部、电源线、保险管、说明书、合格证、装箱单

双折射分析仪的应用非常广泛，如钢化玻璃的应力分布分析、晶圆内结晶缺陷测量、塑料或玻璃镜片的双折射测量、薄膜生产的工程分析、透明成型品的注塑条件或模流分析等。PA-200能以快速且高精度来测量视野范围内的双折射分布，可应用于许多种产品的检查上，尤其如玻璃、蓝宝石、玻璃镜片（透镜）、PVA薄膜等小双折射透明件的高精度测量上最能发挥效用，主要是透明件便可取得数据。技术参数：感应器--标准偏光图像传感器像素--97万像素测量波长--520nm测量范围（双折射大小）--0~130nm允许的产品尺寸范围--3.6*4.8~99*132mm（如需更大范围，请与我们联系）再现精度--σ1nm

双折射分析仪的应用非常广泛，如钢化玻璃的应力分布分析、晶圆内结晶缺陷测量、塑料或玻璃镜片的双折射测量、薄膜生产的工程分析、透明成型品的注塑条件或模流分析等。WPA-Micro的应用主要是在材料的研究上，现在最主流的薄膜或镜片材料为塑料（高分子材料），而塑料本身具双折射，这双折射的大小及均匀性是决定产品品质的主要因素之一，于是高分子材料的研究上，双折射的分析是必须的任务。WPA-Micro能以快速且高精度来测量视野范围内的大双折射分布，测量对象为玻璃、蓝宝石、薄膜、塑料件等产品的原材以及产品本身，透过显微镜便可对微小区域进行高分子配向的定性分析，如面板像素里的配向膜均匀性分析。技术参数：感应器--大双折射测量用偏光图像传感器像素--11万像素测量波长--523/ 543/ 575nm测量范围（双折射大小）--0~3500nm允许的产品尺寸范围--80*110um~2.0*2.7mm（如需更大范围，请与我们联系）再现精度--σ1nm

应力双折射仪WPA-100-MICRO显微大相位差应力双折射仪应力双折射仪器简介：应力双折射仪，能够快速测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术世界，并由此开发出的测量仪器。PHL显微镜下的双折射测量 WPA-100-MICRO匹配显微镜测量双折射测量光学薄膜、钢化玻璃、有机晶体薄膜、金属晶体、不透明基板等材料在显微镜视场下评估和管理双折射分布PHL应力双折射仪器参数：型号WPA-Micro测量范围0-4000nm重复性1.0nm像素数384x288测量波长523nm,543nm,575nm尺寸250x487x690.0mm观测到的面积5倍物镜：1.1x0.8mm 10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um 50倍物镜：110x80um 100倍物镜：55x40um.自身重量11kg数据接口GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件WPA-View（for Micro）

偏振光纤（偏振起偏光纤）所属类别： ? 光纤/光纤器件 ? 特种光纤/光子晶体光纤 产品简介 偏振光纤（780nm—1550nm） 高性价比偏振光纤和起偏器！ 偏振光纤（Polarizing fiber,即PZ 光纤）是一种特殊光纤，即在光纤中只能传播一种偏振态的光。通常偏振光纤（PZ）都是通过特殊的设计结构（如化蝶结型）来产生较高的双折射效应，这种双折射效应会使特定偏振方向的光沿着光纤传播，而其他偏振方向的光则会受到较高的光学损耗，迅速衰减。 偏振光纤、PZ fiber、PZ、单偏振光纤、蝴蝶结型偏振光纤、熊猫型偏振光纤、偏振控制器、起偏光纤、Polarizing fiber偏振光纤（Polarizing fiber）是一种特殊的光纤，类似于偏振起偏器，在这种光纤中有且只能使一种偏振态的光通过，其他偏振态的光则在较高的消光比（30dB）作用下迅速消失。PZ光纤是通过一个特殊的结构设计（蝴蝶结型、老虎型）产生较高的双折射效应进而产生较高的消光比引起其他偏振态的光迅速消失。此外，偏振光纤(PZ）在不同的波长处都具有较宽的偏振带宽（100nm）、高消光比（30dB）和低衰减特性，且偏振带宽及消光比可以通过盘卷PZ光纤线圈直径的大小进行调节（称为光纤排布）。当PZ线圈直径变小时其偏振带宽也会随之变窄，并向低波长方向偏移。偏振带宽定义为快轴20dB与慢轴3dB之间的波长范围。与线偏振不同，基于偏振光纤（PZ）的起偏器是一个全光纤方案，能够提供优越的消光比、低衰减和良好的温度稳定性。 主要特点：l 老虎型（Tiger）设计结构 l 偏振带宽： 100nm l 高消光比：30dB l 设计波长(nm)：780、840、1060、1310、1550 主要应用：u 光纤陀螺仪；u 光纤激光器；u 线偏振器；u 相干通信；u 冷原子实验；u 光纤电流传感器； 图1、偏振光纤（PZ）工作原理及偏振带宽示意图 图2、偏振偏光纤应用于冷原子项目示意图 图2、光纤陀螺仪组件和光纤电流传感器应用 如您有需求或想要进一步了解抗辐射光纤（Rad Hard fiber）,请登录上海昊量光电设备有限公司，拨打电话：或！ 分享到 : 人人网 腾讯微博 新浪微博 搜狐微博 网易微博 相关产品 空间光-单模光纤耦合稳定系统 超宽带起偏器(消色差偏振片) 光子晶体光纤/微结构光纤(PCF） 陀螺专用保偏光纤 径向偏振转换器/径向偏振片/径向偏振器