陶瓷介电常数介质损耗测试仪

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陶瓷介电常数介质损耗测试仪相关的厂商

  • 宜兴精刚陶瓷科技有限公司成立于2012年,座落于中国江苏宜兴。我们拥有国外先进高科技技术和进口设备,是一家集研发、设计、生产特种陶瓷材料产品的专业性高科技企业。主要产品有:99氧化铝、氧化锆、碳化硅、氮化硅、ZTA特种陶瓷的结构件、高温耐火陶瓷管、棒、密封件、研磨件、基板、刀具以及各种异形件。产品具有高强度、高硬度、耐高温、耐磨损、耐腐蚀及绝缘等特性,是逐渐代替金属材料的新一代环保材料。 公司主专业生产95~99.9氧化铝结构陶瓷以及氧化锆陶瓷、氮化硅特种精密陶瓷,ZTA、堇青石等陶瓷材料产品 电热电器行业用各种规格材质的耐热、耐磨、耐电压、酸碱性陶瓷件。高铝质、刚玉质、碳化硅质,莫来石质耐高温陶瓷。普瓷、钛瓷,、高频瓷,75,85,95,99氧化铝陶瓷(管、棒、条、板、片、等陶瓷件),氧化铝刚玉管、电炉管.高温特种瓷件、耐火材料制品。  本公司拥有先进的生产加工设备,以及科研人员和技术人员,可根据客户图纸生产、加工、研发各类陶瓷异形件。产品尺寸精度高,性能稳定。
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  • 我公司主要生产氧化铝结构陶瓷、氧化锆陶瓷、氮化硼陶瓷,非标定制异形件、陶瓷管、刚玉管、陶瓷棒、刚玉坩埚,具有高强度、耐磨损、耐腐蚀、耐高温、绝缘性能好等特征。产品广泛应用于军工电器、航空航天、真空技术设备、工业窑炉、矿山机械、汽车电子、化工、机械等行业。
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  • 400-860-5168转6231
    北京百川宏宇交通设施有限公司是一家技术型企业。专业从事检测、力学、实验室设备、环境仪器等检测仪器研究、开发、生产及销售为一体的企业。主营产品有过滤器完整性检测仪,toc总有机碳分析仪,介电常数及介质损耗测试仪,电压击穿试验仪,绝缘电阻测试仪等。公司拥有专业技术队伍和营销队伍,产品质量稳定,性价比高。本公司成立的初衷就是希望通过我们丰富的经验给客户提供比产品本身更有价值的东西,来帮助客户选择仪器,必要时来指导客户操作仪器。 在这一点上百川在市场上受到广大用户及经销商的欢迎和好评。本公司所销售的仪器,都是经过一段时间的市场考验后,由我们的工程师进行评估后才决定是否进行推荐销售。所以这里每一款产品都是我们为您精挑细选的。在市场竞争日趋激烈的今天,价格因素往往起到了决定性作用,但是我们坚信,只有高质的产品才能给客户解决工作中实际问题,只有高质的服务才能让客户购买正确的检测仪器,购买后没有后顾之忧。本着诚信、服务、务实、创新的经营理念,“销售先进仪器、提供优质服务”,在制药、化工、环保、科研、大学、医学等领域开拓了广泛的市场,赢得了广大用户的支持和信赖。在今后的发展中,我们将一如既往地把国内外的仪器设备介绍并提供给国内的用户,孜孜追求,不懈努力,不断提高服务水平,为提升用户的检测水平和科研水平贡献各自的绵薄之力,与广大用户共同享受高新科技成果,在互利协作中共同进步。 我们拥有充满活力的高素质销售队伍和技术全面、经验丰富的售后服务队伍,这既是我们公司发展的源泉,也是我们向客户提供良好服务的保证。客户对公司的充分信赖和鼎力支持是我们赖以发展的基础, 北京百川宏宇交通设施有限公司将与广大用户一起努力、一起进步!

陶瓷介电常数介质损耗测试仪相关的仪器

  • 国标GBT1409介电常数介质损耗测试仪符合标准:ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率(介电常数)的标准试验方法;GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法;一、符合标准:ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率(介电常数)的标准试验方法;GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法;GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法;GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法;二、主机及夹具参数:项目/型号LJD-BLJD-ALJD-C信号源DDS数字合成信号频率范围10KHZ-70MHZ10KHZ-110MHZ100KHZ-160MHZ信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1采样精度11BIT12BIT信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围1~1000自动/手动量程Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档Q分辨率4位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差<5%电感测量范围1nH~8.4H,;分辨率0.11nH~140mH;分辨率0.1电感测量误差<3%电容直接测量范围1pF~2.5uF1pF~25uF调谐电容误差分辨率±1pF或<1%主电容调节范围30~540pF17~240pF谐振点搜索自动扫描自身残余电感扣除功能有大电容值直接显示功能有介质损耗系数精度万分之一介电常数精度千分之一LCD显示参数F,L,C,Q,LT,CT,波段等准确度150pF以下±1pF;150pF以上±1%Q合格预置范围5~1000声光提示环境温度0℃~+40℃消耗功率约25W电源220V±22V,50Hz±2.5Hz极片尺寸38mm/50mm(二选一)极片间距可调范围≥15mm材料测试厚度0.1-10mm夹具插头间距25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)测微杆分辨率0.001mm测试极片材料测量直径Φ38mm/50mm,厚度可调 ≥ 15mm三、配置:序号标准配置单位/数量1主机一台2S916夹具一套3电感组九只4电源线一根选配:USB模块、液体杯(测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm)我司经营产品包括:LJC系类电压击穿试验仪ATI系类体积表面电阻率测试仪LJD系类介电常数测试仪LDQ-2漏电起痕试验仪JF系类氧指数测定仪CZF系类水平垂直燃烧测定仪WDW系类电子万能试验机XRW系列热变形维卡温度测定仪XNR系类熔体流动速率测定仪ZJJ系类冲击试验机MDJ系类固体/液体等材料的密度测试仪3.介电常数测试仪术语3.1 定义:3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。3.2 本标准专用术语定义:3.2.1 电容,C,名词——当导体之间存在电势差时,导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。3.2.1.1 讨论——电容是指电流电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位,电位采用伏特为单位时,电容单位为法拉,即:C=q/V           (1)3.2.2 耗散因子(D),(损耗角正切),(tanδ),名词——是指损耗指数(K'')与相对电容率(K')之间的比值,它还等于其损耗角(δ)的正切值或者其相位角(θ)的余切值(见图1和图2)。D=K''/K'     (2)4 相关ASTM标准,可浏览ASTM网站,或与ASTM客服联系。ASTM标准手册卷次信息,可参见ASTM网站标准文件汇总。5 该历史标准的较后批准版本参考网站。3.2.2.1 讨论——a:D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp        (3)式中:G=等效交流电导,Xp=并联电抗,Rp=等效交流并联电阻,Cp=并联电容,ω=2πf(假设为正弦波形状)耗散因子的倒数为品质因子Q,有时成为储能因子。对于串联和并联模型,电容器耗散因子D都是相同的,按如下表示为:D=ωRsCs=1/ωRpCp        (4)串联和并联部分之间的关系满足以下要求:Cp=Cs/(1 D2)             (5)Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2             (6)4、数据采集和tanδ自动测量控件(装入LJD-B),实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化,tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理,因而提高了数据的精确度和测量的同一性,是人工读值和人工计算无法比拟的。三、主要技术特性及配置主要配置序号构 成型 号数量制 造 厂 家1主机LJD-C1台测试装置(夹具)AS9161台标准电感HLKI-11套2三电极系统(油中、空气中) 油中带油槽 各1套3油槽1台4日常维修工具1套说明书介电常数介质损耗测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项技术。双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至z低,消除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。二、主要技术特性:*1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数3.Q值测量范围:1~10234.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;*5.电感测量范围:1nH~140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能*6.电容直接测量范围:1pF~25nF 7.主电容调节范围: 17~240pF 8.准确度 150pF以下±1pF;150pF以上±1% 9.信号源频率覆盖范围100kHz~160MHz10.合格指示预置功能范围:5~100011.环境温度:0℃~+40℃;12.消耗功率:约25W;电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。13. S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:数显式微杆,平板电容器:极片尺寸: 38mm极片间距可调范围:≥15mm夹具插头间距:25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)测微杆分辨率:0.001mm测试极片:材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm *液体杯:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm14. 介电常数测试仪/GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试仪/介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试仪/工频介电常数测试仪/固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析仪/GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪电感组LKI-1:分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。三、配置:主机 一台电感 九支夹具 一套液体杯 一套随机文件一套
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  • 陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外,表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中,介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能,往往在配方中引人此易熔物质(如黏土),形成玻璃相,这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大,介质损耗也增大。因面一般高频瓷,如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大,主要的原因是:主晶相结构松散,生成了缺固济体、多品型转变等。高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地,偶极矩在0~0.5D(德拜)范围内的是非极性高聚物;偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗,其介电常数约为2,介质损耗小于10-4;极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗,并且极性愈大,这两个值愈高。高聚物的交联通常能阻碍极性基团的取向,因此热固性高聚物的介电常数和介质损耗均随交联度的提高而下降。酚醛树脂就是典型的例子,虽然这种高聚物的极性很强,但只要固化比较完全,它的介质损耗就不高。相反,支化使分子链间作用力减弱,分子链活动能力增强,介电常数和介质损耗均增大。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化,因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时,链段上的偶极的极化有时完全被抑制,介电性能可降至低值,同样的道理,非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外,高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。介质损耗(dielectric loss )指的是绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。介质损耗因数(dielectric loss factor)指的是衡量介质损耗程度的参数。【依据标准】GB/T 16491、GB/T 1040、GB/T 8808、GB/T 13022、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 16825、GB/T 17200、GB/T 3923.1、GB/T 528、GB/T 2611、GB/T 6344、GB/T 20310、GB/T 3690、GB/T 4944、GB/T 3686、GB/T 529、GB/T 6344、GB/T 10654、HG/T 2580、JC/T 777、QB/T 2171、HG/T 2538、CNS 11888、JIS K6854、PSTC-7、ISO 37、AS 1180.2、BS EN 1979、BSEN ISO 1421、BS EN ISO 1798、BS EN ISO 9163、DIN EN ISO 1798、GOST 18299、DIN 53357、ISO 2285、ISO 34-1、ISO 34-2、BS 903、BS 5131、DIN EN 12803、DIN EN 12995、DIN53507-A、DIN53339、ASTM D3574、ASTM D6644、ASTM D5035、ASTM D2061、ASTM D1445、ASTM D2290、ASTM D412、ASTM D3759/D3759M功能介绍1.自动停机:试样破坏后,移动横梁自动停止移动(或自动返回初始位置、2.自动换档:根据试验力大小自动切换到适当的量程,以确保测量数据的准确性3.条件模块:试验条件和试样原始数据可以建立自己的标准模块的形式存储;方便用户的调用和查看,节省试验时间4.自动变速:试验过程的位移速度或加载速度可按预先编制、设定的程序自动完成也可手动改变5.自动程制:根据试验要求,用户可方便的建立自己的试验模板(方法、,便于二次调用,可实现试验加载速度、应力、应变的闭环试验控制6.自动保存:试验结束,试验数据和曲线计算机自动保存,杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失
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  • 陶瓷介电常数介质损耗仪可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至最低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准:GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法。陶瓷介电常数介质损耗仪仪器的技术指标1.Q值测量 a.Q值测量范围:2~1023; b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;c.标称误差频率范围10kHz~10MHz固有误差≤5%±满度值的2%工作误差≤7%±满度值的2%频率范围10MHz~70MHz固有误差≤6%±满度值的2%工作误差≤8%±满度值的2% 2.电感测量范围:1nH~8.4H3.电容测量:直接测量范围1~520p主电容调节范围30~550pF准确度100pF以下±1pF;100pF以上±1% 注:大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 4.信号源频率覆盖范围:频率范围10kHz~70MHzCH110~99.9999kHzCH2100~999.999kHzCH31~9.99999MHzCH410~70MHz频率指示误差3×10-5±1个字5.Q合格指示预置功能:预置范围:5~1000 6.Q表正常工作条件 a. 环境温度:0℃~+40℃; b.相对湿度:80%; c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。 7.消耗功率:约25W;陶瓷介电常数介质损耗仪依据国标GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法、GB/T 1693-2007 硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法.GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。陶瓷介电常数介质损耗仪产品特点:  1、双扫描技术-测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。  2、双测试要素输入-测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。  3、双数码化调谐-数码化频率调谐,数码化电容调谐。  4、自动化测量技术-对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。  5、全参数液晶显示–数字显示主调电容、电感、Q 值、信号源频率、谐振指针。数字直接合成的信号源-确保信源的准确,频率的高精度、幅度的高稳定。  7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路残余电感减至低值,解决了Q读数值在不同频率时要加以修正的困惑。  8、新增功能:电感测试时,仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能,提高了在电感值测量时的精度。  9、新增功能:大电容值直接测量显示功能。大电容值测量一个按键搞定。陶瓷介电常数介质损耗仪它以单片计算机控制仪器,测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至较低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量时更为准确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
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陶瓷介电常数介质损耗测试仪相关的资讯

  • 技术更新|介损及体积电阻率测定仪可测介质损耗因数
    如今市场需求总体继续扩大,但增速下降。一方面,随着城镇化和基础设施建设的不断深入,基本原材料的需求还将保持一定增速,但增速会有所降低,人们日常生活用品也不会有太大的提高;另一方面,人们的消费升级以及生活方式和消费模式的改变,将提高或改变市场需求,促进与经济发展相配套的石化化工产品升级换代。因此,预计“十四五”期间,传统石化化工产品,如成品油、大宗化工产品等,在很长的一段时间内消费保持低速增长态势,甚至有些个别产品还会有略微下降;而在与智能制造、电子通信、中高生活消费品和医药保健等有关的化工产品,主要是电子化学品、纺织化学品、化妆品原材料、快餐用品、快递服务用品、个人防护和具备特殊功能的化工新材料等,都将会有很大增幅。同时安全生产、绿色发展的要求日益提高。石化化工生产“易燃、易爆、有毒、有害”特点突出,尤其是近几年,化工行业事故频发,特大恶性事故连续不断,给人们生命财产造成重大损失,在社会各界造成极其恶劣的影响。随着我国城镇化的快速推进,原来远离城市的石化化工企业已逐渐被新崛起的城镇包围,带来了许多隐患。“十四五”期间,社会各界将更加紧盯各地石化化工企业,石化化工企业进入化工园区,远离城镇布局将成为必然要求,安全生产也将是企业必须加强的一门必修课。绿色发展已经在社会上形成共识,坚持绿色发展是行业必须要强化的理念,一方面要补足以往的环保欠账;另一方面还要针对不断提高环保标准买单,这对行业来说,是一个巨大的挑战。A1170自动油介损及体积电阻率测定仪符合GB/T5654标准,用于测定在试验温度下呈液态的绝缘材料的介质损耗因数及体积电阻率,包括诸如变压器、电缆及其它电气设备内的绝缘液体。可广泛应用于电力、石油、化工、商检及科研等部门。仪器特点1、采用中频感应加热,室温加热至控温(90℃)并恒温自动测量仅需 15分钟。2、同时测量油介损及体积电阻率或任选一项。3、采用大屏幕液晶显示器,只需按照中文菜单提示,输入指令,仪器即可自动工作。4、具有通讯功能,可配置电脑进行实时监测,动态观察油介损值随油温变化并描绘成图。5、自动显示测量结果,并进行数据打印保存。6、具有过压、过流、短路保护,并具有高压指示,还具有报警提示功能。技术参数体积电阻率测量电压:DC500V±10%体积电阻率范围:2.5×106~2×1013Ω.m精度: 高于±10%电阻测量范围:2M~2TΩ介损测量范围:0.00001~1介损值分辨率:0.00001电容测量范围:10.0pF~200.0pF电容值分辨率:0.01pF空杯电容:60±5pF 介损值测量精度:±(1%读值+0.02%)电容值测量精度:±(1%读值+1pF)工作电源:AC220V±10%,50Hz测控温范围:室温~119.9℃测控温稳定度:±0.5 相对湿度:≤85%介损测量电压:1.5kV、2.0kV、2.5kV(常规使用2.0kV)(正接法) 环境温度:-5℃~50℃外形尺寸:480mm×400mm×420mm重  量:25.7kg
  • 浅析高分辨率光学链路诊断仪(OCI)测试大插损光纤链路损耗
    武汉东隆科技有限公司自研的高分辨率光学链路诊断仪(OCI)是基于光频域反射技术(OFDR),单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断,并且能轻松测试出光纤链路损耗情况。据了解,光频域反射技术(OFDR)测试插损方式是依据事件点两侧瑞利散射信号幅值差异,其高分辨率特性可以定位到厘米级损耗点。通常高分辨率光学链路诊断仪(OCI)插损测量动态范围为18dB,反射式测量方式动态范围为9dB。当待测链路中累积损耗超出9dB时,超出部分瑞利散射信号会被设备底噪淹没,给测试带来误差。针对上诉情况,本文借助光纤环形器测试出大插损光链路单向累积损耗。首先,测试样品为可调光衰减器,借助环形器测试大插损装置如图1,将光纤环行器2端口接到OCI设备DUT口上,1端口和3端口分别与可调衰减器进出口连接。OCI设备输出光从环形器2端口进入,3端口输出,经过待测样品后进入端口1,最后从端口2返回OCI仪器。图1.借助环形器测试大插损装置示意图OCI测试整个光链路结果如图2,距离-回损曲线在2.95719m位置出现最大回损峰值,对应整个光传输链路。由于OCI仪器默认显示为反射式测量,而本链路中借助环形器是透射式测量,所以实际链路长度为显示距离的两倍5.91438m。同时,该位置积分回损为-25.69dB,是环形器和可调光衰减器单向累积损耗总和。图2.OCI测试环形器连接可调光衰减器结果图第二,使用OCI单独测试光纤环形器,损耗测试装置如图3。图3.环形器损耗测试装置示意图图4.OCI测试环形器结果图测试结果如图4,从图中可以看出距离-回损曲线在1.86088m位置出现最大回损峰值(实际光纤环形器光链路长度为3.72176m),回损为-2.55dB,是环形器单向累积损耗总和。可调光衰减器插损为23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。第三,使用功率计测试可调光衰减器插耗,测试装置如图5,测得可调光衰减器插耗为23.33dB,OFDR测量结果与功率计测量结果仅相差0.19dB。图5.功率计测试可调光衰减器损耗装置示意图改变可调光衰减器插损,按照上诉方法分别用OCI和功率计测试可调光衰减器插损值,下表为10次测量可调光衰减器插损值对比表。从对比表可以看出OCI和功率计测试可调光衰减器插损对比误差不超过0.3dB,且OCI测试值均比功率计测试值大,这是由于功率计测试链路时,比OCI测试链路多一个FC法兰。因此,借助光纤环形器,高分辨率光学链路诊断仪(OCI)可以透射式测量大插损链路总体损耗,测试结果和功率计测试结果对比准确。不同于OCI反射式测量光纤链路分布式损耗,OCI透射式测量光链路损耗是测试整个光纤链路的累积损耗总和。OCI透射式测量插损准确性依赖OCI测试回损(RL)的动态范围,动态范围高达60dB以上时,可实现超出动态范围的大插损光链路损耗测量,进一步扩展OFDR设备使用场景。
  • 国际光纤微弯损耗测试标准明年有望出台
    在近期举办的“国际光纤微弯损耗测试方法研讨会”上,帝斯曼光纤材料研发总监史蒂夫施密德向记者透露,帝斯曼在2009年提交了光纤微弯损耗测试方法和标准的立项工作,有望在2011年出台初步的测试标准。  随着光纤网络的不断发展,光纤微弯耗损已变得不容忽视。光缆的损耗,是导致网络故障发生的主要原因,网络故障很大程度上提升了运营商网络成本。  Telcordia公司的首席顾问奥斯曼盖比兹利奥卢博士在会上表示,中国通信业经过这么多年的发展,越来越多的光纤网故障证明了由于微弯和其他材料造成的损耗,对整个网络造成非常严重的损失。因此,在采购过程中必须建立一个光纤微弯测试标准,以此来保证所用光纤的性能。  据史蒂夫施密德透露,帝斯曼一直致力于光纤微弯标准制定,在北美,光纤微弯测试标准已提交TIA组织,目前在搜集及提交相关的数据 在欧洲,帝斯曼重新启动了微弯标准测试方法的探讨工作,工作有望与北美地区同步进行 而目前在国内,帝斯曼在2009年已向通信标准化协会提交了相应的测试方法和标准的立项工作,在2011年有望出台初步的测试标准。  另外,据帝斯曼迪索亚太区销售总监、总经理林为斌透露,目前帝斯曼在全球涂料市场的占有率已经达到了80%,抗微弯涂料的市场占有率目前也在50%以上。

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  • 低介电常数微波介质陶瓷基覆铜板的研究

    微波介质陶瓷是指应用于微波(主要是300MHz~30GHz频段)电路中作为介质材料并完成一种或多种功能的陶瓷、在现代通信中被用作谐振器、滤波器、介质基片、介质天线、介质波导回路等,应用于微波电路的介质陶瓷除了必备的机械强度、化学稳定性之外,还应满足如下介电特性,微波频率下大的相对介电常数C^2高Qf值以及接近零的频率温度系数微波介质陶瓷可以按照其组成系统,介质特性及应用领域加以分类,较为常见的是按其介电常数的大小来分类,可分为低介电常数类(20~40);中介电常数类(40~80);高介电常数(>80)。低介电微波陶瓷主要应用于微波基板、卫星通讯以及军事应用等通讯系统中。目前研究的较多的低介微波陶瓷主要是以AL2O3和AIN的应用,低介微波陶瓷基覆铜板用绝缘散热材料的理想性能是既要导热性能好,散热好,还要在高频微波作用下产生损耗尽量小。BeO陶瓷是目前陶瓷基覆铜板中绝缘散热的绝佳材料,但由于BeO粉料具有毒性,在制造过程中需要采取严格的防护措施,且在美日等发达国家已禁止生产BeO陶瓷。因此研制替代BeO陶瓷的覆铜板用新型绝缘散热材料已迫在眉睫。AIN陶瓷是一种散热性能较好、无毒的陶瓷材料,其热导率理论值为320W/(mK),与BeO陶瓷热导率的理论值370 W/(mK)相近,并且已研制出热导率在200 W/(mK)以上的AIN陶瓷材料。所以AIN陶瓷材料被认为是最有希望替代BeO陶瓷的绝缘散热材料。 由于BN的介电常数较小,但AIN陶瓷中加入了h-BN,根据复相材料的介电常数公式计算,将h-BN加入到AIN中,还可以降低AIN陶瓷介电常数。本文旨在研制出满足陶瓷基覆铜板使用要求的高热导率、低介电损耗AIN及BN-AIN基陶瓷材料,以替代BeO陶瓷材料。 因为BN,AIN均为共价化合物,难以烧结,为了获得高致密度陶瓷,需添加烧结助剂。烧结助剂的选择应从两个方面考虑,其一,能形成低熔物相,实现液相烧结,促进致密;其二,能与AIN中的氧杂质反应,使AIN晶格净化。基于此两点,选用Y2O3为烧结助剂。因为Y2O3与AIN表面的氧化铝形成Y3AI5O12,Y3AI5O12的液相温度为1760℃,这样既促进了烧结又净化了晶格。但是,若烧结助剂分散不均匀,也很难烧制出结构致密的陶瓷材料。通过化学工艺,将BN包裹到AlN粉体表面,从而实现将BN均匀分散到AIN基体中的目的,并且利用包裹型复合粉体,制备出显微结构均匀的复相陶瓷,其热导率为78.1 W/(mK),在Ka波段介电常数为7.2、介电常数最小值为13×10-4。通过对AIN及BN-AIN基复相陶瓷在Ka波段的微波特性研究,发现AIN基陶瓷材料的介电常数随频率变化的幅度很小,但材料的介电损耗随频率的变化较大,并且在该区间内存在最大值和最小值。

陶瓷介电常数介质损耗测试仪相关的耗材

  • Al2O3陶瓷基片
    产品名称:Al2O3陶瓷基片技术参数:纯度(Wt%)96%密度(g/cm3)3.75热导率(w/m.k)24热膨胀(x10-6/oC)14介电常数(at 1MHZ)9.8损耗正切 (x10-4@1MHZ)4抗弯强度 (N/mm2)330体积电阻率 (ohm-m)101320oC3x107at 500oC表面粗糙度:Ra注:现在产品供应纯度可达:99.6%产品规格:氧化铝陶瓷基片2"x2"x 0.5mm 2sp 氧化铝陶瓷基片3"x3"x 0.635mm, fine ground 氧化铝陶瓷基片10x10x0.5毫米,1sp 2sp氧化铝陶瓷基片1" x 1" x 0.5 mm fine ground.注:可按客户需求定制特殊的方向和尺寸。标准包装:1000级超净室,100级超净袋或单片盒封装
  • LTS1500 光损耗测试仪光纤通讯 Loss Test Set-LTS
    LTS1500 光损耗测试仪光纤通讯 Loss Test Set-LTSThe FTE-4000 TTI Hand Held Variable Optical Attenuator is available in two models, with 40 dB attenuation level or 80 dB attenuation level to meet single mode testing requirements. Like the rest of the FTE line, the VOA has an onboard help feature. The FTE-4000 has a built in output power monitor to assist in setting the appropriate attenuation levels and a sweep mode which can scan the attenuation across desired levels. It is rugged with a splash proof housing with a highly protective boot. The FTE-4000 can assist in the testing of system budget compliance, balancing transmitter power and adjusting receiver attenuation settings.Features?Integrated Power Meter?Up to 80 dB Attenuation?Typical Insertion Loss ?Remotely Program Sweep Settings?Adjustable step sizes?USB PC Interface w/Remote Operation?Absolute/Relative Attenuation Settings?Calibrated at 1310/1550?Sealed Rugged Case?Lowest Cost Hand Held VOA?4” Color DisplayOrdering InformationFTE-4000-4040 dB Variable Optical AttenuatorFTE-4000-8080 dB Variable Optical AttenuatorFTE-4000 SpecificationsAttenuation RangeFTE-4000-4 2 to 40dBFTE-4000-8 4 to 80dBWavelength Range1310, 1550 nmResolution.01 dBUncertainty+/- 0.5 dBRepeatability+/- 0.1 dBInsertion LossReturn Loss50 dBMax Input Power27 dBmGraphical Display4 in Color TFTDimensions7.75 x 4.5 x 2.25 inchesWeight2 lbsBatteryRechargeable NiMH - 6 hours operating timePower100-240 universal US, GB, EU, AU MainsEnvironmental Operation-10°C to + 40°CAccessories IncludedUniversal power supply. FC and SC adaptors,CertSof VI Software, USB Cable and Manual
  • JKZC-YDZK50M型1000℃高温精密阻抗分析仪
    JKZC-YDZK50M型1000℃高温精密阻抗分析仪 关键词:阻抗,高温,导纳图,扫描,50MHZ JKZC-YDZK50M型1000℃高温精密阻抗分析仪是一款兼容高温功能的精密阻抗分析仪,是一款能够应用于先进材料测试的多功能复合型精密阻抗分析仪,该阻抗分析仪可以兼容多种高温夹具,可以测试粉末,液体,块体等多种不同类型的样品。常温下测试数据丰富,高温下测试数据稳定,无漂移。是一款兼顾中高端频率的精密阻抗分析仪。在陶瓷及先进材料生产中和科研院校广泛使用。一、主要应用:1、先进材料测试:高温及常温介电常数、弹性常数等C-V特性2、高温及常温无源元件测试:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。3、高温及常温半导体元件:LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析4、高温及常温其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估5高温及常温介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估6、高温及常温磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估7、高温及常温半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性二、主要特点:1、高温及常温进行先进材料测试阻抗各参数测试:谐振频率Fs、反谐振频率Fp、半功率点F1与F2、导纳Gmax、静电容C0、动态电抗R1、动态电容C1、动态电感L1、自由电容CT、自由介电常数、机械品质因素Qm、机电耦合系数Keff、Kp、K31、K33等2、多种探头满足压电陶瓷,液体,及粉末相关电学性能测试3、高温夹具及常温测试装置,设计精巧灵活,测试数据可靠4、50MHZ高频阻抗频率满足高端测试需求5、1000摄氏度高温条件下测试数据稳定无漂移,曲线与温度对应6、软件功能丰富,数据即读取,方便快捷三、主要技术参数:1、频率范围:20HZ-50MHZ2、温度:室温-1000℃3、阻抗参数:谐振频率Fs、反谐振频率Fp、半功率点F1与F2、导纳Gmax、静电容C0、动态电抗R1、动态电容C1、动态电感L1、自由电容CT、自由介电常数、机械品质因素Qm、机电耦合系数Keff、Kp、K31、K33等4、电极材质:铂铱合金(样品有无电均可以测试)同轴屏蔽层5、上电极 直径1.6mm球头电极,引线带同轴屏蔽层6、下电极: 直径26.8mm平面电极,引线带同轴屏蔽层7、保护电极: 消除寄生电容、边界电容对测试的影响8、电极干扰屏蔽: 电极引线带同轴屏蔽,样品平台带屏蔽罩9、夹具升降控制: 带程序和手动控制,可更换夹具的电动升降装置10、热电偶: 双探头11、无电极样品尺寸 : 直径小于40mm,厚度小于8mm12、带电极样品尺寸: 直径小于26mm,厚度小于8mm13、软件功能:自动分析数据,可以分类保存,样品和测量方案结合在一起,生成系统所需的实验方案,输出TXT、XLS、BMP等格式文件14、测量方案 提供灵活、丰富的测试设置功能,包括频率谱、阻抗谱、介电谱及其组合15、接口方式:包括Keysight\WayneKerr\Tonghui等多种LCR接口,16、外形尺寸: L360mm*W370mm*H510mm17、净 重: 22KG
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