微区分析射线萤光分析仪

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微区分析射线萤光分析仪相关的厂商

  • 我们是一家全球性的日立公司,通过互联材料分析解决方案帮助我们的客户变得更加成功和可持续,这些解决方案使生产和开发过程更加高效、自动化和绿色,以确保产品质量、安全性和合规性。我们提供实验室级和强大高性能现场检测设备如光电直读光谱仪、X射线荧光光谱(XRF)、X荧光测厚仪(镀层测厚仪)、激光诱导击穿光谱仪(LIBS)、热分析仪、锂电池异物分析仪、油品分析仪、土壤分析仪等。
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  • SciAps, Inc.是一家总部位于波士顿的仪器公司,专门从事生产、销售便携式分析仪器,用于测量地球上任何地方的任何元素。我们行业领先的 X 射线荧光 (XRF) 和激光 (LIBS) 分析仪广泛应用于每个主要行业,包括石油/天然气、金属和采矿、航空航天、电池和战略金属(锂、稀土元素)、废金属回收、化学和石化、军事、法医和执法。SciAps 仪器经过配置,可测量所有类型材料中的元素,因此应用一直在不断扩大,包括太空研究、大流行抗病毒涂层、农业和环境污染物的测试分析。
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  • 400-860-5168转4172
    意大利GNR公司是一家专业的光谱分析仪器研发、制造企业,成立于1942年,总部位于意大利米兰。GNR横跨半个多世纪的历史几乎与现代光谱仪发展史完全重合,从早期的摄谱仪到光电倍增管光谱仪、再到现代CMOS直读光谱仪、从落地式直读光谱仪到台式直读光谱仪。GNR公司的发展史就是一部浓缩的光谱仪发展史,当代的GNR公司在直读光谱仪、X射线荧光光谱仪、油料光谱仪等领域继续开创着新的技术。GNR “在” 中国作为一家拥有80年历史的分析仪器研发、制造企业,GNR始终将先进的光谱分析技术应用到工业检测产品的研发和改进中自2014年在中国上海成立了办事处之后,意大利GNR便植根于中国市场,在为中国市场提供先进的工业检测类产品和技术的同时,GNR中国办事处员工的专业知识和深受信赖的合作能力,也使得客户对我们提供的解决方案满怀信心。未来,意大利GNR将继续致力于为中国工业检测事业提供更多专业、可靠的产品,用先进的技术和产品为工业生产和人民生活构筑起强有力的安全堡垒。意大利GNR分析仪器公司 - 中国总部 全国统一销售热线:400-821-7040 市场邮箱:Marketing@gnrchina.cn 售后服务邮箱:Service@GNRChina.cn 传真:021-67660731 官网:www.GNRChina.cn
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微区分析射线萤光分析仪相关的仪器

  • 概要:对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。型号:EA1000VX测量元素:原子序数13(Al)~92(U)样品形态:固体、粉末、液体射线源:X射线管球(Rh靶材) 管电压:最大50kV 管电流:最大1000μA检测器:多阴极半导体检测器分析领域:Φ1mm,Φ3mm,Φ5mm (自动切换)样品观察:彩色CCD摄像头滤波器:5种模式自动切换样品室:370(W) ×320(D) ×120(H)mm定性分析:能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示定量分析:块体校准曲线、块体FP法有害物质测量功能:环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy 材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等数据处理:配备EXCEL、配备WORD外形尺寸:520(W)×600(D)×445(H)mm安装尺寸:1500(W)×1000(D)重量:约60kg使用电源(主机):AC100~240V±10%单相 选购项:自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质特点:1. 快速测量与之前的机器SEA1000AII相比,每个样品的测量时间*都缩短了。例如,树脂类样品测量时间缩短了约1/3,金属类则缩短了1/10。实现了处理量(每天可测样品数量)的飞跃性提高。塑料中的Cd,Pb,Hg,Br,Cr高浓度BrSb塑料中的Cd,Pb,Hg,Cr黄铜中的Cd,Pb,Hg,Br,CrEA1000VX约30秒 120秒以内200秒以内SEA1000AII 约100秒360秒以内2000秒以上 表中显示为EA1000VX与SEA100AII样品测量时间(平均值)*Cd为20 ppm,除此以外的元素是为了达到100 ppm的检测最 低限所必要的总共时间。(本公司推荐条件下实施)2. 高技术率检测器(Vortex)不需要液氮,使用最大15万cps的高计数率检测器(Vortex)测量高灵敏度化,实现快速测量及高精度测量等。3. 通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能,强化了有害物质测量功能—材料判断功能测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往,在测量前需要选择分析菜单,由于装置可以自动判断材质,不会在选择分析菜单时感到迷茫。 4. 提高操作性—操作面板根据操作面板的指示器和提示音,了解测量进度。根据测量面板的进度条,把握测量进展。 5. 各种环境限制用的标准物质除RoHS指令的管理对象元素(Cd,Pb,Cr,Hg,Br)以外,我公司也开发和制造能对应管理Cl、Sb、Sn等的标准物质。 6. 自动进样器(选购项)自动进样器最多可连续测量12个样品。 7. 通过环境限制物质测量软件Ver.2进行数据集中管理和趋势管理使用精度管理软件使测量时间变短,通过利用数据库对据点内测量数据进行的集中管理(检索、浏览、解析、编辑、印刷、报告书生成),可测量检查的效率,达到消减成本。
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  • M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS能够检测出C(6)-Am(95)间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品,M4 TORNADOPLUS又增添了功能,例如孔径管理系统,高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。更轻、更快、更深M4 TORNADOPLUS采用轻元素窗口的大面积硅漂移探测器(SDD)实现对轻元素碳的检测,高通量脉冲采样,BRUKER孔径管理系统(AMS)可以获取大景深,对表面不平整样品分析具有优势。轻元素检测M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪,具备两个具有轻元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同,M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下,还可以检测原子数小于11的元素(Z<11),例如氟(F)、氧(O)、氮(N)和碳(C)。随着功能性的增强,M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中,例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。应用实例-萤石和方解石的区分萤石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟(F),氧(O),碳(C);由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z<11(Na)的元素,无法区分这两种矿物,所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。利用轻元素探测器,M4 TORNADOPLUS可以检测氟(F)、氧(O)和碳(C),从而鉴别这两种矿物。图:鉴别萤石与方解石 左:方解石(红)和萤石(蓝)的元素分布图;图像尺寸:20×12mm2;扫描分辨率:800×460pixels 右:萤石(蓝)和方解石(红)的轻质元素光谱图。应用实例-电路板由于AMS的场深度深,如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外,由于激发X射线光子的入口和出口角度减小,光束能量依赖性变得不那么明显。图:具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上,元件的高点失焦,显得模糊。右图: AMS系统加载下图像显示高景深,组件聚焦在更大的景深范围内。
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  • EA8000是,与X射线、CT、X光照相同原理通过X射线透射图像捕捉样品中的金属异物,再通过荧光X射线分析使元素清晰化的异物分析装置。所谓的荧光X射线分析,是指通过将元素分布作为2次元图像而获得的扫描分析,查明金属异物的元素。EA8000在收货检查、进度检查等不良分析现场进行异物或涂抹不均、结构不均等的检查时,协助提高信赖性、成品率。在对锂离子充电电池及燃料电池的品质管理方面当属EA8000利用“透射”“荧光”可快速检测出Φ20 μm级的金属异物锂离子充电电池(LIB)虽被广泛运用于电脑、手机等人们日常使用的机器当中,但在过去也出现过发热、着火等的事故报道。由于锂离子充电电池已从人们日常使用推广至车载使用,与以往相比对安全性的追求更高。锂离子充电电池异常发热及着火的主要原因之一是内部短路,而由于金属异物的参杂也可能与内部短路有关,因此更加追求对于以锂离子充电电池的安全性及性能保障为目的金属异物管理。我公司认真倾听顾客们的心声,较之以往即使在销售上有所实绩的荧光X射线分析装置也会遇到的难题,开发了“更加确切”、“更加快速”找出范围从B5到20 μm级金属异物的EA8000。主要特点(1)通过X射线透射图像可检测出20 μm级金属异物通过高分辨率2维传感器的开发成功、实现了高分辨率的X射线透射图像。仅需数分即可检测出250×200 mm全面的20 μm级金属异物。图1 约Φ20μm的金属异物(2)从锂离子充电电池的收货检查到进度管理EA8000可检测到包括属于锂离子充电电池原材料的正极负极活性物质、导电剂等粉末状样品,也可检测到分离器、电极板等薄片状样品。在检测导电剂及主要成分是轻元素的由碳组成的物质中包含的金属异物时,将导电剂直接装入袋中就可检测出异物,在收货检查时提高工作效率。图2 使用EA8000检测的流程(3)自动检测功能可减少测量者的工作负担EA8000可实现从X射线透射图像的获取到异物自动检测(通过图像处理)、荧光X射线分析进行扫描分析、报告书生成等一系列流程的自动化。受限于分析装置的时间减少,数据也可自动保存,效率高,可安心使用。图3 检查、分析流程(4)想要的信息自动生成EA8000将从X射线透射图像中检测出的异物尺寸及所在位置列表化。另外,异物尺寸及个数分布利用柱状图表示,实现异物个数及尺寸等的趋势管理。通过荧光X射线分析,异物的元素信息也可自动生成。图4 异物报告书例图5 粒度分布表示例
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微区分析射线萤光分析仪相关的资讯

  • 岛津应用:基于红外光谱仪和能量色散型X射线荧光分析仪分析树脂原材料
    为了保证产晶质量,使用安全优质的原材料是必要条件,原材料的重要性不言而喻。但对利润最大化的追求使得原料供应商往往按照性能要求下限来提供原材料,更有甚者在未告知的情况下替换材料,导致生产过程中出现各种品质问题。因此,对来料的性能监控十分关键。本文结合红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)对树脂成份进行了全面分析,通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。 了解详情,敬请点击《使用岛津红外光谱仪(FTIR)和能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)分析树脂原材料》 关于岛津 岛津企业管理(中国)有限公司是(株)岛津制作所于1999年100%出资,在中国设立的现地法人公司,在中国全境拥有13个分公司,事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心,并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站,已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以“为了人类和地球的健康”为经营理念,始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务,为中国社会的进步贡献力量。
  • 精工电子纳米科技X射线荧光分析仪全新上市
    精工电子纳米科技有限公司开发生产可在短时间内对微小区域中微量有害金属进行高灵敏度测量的能量色散型X射线荧光分析仪[SEA6000VX]于近期全新上市。 能量色散型X射线荧光分析仪 SEA6000VX  X射线荧光分析仪,因其便捷的操作性和分析的快速性,在对应RoHS指令等环境管制中被大量导入到零件及产品的入库出货检查中。除了RoHS指令以外,随着ELV指令、玩具规范以及RPF*1等等的无铅化、无卤化标准的建立,可以预见对于测量环境管制物质的需求将会日益增加。但是,为了进一步提高测量的效率,并对应复杂的测量需求,现有机型已经很难对应线路板等复合部件中无法拆解的特定微小区域的测量,以及线路板整体有害物质的管理等的需求,因此开发了这款能够满足这些需要的最新机型。   [SEA6000VX]大幅提升了灵敏度,实现了对微小区域的高速测量。由于配备了本公司自行研发设计的无需液氮高计数率检测器Vortex及全新设计的X射线源,更是得到了比以往机型高出10倍以上的灵敏度。对于原先在5mm~10mm左右比较大的分析范围内进行的微量有害物质测量,现在即使在0.5mm~1.2mm左右的微小区域内也能以相同或者更短的时间进行测量。   通过提高测量微小区域的灵敏度以及搭载高速电动平台,实现高速二维扫描。例如,对100mm x 100mm的实装线路板的高速扫描中,仅需2分钟左右就能检测出其中亚毫米大小的共晶焊锡。如果增加扫描的次数,大约花30分钟左右的时间就可以检测出RoHS指令中的规定值为1,000ppm级的铅含量,从而可以判断整个实装线路板中是否符合无铅制程的规范。   此外,[SEA6000VX]还配备了决定测量位置观测的高清晰度宽视野光学系统,以及高精度的X-Y平台,进一步提高了操作的便利性及测量的稳定性。   精工电子纳米科技有限公司针对有害物质测量所开发生产的X射线荧光分析仪中,既有的下方照射方式的SEA1000A、SEA1200VX等,加上此次全新上市的上方照射型「SEA6000VX」,可广泛对应不同的测量对象。   【SEA6000VX的主要特点】   1. 高速扫描测量   通过结合了大幅提高的微小区域X射线荧光分析灵敏度和高速电动平台,能够快速获得二维扫描图像。特别是强化了对线路板中铅的扫描,配备了铅扫描专用滤波器。让1,000ppm以下无铅焊锡中的铅扫描变成简单可行。   2. 宽视野高清晰度光学系统   可获得250mm x 200mm的20μm以下高清晰度的光学影像。从该光学影像可以直接精确指定测量位置,让操作性得到飞跃般的改善。此外,该光学影像可以和通过高速扫描获得的扫描图像进行重叠,可在大范围内进行高精度分析。   3. 微小区域中微量金属的高速测量   实现了高密度微小X射线束以及配备的高计数率检测器,加上充分考虑到X射线荧光检测效率的设计,实现了高灵敏度化。微小区域中微量金属或薄膜都可在短时间内测量。即使是1mm x 1mm左右的微小区域也可以以100秒左右的速度测量其中的有害物质。   4. 无需液氮的高计数率检测器   作为标准配置本公司独有的无需液氮的高计数率检测器,省去了繁琐的液氮补给程序。仅需数分钟的开机时间,同时电子冷却的规格具备了优异的可信性。运用的技术可以减少在液氮制造、搬运时产生的二氧化碳,以及提高测量速度后节省下的电力等,是一款考虑到环保问题的先进仪器。   5. 微小区域的镀层厚度测量   可在十秒左右的时间完成对0.2mm x 0.2mm面积中Au/Ni/Cu(金/镍/铜)等薄膜多镀层的镀层厚度测量。此外,也可对无铅焊锡镀层或化学镍镀层中含有的微量铅进行分析。   【上市日期】   2008年6月17日   【后注】   *1 RPF   Refuse Paper & Plastic Fuel的简称。以难以再次回收利用的旧纸、废弃塑料等作为主要原料的固体燃料。
  • 180万!东南大学微纳系统国际创新中心X射线荧光分析仪采购项目
    项目编号:JSTCC2200214451(SEU-ZB-220821)项目名称:东南大学微纳系统国际创新中心X射线荧光分析仪采购项目预算金额:180.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):172.0000000 万元(人民币)采购需求:序号标的名称数量01X射线荧光分析仪1套合同履行期限:合同生效(关境内产品)或开具信用证(关境外产品)后4个月内设备安装调试合格本项目( 不接受 )联合体投标。

微区分析射线萤光分析仪相关的方案

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  • X射线荧光分析技术应用误区分析

    一、选型误区  随着技术发展,X射线荧光分析仪的种类越来越多,商品名称也比较混乱,再加上用户对相关知识的了解有限,使得用户合理选择仪器的难度大大增加。  误区1:强调“荧光”,许多用户误认为只有用X光管作为激发源的管激发仪器才是X荧光仪,一味地强调所谓“荧光”。事实上,如前所述,无论是采用X光管还是采用放射性同位素源作为激发源,只要是由X射线激发、通过测定被测样品发出的荧光X射线得出其化学成分及含量的仪器,都是X荧光分析仪。  源激发和管激发各有优缺点。源激发类型的仪器结构简单、紧凑,特别是放射性同位素源发出X射线是自然现象,其强度是非常稳定的。虽然有着自然衰减,但这种衰减是遵循可描述的物理规律的,也就是说是我们可以准确计算出来的,而且作为商品化仪器选用的同位素源半衰期都比较长,在短周期内这种衰减几乎反映不出来。放射源的最大弱点在于,它发出的X射线强度小,能量分布不可调。因此可分析元素种类是受限制的,光路的几何布置必须非常紧凑,分析时间相对要长一些,谱线处理和定量分析计算难度较大。  管激发型仪器的激发源是X射线管。与放射性同位素源相比,最大的优点在于其可调节性。通过调节管流和高压,可以在一定范围内改变输出X射线的强度和分布,进而有选择性地提高或减小对某些特定元素的激发效率,提高分析能力。再者,X射线管的输出强度远远高于放射性同位素源,光路的几何布置受限制小,可使用准直器、滤光片、狭缝等进一步提高性能。采用X光管的最大问题在于稳定性,给X光管提供高压的高压电源稳定性必须在万分之三以下,X光管本身还需要冷却,而且环境温度、电网波动等因素都会影响X光管输出X射线的稳定性,从而影响仪器的稳定性。因此,一般来讲,管激发仪器对使用环境及外围条件的要求要比源激发仪器高得多。  误区2:重硬件轻软件和技术。任何一种分析仪器在某一领域的成功应用都是硬件、软件和分析技术有机结合的结果,三者缺一不可。毫无疑问,硬件是基础,但硬件并不能决定一切。从应用的角度来讲,硬件只有通过软件才能充分发挥作用,而分析技术涉及到仪器应用的每一个环节。一台好仪器,一定是建立在分析技术研究基础之上的,否则,它就很难适应众多用户的各种需求,这样的仪器等于没有灵魂。对于软件的考察,绝不能停留在画面的漂亮与否、花样是否齐全等表面文章上,关键要看采用的算法是否先进有效,建立在怎样的分析技术基础上,是否适应于主要被分析样品的特性,还要考虑是否适合操作人员的素质和能力。  误区3:重价格轻服务。价格当然是选购商品的重要因素,但不应当是决定性因素。分析仪器各部件质量及其价格悬殊极大,并且直接决定了仪器的售价,单纯追求价格便宜,很难保证质量。对于X荧光分析仪这样的设备来说,服务往往更为重要。这里所说的服务不仅指安装调试、备品备件供应、维修服务等,更重要的是应用技术服务。对于大多数用户来讲,是不具备自行研究分析技术并用于指导应用的,这种情况下,技术服务显得尤为重要。  误区4:听别人多,看自己少。用户在设备选型时经常会开展一些调研考察,一方面了解一些各种仪器及厂家的基本情况,作一些相互比较;另一方面会去一些与自己情况类似的用户那里考察。这当然是必要的。但最重要的还是要根据自己的实际情况和具体需求来选择。比如:以全厂质量控制为主要目的,样品种类多,需要做全分析,准确度要求高,应用环境比较好,可以考虑X荧光光谱仪;以生产过程控制为主要目的,应用环境较差则可考虑多元素分析仪、钙铁仪等源激发类仪器;原料不太好、波动大,没有预均化措施或很简陋,分析仪器要配置高一些,最好考虑在线分析仪器,在线钙铁仪加多元素分析仪或小型多道X荧光光谱仪便是很好的组合,当然,有条件的可以上中子活化在线分析仪,而原料稳定、预均化很有效,分析仪器的配置则可以低一些,多元素分析仪甚至离线钙铁仪便可以解决问题;操作人员素质较高,仪器可以选择小型多道X荧光光谱仪等功能多样、灵活性较大的,反之则应考虑选择功能单一、操作简单的源激发类仪器。二、技术指标误区  评价一台仪器好坏的技术指标是多重、综合的。用户关心和看重的主要有分析元素范围,即我们通常所说的可分析元素有哪些,分析时间长短,精确度如何等。技术指标的重要性最终还是取决于应用目的。  误区1:片面追求高指标。对于工业分析而言,被分析样品的种类是确定的,甚至是单一的,对结果的要求也是确定的。对于远远高出这些要求的指标的追求实际上是一种资源的浪费。比如:大多数水泥厂的控制分析只做钙、铁,用于率值控制需要测钙、铁、硅、铝,全分析则要求增加Na、Mg、S、K等元素,几万元的钙铁仪便可满足控制要求,如追求能测硅铝则需要约十万元的多元素分析仪,多元素分析仪完全可以满足率值控制四种主要元素分析的要求,如一定要提出更高精度和速度的要求就需要约百万元的小型多道X荧光光谱仪了。由于被分析样品的确定性,经验系数法是最有效的分析方法,如果一定要追求无标样法,便达不到经验系数法的效果。本来被测元素是确定的,而且数量有限,固定道就可以解决问题,一味追求可变道,既多花了钱,还牺牲了稳定性和分析时间;就能量色散型仪器而言,ADC道数也并非越多越好。  误区2:片面追求准确度:每当谈到仪器性能,往往会自然而然地把结果是否准确作为第一判断标准,而且在日常应用中也会把大量的精力用于判断仪器“准不准”,最常见的就是与化学分析“对结果”。准确性固然重要,但作为工业分析而言,精密度决不可忽视,首先要关注的是精密度问题,也就是说,同一样品多次测量,其结果应有良好的一致性,每一测量结果与均值的差要足够小,至于测量值与真值的差,往往属于系统偏差,是可以进行数学校正的。  误区3:不重视稳定性和重现性。所谓稳定性是指同一样品连续测量多次(通常为21次)的标准偏差,而重现性则是同一样品间隔较长时间后再次测量的结果之间的一致性。这两项指标是作为工业分析仪器的关键指标,工业分析的结果主要是用于生产过程的控制和参数调整,分析结果的相对变化直接关系着过程控制和调节。而相对变化的准确测量是建立在稳定性和重复性之上的。  误区4:分析时间越短越好。X射线测量是随机事件的统计测量,是由统计规律决定的,计数的绝对量取决于测量时间,并直接决定着测量误差的大小,足够长的测量时间是测量精度的前提条件,为了保证测量精度,必须有足够的测量时间。三、分析技术误区  分析技术是获得正确结果的保证。分析技术贯穿于仪器应用的全过程。分析方法的选择必须满足仪器应用的需要。  误区1:标样制备太麻烦,最好用无标样法。X射线荧光分析事实上是一种对比分析,特别是经验系数法,测得的X射线强度与相应元素浓度的对应关系完全是建立在标准样品的基础之上的,必须制备足够数量的标准样品,标样的质量直接决定了分析结果的可靠性。基本参数法等无标样分析法一般是用于完全未知样品的初步分析的,所谓无标样也只是不需要系列标准样而已。  误区2:标准样品可以购买别人的。由于每个用户的原料情况、配比是各不相同的,而对于X荧光分析而言,标样与被测未知样越相似,测定结果越好,因此,为了取得好的分析结果,各用户应自己配制标样。标样的配置应注意几个问题:  (1)必须主要用生产用原料配制,个别少量组份可用化学试剂;  (2)标样数目应大于被分析元素个数(至少多两个);  (3)标样中被测元素的含量范围应完全覆盖未知样品相应元素的浓度变化范围;  (4)标样中各被测元素的浓度之间不应存在相关性。  误区3:工作曲线的评价。通常对工作曲线的定量评价标准主要是相关系数和标准偏差,从数学上来讲,相关系数越接近1越好,标准偏差越小越好。但必须首先检查是否符合物理意义,斜率大小是否合适。  误区4:基体校正中元素间影响因子的设定越多越好。如不考虑物理意义就数学结果而选择影响因子,就无法保证未知样分析的正确可靠。影响因子的设定应遵循相邻元素、主元素、浓度变化范围大的元素、重元素的原则,在此基础上根据经验试设。几点建议  (一)仪器选型一定要适应本企业的实际情况,根据预想的主要用途和本企业原料、工艺乃至人员素质情况选购仪器;  (二)再好的仪器也要靠人用,应当充分重视分析技术在仪器应用中的重要作用;  (三)关于在线分析:近年来,中子活化在线分析取得的成功,使在线分析成为水泥工业分析的一个亮

  • x射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准

    x射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准Radiological standards for X-ray diffraction and fluorescence analysis equipmentGBZ115-20021 范围 本标准规定了X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的放射防护标准和放射防护安全操作要求。 本标准适用于X射线衍射仪和X射线荧光分析仪的生产和使用。2 规范性引用文件 下列标准中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版本均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GB4075 密封放射源分级 GB4076 密封放射源一般规定 GB8703 辐射防护规定 ZBY226 X射线衍射仪技术条件3 术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。3.1 X射线衍射仪和X射线荧光分析仪 X-ray diffraction equipment and X-ray fluorescence analysis equipment X射线衍射仪 利用X射线轰击样品,测量所产生的衍射X射线强度的空间分布,以确定样品的微观结构的仪器。 X射线荧光分析仪 利用射线轰击样品,测量所产生的特征X射线,以确定样品中元素的种类与含量的仪器。 以下把X射线衍射仪和X射线荧光分析仪统称为分析仪。3.2 闭束型分析仪和敞束型分析仪 enclosed-beam analytic analytical equipment and open-beam analytical equipment 闭束型分析仪 以结构上能防止人体的任何部分进入有用线束区域为特征的分析仪。 敞束型分析仪 结构上不完全符合闭束型分析仪特征的分析仪,操作人员的某部分身体有可能意外地进大有用线束区域。3.3 射线源 radiation source 本标准中,射线源特指X射线管或能便样品受激后发出特征X射线的密封型放射性核素源(以下简称密封型源)。3.4 联锁装置 interlocking device 分析仪的一种安全控制装置,当其中相关的组件动作时可以发出警告信号,或能够阻止分析仪进入使用状态,或使正在工作的分析仪立即关停。3.5 有用线束 primary radiation 来自射线源并通过窗、光栏或准直器射出的待用射线束。3.6 受照射部件 exposed components 分析仪中受到有用线束照射的部件,如:源套、遮光器、准直器、连接器、样品架、测角仪、探测器等。3.7 源套 radiation source housing 套在射线源外部的具有一定防护效能的壳体,分为密封源套和X射线管套。3.8 防护罩 protective enclosure 敞束型分析仪中,用来屏蔽源套和所有受照射部件的一种防护设备。在防护罩的侧面,通常装有可以平移的防护窗,调试、校准等操作结束后,关闭防护窗,能够有效地防止人员受到有用线束和较强散射线的照射。3.9 遮光器 shutter 安装在有用线束出口处的可以屏蔽有用线束的器件。

  • 【好消息】中国仪器仪表学会分析仪器分会X射线荧光光谱分析技术培训5月在北京举办

    X射线荧光光谱分析技术已经广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、公安、考古、难融化物和陶瓷工业、RoHs和 WEEE分析等领域。分析技术已从主、次量、微量元素分析,扩展到痕量元素分析、元素成分微区分布分析等 新近发展到对大气尘埃的分析、生化医药、纳米材料和薄膜分析。随着新分析仪器的普及,X射线荧光光谱仪器已经成为各实验室的常规仪器。  X射线荧光光谱分析具有制样简单、精密度高、准确度好、自动化程度高,能同时对多元素快速分析等优点,已成为化学元素分析的常用工具之一。近年来,国内各分析测试单位配备了很多各种型号的X射线荧光光谱仪,由于仪器功能的充分发挥及分析质量的提高,需要掌握其原理,性能和多种应用技术,为了提高X射线荧光光谱仪器分析技术人员的专业素质和技术水平,充分发挥X射线荧光光谱仪器的功能,提高分析测试质量,特举办培训班,系统地讲授X射线荧光光谱技术及在各领域应用,欢迎大家前来参加。  [b]一、授课教师[/b]  邓赛文:研究员 国家地质测试中心 长期从事X射线荧光光谱分析,主持国家、部、院科学研究项目  [b]二、培训内容[/b]  1、X射线荧光光谱分析基础  2、X射线荧光光谱理论强度计算公式  3、X射线荧光光谱光谱仪分类及其结构性能  4、X射线荧光光谱定量分析  5、X射线荧光光谱分析基体校正  6、X射线荧光光谱定性和半定量分析  7、X射线荧光光谱薄膜和镀层分析  8、X射线荧光光谱分析样品制备  9、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用  10、X射线荧光光谱分析不确定度评定  11、X射线荧光光谱分析标准化及其在水泥行业中应用  12、水泥用X射线荧光分析仪行业标准介绍  13、X射线荧光分析仪器性能检验实验结果  [b]三、培训对象[/b]  各企事业单位从事X射线荧光光谱分析的工作者和科学研究人员  [b]四、培训时间、地点及收费[/b]  2010年5月24日—5月29日 北京  培训费1780元(包括授课费、讲义、文具、证书费等),食宿统一安排,费用自理。 [b] 五、培训考核与发证[/b]  培训结束后由中国仪器仪表学会分析仪器分会颁发培训合格证书及中国仪器仪表学会会员证书(免收个人会员会费,工本费、邮寄费20元) [b][color=#ec0078] 六[/color][color=#ff483f]、报名方式:010-51299927-101,13269178446,[email=training@instrument.com.cn][color=#ff483f]training@instrument.com.cn[/color][/email][/color][/b]

微区分析射线萤光分析仪相关的耗材

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    显微岩相分析仪配件特别为岩相学和地球化学分析而设计,非常适合岩相学分析检测,特别是煤炭质量分析检测,显微岩相分析仪配件在全球的石化,地球化学和岩相学实验室广泛使用。显微岩相分析仪配件应用煤续排列 - 使用反射光方法, 观察其镜质体和丝质体含沥青煤的特性 — 利用落射荧光技术进行分析油母岩的分析 — 以透射光和落射紫外荧光方法百分比含量测定 — 用显微图像设备对样品进行相成分,得知其成分比例无定形材料的评估 — 显微镜下观察其古生物样品,研究其藻类和其植物部分煤岩组份族组成的判断 — 分析含沥青的煤和无烟煤显微岩相分析仪配件介绍在研究和分析煤的起源,形成和使用领域过程中,岩相分析被公认为 是非常重要的。在分析和测试单一煤样品过程中, 我们很容易得知煤的等级,煤岩组分,微石类型组成和矿物分布的重要信息。但对于一个混合煤的样品进行分析和测试, 则离不开对样品进行反射率分析和测试此一有力的方法,此一分析方法不仅可以得到煤样的化学性质,还可以区分不同混合类型的壳质组,丝质组和微惰性煤各部分 所占的比例。国际煤岩相学委员会(ICCP)已制定了相关的命名法和分析方法。在ISO/DIN标准第7404项中,比较了显微分光光度计测试和分析后得到的数据和标准样品的数据, 确认此分析方法的准确性。另一方面, 可同时结合热变指数(TAI)或孢色值(SPI)的测试方法, 可补充其它方面的实验数据。依据DIN/ISO标准进行数据采集处理的分析模式, 使用直方图表达被测量组分的含量和其它组分的相对含量。显微岩相分析仪对煤炭质量分析图样
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    XRF样品测试杯规格、适用于牛津仪器、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯美国Premier XRF样品杯: 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO),或X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO SC-7332 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 规格:双开端口 特点:进动铝 配套套筒可兼容O型环地位标签Catalog NoOD (mm)ID (mm)H (mm)V (ml)SC-7332323038.518
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