超低阻双电四探针测试仪

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超低阻双电四探针测试仪相关的厂商

  • HT ITALIA来自于美丽的欧洲小镇——意大利法恩莎,公司自1983年成立以来,产品年销售额超过4000万欧元。并在2009年在中国广州建立办事处,负责中国地区的产品销售和售后服务。 HT ITALIA公司设立专业的研发团队,在1992年研制生产出HT2038,1999年研制生产了世界上第一台带电能质量分析仪功能的便携式多功能电气安全测试仪——GENUIS 5080,在2001推出具有三相电能质量分析仪功能的多功能电气安全测试——GSC系列,刷新了便携式仪器的多功能之最。2007年HT公司开始涉及太阳能光伏系统测试,以提供太阳能光伏电站的现场测试仪表,HT可提供全面的太阳能光伏电站测试仪表:并网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR300N,太阳能电池I-V特性曲线分析测试仪I-V400,离网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR I-V等。近年来,HT公司又基于自身的设计现场测试理念,推出自主品牌的全新系列红外热像仪产品,以充分满足客户的个性化需求,HT品牌的红外热像仪家族包括:THT41/42/44的经济型系列,THT49的专业级红外热像仪和THT50专家型红外热像仪。现在HT公司拥有:红外热成像仪,电气安全测试仪(含:绝缘电阻测试仪,接地电阻测试仪,漏电保护开关-RCD测试仪,耐压测试仪和多功能电气安全测试仪)、电能质量分析仪、通用测试仪表(含:数字万用表,数字电流钳表,红外测温仪,数字测温仪,数字噪声计,激光测距仪等)、GEF专业绝缘工具(含:绝缘镙丝批,各种绝缘剪钳,各种型号的工具套包,工具箱等)等系列产品。
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  • 金坛市品杰测试仪器有限公司,主要从事气候环境与可靠性试验设备的科研、生产、销售和服务。公司产品是江苏省星火科技扶持项目,公司地址为位于国家科技产业区-著名数学家华罗庚的故乡:江苏省金坛市金城镇工业园区。距常州火车站以及南京禄口机场约一个小时车程,地理位置极其优越便捷。公司本着以“品质为企业的使命”、“服务是友谊的延续”的目标,为客户提供全方位,高品质的测试用试验设备。 公司主导产品有:高低温(交变)试验箱、高低温湿热(交变)试验箱(也称可程式恒温恒湿试验箱)、盐雾腐蚀试验箱(盐水喷雾试验机)、二氧化硫腐蚀试验箱,霉菌试验箱,温度冲击试验箱,防尘、防水(IP外壳防护等级测试设备),光老化(紫外光耐气候,氙灯耐气候),温度老化试验箱等模拟气候类环境试验设备以及各类步入式试验室,产品广泛应用在军工、航空航天、电工电子、仪器仪表、家用电器、汽摩配件、科研质检等各类领域。 公司拥有先进的生产设备及工艺,如数控冲床、折弯机、剪板机、二氧化碳气体保护焊等设备,令生产出的产品工艺更加精湛,公司外购件均采用国内、外知名品牌,如美国Honeywell,韩国三元,法国TE等,制冷压缩机采用法国泰康,德国谷轮等品牌。公司也自行开发专用试验箱控制器,在设计中融入了计算机技术,采用大面积彩色触摸屏的人机交谈方式,发挥了设备更好的性能以及方便了用户对设备的操作。 “客户满意”是公司永远的追求,公司承袭“以诚为本”的经营宗旨,奉行“质量是企业的生命”为用户提供有效可靠的最佳产品解决方案和售后跟踪“保姆式”服务,公司在2008年已经通过ISO9001:2000质量体系认证,真正做到售前指导、售中培训、售后跟踪的完善体系。
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  • 山东省潍坊瑞格测试仪器有限公司是一家专业从事分析检测仪器的研发、生产、销售及服务于一体的高科技企业。公司产品主要应用于农业科研、土壤分析、地质勘探、公路建设、食品、医药、化工、卫生防疫、环保检测等领域。 目前公司主要有四大系列产品,分别为粉碎系列、药残检测系列、田间信息管理系列、样前处理系列。产品获得国家17项专利,其中自主研发的“改进型土壤粉碎机”入围2011年度国家星火计划。产品在中科院、社科院、环科院、中国农业大学、山东大学等多个科研院校中得到广泛应用,并在全国多个省土肥站测土配方施肥项目仪器采购中中标。公司还积极拓展海外业务,且远销印度及东南亚等地区。 公司自创立以来,本着“质量第一,用户至上”的原则,秉承“科技服务社会”的理念,积极引进吸收国内外的先进技术,不断研制开发出优质、高效、实用的新型产品。
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超低阻双电四探针测试仪相关的仪器

  • 四探针,四探针测试仪,表面电阻测试仪,电阻率测试仪,方阻计,方阻仪,FT-361超低阻双电四探针测试仪一、概述:本品为解决四探针法测试超低阻材料方阻及电阻率,最小可以测试到1uΩ方阻值,是目前同行业中能测量到的最小值,采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。选购:本机还可以配合各类环境温度试验箱体使用,通过不同的测量治具满足不同环境温度下测量方阻和电阻率的需求.二、广泛用于:覆盖膜 导电高分子膜,高、低温电热膜 隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜,抗静电材料, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等 三、参数资料1.方块电阻范围:10-6~2×102Ω/□2.电阻率范围:10-7~2×103Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA.4.电流精度:±0.1%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率.7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件; 2.方形探头; 3.直线形探头; 4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原
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  • 双电测电四探针方阻电阻率测试仪环境要求环境温度为23℃±1℃,相对湿度不大于65%。干扰因素光照可能严重影响观察电阻率,特别是近似本征材料。因此,所有测试应在暗室进行,除非是待测样品对周围的光不敏感。3.2当仪器放置在高频于扰源附近时,测试回路中会引入虚假电流,因此仪器要有电磁屏蔽。3.3试样中电场强度不能过大,以避免少数载流子注入。如果使用的电流适当,则用该电流的两倍或一半时,引起电阻率的变化应小于0.5%。3.4由于电阻率受温度影响,一般测试适用温度为23℃±1 ℃.3.5对于厚度对测试的影响,仲裁测量要求厚度按本方法的6.3规定测量,一般测量用户可以根据实际需要确定厚度的要求偏差。3.6由于探针压力对测量结果有影响,测量时应选择合适的探针压力。3.7仲裁测量时选择探针间距为1.59mm,非仲裁测量可选择其他探针间距。4方法提要直排四探针测量示意图5测量仪器5.1探针装置由以下几部分组成。5.1.1探针用钨,碳化钨或高速钢等金属制成,针尖呈尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所必须随时保持整齐、干净,不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。4.3.4人员资格本仪器为精密仪器,必须由训练合格的人员使用和操作。4.3.5安全守则操作人员必须随时给予教育和训练,使其了解各种操作规则的重要性,并依安全规则操作。圆锥型,夹角为45°~150*,尖端初始标称半径为25 μm~50 μm。5.1.2探针压力,每根探针压力为1.75 N士0.25 N或4.0N±0.5N,分别用于硅单晶棒的电阻率测量,也可选择其他合适的探针压力。5.1.3绝缘性,一探针(包括连接弹簧和外部引线)与任何其他探针或装置任一部分之间绝缘电阻大于10’Ω.5.1.4探针排列和间距,四根探针的尖端应成等间距直线排列。仲裁测量时,探针间距(相邻探针之间的距离)标称值应为1.59mm。其他标称间距如1.00mm和0.6mm用于非仲裁测量,探针间距按7.2测定。5.1.5探针架,能在针尖几乎无横向移动的情况下使探针下降到试样表面.双电测电四探针方阻电阻率测试仪技术参数:1.电阻率:10-5~2×106Ω-cm2.电 阻:10-5~2×106Ω3.电导率:5×10-6~105ms/cm4.分辨率: 小0.1μΩ测量误差±(0.05%读数±5字)5.测量电压量程: 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±(0.1%读数)6.分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV7.电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,由交流电源供电。量程:1μA,10μA,100µ A,1mA,10mA,1000mA, 误差:±0.2%读数±2字8.显示方式:液晶显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算9.传感器压力:200kg (其他规格可以定制)10.粉末测量装置 模具:内径10mm;高:25mm;加压方式:手动液压加压/自动加压方式11.电源:220±10% 50HZ/60HZ12.主机外形尺寸:330mm*350mm*120mm双电测电四探针方阻电阻率测试仪安全要点● 非合格的操作人员和不相关的人员应远离测试区。● 万一发生问题,请立即关闭电源并及时处理故障原因。双电测电四探针方阻电阻率测试仪衣着规定操作人员不可穿有金属装饰的衣服或戴金属手饰和手表等,这些金属饰物很容易造成意外的感电。4.3.7医学规定绝对不能让有心脏病或配戴心律调整器的人员操作。4.4测试安全程序规定 一定要按照规定程序操作。操作人员必须确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。双电测电四探针方阻电阻率测试仪操作流程和测试步骤1.使用前期准备--测试前准备工作:1.1.开机预热:将220V电源插头插入电源插座,打开电源开关,让仪器预热15分钟,保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动,请按以下步骤检查:①检查电源线是否接触良好;②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断,如有必要,请更换保险丝④_x0001_ 如经上述检查无误后,测试仪仍未正常启动,请联系本公司进行解决。
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  • FT-346双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-2~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-3~2×106Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.3%读数5.电阻精度:≤0.5%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针
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超低阻双电四探针测试仪相关的资讯

  • 瑞柯发布瑞柯全自动四探针测试仪新品
    FT-3110系列全自动四探针测试仪一.功能描述:四点探针法,全自动化运行测量系统,PC软件采集和数据处理;参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻;可设定探针压力值、测试点数、多种测量模式选择;真空环境,可显示:方阻、电阻率、显示2D,3D扫描/数值图、温湿度值、提供标准校准电阻件. 报表输出数据统计分析.FT-3110系列全自动四探针测试仪二.适用范围晶圆、非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等;半导体材料分析,铁电材料,纳米材料,太阳能电池,LCD,OLED,触摸屏等. FT-3110系列全自动四探针测试仪三.技术参数: 规格型号FT-3110AFT-3110B1.电阻10^-5~2×10^5Ω10^-6~2×10^5Ω2.方块电阻 10^-5~2×10^5Ω/□10^-6~2×10^5Ω/□3.电阻率 10^-6~2×10^6Ω-cm10-7~2×106Ω-cm4.测试电流 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA, 10mA,100mA1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA5.电流精度 ±0.1% 6.电阻精度 ≤0.3%7.PC软件操作PC软件界面:电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、2D、3D图谱、压力、报表生成等8.压力范围:探针压力可调范围:软件控制,100-500g可调9.探针针间绝缘电阻:≥1000MΩ;机械游移率:≤0.3%圆头铜镀金材质,探针间距1mm;2mm;3mm选配,其他规格可定制10.可测晶片尺寸选购 晶圆尺寸:2-12寸(6寸150mm,12寸300mm);方形片:大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm11.分析模式单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的自动测试12.加压方式测量重复性:重复性≤3% 13.安全防护具有限位量程和压力保护 误操作和急停防护 异常警报14.测试环境真空15.电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:100W 16.选购项目电脑和打印机创新点:仪器采用全自动操作,抽真空处理瑞柯全自动四探针测试仪
  • 双靶向近红外荧光探针,为食管癌精准手术提供新型可视化手段
    食管癌是我国的高发癌症之一,数据显示,我国食管癌的发病率和死亡率均占全球的一半以上。根治性手术切除是首选,而无法精准识别微小转移病灶是影响手术预后的重要原因,近红外荧光(NIRF)探针虽然能辅助识别肿瘤边界、检测转移病灶,但单一的靶向探针却难以覆盖大部分食管癌病灶。近日,中山大学附属第五医院(中大五院)单鸿教授团队研发了一种双靶向近红外荧光探针,可有效提高肿瘤靶向性,为食管癌精准手术提供新型可视化手段。相关研究成果Preclinical evaluation of a novel EGFR&c-Met bispecific near infrared probe for visualization of esophageal cancer and metastatic lymph nodes,发表在核医学与分子影像期刊《European Journal of Nuclear Medicine and Molecular Imaging》上。其中单鸿教授、李丹研究员为共同通讯作者,梁明柱副主任医师为第一作者。图1:EGFR与c-Met对食管癌转移淋巴结的联合检测率显著高于EGFR或c-Met单独检测率图2:EGFR&c&Met双靶向NIRF探针既能识别EGFR阳性食管癌又能识别c-Met阳性食管癌该研究针对食管癌特异性表达的表皮生长因子受体(EGFR)和细胞间充质上皮转化因子(c-Met),聚焦食管癌发生发展过程中肿瘤靶点蛋白表达特征,发现EGFR和c-Met在食管癌和转移淋巴结互补表达,EGFR或c-Met单独检测率仅为50%-60%,而联合检测率提高至80%以上(图1),基于临床验证安全性的EGFR&c-Met双特异抗体构建NIRF探针,在动物肿瘤模型中证实该探针能提高食管癌的识别能力(图2),并准确鉴别良恶性淋巴结(图3),对食管癌精准手术导航具有良好的临床转化潜力和应用前景。图3:EGFR&c&Met双靶向NIRF探针准确鉴别食管癌转移淋巴洁和炎性淋巴结单鸿教授研究团队长期致力于分子影像技术的研究,在国家重点研发计划等重大项目的资助下,开发针对食管癌的系列新型探针并牵头开展多项临床试验,制定了食管癌分子影像专家共识,有力推动了我国食管癌精准诊疗技术的发展。据介绍,单鸿系中大五院院长、介入医学中心主任、影像医学部学科带头人,医学博士、博士研究生导师、教授、主任医师,享受“国务院政府特殊津贴”专家、国家重点研发计划首席科学家、南粤百杰(广东特支计划杰出人才)、广东省医学领军人才、中山大学名医,全国先进工作者、广东省五一劳动奖章获得者、珠海市荣誉市民。现任中国医院协会介入医学中心分会主任委员、中国医师协会介入医师分会副会长、《中华介入放射学电子杂志》总编辑。长期从事肿瘤、血管及肝脏疾病的多组学融合与创新研究,致力于实现疾病的独创性可视化探索,并将相关研究成果进行临床转化。以通讯或第一作者发表高水平论文100余篇,其中包括:N Engl J Med、National Science Review、Gastroenterology、Gut、Hepatology、Lancet Gastroenterol Hepatol、Radiology、Cancer Res、J Nucl Med等高水平论文。主编《临床介入诊疗学》、《临床血管解剖学—介入放射学动脉图谱》、《肝脏移植影像学》等专著。主持国家重点研发计划项目、国家自然科学基金重点项目、国际(地区)合作研究项目、国家自然科学基金面上项目等多个国家级、省部级项目。授权国家发明专利13项。牵头申报的《不同性质门脉高压症综合介入治疗的临床系列研究》获2005年教育部提名国家科技进步奖一等奖;《肝移植围手术期影像学及介入诊疗技术的系列研究》获2010年广东省科技进步奖一等奖;《分子影像学在肿瘤诊疗中的基础与应用研究》获2020年华夏医学科技奖二等奖;《新型冠状病毒肺炎临床救治的“珠海实践”》获2021年珠海市科技进步奖特等奖。李丹系中大五院核医学科副主任、科研处处长,研究员、医学博士、博士研究生导师,中华医学会放射学分会分子影像学组委员、广东省医学会放射医学分会第十一届委员会分子影像学组副组长。研究方向为分子影像技术在重大疾病诊疗中的应用,主持国家自然科学基金面上项目、青年科学基金项目、国家重点研发计划分课题等项目,在相关领域以第一或通讯作者发表高水平论文30余篇,其中包括:J Nucl Med、Eur J Nucl Med Mol Imaging、Acta Pharm Sin B、J Control Release、Pharmacol Res、ACS Appl Mater Interfaces等国际学术期刊,获得授权发明专利10余项。梁明柱系中大五院放射科副主任医师、医学博士、硕士研究生导师,广东省医学会放射学分会心胸学组委员、珠海市医学会放射学分会委员、珠海市医师学会放射学分会常委。长期从事胸部肿瘤影像诊断及分子探针研究,主持国家、省市级科研项目4项,参加国家重点研发计划等科研项目3项,近五年以第一作者及共同第一作者在相关领域发表包括Eur J Nucl Med Mol Imaging、J Control Release等高水平论文多篇。
  • 我司在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。
    我司于2017年1月在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。该探针台配置四个三同轴探针臂和两个光纤探针臂,漏电流优于50fA。该探针台变温范围大(8K-675K)。我司提供Keithley 4200半导体特性仪,并提供集成变温IV、CV和输运和转移特性等测试软件 变温测量IV和VI曲线 变温场效应管(横坐标Vgs,纵坐标Ids, 不同曲线代表不同的Vds和温度) 变温场效应管(横坐标Vds,纵坐标Ids, 变温CV测试(横坐标偏压,纵坐 不同曲线代表不同的Vgs和温度) 标电容,不同曲线代表不同温度)

超低阻双电四探针测试仪相关的方案

超低阻双电四探针测试仪相关的资料

超低阻双电四探针测试仪相关的试剂

超低阻双电四探针测试仪相关的论坛

  • 四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点:1、 配有双数字表: 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更简便,测量更精确。数字电压表量程:0—199.99mV 灵敏度:10μV输入阻抗:1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围:10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围:10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能,当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时,电压表指零,只有1、4 探针接触到硅片,测量电流渡过单晶时,电压表才指示2、3 探针间的电压(即电阻率)值,避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定(万分之五精度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响,整机测量精度10 万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用,实现自动换向测量、求平均值,计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构,使探针的游移率减小,测量重复性提高(国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权,专利号:ZL03274755.1)。

超低阻双电四探针测试仪相关的耗材

  • 多位晶圆四探针测试仪
    结合jandel公司生产的四探针探头对晶片的电阻率进行测量。主要特点:可简单预设待测晶片上1到25个测量位置;8英寸/6英寸晶片真空吸盘;带有电流开关的杠杆操作探头,可避免产生火花;定位精度小于±1mm;幻灯片准确度不高于测量区域;遮盖待测区域,消除光电干扰;技术指标:8〞型号表具有真空卡槽、定心凹槽,镊子切口的硬铝合金晶片尺寸Φ=5〞/6〞/8〞预设测量位置中心点:垂直直径四个点,32,38,50,57,68,94mm晶片 1/2R 距边缘6mm5〞 32mm 57mm6〞 38mm 68mm8〞 50mm 94mm6〞号晶片尺寸Φ=3〞/4〞/5〞/6〞预设测量位置中心点;垂直直径四个点,15,20,25,35,50,60mm可配真空线路、真空泵外形尺寸355mm * 215mm * 195mm(H)净重6〞:3.5kg8〞:4.0kg
  • Jandel通用型四探针测试仪
    Jandel这种组合方式是目前jandel公司最受欢迎的产品.该系统可用于测量各种薄层的小尺寸样本以及直径300mm高250mm的晶圆锭 (检测厚样品之前要咨询)。可测晶片直径D≤250mm(可选配D≤300mm,无需付费)可测晶片厚度H≤250mm(可更厚,请咨询)微动开关防止探针不与样品接触时的电流流动手动控制探针接触和移动的简单杠杆操作装配简单RM300和四探针探头通过单线连接系统配置组成部件测试台----1个可调节高度主机----1台可调节高度轴杆----1根四探针探头----1个连接电缆----1根设备尺寸可调节高度测试台:W*L*H(mm)250*290*8(320*370*8,可选)可调节高度探头组件:W*L*H(mm)60*280*80(60*330*80,可选)可调节高度的轴杆:D(mm)19;L(mm)200(可定制最高高度到1000mm)
  • 四探针方阻测试探头 4PP光伏硅片4点探头 KLA、CDE、NAPSON 原厂;晶圆 ITO薄膜电阻探头
    四点探针头是用于方阻测试设备上的精密零件,我公司生产的探头能适配到国内外所有的方阻测试设备上,稳定性和一致性十分优秀;无缝替代由国外生产的探头JANDEL、CDE等国外品牌,打破国外技术垄断和封锁。探针的针尖材料一般是用碳化钨。每一种探头的主要选择配置参数: A,探头主体材料及外形尺寸 B,针尖半径 C,针头的间隔 D,针头的负载 E,针头排列,线型,或者正方形。 F,连接方式: 连接器,或导线联接及长度主要的应用领域: 硅片电阻率的测量。 晶圆的电阻率的4点测量。 外延、离子注入层的4点电阻测量。 金属薄膜和其他薄膜的4点电阻测量。
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