薄膜质量检测系统

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薄膜质量检测系统相关的厂商

  • 泰默检测技术有限公司成立于2014年,是一家专注于原创精密仪器设计的高新技术企业。在锂电池热管理系统性能分析与评估、多层分均值薄膜面向导热系数测试及装配式建筑中的钢板混凝土脱空缺陷等技术领域有深度积累。泰默检测围绕热成像测温及其应用,产品可覆盖锂电池、新能源、电子产品、建筑业、制造业、航空航天等行业领域。
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  • 房屋检测中心是专业从事房屋检测、结构监测、工程检测和评估鉴定的第三方检测机构。具有国家认可的CMA、CNAS等相关证书,可以3-7天内出具相应的检测报告。建筑质量检测中心以经验丰富的专家团队,高端的检测设备和前沿的核心技术,为相关机构、设计、施工单位提供科学的决策依据、技术咨询和解决方案。 业务范围:房屋质量检测、房屋抗震鉴定、厂房检测鉴定、工业建筑检测鉴定、玻璃幕墙检测、桥梁检测、工程检测、码头检测、烟囱检测、货架检测、钢结构工程检测、焊接工艺评定、热像检测、建筑物振动检测、地下管网检测鉴定、工业设备可靠性鉴定。
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  • 400-860-5168转4479
    可脉检测(南京)有限公司可脉检测(南京)有限公司 QMAXIS Testing (Nanjing) Ltd.是美国QMAXIS LLC在中国设立的独资企业。专营QMAXIS金相试样制备仪器和耗材,并提供技术服务。可脉检测全功能金相实验室可为您提供定制化的检测服务。QMAXIS强大的资源是形成了金相试样制备仪器和耗材的北美联盟,集设计、制造、制备方法、解决方案为联盟共同开发的核心。推出的金相试样制备仪器和耗材都是优良的、被使用者广为采用的认证产品。借助联盟的规模化力量,能为用户提供高性价比的仪器和耗材,这是联盟的核心价值所在。QMAXIS高性价比的优势,使它广泛应用于教育、科研、检测机构、制造业。金相制样设备:砂轮切割机,精密切割机;热压镶嵌机,真空渗透仪;研磨抛光机金相制样耗材:砂轮切割片,金刚石切割片,CBN切割片,切割冷却润滑液,磨石;热压镶嵌粉,环氧树脂和固化剂,丙烯酸树脂和固化剂,镶嵌辅助材料;磨盘更换系统,金刚石磨盘,碳化硅砂纸,金刚石薄膜,氧化铝研磨粉,抛光布,金刚石抛光液,金刚石抛光膏,抛光冷却润滑液,氧化铝/硅胶最终抛光悬浮液和抛光粉可脉检测的专业技术团队为您提供整套的、简捷的、个性化的金相制样解决方案!
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薄膜质量检测系统相关的仪器

  • 薄膜检测系统ST-4为紧凑桌面型系统,单独放置于实验工作台上工作。其通用性及机动性,决定了比固定于单套系统上的检测单元具有更大的灵活性和开放性。例如在石化实验室中,多套薄膜样品制备单元,例如:吹膜机、流延膜机等,都可将其产出的薄膜样品利用ST-4进行检测。 薄膜检测系统ST-4由特殊的高速数字式线扫描照相机,及一个或两个光源单元(反射或透射式)组成。一个位于铝合金箱体之中,另一个位于外部在线扫描照相机和上述光源之间。线扫描照相机连接到高性能图像处理计算机。待测薄膜样品置于可滑动的样品框架上,特殊设计的步进电机控制薄膜样品的移动以进行扫描检测。 薄膜检测系统ST-4设计用于精确的样品表面质量检测。透明材料例如薄膜(PP/PE)、片材(PC)、玻璃等,以及非透明材料例如纸张、金属和织物等都可以被检测。系统会检测凝胶、鱼眼、杂质、孔洞、擦痕及其他表面缺陷。适用于实验室及研发用途。 透射光源用于透明材料如薄膜的检测。在此模式下,将使用铝合金箱体中的光源单元,被测材料在它和线扫描照相机之间移动。金属层板在此模式下将被移除,被测材料直接置于样品框架之上并被固定。而反射光源用于非透明材料如纸张的检测。在此模式下,使用外部光源,被测材料置于金属层板之上,连接于样品框架并进行检测。 系统的软件为基于Windows的菜单式操作,非常友好,易于使用。评测区域及模式可由用户进行调整。所有检测数据立即保存并且分析评估,并可在日后重新处理。
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  • 薄膜瑕疵检测系统可实现检测各类薄膜产品在生产过程中表面出现的划伤、划痕、晶点、孔洞、凹坑、黑点、白点、色差、脏污、破损、起皮、褶皱等常见瑕疵进行检测。自动探测、疵点定位、缺陷分类、布边打标、质量评估等多种功能于一体,可针对多种不同的薄膜产品进行检测,其检测速度与精度达到同类产品水平,并且具有使用维护方便,性价比高的优点。  【薄膜瑕疵检测】产品功能  面料全幅检测、布卷信息记录、检测各种疵点、软件数据库管理、瑕疵记录、系统报警、自动贴标  【薄膜瑕疵检测】产品优势  1)操作便捷:操作简单,只需点击“开始”、“停止”即可完成所有操作。  2)稳定性高:可连续工作在极端温度和厂房环境中。  3)幅面表面检测:发现疵点时可根据设定发出报警,提示及时修复,避免大量缺陷产品的产生。  4)完整的表面质量信息:疵点图像由计算机保存,每卷产品都有完全的疵点图像/位置和数量等信息,产品幅面边缘根据需要可以进行自动贴标。  5)高精度检测:方案可检测出0.02 平方毫米以上的疵点缺陷,满足客户的不断提升的产品品质要求。  6)软件数据库管理功能:可对每卷材料进行质量统计,详细的缺陷记录和统计为生产工艺及设备状态调整提供了方便。  7)定位标识功能:每生产一卷产品,系统会自动对产品的表面缺陷进行统计,同时打印出统计标签,贴在产品上,跟随产品发放下游。  8)系统联动:当系统检测到疵点时进行声光报警,也可在系统中加入其他连锁I/O 输出。  9)一键导出:一键导出EXCEL缺陷明细表,便于用户做进一步的查询,分析,建档。  【薄膜瑕疵检测】应用场景  薄膜瑕疵检测系统可应用于塑料薄膜、医用滤膜、化工滤膜、包装膜、保护膜、涂布膜、光学级薄膜等薄膜瑕疵检测。
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  • 薄膜质量检测系统FSA-100应用于薄膜表面质量的检测。适用各种透明材料包括薄膜、玻璃以及不透明材料包括纸张、铝片、不锈钢及无纺布等。 检测薄膜时,系统可以检测出鱼眼、黑点、孔洞以及其他缺陷。并且可以定义最小到5微米的10个不同缺陷等级。 FSA-100系统带高速线扫描器及光源。高速线扫描器连接到高性能的图象处理计算机。 曝光时间不依赖于生产线的速度。速度信号的获得来自独立的感应器,其通过平滑的滚轮固定于传送带上,因此不需要人工来设定速度。 计算机软件操作应用直观的菜单模式,并符合SAA标准。使用界面友好,易于学习和操作。同时某些选项可由密码保护,这样就为不同级别的操作者使用提供了方便。 检测结果可以在显示器上实时显示。同时,也会在硬盘中保存以便日后评估,或者也可以按不同的时间间隔打印出来。在检测结束后,将会打印出一个检测报告。报告的样式可以由用户设计。 为方便评估,结果的显示可以为柱状图或者表格形式。图表为彩色格式,可以通过彩色打印机打印出来。 系统的各种设置,会对测量结果有各种各样的影响,这样设置都可以在硬盘中保存。在检测不同的材料时,不同的设置参数可以从硬盘中导出。这样方便用户从一种材料到另一种材料的切换。
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薄膜质量检测系统相关的资讯

  • 高光谱成像技术在薄膜厚度检测中的应用
    研究背景在薄膜和涂层行业中,厚度是非常重要的质量参数,厚度和均匀性指标严重影响着薄膜的性能。目前,薄膜厚度检测常用的是X射线技术和光谱学技术,在线应用时,通常是将单点式光谱仪安装在横向扫描平台上,得到的是一个“之”字形的检测轨迹(如下图左),因此只能检测薄膜部分区域的厚度。SPECIM FX系列行扫描(推扫式成像)高光谱相机可以克服上述缺点。在每条线扫描数据中,光谱数据能覆盖薄膜的整个宽度(如上图右),并且有很高的空间分辨率。 实验过程 为了验证高光谱成像技术在膜厚度测量上的应用,芬兰Specim 公司使用高光谱相机SPECIM FX17(935nm-1700nm))测量了4 种薄膜样品的厚度,薄膜样品的标称厚度为17 μm,20 μm,20 μm和23 μm. 使用镜面几何的方法,并仔细检查干涉图形,根据相长干涉之间的光谱位置及距离,可以推导出薄膜的厚度值。通过镜面反射的方式测量得到的光谱干涉图,可以转化为厚度图使用 Matlab 将光谱干涉图转换为厚度热图,通过SPECIM FX17相机采集的光谱数据,计算的平均厚度为18.4 μm、20.05 μm、21.7 μm 和 23.9 μm,标准偏差分别为0.12 μm、0.076 μm、0.34 μm和0.183 μm。当测量薄膜时,没有拉伸薄膜,因此测量值略高于标称值。此外,在过程中同时检测到了薄膜上的缺陷,如下图所示,两个缺陷可能是外部压力造成的压痕。结论SPECIM FX17高光谱相机每秒可采集多达数千条线图像,同时可以对薄膜进行100%全覆盖在线检测,显著提高了台式检测系统的检测速度,提高质量的一致性并减少浪费。与单点式光谱仪相比,高光谱成像将显著提高薄膜效率和涂层质量控制系统,同时也无X射线辐射风险。 理论上,SPECIM FX10可以测量1.5 μm到30 μm的厚度,而SPECIM FX17则适用于4 μm 到90 μm的厚度。如需了解更多详情,请参考:工业高光谱相机-SPECIM FX:https://www.instrument.com.cn/netshow/C265811.htm
  • 在线色差仪进行塑料薄膜颜色检测
    塑料薄膜的颜色是产品设计和品牌营销中至关重要的元素。通过选择适当的颜色,塑料薄膜能够吸引消费者的目光,从而增加产品的吸引力和销售潜力。同时,特定的颜色也可以建立品牌的识别度和差异化,使消费者能够迅速辨认出属于特定品牌的产品。颜色不仅传达产品的特性和价值,还能够激发消费者的情感共鸣,与他们建立情感连接。因此,塑料薄膜的颜色选择应该经过精心考虑,以确保与产品定位、目标受众和品牌形象相契合,从而实现市场竞争的优势和品牌的成功。本文将介绍ERX130在线色差仪在塑料薄膜的色彩颜色解决方案。ERX130在线色差仪用于测量和评估塑料薄膜颜色的准确性和一致性。它是一种高精度的仪器,采用先进的光学技术和色度学算法,可提供可靠的颜色测量结果。ERX130在线色差仪具有生产线反射测量、与ESWinQC或CLCC连接、300mm测量距离和90mm测量光斑以及在线反射测量等优点,提供便捷、准确和实时的塑料薄膜颜色测量解决方案。这种仪器专为小型结构化图案样品的反射测量而设计。它的目标是帮助操作人员及时预警色彩问题,以避免生产过程中可能导致昂贵的浪费、返工和推迟上市等问题。当与ESWinCLCC软件配套使用时,ERX130在线色差仪将成为自动化在线质量控制系统的关键组成部分,实现自动调整色彩,从而满足各种工业应用的要求。另外,ERX130非接触式在线色差仪可用于避免生产线出现错误。它可以在整个生产过程中进行反射测量,确保及时发现并纠正色差问题,无需停止生产。配合ESWinQC软件使用,该仪器能够为操作人员提供实用的指导,使其能够立即采取措施来纠正问题。该仪器操作简单,支持与特定标准或绝对测量值进行比较,能够在人眼察觉色差之前识别出问题,并及时进行调整,从而避免批次损失而且凭借同轴光学测量结构、远距离测量和大测量光斑特点,ERX130在线色差仪非常适合监测各种带纹理、精细图案和反光工业材料,包括乙烯基、纺织品、颜料、油漆、石膏、薄膜以及粉末和沙子等散装货物。ERX130在线色差仪作为高精度的工具,为塑料薄膜颜色的准确性提供了可靠的解决方案。它的使用能够提高生产效率、降低成本,并确保产品的色彩一致性和质量稳定性。作为色彩管理的可靠伙伴,ERX130在线色差仪为企业实现市场竞争优势和品牌成功提供了有力支持。“爱色丽彩通”是丹纳赫公司旗下的品牌,总部位于美国密歇根州,成立于1958年。作为全球领先的色彩趋势、科学和技术公司,爱色丽彩通提供服务和解决方案,帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。
  • 微纳加工薄膜应力检测的国产化破局
    1.为什么要检测薄膜应力?薄膜应力作为半导体制程、MEMS微纳加工、光电薄膜镀膜过程中性能测试的必检项,直接影响着薄膜器件的稳定性和可靠性,薄膜应力过大会引起以下问题:1.膜裂;2.膜剥离;3.膜层皱褶;4.空隙。针对薄膜应力的定量化表征是半导体制程、MEMS微纳加工、光电薄膜制备工艺流程中品检、品控和改进工艺的有效手段。(见图一)图一、薄膜拉/压内应力示意图(PIC from STI 2020: Ultraviolet to Gamma Ray, 114444N)2.薄膜应力测试方法及工作原理目前针对薄膜应力测试方法主要有两种:X射线衍射法和基片轮廓法。前者仅适用于完全结晶薄膜,对于纳米晶或非晶薄膜无法进行准确定量表征;后者几乎可以适用于所有类型的薄膜材料。关于两种测试方法使用范围及特点,请参考表一。表一、薄膜应力测试方法及特点测试方法适用范围优点局限X射线衍射法适用于结晶薄膜1.半无损检测方法;2.测量纯弹性应变;3.可测小范围表面(φ1-2mm)。1.织构材料的测量问题;2.掠射法使射线偏转角度受限;3.X射线应力常数取决于材料的杨氏模量E;4.晶粒过大、过小影响精度。基片轮廓法几乎所有类型的薄膜材料激光曲率法:1.非接触式/ 无损;2.使用基体参数,无需薄膜特性参数;3.大面积测试范围、快速、简单。1.要求试样表面平整、反射;2.变形必须在弹性范围内;3.毫米级范围内平均应力。探针曲率法(如台阶仪):1.使用基体参数,无需薄膜特性参数;2.微米级微区到毫米级范围。1.接触式/有损;2.探针微米级定位困难导致测量数据重复性不够好。速普仪器自主研发生产的FST5000薄膜应力测量仪(见图二)的测试原理属于表一中的激光曲率法,该技术源自于中国科学院金属研究所和深圳职业技术学院相关研究成果转化(专利号:CN204854624U;CN203688116U;CN100465615C)。FST5000薄膜应力测量仪利用光杠杆测量系统测定样片的曲率半径,参见图三FST5000薄膜应力测量仪技术原理图。其中l和D分别表示试片(Sample)和光学传感器(Optical Detector)的移动距离, H1和H2分别表示试片与半透镜(Pellicle Mirror),以及半透镜与光学传感器之间的光程长。 图二、速普仪器FST5000薄膜应力测量仪示意图图三、FST5000薄膜应力测量仪技术原理图3.速普仪器FST5000薄膜应力测量仪技术特点及优势a.采用双波长激光干涉法,利用Stoney公式获得薄膜残余应力。该方法是目前市面上主流测试方法,包括美、日、德等友商均采用本方法,我们也是采用该测量方法的国内唯一供应商。并且相较于进口友商更进一步,速普仪器研发出独特的光路设计和相应的算法,进一步提高了测试精度和重复性。通过一系列的改进,使我们的仪器精度在国际上处于领先地位。(参考专利:ZL201520400999.9;ZL201520704602.5;CN111060029A)b.自动测量晶圆样品轮廓形貌、弓高、曲率半径和薄膜应力分布。我们通过改进数据算法,采用与进口友商不同的软件算法方案,最终能够获得薄膜应力面分布数据和样片整体薄膜应力平均值双输出。(参考中国软件著作权:FST5000测量软件V1.0,登记号:2022SR0436306)c.薄膜应力测试范围:1 MPa-10 GPa,曲率半径测试范围:2-20000m。基于我们多年硬质涂层应力测试经验,以及独特的样品台设计和持续改进的算法,FST5000薄膜应力测量仪可以实现同一台机器测试得到不同应用场景样品薄膜应力。具体而言,不但可以获得常规的小应力薄膜结果(应力值<1GPa,曲率半径>20m),同时我们还能够测量非常规小曲率半径/大应力数值薄膜(应力值>1GPa,曲率半径<20m)。目前即使国外友商也只能做到小应力测试结果输出。d.样品最大尺寸:≤12英寸,向下兼容8、6、4、2英寸。FST5000薄膜应力测量仪能够实现12英寸以下样品测试,主要得益于我们独特的样品台设计,光路设计及独特的算法,能够实现样品精准定位和数据结果高度重复性。(参考专利:ZL201520400999.9;ZL201520704602.5;CN111060029A)e.样品台:电动旋转样品台。通过独特的样品台设计,我们利用两个维度的样品运动(Y轴及360°旋转),实现12英寸以下样品表面全部位置覆盖及精准定位。(参考专利:ZL201520400999.9)f.样品基片校正:可数据处理校正原始表面不平影响(对减模式)。通过分别测量样品镀膜前后表面位形变化,利用原位对减方式获得薄膜残余应力面型分布情况。同样得益于我们独特的样品台设计和光路设计,保证镀膜前后数据点位置一一对应。4.深圳市速普仪器有限公司简介速普仪器(SuPro Instruments)成立于2012年,公司总部位于深圳市南山高新科技园片区,目前拥有北京和苏州两个办事处。速普仪器是国家高新技术企业和深圳市高新技术企业。公司拥有一群热爱产品设计与仪器开发的成员,核心团队来自中国科学院体系。致力于材料表面处理和真空薄膜领域提供敏捷+精益级制备、测量和控制仪器,帮助客户提高产品的研发和生产效率,以及更好的品质和使用体验。速普仪器宗旨:致力于材料表面处理和真空薄膜领域提供一流“敏捷+精益”级制备、测量和控制仪器。速普仪器核心价值观:有用有趣。

薄膜质量检测系统相关的方案

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薄膜质量检测系统相关的试剂

薄膜质量检测系统相关的论坛

  • [原创]如何检测塑料薄膜中的爽滑剂分布

    [em23] 塑料薄膜工业的发展,促进了其助剂的发展,爽滑剂就是其中一例。目前塑料薄膜中加入爽滑剂的主要作用是通过显著降低BOPP 薄膜的摩擦系数,改变BOPP 薄膜滑动性和抗粘性之间的平衡,使BOPP 薄膜具有良好的爽滑效果,确保其在使用设备上的滑动性能。目前较为理想的爽滑剂除了具有上述功能外,还应具有如下特点:a. 优良的持续润滑性和高温润滑性。b. 与聚合物有适当的相容性,因为除烷烃蜡以外,所有润滑剂也都是表面活性物质。BOPP 薄膜常用的爽滑剂有芥酸酰胺、硅酮等,主要添加到BOPP 薄膜的芯层和表层,添加量一般为0. 1 %~0.5 %。 但是,目前爽滑剂的加入存在以下问题:爽滑剂在薄膜中的的分布具有不均匀性和可迁移性,这样生产中就导致了一个问题:爽滑剂不能很好的均匀分布于薄膜,导致包装膜拉断、打滑、包装生产线断流等生产性问题,给企业带来了巨大的经济损失,到底爽滑剂是如何分布的?该怎么样来检测? 北京兰德梅克公司的研发工程师团队针对目前这一技术难题,开发了具有“实时检测、实时显示”的检测薄膜性质的摩擦系数测定仪(MC-600)。该仪器主要用于测量塑料薄膜和薄片(或其它类似材料)的静摩擦系数和动摩擦系数。该仪器通过微电脑控制,具有强大的数据处理功能,实时检测、显示功能,可自动进行数据存贮分析,可打印实验报告。 该摩擦系数测定仪可实时检测爽滑剂分布的均匀性,给出薄膜的本质特征的说明,反映出生产工艺是否存在问题,为工艺改进的参数制定提供强大的技术支持,确保产品质量,有效杜绝原材料浪费,提高作业效率等方面具有重要经济效益和社会价值,该仪器在国内软包装企业、高等院校、检验机构等部门得到了广泛的应用

  • 求助:检测薄膜孔隙形状和大小,需用什么仪器?

    我司想对锂电池用专用类薄膜的隔膜进行孔隙形状和大小的观察和检测,希望能有一种仪器可以通过图像显示出薄膜表面孔隙形状和大小,并通过系统软件计算出孔大小、间距等信息。 欢迎各位专家给予指导和帮助,由于很急,如有相关仪器厂家,可直接来电 0632-8636291 何冰

  • 薄膜表面穿透孔的孔径检测

    我现在使用的薄膜,可以渗透水蒸气,但是不能透过液态水。所以想找相关得仪器测试测试一下薄膜表面能够穿透薄膜的孔的大小,做过扫面电镜和比表面积及孔径分析仪的检测,扫面电镜只能看到薄膜表面的凹坑,不能确定这个凹坑是否穿透薄膜。孔径分析也是这样,测得都是凹坑的孔径分布。但我现在想做穿透孔的测试,望大神们给予建议,谢谢!

薄膜质量检测系统相关的耗材

  • 检测透明薄膜、样品透明薄膜
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜、日本理学/岛津/斯派克、聚丙烯膜/XRF测试薄膜、美国Premier样品膜-TF-240-255 品名:XRF样品膜Sample Film型号: CAT. NO:TF-240-255 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 极佳的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 极佳的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:美国Premier X-ray样品膜种类:(1)、Hostaphan膜;(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。目录编号:CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-240-255 Polypropylene膜 4.0μ(0.16mil) 直径63.5mm 500片/盒 Polypropylene Pre-Cut Circles圆片
  • 样品杯盒薄膜、检测实验用TF-260#
    土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、美国Premier样品膜TF-260#(SKY-260)permier新产品SKY-260: 裁剪更方便catalong NoFilm TypeSKY-115TF-115SKY-125TF-125SKY-130TF-130SKY-135TF-135SKY-160TF-160SKY-240TF-240SKY-260TF-260迈拉膜、样品薄膜、麦拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪用样品膜、光谱仪样品薄膜本公司供应美国chemplex所有型号产品,欢迎采购卷:(直径:3.0" (76mm);91.4m卷/盒)序号CAT.No薄膜材料厚度1TF-260#Polypropylene膜6.0μ(0.24mil) 品名:XRF样品膜Sample Film 型号: CAT. NO TF-260# 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:美国Premier X-ray样品膜种类:(1)、Hostaphan膜;(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。目录编号:CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-260 Polypropylene膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Polypropylene Rolls连续卷轴
  • 样品杯盒薄膜、检测实验用TF-260#
    土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、美国Premier样品膜TF-260#(SKY-260)permier新产品SKY-260: 裁剪更方便catalong NoFilm TypeSKY-115TF-115SKY-125TF-125SKY-130TF-130SKY-135TF-135SKY-160TF-160SKY-240TF-240SKY-260TF-260迈拉膜、样品薄膜、麦拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪用样品膜、光谱仪样品薄膜本公司供应美国chemplex所有型号产品,欢迎采购卷:(直径:3.0" (76mm);91.4m卷/盒)序号CAT.No薄膜材料厚度1TF-260#Polypropylene膜6.0μ(0.24mil) 品名:XRF样品膜Sample Film 型号: CAT. NO TF-260# 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:美国Premier X-ray样品膜种类:(1)、Hostaphan膜;(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。目录编号:CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-260 Polypropylene膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Polypropylene Rolls连续卷轴
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