显微图像颗粒分析仪

百特图像颗粒分析系统BT-1600包括光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。它的基本工作流程是通过专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄下来并传输到电脑中，通过专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行处理与分析，从而得到每一个颗粒的粒度和粒形信息，再将每一个颗粒的粒度和粒形信息进行统计，从而得到粒度（D50）及粒度分布、平均长径比及长径比分布、平均圆形度及圆形度分布等结果。BT-1600直观、形象、准确特点，它是将微米级以上的颗粒放大几十、数百乃至上千倍，将整个颗粒形状显示在人们的眼前，使人一目了然。它不仅能看到颗粒，还能通过“尺子”来量每一个颗粒的大小，并通过图像处理技术得到所有颗粒的直径，进而得到粒度分布、平均长径比以及长径比分布等。BT-1600为粉体材料的科研、生产和应用领域增添了一种直观、简便、准确的粒度粒形测试手段。BT-1600静态图像颗粒分析系统还具有很多独特图像处理功能，包括自动拍摄、自动分割、自动填充、批处理多幅图像、准确性标定等。其中众多的“自动”功简化了操作，提高了效率；批处理多幅图像功能，彻底克服了传统的静态图像颗粒分析系统仅能分析单幅图像，导致颗粒数太少，代表性不足，结果不准确的问题。它可以拍摄很多幅图像，对这些图像一幅一幅地处理，每一幅处理过的图像上的颗粒都汇集到一起，提高了代表性。基本性能指标测试范围1-3000μm放大倍数160/400/1600/4000倍重复性误差≤3%（国标样D50偏差）准确性误差≤3%（国标样D50偏差）数字摄像机（CCD）500万像素显微镜国产生物显微镜进口生物显微镜金相显微镜标尺精度10μm分析项目粒度分布、长径比分布、圆形度分布、单体颗粒和颗粒群等自动分割速度1秒分割成功率93%操作系统Win7/Win10及以上接口方式USB方式应用领域主要应用领域：（观察粒形、分析粒度、监测大颗粒）● 磨料：如碳化硅、刚玉、金刚石、石榴石等。● 电池材料：球形石墨粉等。● 金属粉：如球形铝粉、铅锡合金粉、其他雾化金属粉。● 非金属粉：如玻璃珠、聚苯乙烯等。● 针状粉：如硅灰石等。● 生物制剂：如细胞。● 食品：如牛奶、面粉等。● 其他：如科研、教学等。测试原理● 标定方法：用显微镜专用标准刻度尺直接标定每个像素的尺寸，再根据每个颗粒图像面积所占的像素多少来度量颗粒的大小，以微米为单位。● 测试原理：通过对颗粒数量和每个颗粒所包含的像素数量的统计，计算出每个颗粒的等圆面积和等球体积，从而得到颗粒的等圆面积直径、等球体积直径以及长径比等。为计算方便，BT-1600图像颗粒分析仪是以100个像素为一个计量单位的。下表为不同的物镜放大倍数情况下100像素所对应的粒径值。物镜放大倍数像素粒径（微米）备注4倍100250100像素对应的粒径以标定值为准10倍10010040倍10025软件功能举例

SHINESO-MIC型显微图像分析系统是由生物显微镜、高清晰度彩色CMOS、以及功能强大的显微图像分析软件组成。采用迅数公司专业开发的最新技术&ldquo 高清晰度显微图像获取&rdquo 和&ldquo 动、静态双路并行观察技术&rdquo ，实现对显微细胞图像的全景高解析度图像获取、以及对显微图像的处理和分析。广泛适用于显微细胞图像分析、工业金相组织分析、粉尘颗粒检测、材料显微结构观察等应用领域。锐利、清晰的高品质数字成像 Shineso MIC显微图像分析系统锐利、清晰的高品质图像源于“迅数”高清晰度彩色CMOS与奥林巴斯显微镜的融合。采用UIS无限远校正光学系统的平场物镜提供了平坦、清晰的光学信号，通过专用接口和“迅数”高像素CMOS的数字转换，在液晶显示屏上呈现锐利、清晰、色彩真实的显微细节，为随后的数字化分析提供了卓越的保障。鼠标点击，轻松捕捉任意视野图像 迅数专业开发的“动、静态双路并行观察技术”，让操作变得比以往更加简便和省力。其特点是：既能方便地通过计算机显示的动态显微图像调整显微镜以达到图像清晰，又能同时观察高清晰的静态图片，并对图片进行分析处理，为操作者的使用提供了极大的方便。27种图像处理功能，为科研提供强大的工具 不同生物领域的用户使用显微镜时都希望能清晰地观察目标物，在某些情况下，如：由于细胞多层堆积，不能在一个层面上清晰聚焦；或是因为背景过于复杂，细胞很难看清楚；或是受物镜分辨率的限制，染色后某些胞内微细结构较模糊等等，通过MIC系统的27种图像处理功能可以显著提高观察效果。 技术参数：MIC- 1型显微图像分析系统配置： 　1. 国产三目平视场生物显微镜 　2. 高清晰彩色CMOS （1280*1024） 　3. 联想液晶电脑 　4. SHINESO-MIC显微图像分析软件 MIC- 2型显微图像分析系统配置： 　1. Nikon E100显微镜 　2. 超高清晰度彩色CMOS （2048*1536） 　3. 联想液晶电脑 　4. SHINESO-MIC显微图像分析软件 MIC- 3型显微图像分析系统配置： 　1. OLYMPUS CX31显微镜(UIS无限远光学系统) 　2. 超高清晰度彩色CMOS （2048*1536） 　3. 联想液晶电脑 　4. SHINESO-MIC显微图像分析软件  SHINESO-MIC显微图像分析软件： 1． 图像显示、转换 　　1) 图像显示：实时动态观察，随时捕捉任意视野图像 　　2) 图像观察：具有旋转、放大、缩小、镜像转换、局部观察功能 　　3) 图像编辑：具有对图像任意区域剪切、复制、粘贴及文字输入等功能 2． 图像处理 　　1) 自适应增强：通过对原图像进行与其特征匹配的分辨增强处理，使图像更清晰,边缘更明显,以便进行图像细微结构的观察与识别。 　　2) 图像调整：图像亮度、对比度、饱和度、RGB三色任意调节，灰度图、负相图的转换 　　3) 图像补偿：通过线性补偿，对数补偿，贝尔补偿等多种数学方法对图像的失真部分进行补偿，使图像更加清晰。 　　4) 图像锐化：通过增强图像的高频分量，使图像边缘变得更清晰。 　　5) 图像平整：通过图像平整处理，使图像背景均匀。 　　6) 图像滤波：高斯滤波、低通滤波、中值滤波等6种滤波方式有效提高图像清晰度。 　　7) 边缘检测：两种检测方式、三种算子结合多种检测选项更精确地提取图像轮廓。 　　8) 形态学处理：腐蚀、膨胀、开启、闭合等非线性数学形态学处理。 3．目标测量 　　1) 标 定：具有对系统在线标定功能，实现精确测量（系统内置默认标定值） 　　2) 测量功能：对颗粒直径、长度、弧度、角度、任意曲线、面积等的精确测量 4． 颗粒统计 　　1) 自动统计：自动颗粒计数，并显示每个颗粒的面积、周长、直径、圆度等形态参数 　　2) 区域统计：可选择长方形、圆形、伞形等任意形状区域进行统计 　　3) 直径分类统计：设置直径范围，统计特定大小的颗粒 　　4) 颜色识别统计：根据色度、亮度、饱和度筛选特定颗粒 　　5) 鼠标点击统计：鼠标点击添加或删除颗粒，方便、快捷 　　6) 自动杂质剔除：根据形态、尺寸、颜色等方面的区别，进行自动杂质剔除 　　7) 粘连分割处理：根据用户需求可自动或手动分割相互粘连的颗粒 　　8) 多种统计算法：采用多种分割算法，适合不同背景的颗粒统计 　　9) 多样本统计：对多张显微图像的综合统计 　　10) 参数自动换算：根据统计区域面积、样本稀释度，实现自动换算 5．绘图与标注 　　1) 绘图：对打开的图像可根据需要，绘制直线、矩形、圆形、以及任意曲线 　　2) 文字编辑：对打开的图像进行文字编辑 　　3) 标注：可方便的进行直线和角度的标注 6．报表打印 　　1) 在线编辑：具有对统计结果构成报表的在线编辑功能 　　2) 报表打印：对图像、统计结果、和编辑内容等全部信息的报表打印主要特点：（1）迅数_MIC型显微图像分析系统上，采用了迅数公司专业开发的高像素显微图像获取装置，突破传统电子目镜像素低的缺点，能够获得高分辨率(1.0～2.0um)的高品质显微图像。 （2）分析系统的软件中，采用了迅数公司专业开发的&ldquo 动、静态双路并行观察技术&rdquo 。其特点是：既能方便地通过计算机显示的动态显微图像调整显微镜以达到图像清晰，又能同时观察高清晰的静态图片，并对图片进行分析处理。为操作者的使用提供了极大的方便。 （3）具有对图像的亮度、对比度、饱和度、和任意色彩的调整功能；或进行灰度图、负面图的转换等等。为提高图像清晰度、观察细胞的微细结构，提供了强有力的手段。 （4）先进的分析软件，可实现对细胞的总数统计、分类统计、颜色识别统计、以及对每个细胞的形态分析（直径、面积、周长、圆度等）。对线状细胞，还可进行长度或角度的测量等等。还配备了功能强大的专项统计，可以根据图像质量和特点，改变统计参数，以获得最佳统计效果。 （5）还配备了专业化的数据库和报告编辑打印功能。可对各种细胞图像及其统计结果进行存储、查询、统计报告的在线编写、打印等等。免除了繁琐的人工记录，提高数据保存和管理水平。

BOS-T180显微颗粒图像分析仪一、产品简介 BOS-T180是国内zui新一代静态颗粒图像分析设备，它采用zui新的图像采集系统与分析软件，将计算机图像学与颗粒粒度及粒形分析理论完美结合，在获得清晰的颗粒图像的同时，将颗粒的粒度、球型度、长径比、庞大率、表面率等相关颗粒大小和形状的表征参数以特征值和分布的形式呈现出来，使用户可以详细的了解颗粒。此外，该款仪器还赋予了自动化、智能化能时代性的标志、使其操作更简便、分析更智能、结果更稳定，是颗粒粒度测试及粒形分析的shou选搭档和得力助手。二、性能特点直观反映颗粒形貌 将颗粒的表面形貌直接反映到计算机屏幕，用户可以直观且全面了解颗粒的表面及形状属性；完美拼接多幅图像 将选取不同视场拍摄的多幅颗粒图像拼接成一幅，使参与分析的颗粒数量更多，测试结果更具代表性；自动分割粘连颗粒 采用更先进的颗粒识别算法，对各种形状的粘连颗粒都能自动分割，显著提高粘连颗粒分割准确率，减少人为参与，有效缩短图像处理时间；自适应二值化功能 采用一种自适应二值化功能，使其进行图像二值化处理时不受拍摄光线的影响，避免了因光线不均匀等因素而导致颗粒信息丢失的情况，为后续处理的精准度奠定基础；自动处理颗粒图像 颗粒图像分析软件含有自动处理工具集，集成了二值化、消除边界不完整颗粒、消除杂点、填充空洞、平滑边缘、分割粘连颗粒、计算颗粒参数等功能的自动操作，一键即可完成颗粒图像处理到分析结果的生成等全部过程，操作简便且结果可靠；自由切换粒径单位 标尺选取支持多种长度单位、可在纳米、微米和毫米之间自由切换，便于用户对通过电镜等其他方式获取的颗粒图片实现进一步处理；快速处理特殊形状颗粒 对于球形颗粒，采用du特的处理算法，对原始图片无需进行任何处理而直接分析颗粒粒径信息，即使颗粒颗粒之间相互粘连或重叠也不会影响分析结果，提高球形颗粒的分析效率。三、适用范围: BOS-T180静态颗粒图像仪适用于水泥、陶瓷、药品、涂料、树脂、染料、颜料、填料、化工产品、催化剂、煤粉、泥砂、粉尘、面粉、食品、添加剂、农药、炸药、石墨、感光材料、燃料、金属与非金属粉末、碳酸钙、高岭土及其他粉体行业。四、技术参数规格型号BOS-T180执行标准ISO13322-1: 2004 GB/T21649.1-2008显微系统物镜4X、10X、40X、60X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组目镜1X、10X、16X 大视野摄像目镜载物台手动三维机械式载物台，尺寸：185mm×140mm，移动范围：50mm×75mm，粗微同轴调焦，微动格值：2μm,带锁紧和限位装置光源底部透射光源，6V 20W卤素灯,亮度可调。可选顶部金相落射式光源（带起偏振器）总放大倍数4倍——1600倍摄像系统最高分辨率2048×1536像素尺寸3.2μm×3.2μm成像元件1/1.8英寸 progress scan CMOS帧率6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480最高清晰度900线信噪比小于42dB敏感度1.0V@550nm/lux/S输出方式USB2.0实际观测范围1-6000μm软件功能静态采集将样品形貌拍摄为高清晰JPG图片 图片处理使用多种画图工具对图片进行比较简单的处理 图像拼接将多幅图片进行无缝拼接,在颗粒测试中能够获得更多的颗粒数量以提高测试的代表性。同时也可单张分析保存后再进行拼接，进一步提高了结果的准确性。颗粒的自动处理工具集自动消除颗粒粘连、自动消除杂点、自动消除边界不完整颗粒、自动填补颗粒的空心区域、自动平滑颗粒边缘等12项自动处理工具。 比例尺标定通过国家标准测微尺标定后，每次测试只须选择与物镜相对应的比例尺数值即可直接得到颗粒的实际大小数值。 单个颗粒数据可在图片上直接对单个颗粒进行截面积、体积、长径比等10多项参数的分析。任务管理机制严格的任务管理机制，使用户能够将所有测试数据井井有条的管理起来。报告输出将测试结果输出为报告，并可以自由修改报告样式。整体分布特征参数D10、D50（中位径）、D90、D100等颗粒分布的特征参数报告参数整体频率分布累计分布颗粒按数量、体积、面积等分布的频率分布与累计分布的数据表、曲线图、柱状图等。统计平均径Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的统计平均径形状参数长径比、庞大率、球型度、表面率、比表面积、外接矩形参数等表征颗粒形状的10多项常用数据个数统计直接得到所观测的颗粒数量样品缩略图可以将样品彩色或黑白（可选择）缩略图显示到报告中表头输入可以将样品名称、测试单位、分散介质等多项信息输入到报告表头中