织物厚度测试

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织物厚度测试相关的仪器

  • TTM150纺织物厚度测试仪技术参数:1.符合标准:《GB3820纺织品和纺织制品厚度测试》;《FZT60004-1991非织造布厚度的测定》、《ISO5084-1996纺织品和纺织制品厚度的测定》;2.用于各种普通类织物、非织造布、毛绒类、疏软类织物的厚度测定3.自动测定厚度,厚度测量范围0-50mmm,厚度测量精度0.01mm;4.自动加压,测量过程中仪器自动向检品施加压力,默认压力选项1.00±0.01kpa,0.5±0.01kpa,0.1±0.01kpa,0.02±0.005kpa;5.自动平移控制,压脚和参考板之间的距离仪器自动控制移动,移动范围0-50mm,移动控制精度±0.01mm;移动过程中压脚和参考板保持平行;6.可调换的压脚,通用压脚面积(20000±20)mm2,相应于圆形压脚面积(50.5±0.2)mm2;备用压脚板(10000±10)mm2,(40000±50)mm2,(1000±2)mm2;7.参考板,面积为50000mm2;8.自动计时功能,系统内部设定有高精度计时器,计时范围0-9999s/min/h;精度0.1s;系统智能识别分配多段独立计时;9.仪器采用7寸真彩触摸屏显示和控制,中文菜单,显示清晰明了,触摸按键操作快捷方便;10.设备自动储存检测数据,检测数据可打印,可查阅;11.设备电源:AC220V,50Hz,功率460W;12.设备尺寸420*380*360mm;13.设备重量28kg
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  • DRK141A 数字式织物厚度仪 纺织品厚度测试仪,用于各种材料包括薄膜、纸张、纺织品的厚度测定,亦可用于其它均匀薄料的厚度测定。符合标准:DRK141A 数字式织物厚度仪 纺织品厚度测试仪,产品符合GB/T3820,GB/T24218.2、FZ/T01003、ISO5084:1994、ASTMD5729:97(2004)等标准。技术参数:1、测定厚度范围:0.01~10.00mm;2、最小分度值:0.01mm;3、压脚面积:50mm2、100mm2、500mm2、1000mm2、2000mm2 4、压重砝码:25cN×2、50cN、100cN×2、200cN;5、压重时间:5s、10s;6、压脚下降速度:1.72mm/s;7、压重时间:10s±1s、30s±1s;8、外形尺寸:200×400×400mm(L×W×H);9、仪器重量:约25Kg;配置清单:1、主机 1 台2、压脚 5只:50mm2、、100mm2、500mm2、1000mm2、2000mm2;3、压重砝码 6只:25cN×2、50cN、100cN×2、200cN;4、产品合格证 1张5、产品使用说明书 1份6、送货单 1张7、验收单 1张8、产品画册 1份选配清单:1、压脚 1只:2500mm2、 注:因技术进步更改资料,恕不另行通知,产品以后期实物为准。
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  • 数字式织物厚度仪 400-860-5168转2014
    仪器简介:数字式织物厚度仪YG141D 适用于各种机织物和针织物的厚度测定,亦可用于其它均匀薄料的厚度测定。适用标准: GB3820-1997《机织物和针织物厚度测定法》技术参数:数字式织物厚度仪YG141D⑴ 测定厚度范围: 0.1~30mm ⑵ 小分度值: 0.01mm ⑶ 压脚面积: 100mm2、2000mm2 ⑷ 压脚直径: ¢11.28mm、¢50.46mm ⑸ 压重砝码: 50cN、100cN、200cN ⑹ 压重时间: 10s、30s ⑺ 压脚下降速度: 1.72mm/s ⑻ 电源: AC220V 50HZ 40W ⑼ 外形尺寸: 410× 160× 300mm(L× W× H) ⑽ 仪器重量: 约25Kg主要特点:适用标准: GB3820-1997,ISO5084,ISO9073,ISO9863,FZ/T01003《纺织品和纺织制品厚度的测定》
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织物厚度测试相关的方案

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  • 【分享】JJG (纺织) 028-89 织物厚度仪

    JJG (纺织) 028-89 织物厚度仪[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=50934]JJG (纺织) 028-89 织物厚度仪[/url]

织物厚度测试相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • XRF测试薄膜【厚度3.6μ m】156#
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜、XRF样品膜、迈拉膜、麦拉膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜--美国Chemplex 156#现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO:156产品信息:Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜),厚度3.6μm,直径63.5mm,500片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。产品详细信息:SpectroCertified® Thin-Film Sampel SupportsMYLAR® POLYESTER FILMCAT. NO:156Gauge:0.00014”,3.6 μm;0.14mil,35,560ATypical Impurities,PPM:Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex® INDUSTRIES,INC.Contents:500Circles; Lot No:110777。现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。
  • 卷轴厚度6.0 μ mROHS测试膜250#
    迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜--美国Chemplex 250#现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO:250产品信息:Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜),卷轴,厚度6.0 μm,宽7.6cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。产品详细信息:SpectroCertified® Thin-Film Sampel SupportsMYLAR® POLYESTER FILMCAT. NO:250Gauge:0.00024”,6.0 μm;0.24mil,60,960ATypical Impurities,PPM:Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex® INDUSTRIES,INC.ROLL:3” x 300’ (7.6cm x 91.4m); Lot No:030975。现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。

织物厚度测试相关的资料

织物厚度测试相关的资讯

  • 高阻隔材料测试中厚度对渗透率的影响
    当天气变冷时,我们马上就知道多穿几层衣服会让我们更暖和。简单地说,如果你想要更多的保护,你就增加更多的厚度。同样的原理也适用于气体透过率测试。经验法则是,如果你将材料的厚度增加一倍,阻隔水平也会增加一倍,相应的透过率将减少一半。厚度对渗透率的影响有多大?很少有人去了解的是,较厚的样品渗透达到平衡所需的测试时间。典型的假设是,厚度加倍就需要测试时间加倍。这是不正确的。通常情况下,每次材料厚度增加一倍,渗透率达到平衡需要4倍的时间。下面是厚度1mil和5mil PET薄膜及其渗透率水平的比较。选择这些薄膜是因为它们在短时间内WVTR达到平衡。在此示例中,1mil PET薄膜的水蒸气透过率 (WVTR) 为10.1 g/(m2 x day)。达到该值95%所需的时间不到30分钟。5mil PET薄膜的WVTR为2.17 g/(m2 x day),需要近450分钟才能达到最终值的95%。我们通常看到,对于厚样品特别是在测量更高阻隔材料时,最后5%~10%的渗透率平衡可能需要相对较长的时间。通过测试得出结论当测试较厚材料的阻隔时,整体渗透率会成比例下降。材料厚度增加5倍,测得的WVTR从10.1 g/(m2 x day)下降至 2.17 g/(m2 x day)。 随着材料厚度的增加,需要更多的时间(超过5倍)来测试样品以达到平衡。如图所示,渗透率水平和达到平衡的时间都受到材料厚度的影响。当您优化测试条件(例如WVTR和CO2TR的流速)和测试持续时间以确保平衡值时,需要牢记这一点。适用于薄样品的标准测试设置可能会为厚样品产生不准确或过早的结果。
  • 岛津SPM石墨烯厚度测试——应对GB/T 40066—2021
    近期,国家标准化管理委员会发布了《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》,这一方面意味着石墨烯材料的产业化工作向前迈进了一步,另一方面也表明原子力显微镜开始逐步被标准化工作认可和接受。 为此,作为有着三十年原子力显微镜/扫描探针显微镜设计、开发、销售经验的岛津,按照新发布标准的流程进行了产品验证。结果表明,岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合标准的要求。 本次分析流程完全参照《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》附录A方法一实例进行。 01测试仪器:岛津SPM-9700HT02图像分析软件:WSxM 5.0 Develop 8.403图像处理过程经SPM-9700HT扫描获得的原始图像如下:利用WSxM软件Flatten功能处理后图像如下按标准利用软件的Profile功能选取不同位置三条轮廓线,轮廓线方向为SPM-9700HT快速扫描方向(X轴)。将3条轮廓线数据导出,利用EXCEL软件进行处理,分别拟合3条轮廓线的上台阶拟合直线和下台阶拟合直线。厚度计算:利用标准中的公式计算公式图片来源:《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》结论(1)、按照标准计算得知该片氧化石墨烯厚度为0.630±0.039nm,由此可推测这片氧化石墨烯为单层石墨烯。 (2)、岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》的要求。
  • 扫描电镜测试法:我国首个光学功能薄膜微观结构厚度测试标准正式实施
    近日,由中国航天科技集团有限公司中国乐凯研究院起草的国家标准GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》正式实施。(文末附下载链接)该标准规定了通过扫描电子显微镜(SEM)检测光学功能薄膜横截面微结构厚度的方法,适用于微米、纳米级光学功能薄膜各功能层微观结构测试。这是我国首个覆盖光学功能薄膜全领域的微米-纳米级各功能层微观结构的测试标准。该标准的制定与实施,对于准确测定光学功能薄膜微结构厚度、规范行业测定方法、促进行业发展具有重要意义。GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》详细内容标准下载链接:https://www.instrument.com.cn/download/shtml/1198352.shtml
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